本标准确定了表面波纹度有关表面及其参数的术语和定义。这些波纹度参数术语是以中线制为基础确定的。本标准适用于技术文件及科技出版物等。 GB/T 16747-2009 产品几何技术规范（GPS） 表面结构 轮廓法 表面波纹度词汇 GB/T16747-2009 标准下载解压密码：www.bzxz.net

ICS17.040.20
中华人民共和国国家标准
GB/T 16747—2009
代替GB/T16747-1997
产品几何技术规范（GPS）
表面结构
轮廓法
表面波纹度词汇
Geometrical Product Specification (GPS)-Surface texture:Profile method-Surfacewavinessterms
2009-03-16发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
数码防伪
2009-11-01实施
GB/T16747—2009
本标准代替GB/T16747-1997《表面波纹度词汇》，与GB/T16747—1997相比，主要变化如下：一标准名称增加了引导要素“产品几何技术规范(GPS)”，与新的标准体系取得一致；一更新了第2章“规范性引用文件”中的标准名称和版本号；一根据GB/T3505的规定，对参数代号的书写形式进行了修改。本标准的附录A和附录B为资料性附录。本标准在GPS体系中的位置在附录B中说明。本标准由全国产品尺寸和几何技术规范标准化技术委员会提出并归口。本标准起草单位：中机生产力促进中心、哈尔滨量具刃具集团有限责任公司、北京市计量检测科学研究院。
本标准主要起草人：王欣玲、郎岩梅、陈景玉、吴迅。本标准所代替标准的历次版本发布情况为：—GB/T16747—1997。
1范围
产品几何技术规范（GPS）
表面结构轮廓法
表面波纹度词汇
GB/T16747--2009
本标准确定了表面波纹度有关表面及其参数的术语和定义。这些波纹度参数术语是以中线制为基础确定的。
本标准适用于技术文件及科技出版物等。2规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。GB/T3505一2009产品几何技术规范（GPS）表面结构轮廓法术语、定义及表面结构参数(ISO4287:1997,IDT)
GB/T7220一2004产品几何量技术规范（GPS）表面结构轮廊法表面粗糙度术语参数测量
GB/Z20308一2006产品几何技术规范（GPS）总体规划（ISO/TR14638：1995，MOD）3表面、轮和基准术语
real surface
实际表面
物体与周围介质分离的表面（见GB/T3505一2009的3.1.3)。实际表面是由粗糙度、波纹度和形状叠加而成的（见图1)。
粗糙度
波纹度
图1实际表面
表面轮廓（实际轮廓）surfaceprofile（realprofile）由一个指定平面与实际表面相交所得的轮廓。它由粗糙度轮廊、波纹度轮廊和形状轮廓构成（见图2)。
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形状轮
图2表面轮廓
粗糙度轮廊
波纹度轮扇
operator（filter）forseparatingtheprofilecompo分离实际表面轮廓成分的求值系统（滤波器）nentoftherealsurface
通过预定的信息转换，对实际表面的轮廊成分进行分离的一种处理过程（见图3）。实际上，该过程可用各种不同的方式实现。对各种不同方式分离出的轮廊成分，应说明其方法离差。倘若总体轮廊含有所认为的公称形状，就须用一个附加的预处理过程来消除该轮廊的形状部分。分离轮廊成分的求
实际表面轮廊
值系绕（滤波器）
粗糙度
SSsSSS>s
图3分离实际表面轮成分的求值系统3.4
标准的波纹度求值系统standardwavinessoperator具有符合标准规定特性的求值系统（滤波器）。该求值系统一般被认为是理想的，见GB/T7220一2004的2.11。
波纹度截止波长wavinesscut-offs在高斯滤波器的传输系数为0.5的条件下，短波区界的波长入c和长波区界的波长入f。3.6
表面波纹度surfacewaviness
由间距比粗糙度大得多的、随机的或接近周期形式的成分构成的表面不平度（见图1）。通常包含当工件表面加工时由意外因素引起的那种不平度，例如，由一个工件或某一刀具的失控运动所引起的工件表面的纹理变化。波纹度通频带的极限由高斯滤波器的长波截止波长和短波截止波长之比入f：入c确定，若无特殊规定，此比值通常为10：1。在用高斯滤波器分离波纹度以前，应用最小二乘拟合的方法在总体轮廊上去除图样所表示的公称形状。
对圆周轮廓来说，在用最小二乘拟合的方法去除形状成分时，推荐采用拟合圆的半径，而不要采用固定的公称值。
这种波纹度分离程序确定了理想的波纹度求值系统。注：这种理想的波纹度求值系统，只能用在被评定轮廊长度不小于截止波长入c的20倍的场合。2
表面波纹度轮廓（波纹度轮廓）profileofsurfacewaviness（wavinessprofile）GB/T16747—2009
对原始轮廊连续应用入f和入c两个轮廊滤波器以后形成的轮廓。采用入f轮廊滤波器抑制长波成分，而采用入c轮廊滤波器抑制短波成分。这是经过人为修正的轮廓（见图4)。波纹度轮廊
图4.波纹度轮廓
波纹度取样长度（lw）wavinesssamplinglength（lw）用于判别波纹度轮廓的不规则特征的X轴方向上的长度。它等于长波截止波长入f。在这段长度上确定波纹度参数。
波纹度评定长度（ln）wavinessevaluationlength（In）用于评定波纹度轮廊的X轴方向上的长度，它包含一个或几个取样长度。3.10
波纹度轮廊中线
meanlineforthewavinessprofile用入f轮廊滤波器所抑制的长波轮廊成分对应的中线。3.11
wavinessprofilepeak
波纹度轮廓峰
被评定波纹度轮廊上连接轮廊与X轴两相邻交点的向外（从材料到周围介质）的轮廊部分（见图5)。
注：在波纹度取样长度内，即使是始端或终端，倘有向外的轮廊部分，也应视作波纹度轮廊峰。当计算波纹度的连续几个取样长度上的峰数时，对每个取样长度的始端或终端的波纹度轮廓峰，应只在始端计入一次。波纹度轮廊峰
图5波纹度轮廓峰
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wavinessprofilevalley
波纹度轮廓谷
被评定波纹度轮廊上连接轮廓与X轴两相邻交点的向内（从周围介质到材料）的轮廊部分（见图6)。
注：在波纹度取样长度的始端或终端，倘有向内的轮廊部分，也应视作轮廓谷。当计算波纹度的连续几个取样长度上的谷数时，对每个取样长度的始端或终端的波纹度轮廊谷，应只在始端计入一次。w
波纹度轮廊谷
图6波纹度轮廊谷
波纹度轮廊顶线lineofwavinessprofilepeaks在波纹度轮廊取样长度内，与中线等距并通过波纹度轮廊最高点的线（见图7)。波纹度轮鹿峰项线
波纹度轮廊峰顶线
波纹度轮廓谷底线lineofwavinessprofilevalleys在波纹度轮廓取样长度内，与中线等距并通过波纹度轮廊最低点的线（见图8）。波纹度轮廊谷底线
图8波纹度轮廊谷底线
波纹度轮廓偏距[Z(x)]wavinessprofiledeparture[Z(x)]波纹度轮廓上的点与波纹度中线之间的距离（见图9)。zCr
图9波纹度轮廓偏距
4表面波纹度参数术语
波纹度轮廓峰高（Zp）Wavinessprofilepeakheight（Zp）波纹度轮廊峰的最高点距中线的距离（见图10)。波纹度轮廊峰高
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GB/T16747—2009
波纹度轮廓谷深（Zv）wavinessprofilevalleydepth（Zv）波纹度中线与波纹度轮廓谷最低点之间的距离(见图11)。图11
波纹度轮廓谷深
波纹度轮廊不平度高度（Zt）wavinessprofileirregularityheight（Zt）波纹度轮廊峰高和相邻轮廊谷深之和（见图12)。图12波纹度轮廓不平度高度
波纹度轮廊不平度的平均高度(Wc）meanheightofwavinessprofileirregularities(We)）在波纹度取样长度内，波纹度轮廊不平度高度的平均值。计算公式如下：Wc
波纹度轮廓的最大峰高（Wp）maximumpeakheightofwavinessprofile（Wp）在波纹度取样长度内，波纹度轮廊最高点和波纹度中线之间的距离（见图13）。图13
波纹度轮廊的最大峰高
波纹度轮廓的最大谷深(Wv)
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maximumvalleydepthofwavinessprofile(Wy)在波纹度取样长度内，波纹度轮廓最低点和波纹度中线之间的距离（见图14)。图14波纹度轮廓的最大谷深
波纹度轮廊的最大高度（Wz）maximumheightofwavinessprofile（Wz）在波纹度取样长度内，波纹度轮廊峰顶线和波纹度轮廓谷底线之间的距离（见图15）。图15波纹度轮廊的最大高度
波纹度轮廓廊算术平均偏差（Wa）arithmeticalmeandeviationofwavinessprofile（Wa）在波纹度取样长度内，波纹度轮廊偏距绝对值的算术平均值（见图16）。Wa:
或近似为：
Iz(α)Idr
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