YS/T 785-2012
基本信息
标准号： YS/T 785-2012
中文名称：NaA型沸石相对结晶度测定方法 X衍射法
标准类别：有色金属行业标准(YS)
标准状态：现行
出版语种：简体中文
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标准分类号
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出版信息
相关单位信息
标准简介
YS/T 785-2012 NaA型沸石相对结晶度测定方法 X衍射法
YS/T785-2012
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标准内容
ICS 87. 060. 10
中华人民共和国有色金属行业标准YS/T785—2012
NaA型沸石相对结晶度测定方法
X衍射法
Determination of relative crystallinity of zeolite sodium Aby X-ray diffraction
2012-05-24发布www.bzxz.net
中华人民共和国工业和信息化部2012-11-01实施
本标准是按照GB/T1.1一2009 给出的规则起草的。本标准由全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC243)归口。YS/T 785—2012
本标准起草单位：中国铝业股份有限公司山东分公司、中国有色金属工业标准计量质量研究所。本标推主要起萨人：张树贵、韩刚、郡静、徐好文、钟沂妹、裴存燕。1范圈
NaA型沸石相对结晶度测定方法
X衍射法
本标准规定了用X射线衍射仪对 NaA型沸石相对结晶度的测定方法。本标准适用于NaA型沸石相对结晶度的测定。2方法要
YS/T 785—2012
在相同的X射线衔射条件下，分别测定NaA型沸石参比试样与NaA型沸不待测试样6个晶面的衍射线积分强度，被测试样的衍射强度与参比试样的衍射强度之比即为被测试样的相对结晶度。3参比样品
在试验室条件下合成的高结品度NaA型沸石，或协商认定的样品作为相对结晶度测定的参比样品。
4仪器及设备
4.1玛瑙研钵。
4.2X射线衔射议。
4.3烘箱：100℃5℃。
4.4干燥器：装有 NH.C1饱和溶液。5测量样品制备
5.1分别将参比样品（3)和待測样品在经过清洗吹干的玛瑙研钵（1.1)中研磨至平均粒径5μm以下。5.2将参比样品和被测样品放入烘籍（4.3)中在100℃士5℃烘干2h以上。5.3将烘干后的样品放人于燥器(4.4)中，在室温下稳定2h以上。5.4用背压法制样，要求测量面平整.光滑、无裂纹。6测鼠条件
6.1Cuka辐射。
6.2扫描速度：200.25/min。
6.3步长值：280.002°。
6.4发散狭缝(DS):1°
6.5散射狭缝（SS):1°
6.6接收狭缝(RS):0.3mm。
YS/T785—2012
6.7激发功率：适宜。
7测量步骤
7.1将 X射线衔射仪调整至工作状态。7.2将样品放置于X射线衔射仪的样品室内。7. 3 在预定的 X 射线衔射条件下,分别对 NaA 型沸石参比样品及 NaA 型沸石被测试样的(111)(210)、（221)（311)、（321（322)品面衍射线连续扫描，参照图1典型NaA型沸石X射线衔射图，在Cuka 辐射下,推荐测量 2 范围见表 1。表1
HKL(晶面指数）
E NaA.raw1
4 500-
8结果计算
扫描范围(20)
11. 85 ~12. 9°
15. 5 ~~ 16. 5°
21, 0°~-22. 0°
23. 5°~~24. 5°
26. 6° ~~27. 6
29, 5°~ 30. 3”
868 7-1
图 1 NaA 型沸石 X射线衍射图
8.1将测量得到的6条衔射线分别扣除本底，计算出其积分净强度。8.2根据式(1)计算NaA型沸石的相对结晶度。2
irKacadiaiKAca-
式中：
CR-——NaA相对结晶度，%
-被测NaA型沸石样品6个晶面的衔射积分净强度总和；参比 NaA 型沸石样品 6 个晶面的衍射积分净强度总和。8.3分析结果报山精确到小数点后第一位，数据以百分数表示，9精密度
重复性
实验室内分析结果的重复性为2%9.2允许差
实验室之间分析结果的允许差为 2. 5%。质量保证与控制
分析时，用控制样品对设备进行校核，使设备处于最佳工作状态，11
检测报告
检测报告应包括以下内容：
a）采用的标推编号；
h）检测样品的名称及编号，
检测结果：
检测人员；
检测日期。
YS/T 785—2012
YS/T 785-2012
打印日期：2012年12月18日F009中华人民共和国有金属
行业标
NaA 型沸石相对结晶度测定方法X衍射法
YS/T 785—2012
中国标推出版社出版发行
北京市朝阳区和平里西街甲2号（100013)北京市西城区兰里河北街16号(100045）网址 spc. net. cn
总编率：(010)64275323发行中心：(010)51780235读券服务部：（010)68523946
中国标准山版社秦皇岛印刷厂印刷各地新华书店经销
开本880×1230 1/16印张 0.5字数 7千字2012年12月第一版 2012年12月第--次印蹦书号：155066·2-24187定价
如有印装差错
替由本社发行中心调换
版权专有侵权必究
举报电话：010)68510107
-rrKacaOiaiKAca-
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中华人民共和国有色金属行业标准YS/T785—2012
NaA型沸石相对结晶度测定方法
X衍射法
Determination of relative crystallinity of zeolite sodium Aby X-ray diffraction
2012-05-24发布www.bzxz.net
中华人民共和国工业和信息化部2012-11-01实施
本标准是按照GB/T1.1一2009 给出的规则起草的。本标准由全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC243)归口。YS/T 785—2012
本标准起草单位：中国铝业股份有限公司山东分公司、中国有色金属工业标准计量质量研究所。本标推主要起萨人：张树贵、韩刚、郡静、徐好文、钟沂妹、裴存燕。1范圈
NaA型沸石相对结晶度测定方法
X衍射法
本标准规定了用X射线衍射仪对 NaA型沸石相对结晶度的测定方法。本标准适用于NaA型沸石相对结晶度的测定。2方法要
YS/T 785—2012
在相同的X射线衔射条件下，分别测定NaA型沸石参比试样与NaA型沸不待测试样6个晶面的衍射线积分强度，被测试样的衍射强度与参比试样的衍射强度之比即为被测试样的相对结晶度。3参比样品
在试验室条件下合成的高结品度NaA型沸石，或协商认定的样品作为相对结晶度测定的参比样品。
4仪器及设备
4.1玛瑙研钵。
4.2X射线衔射议。
4.3烘箱：100℃5℃。
4.4干燥器：装有 NH.C1饱和溶液。5测量样品制备
5.1分别将参比样品（3)和待測样品在经过清洗吹干的玛瑙研钵（1.1)中研磨至平均粒径5μm以下。5.2将参比样品和被测样品放入烘籍（4.3)中在100℃士5℃烘干2h以上。5.3将烘干后的样品放人于燥器(4.4)中，在室温下稳定2h以上。5.4用背压法制样，要求测量面平整.光滑、无裂纹。6测鼠条件
6.1Cuka辐射。
6.2扫描速度：200.25/min。
6.3步长值：280.002°。
6.4发散狭缝(DS):1°
6.5散射狭缝（SS):1°
6.6接收狭缝(RS):0.3mm。
YS/T785—2012
6.7激发功率：适宜。
7测量步骤
7.1将 X射线衔射仪调整至工作状态。7.2将样品放置于X射线衔射仪的样品室内。7. 3 在预定的 X 射线衔射条件下,分别对 NaA 型沸石参比样品及 NaA 型沸石被测试样的(111)(210)、（221)（311)、（321（322)品面衍射线连续扫描，参照图1典型NaA型沸石X射线衔射图，在Cuka 辐射下,推荐测量 2 范围见表 1。表1
HKL(晶面指数）
E NaA.raw1
4 500-
8结果计算
扫描范围(20)
11. 85 ~12. 9°
15. 5 ~~ 16. 5°
21, 0°~-22. 0°
23. 5°~~24. 5°
26. 6° ~~27. 6
29, 5°~ 30. 3”
868 7-1
图 1 NaA 型沸石 X射线衍射图
8.1将测量得到的6条衔射线分别扣除本底，计算出其积分净强度。8.2根据式(1)计算NaA型沸石的相对结晶度。2
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式中：
CR-——NaA相对结晶度，%
-被测NaA型沸石样品6个晶面的衔射积分净强度总和；参比 NaA 型沸石样品 6 个晶面的衍射积分净强度总和。8.3分析结果报山精确到小数点后第一位，数据以百分数表示，9精密度
重复性
实验室内分析结果的重复性为2%9.2允许差
实验室之间分析结果的允许差为 2. 5%。质量保证与控制
分析时，用控制样品对设备进行校核，使设备处于最佳工作状态，11
检测报告
检测报告应包括以下内容：
a）采用的标推编号；
h）检测样品的名称及编号，
检测结果：
检测人员；
检测日期。
YS/T 785—2012
YS/T 785-2012
打印日期：2012年12月18日F009中华人民共和国有金属
行业标
NaA 型沸石相对结晶度测定方法X衍射法
YS/T 785—2012
中国标推出版社出版发行
北京市朝阳区和平里西街甲2号（100013)北京市西城区兰里河北街16号(100045）网址 spc. net. cn
总编率：(010)64275323发行中心：(010)51780235读券服务部：（010)68523946
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开本880×1230 1/16印张 0.5字数 7千字2012年12月第一版 2012年12月第--次印蹦书号：155066·2-24187定价
如有印装差错
替由本社发行中心调换
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