GB/T 39560.2-2020.Determination of certain substances in electrical and electronic products-Part 2:Disassembly , disjointment and mechanical sample preparation.
1范围
GB/T 39560的本部分规范了从电子电气产品、电子组件和元器件中进行取样及机械制样的策略。这些样品可用于GB/T 39560其他部分规范的检测方法进行某些物质含量的分析测试。物质的限制因地区和时间的不同而异。GB/T 39560.2描述了在测定所关注物质之前获取并制备样品的通用过程。
GB/T 39560.2不提供以下内容:
可被归类为电子电气设备的每种产品的详细指南。由于存在各种各样具有不同结构和过程的电子电气设备、以及行业的持续创新，因此试图提供所有种类电子元器件的拆分过程是不现实的。
通过其他途径收集产品中某些物质附加信息的指南，即使根据指南所收集的信息与本部分的取样策略相关。
作为样品的“单元”的定义。
包装与包装材料的取样程序。
旨在测定某些物质含量的分析程序。在本系列标准中被称为“检测标准”的其他部分(例:GB/T 39560的其他部分)涉及这些分析程序。
符合性的评估指南。

ICS31.020
中华人民共和国国家标准
GB/T39560.2—2020/IEC62321-2:2013电子电气产品中某些物质的测定第2部分：拆解、拆分和机械制样Determination of certain substances in electrical and electronic products-Part 2:Disassembly,disjointment and mechanical sample preparation(IEC 62321-2:2013,Determination of certain substances in electrotechnicalproductsPart2:Disassembly,disjointmentand mechanical samplepreparation，IDT)
2020-12-14发布
国家市场监督管理总局
国家标准化管理委员会
2021-07-01实施
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1范围
规范性引用文件
3术语和定义、缩略语·
取样简介
6取样的结论与建议
7机械样品制备：
附录A（资料性附录）
取样与拆分的过程示例
附录B（资料性附录）
含有某些物质的概率
附录C（资料性附录）混合检测与取样附录D（资料性附录）
附录E（资料性附录）
参考文献
取样使用的工具
手机拆解与元器件拆分的示例
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GB/T39560.2—2020/IEC62321-220031
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GB/T39560.2—2020/IEC62321-2:2003GB/T39560《电子电气产品中某些物质的测定》目前分为以下几个部分：第1部分：介绍和概述；
一第2部分：拆解、拆分和机械制样；第3-1部分：X射线荧光光谱法筛选铅、汞、镉、总铬和总溴；第4部分：CV-AAS、CV-AFS、ICP-(ES和ICP-MS测定聚合物、金属和电子件中的汞；第5部分：AAS、AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物和电子件中的镉、铅和铬与金属中的镐和铅；
一一第6部分：气相色谱-质谱仪（GC-MS）测定聚合物中的多溴联苯和多溴二苯醚：—第7-1部分：六价铬比色法测定金属上无色和有色防腐镀层中的六价铬[Cr(VI)]；一第7-2部分：六价铬比色法测定聚合物和电子件中的中六价铬[Cr(VI)]；一第8部分：气相色谱-质谱仪（GC-MS)与配有热裂解/热脱附的气相色谱-质谱仪（Py/TD-GCMS)测定聚合物中的邻苯二甲酸酯。本部分为GB/T39560的第2部分。本部分按照GB/T1.12009给出的规则起草。本部分使用翻译法等同采用IEC62321-2：2013《电工产品中某些物质的测定第2部分：拆解、拆分和机械制样》。
与本部分中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下：GB/T39560.1一2020电子电气产品中某些物质的测定第1部分：介绍和概述（IEC62321-1:2013,IDT)
-GB/T39560.301一2020电子电气产品中某些物质的测定第3-1部分：X射线荧光光谱法筛选铅、汞、镉、总铬和总溴（IEC62321-3-12013，IDT）本部分还做了下列编辑性修改：一一为了与我国现有标准系列一致，将标准名称改为《电子电气产品中某些物质的测定第2部分：拆解、拆分和机械制样》；—一将“豁免”改为“应用例外”。本部分由全国电工电子产品与系统的环境标准化技术委员会（SAC/TC297)提出并归口。本部分起草单位：中国电子技术标准化研究院、深圳赛西信息技术有限公司、兰州北科维拓科技股份有限公司、中国家用电器研究院、华测检测认证集团股份有限公司、广东升威电子制品有限公司、海信视像科技股份有限公司、爱普生（中国）有限公司、广东美的制冷设备有限公司、宁波检验检疫科学技术研究院、工业和信息化部电子第五研究所、广州海关技术中心、中国信息通信研究院、中兴通讯股份有限公司、威凯检测技术有限公司、中国质量认证中心华南实验室、京东方科技集团、纳优科技（北京）有限公司、TCL华星光电技术有限公司。本部分主要起草人：高坚、邢卫兵、程涛、赵强、柳魏、赵宇宁、洪金、邵淑红、刘文敬、陶云、曹国洲、周丽、李全忠、卢春阳、王显、朱嘉、秦志钩、方咪娌、杨李锋、夏振宇。-riKacerKAca-
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GB/T39560.2—2020/IEC62321-2:2003电子电气产品中某些物质的测定第2部分：拆解、拆分和机械制样警示一一使用本部分的人员应有正规实验室工作的实践经验。本部分并未指出所有可能的安全问题。使用者有责任采取适当的安全和健康措施，并保证符合国家有关法规规定的条件。1范围
GB/T39560的本部分规范了从电子电气产品、电子组件和元器件中进行取样及机械制样的策略，这些样品可用于GB/T39560其他部分规范的检测方法进行某些物质含量的分析测试。物质的限制因地区和时间的不同而异。本部分描述了在测定所关注物质之前获取并制备样品的通用过程。本部分不提供以下内容：
一可被归类为电子电气设备的每种产品的详细指南。由于存在各种各样具有不同结构和过程的电子电气设备、以及行业的持续创新，因此试图提供所有种类电子元器件的拆分过程是不现实的。
一通过其他途径收集产品中某些物质附加信息的指南，即使根据指南所收集的信息与本部分的取样策略相关。
电子电气产品（例：含汞开关）和回收产业中［例：如何处理阴极射线管（CRT）或电池安全移除相关的安全拆解说明与机械拆分说明。关于含汞荧光灯的拆分与机械制样，可见IEC62554。
—一作为样品的“单元”的定义。一包装与包装材料的取样程序。一旨在测定某些物质含量的分析程序。在本系列标准中被称为“检测标准”的其他部分（例：GB/T39560的其他部分）涉及这些分析程序-符合性的评估指南。
注1：关于评估程序的进一步指南由GB/Z30374-2013\1提供，注2：该标准部分内容来自上一标准IEC/PAS62596：20093。2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。IEC62321-1电工产品中某些物质的测定第1部分：介绍和概述（Determinationofcertainsub-stances in electrotechnical products—Partl:Introduction and overview)IEC62321-3-1电工产品中某些物质的测定第3-1部分：X射线荧光光谱法筛选铅、汞、镉、总铬和总溴（Determination of certainsubstances in electrotechnicalproductsPart3-l：Screening-Lead，mercury,cadmium,total chromium and total bromine using X-ray fluorescence spectrometry)IEC62321-3-2电工产品中某些物质的测定第3-2部分：燃烧-离子色谱法筛选测试聚合物和电子件中的总溴[Determinationof certain substances inelectrotechnicalproductsPart3-2：Screening1
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GB/T39560.2—2020/IEC62321-2:2003Total bromine in polymers and electronics by combustion-ion chromatography(C-IC)JIEC62321-4电工产品中某些物质的测定第4部分：CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物、金属和电子件中的汞（Determinationof certainsubstances inelectrotechnical productsPart 4Determination ofmercury in polymcrs,metalsand electronics byCV-AAS,CV-AFS,ICPOESandICP-MS)
IEC62321-5电工产品中某些物质的测定第5部分：AAS、AFS、ICP-()ES和ICP-MS测定聚合物和电子件中的镉、铅和铬与金属中的镉和铅（Dcterminationofcertainsubstancesinelectrotechnicalproducts-Part 5:Dctcrmination of cadmium,lead and chromium in polymers and electronics andcadmiumandleadinmetalsbyAAS,AFS,ICP-()ES,ICP-OESandICP-MS)3术语和定义、缩略语
3.1术语和定义
IEC62321-1界定的以及下列术语和定义适用于本文件。3.1.1
混合检测compositetesting
必要时，将可以进行机械拆分的两种或两种以上材料作为单个样品进行检测。3.1.2
某些物质certain substance
镉、铅、汞、六价铬、多溴联苯、多溴二苯醚注IEC62321-1概述了评价上述定义中每种物质的测试方法。3.2缩略语
下列缩略语适用于本文件。
AC：交流电（alternatingcurrent）BGA：焊球阵列封装（ballgridarray）CRT：阴极射线管（cathoderaytube）DVD：高密度数字视频光盘（digitalversatiledisc）IC：集成电路（integratedcircuit）JEDEC：电子器件工程联合委员会（jointelectronicdevicesengineeringcouncil）LCD：液晶显示器（liquidcrystaldisplay）MDL：方法检出限（methoddetectionlimit）OEM：原始设备制造商（originalequipmentmanufacturer）PAS：公共可用规范（publiclyavailablespecification）PCB：印刷电路板（printedcircuitboard）PDA：个人数字助理（personaldigitalassistant）PWB：印制线路板（printedwiringboard）SIM：用户身份模块（subscriberidentitymodule）SMD：表面贴装器件（surfacemounteddevice）TFT：薄膜晶体管（thinfilmtransistor）TV：电视机（television）
USB：通用串行总线（universalserialbus）2
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4取样简介
4.1介绍
GB/T39560.2—2020/IEC62321-2:2003获取样品（即取样）是分析电子电气产品中某些物质含量的第一步。取样的策略和过程往往与分析测试本身同等重要。有效的取样策略需要清楚地了解电子电气产品、分析原因以及拟满足的要求。由于多种原因.需要进行某些物质的取样和检测：一企业间商业行为（例如OEM和部件制造商之间的合同协议）；—符合法规限值；
司法鉴定/影响评估（产品不满足合同要求或法定要求的原因、不满足情况发生的时间以及受到影响的产品数量）。
4.2某些物质的要求和关注点
虽然许多部门、行业团体以及其他利益相关方具有自已的要求，但是本文件不详细讨论这些差异。然而，意识到某些物质的不同限值是制定取样策略的重要一步。本条强调了与某些物质要求有关的主要关注领域：
一-某些物质：并非所有地区或行业团体都限制相同的物质。例如，有些地区已经选择限制使用几种特定的PBDE化合物，而其他地区则广泛地限制这类阻燃剂。对产品、元器件等进行取样时，一定要清楚适用的法律要求。-某些物质的限值：一般而言，大多数某些物质的允许限值均小于1000mg/kg。一些地区与行业团体的限值小于1000mg/kg。但对于其他类型产品其某些物质的限值大于1000mg/kg例如铜铝合金中的铅。
一允许限值的应用：电子电气产品中允许限值的应用方式决定了取样策略和测试结果的合理解释。许多地区的允许限值是针对\均质材料”的。本文件的\均质材料”定义是根据IEC625422013--所述。然而，对于“均质材料”的定义在不同地区之间也不一致。适用的应用例外情况：某些类型的电子电气产品可以豁免某些物质要求。这些应用例外情况可能基于不同原因，其中包括限制的范围（如用于军事目的）、材料的应用（如高温焊料）、样本容量或产品的电气特性。
4.3电子电气产品的复杂性和相关挑战在制定取样策略时，电子电气产品的复杂特征是另一个重要考虑因素。这些特征关系到取样和分析的实际执行。以下要素确认与分析和取样相关：&）小型化：小型化是电子电气行业的主要趋势之一。意味着更小的体积可提供更多的功能。每平方厘米级的印刷线路板（PWB)使用的元器件和材料数量在逐年增多。难以从如此少量材料中取样测试。例如，表面贴装器件（SMD）的尺寸太小无法采用常规工具进一步拆分或分开，而且拆分获得的样品量太少而无法满足常规测试要求。b）均质材料的数量：许多元件具有复杂的结构，并具有不同材质的层状结构。通常情况下，单个元器件具有超过10～20个材料层·但是许多电子电气产品或组件则包含成百上千个元器件。这意味着一个电子电气产品可能有超过1000～10000种均质材料。通常这些均质材料结合太紧密以至采用常规方式无法完全拆分（见图2）。经验表明成分通常由于材料之间的分子扩散而改变（例如含铅基材可以影响镀层成分）。同样，现代电子电气产品由多种元器件和零部件组成。例如，典型的电视或笔记本电脑包含数千个零部件/元器件。因此.OEM的设计数据库可能包含数万个元器件。在附录E中，对移动电话的拆分进一步表明了这一点。3
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GB/T39560.2—2020/IEC62321-2:2003c）“不可见”物质：关于取样和分析的另一复杂因素为：通常无法看到某些物质。含有某些物质的元器件与不含某些物质元器件具有相同外观和性能。某些物质的存在与否可能因生产过程中的批次而异，而且没有任何易于观察的线索。对于某些物质的存在，虽然有一些明显的迹象（例如钢材表面的黄色覆层表示存在六价铬），但是无法进行目视检测。d）批次差异：大多数制造商组装产品会同时使用多个供应商的商品元器件，例如电缆、电阻器和电容器。因为只要商品元器件符合规范，则技术层面完全可以互换，因此生产过程中可将其混用。但是，在大多数情况下，它们的化学成分不同。而且，经验表明，商品制造商可能会更改基材（例如在短缺时），从而导致化学成分的变化。如果元器件仍然满足其技术规范，则一般不会告知此类变更。
供应链的深度：制造电子元器件/零部件涉及一条复杂的供应链。外部电缆等相对简单产品的e)
供应链深度至少可达到七层。对于复杂元器件例如LCD或IC等，其供应链则更深。电子电气技术行业的这些特征表明，某些物质的管理以及取样与分析并不简单。元器件的尺寸与数量、以及供应链的复杂性使得完全掌握某些物质在电子电气产品中的分布极具挑战性。对于复杂产品而言，在供应链上游（对于成品）进行均质材料层面取样与测试不切实际。注：某些物质的氧化态可能随时间推移而不稳定。例如，防离层中六价铬的浓度可随时间和存储条件发生显著变化。4.4：取样策略
尽管不同种类的电子电气产品可使用不同的取样方法，但是可以归纳出一种适用于绝大多数情况的通用程序。取样、拆解和拆分的流程如图1所示。产品/零部件/组件
确定策略
是否评估存
在形式？
取样/拆解/拆分
结果是否符
合目标？
测试目的
信息/历史记录
图1取样的一般流程
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图1所示的流程具有多次循环，其中包括：：循环1：部分拆解（见5.3)；
·循环2：完全拆解（见5.4）；：循环3：部分拆分（见5.5）；：循环4：完全拆分（见5.6)。
这些循环的详细说明见第5章。wwW.bzxz.Net
GB/T39560.2-—2020/IEC62321-2:2003制定特定电子电气产品/零部件/组件的取样策略从信息收集阶段开始。需要考虑的一些基本问题包括：
产品/零部件/组件的复杂性如何？在均质材料层面考虑取样与测试是否切实可行？一限制物质是哪些？
这些物质的允许限值是多少？
是否存在适用的应用例外情况？一物料清单是否适用于产品中的元器件/组件/材料？是否提供元器件的规范/图纸？
产品中元器件与材料的供应链深度如何？是否提供产品的材料声明？
一是否存在产品或类似产品过往任何可能有用的评估经验？一一是否存在产品所使用材料或零部件基体的任何公开发表文件？之前是否对该产品或类似产品进行可能有用的任何筛选测试（如X射线荧光）？一是否存在产品或类似产品所使用材料/零部件生产过程（金属制造或IC生产）有关的任何有用信息？
一元器件或材料供应商是否存在任何过程控制意识（例如制造商的信任度水平）？一是否存在元器件或材料供应商的相关历史信息？这些问题的答案和其他特征将会影响取样策略。组织在供应链中的位置将决定取样的适用程度。当产品/元器件等在投产阶段时，需要更加深人的取样策略而不是偶然性的验证检查。为了优化成本与效率，需要了解检测的期望结果。如上所述，一般无法对所有元器件/材料进行取样和测试。组织需要确定投入/成本与取样策略效率之间的最佳平衡。减少取样测试投人和成本需要考虑以下一些因素：一含有某些物质概率较小的均质材料（不太可能含有受限物质，因此即使不进行检测，不符合性风险也较低，参见附录B)；
一一某些物质适用的应用例外情况（某些物质的存在并不影响其符合性）；材料声明：
历史检测数据（含有某些物质可能性证明）；一混合取样与测试（单次测试中含有多种材料时应考虑其他因素，参见5.7.3和附录C)；一完成分析测试所需的最小样品尺寸和实施有效测试所需的样品数量。取样策略将在很大程度上取决于分析的最终目标。一种策略（执法机构通常采用)是一种分析产品是否含有至少一种超过限值的某些物质。这种方法采用逐渐地选择性取样，目标是集中在已知的或可能含有某些物质的产品零部件上。每个取样阶段应逐个分析。如果测试结果显示没有超标限值的某些物质，则可以进一步进行取样和分析。一旦测试结果显示任一零部件中有一种物质超过限值，则整个产品判定为不符合，则不再进行进一步的取样和测试。附录B提供了目前可能存在一种或多种某些物质的部件列表。
另一项策略是证明产品的整体符合性，尽量达到均质材料级别。这是适用于产品或元器件制造商的经典方法。应当从每种单独的材料或元器件进行取样，其目标是涵盖产品/组件中的所有元器件和材5
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GB/T39560.2—2020/IEC62321-2:2003料，其他途径也可能用于产品信息的收集，沿着供应链去收集资料和分析报告可以降低取样和分析的投人。
一旦确定分析目标，则应考虑测试的可行性（例如样品质量/尺寸/体积是否足够？）。对于存在可完全拆分或者含有某些物质高风险材料，有必要进行进一步的取样和拆分。表B.1用于辅助确定这些元器件和材料。
如果测试适宜，则应遵循相关测试程序。产品/零部件中存在某些物质可能适用于应用例外情况（示例如表B.1所示）。
图1所示流程是一个可在更深层次获取样品循环过程。过程实施的深度取决于取样策略的目标。筛选测试之后，根据需要执行进一步的分析检测。5取样
5.1介绍
本部分仅提供通用取样指南，以形成适用于电子电气产品的取样策略原则。取样之前，需要解决下列问题：a）基于对产品了解，能否识别可能含有某些物质的零部件（参见附录B)？在不进行拆分的情况下，就可以分析这些零部件？b）
这些零部件是否可作为用于分析的均质材料？c
d）选择分析用的零部件是否具有代表性？e）被选择的样品质量、面积、厚度和体积等是否满足分析方法的要求？这些问题的答案将决定取样策略、以及提供代表性样品所需的拆解与拆分程度，如可能，需要提供足够数量的有代表性的均质样品来进行有效分析。如可能，取样应按最小程度拆解和拆分步骤进行。每个步骤通常采用筛选方式（见IEC62321-3-1和IEC62321-3-2)对其有效性进行评估（见图1)。根据评估结果和分析目标，如有必要，特别是对于产品元器件和材料的验证分析，需要执行进一步的拆解、拆分与取样。这种方法是最经济、最快捷、最有效的分析手段，特别是对成品。
电子电气产品的众多类型和多样性使其不能为每种产品提供详细的取样策略。但是，本程序提供了五个逐级递增拆分级别的取样示例。附录A为某些典型电子电气产品提供了基于图1的通用取样流程图：DVD播放器、阴极射线管、液晶电视机、PDA/电话、台式风扇以及两种元器件（薄膜电阻和SMD电位计）。附录D列出了一些常用的拆解和拆分工具。为避免可能发生交叉污染，强烈建议确定使用的工具不含某些物质。附录E给出了一些拆解和拆分示例，其中涉及两种手机以及多种小型电子元器件的拆分，特别是集成电路引线框和BGA封装。
5.2整机产品
从整机产品上取样是第一步，通过非破坏性的方式，可以不经过拆解和拆分就得到代表性的样品进行分析。
但是，“整机产品”具有相对性。例如，交流电源线是其制造商的完整产品，但只是电视机的一个部件。如果整机产品的结构非常简单，或者如果已知预期某些物质的位置，而且可以在不拆分的情况下对其进行检测，那么可以在不拆分的情况下对其进行评估。此类产品的示例包括电源线、打印机或其他外围电缆、设备外壳等。
注：对于诸如电源线等看似简单的产品，也甚至可能由10～20种不同的均质材料组成。6
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