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基本信息

标准号: YS/T 229.4-2013

中文名称:高纯铅化学分析方法 第4部分:痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法

标准类别:有色金属行业标准(YS)

英文名称:Chemical analysis methods for high purity lead—Part 4:Determination of trace impurity elements content—Glow discharge mass spectrometry

标准状态:现行

发布日期:2013-10-17

实施日期:2014-03-01

出版语种:简体中文

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相关标签: 化学分析 方法 杂质 元素 含量 测定 放电 质谱法

标准分类号

标准ICS号:冶金>>有色金属>>77.120.60铅、锌、锡及其合金

中标分类号:冶金>>金属化学分析方法>>H13重金属极其合金分析方法

关联标准

出版信息

出版社:中国标准出版社

书号:155066·2-26706

页数:8页

标准价格:14.0

出版日期:2014-03-01

相关单位信息

起草人:王攀峰、文英、孙平、刘红、邱平、徐顺波

起草单位:东方电气集团峨嵋半导体材料研究所等

发布部门:中华人民共和国工业和信息化部

主管部门:全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243)

标准简介

YS/T229的本部分规定了高纯铅中痕量杂质元素含量的测定方法,测定元素见表1。 本部分适用于高纯铅中痕量杂质元素含量的测定。各元素测定范围如下:硫、硒元素的测定范围为100μg/kg~5000μg/kg,其余元素的测定范围为1μg/kg~5000μg/kg。
YS/T229—2013《高纯铅化学分析方法》共分为4个部分:
———第1部分:银、铜、铋、铝、镍、锡、镁和铁量的测定 化学光谱法;
———第2部分:砷量的测定 原子荧光光谱法;
———第3部分:锑量的测定 原子荧光光谱法;
———第4部分:痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法。
本部分为YS/T229的第4部分。
本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本标准由全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC243)归口。
本部分负责起草单位:东方电气集团峨嵋半导体材料研究所。
本部分参加起草单位:北京有色金属研究总院、金川新材料科技股份有限公司。
本部分主要起草人:王攀峰、文英、孙平、刘红、邱平、徐顺波。

标准内容

ICS 77.120.60 H13 YS 中华人民共和国有色金属行业标准 YS/T 229.4—2013 高纯铅化学分析方法 第4部分:痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 Chemical analysis methods for high purity lead — Part 4: Determination of trace impurity elements content — Glow discharge mass spectrometry 2013-10-17发布 2014-03-01实施 中华人民共和国工业和信息化部 发布 前言 YS/T 229—2013《高纯铅化学分析方法》共分为多个部分,包括: 第1部分:银、铜、铋、铝、镍、锡、镁和铁量的测定(化学光谱法); 第2部分:砷量的测定(原子荧光光谱法); 第3部分:锑量的测定(原子荧光光谱法); 第4部分:痕量杂质元素含量的测定(辉光放电质谱法)。 本部分为YS/T 229的第4部分,按照GB/T 1.1—2009规则起草。 本标准由全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243)归口。 负责起草单位:东方电气集团峨半导体材料研究所。 参加起草单位:北京有色金属研究总院、金川新材料科技股份有限公司。 主要起草人:王攀峰、文英、孙平、刘红、邱平、徐顺波。 1 范围 本部分规定了高纯铅中痕量杂质元素含量的测定方法。 适用于高纯铅中痕量杂质元素的分析测定。 测定范围如下: 硫、硒元素:100 μg/kg~5000 μg/kg; 其他元素:1 μg/kg~5000 μg/kg。 2 方法原理 试样作为阴极进行辉光放电,表面原子在溅射作用下进入辉光放电等离子体中,并在等离子体中电离后被导入质谱仪。 在各元素同位素质量数处,按设定扫描点数和积分时间对谱峰进行积分,得到谱峰强度。 半定量分析时,仪器软件依据“典型相对灵敏度因子”自动计算各元素质量分数; 定量分析时,通过在相同分析条件下对标准样品测定获得相对灵敏度因子,再计算各元素含量。 3 试剂与材料 除非另有说明,所用试剂均为优级纯,水为去离子水(电阻率18.2 MΩ·cm)。 3.1 氮气(纯度≥99.99%) 3.2 硝酸(1+1) 3.3 铅标准样品:被测元素含量在50 μg/kg~500 μg/kg之间 3.4 铅空白样品:被测元素含量应低于试样中相应元素含量的1/10 4 仪器 4.1 高分辨率辉光放电质谱仪:中分辨率模式3000~4000,高分辨率模式9000~10000 4.2 机械加工设备:用于将样品加工成块状或棒状,分析表面需平整光滑 4.3 测定要求:Pb同位素谱峰强度不小于5×10^5 cps,峰形满足分辨率要求 表1 测定元素及同位素信息(部分) 元素:B、F、Na、Mg、Al、Si、P、S、Cl、K、Ca、Sc、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、Ge等 对应同位素质量数:7、9、11、19、23、24、27、28、31、32、35、39、44、45、48、51、52、55、56、59、60、63、68、69、72等 分辨率要求:多为中分辨率,部分元素需高分辨率测定

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