首页 >  有色金属行业标准(YS) >  YS/T 922-2013高纯铜化学分析方法 痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法

基本信息

标准号: YS/T 922-2013

中文名称:高纯铜化学分析方法 痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法

标准类别:有色金属行业标准(YS)

英文名称:Methods for chemical analysis of high purity copper—Determination of trace impurity elements content—Glow discharge mass spectrometry

标准状态:现行

发布日期:2013-10-17

实施日期:2014-03-01

出版语种:简体中文

下载格式:.pdf .zip

下载大小:1.83 MB

相关标签: 化学分析 方法 杂质 元素 含量 测定 放电 质谱法

标准分类号

标准ICS号:冶金>>有色金属>>77.120.30铜和铜合金

中标分类号:冶金>>金属化学分析方法>>H13重金属极其合金分析方法

关联标准

出版信息

出版社:中国标准出版社

书号:155066·2-26737

页数:8页

标准价格:14.0

出版日期:2014-03-01

相关单位信息

起草人:王长华、秦芳林、王攀峰、刘英、孙泽明、李继东、童坚、臧慕文、邱平、文英、尚再艳

起草单位:北京有色金属研究总院等

发布部门:中华人民共和国工业和信息化部

主管部门:北京有色金属研究总院

标准简介

本标准规定了高纯铜中痕量杂质元素含量的测定方法,测定元素见表1。 本标准适用于高纯铜中痕量杂质元素含量的测定。各元素测定范围如下:硫、硒元素的测定范围为10μg/kg~5000μg/kg,其余元素的测定范围为1μg/kg~5000μg/kg。
本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本标准由全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC243)归口。
本标准负责起草单位:北京有色金属研究总院。
本标准参加起草单位:金川集团股份有限公司、东方电气集团峨嵋半导体材料有限公司、有研亿金新材料股份有限公司。
本标准主要起草人:王长华、秦芳林、王攀峰、刘英、孙泽明、李继东、童坚、臧慕文、邱平、文英、尚再艳。

标准内容

中华人民共和国有色金属行业标准 YS/T922—2013 高纯铜化学分析方法 痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 Methods for chemical analysis of high purity copper - Determination of trace impurity elements content - Glow discharge mass spectrometry 发布:2013-10-17 实施:2014-03-01 中华人民共和国工业和信息化部发布 中国标准出版社出版发行,北京市朝阳区和平里西街甲2号(100013),北京市西城区三里河北街16号(100045),网址:www.spc.net.cn 总编室:(010)64275323 发行中心:(010)51780235 读者服务部:(010)68523946 中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷,各地新华书店经销 前言 本标准按照GB/T1.1—2009规则起草,由全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC243)归口,起草单位为北京有色金属研究总院。本标准参加起草单位包括金川集团股份有限公司、东方电气集团峨嵋半导体材料有限公司、有研亿金新材料股份有限公司。主要起草人包括王长华、秦芳林、王攀峰、刘英、孙泽明、李继东、童坚、藏慕文、邱平、文英、尚再艳。 1 范围 本标准规定了高纯铜中痕量杂质元素含量的测定方法,测定元素见表1。适用于高纯铜样品。硫、硒元素的测定范围为10 μg/kg~5000 μg/kg,其余元素为1 μg/kg~5000 μg/kg。 2 方法原理 试料作为阴极进行辉光放电,在氩气氛下,其表面原子被溅射进入辉光放电等离子体,在等离子体中离子化后导入质谱仪。每一元素同位素质量数处以预设扫描点数和积分时间对谱峰积分,所得面积为谱峰强度。元素含量用计算公式求得。无标准样品时,仪器软件根据典型相对灵敏度因子计算质量分数;有标准样品时,通过标准样品测定获得相对灵敏度因子计算质量分数。 3 试剂与材料 除非另有说明,分析中所用试剂均为优级纯,所用水为一级水。 3.1 硝酸(1+1) 3.2 铜标准样品,被测元素质量分数在50 μg/kg~500 μg/kg 3.3 仪器背景监控样品,元素质量分数低于被测样品10倍以上 3.4 氩气(纯度≥99.999%) 3.5 氮气(纯度≥99.99%) 4 仪器 4.1 高质量分辨率辉光放电质谱仪,中分辨率模式分辨率3000~4000,高分辨率模式9000~10000 4.2 测定同位素及分辨率见表1。测定时要求同位素^63Cu谱峰强度不小于5×10^6 cps,峰形符合分辨率要求 表1 测定元素及同位素质量数与分辨率 元素:Li, Be, B, F, Na, Mg, Al, Si, P, S, Cl, K, Ca, Sc, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Zn, Ga, Ge, As, Se, Br, Rb, Sr, Y, Zr, Nb, Mo, Ru, Rh, Pd, Ag, Cd, In, Sn, Sb, Te, I, Cs, Ba, La, Ce, Pr, Nd, Sm 同位素质量数:7, 9, 11, 19, 23, 24, 27, 28, 31, 32, 35, 39, 44, 45, 48, 51, 52, 55, 56, 59, 60, 68, 69, 72, 75, 78, 80, 85, 87, 89, 93, 95, 101, 103, 107, 109, 111, 114, 121, 123, 127, 129, 133, 137, 139, 147 分辨率:中分辨/高分辨,根据元素而定

小提示:此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容,若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。

📥 下载资源 免费下载
🌀 夸克网盘 下载大小:1.83 MB · zip
前往下载 →
💡 点击"前往下载"跳转网盘,直接保存文件 遇到问题?

标准图片预览

YS/T 922-2013高纯铜化学分析方法 痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 YS/T 922-2013高纯铜化学分析方法 痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 YS/T 922-2013高纯铜化学分析方法 痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 YS/T 922-2013高纯铜化学分析方法 痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 YS/T 922-2013高纯铜化学分析方法 痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法