GB/T 11024.2-2001
基本信息
标准号:
GB/T 11024.2-2001
中文名称:标称电压1kV以上交流电力系统用并联电容器 第2部分:耐久性试验
标准类别:国家标准(GB)
标准状态:现行
发布日期:2001-11-02
实施日期:2002-06-01
出版语种:简体中文
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标准分类号
标准ICS号:电子学>>电容器>>31.060.70电力电容器
中标分类号:电工>>输变电设备>>K42电力电容器
出版信息
出版社:中国标准出版社
书号:155066.1-18289
页数:平装16开, 页数:9, 字数:17千字
标准价格:10.0 元
出版日期:2004-04-09
相关单位信息
首发日期:1989-03-31
复审日期:2004-10-14
起草人:刘蔷
起草单位:西安电力电容器研究所
归口单位:全国电力电容器标准化技术委员会
提出单位:中国电器工业协会
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
主管部门:中国电器工业协会
标准简介
本标准适用于符合GB/T 11024.1的电容器,并给出了这些电容器过电电压周期试验和老化试验的要求。 GB/T 11024.2-2001 标称电压1kV以上交流电力系统用并联电容器 第2部分:耐久性试验 GB/T11024.2-2001 标准下载解压密码:www.bzxz.net
标准内容
ICS31.060.70
中华人民共和国国家标准
GB/T11024.2—2001
idtIEC/TS60871-2:1999
标称电压1kV以上交流
电力系统用并联电容器
第2部分:耐久性试验
Shunt capacitors for a.c. power systemshaving a rated voltage above 1kV-Part 2:Endurance testing
2001-11-02发布
中华人民共和国
国家质量监督检验检疫总局
2002-06-01实施
GB/T11024.2-2001
本标准等同采用国际标准IEC/TS60871-2:1999《标称电压1kV以上交流电力系统用并联电容器第2部分:耐久性试验》,本标准与相关标准协调一致。本标准是对GB/T11024一1989《高电压并联电容器耐久性试验》的修订。主要的修订内容有:1)原标准将过电压试验和过负荷试验视为一体,要求对同一组试品进行,而本标准认为这两项试验,即过电压周期试验和老化试验是对两种不同运行状况的考核,可对不同组试品分别进行试验。2)原标准中的过电压试验要求试品需受到总数达1700次过电压周期(总计25500个过电压周波),而本标准认为与实际运行状况相比此规定过于严格,故将过电压周期总数降为850次(总计12750个过电压周波)。
3)原标准中的过负荷运行试验规定在(25土10)℃的环境温度中,对试品施加1.4U的过电压至少保持500h。而本标准的老化试验要求在不低于60℃的高温下进行,试验电压为1.25U历时3000h或1.4U~历时1000h,比原标准要求严格。本标准是GB/T11024《标称电压1kV以上交流电力系统用并联电容器》的第2部分。GB/T11024包括以下部分:
第1部分:总则性能、试验和定额安全要求安装和运行导则第2部分:耐久性试验
第3部分:并联电容器和并联电容器组的保护第4部分:内部熔丝
本标准自实施之日起代替GB/T11024—1989。本标准的附录A、附录B是标准的附录。本标准的附录C是提示的附录。
本标准由中国电器工业协会提出。本标准由全国电力电容器标准化技术委员会归口。本标准起草单位:西安电力电容器研究所。本标准主要起草人:刘菁。
本标准委托全国电力电容器标准化技术委员会负责解释。GB/T11024.2—2001
IEC前言
1)IEC(国际电工委员会)是由各国家电工委员会(IEC各国家委员会)组成的国际性标准化组织。IEC的目的在于促进电工和电子领域内所有有关标准化问题的国际协作。为此,除其他活动外,IEC出版国际标准。这些标准是委托技术委员会制定的;任何一个对所着手进行的项目感兴趣的IEC国家委员会均可参加该制定工作。与IEC有协作关系的国际性、政府性和非政府性组织亦均可参加这一制定工作。IEC与国际标准化组织(ISO)根据双方商定的条件密切合作。2)由所有对该问题特别关切的国家委员会参加的技术委员会制定的IEC有关技术问题的正式决议或协议,尽可能地表达了对所涉及的问题在国际上的一致意见。3)这些决议或协议以标准、技术规范、技术报告或导则的形式出版,以推荐物的形式供国际上使用,并在此意义上为各国家委员会所接受。4)为了促进国际上的统一,IEC各国家委员会同意在其国家和地区标准中最大可能地采用IEC国际标准。IEC标准与相应的国家或地区标准之间的任何差异,均应在后者中明确提出。5)IEC并未制定任何表示认可标志的手续,如有对某项设备声称符合IEC的项标准时,IEC对此不负责任。
6)注意到本国际标准的某些部分可能是专利权的内容。IEC不负责对任一或所有这类专利权进行鉴别。
IEC技术委员会的主要职责是制定国际标准。在下列特殊情况下,技术委员会可建议出版技术规范:
尽管经过多次努力,而作为国际标准出版仍不能得到所需的支持;一课题仍处于技术发展过程中或由于其他任何原因,是将来而不是最近有可能就国际标准取得一致意见。
IEC60871-2是技术规范,是由IEC第33技术委员会“电力电容器”制定的。此第二版是代替并废止了1987年出版的第一版以及第一次修订(1991)而形成的技术修订本。本技术规范的正文以下列文件为依据:调查草案
33/292/CDV
表决报告
33/304/RVC
批准本技术规范的全部表决资料可在上表所示的表决报告中查到。本出版物是根据ISO/IEC导则第3部分起草的。附录A、B是IEC60871这一部分的组成部分。附录C仅供参考。
委员会决定本出版物有效期至2005年。到时,按照委员会的决定,本出版物将:再确认;
取消:
被修订版代替;或
修改。
1总则
1.1范围和目的
中华人民共和国国家标准
标称电压1kV以上交流
电力系统用并联电容器
第2部分:耐久性试验
Shunt capacitors for a.c. power systemshaving a rated voltage above 1kV-Part 2.Endurance testing
GB/T11024.2—2001
idtIEC/TS60871-2:1999
代替GB/T11024--1989
本标准适用于符合GB/T11024.1的电容器,并给出了这些电容器过电压周期试验和老化试验的要求。
1.2引用标准
下列标准所包含的条文,通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时,所示版本均为有效。所有标准都会被修订,使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。GB/T11024.1-2001标称电压1kV以上交流电力系统用并联电容器第1部分:总则性能、
试验和定额安全要求安装和运行导则(egvIEC60871-1:1997)JB/T8957—1999校验电容器损耗角正切测量准确度的方法(idtIEC60996:1989)1.3定义
本标准除采用GB/T11024.1给出的定义外,还采用下列定义。1.3.1试验(电容器)单元
试验单元可以是生产线上的单元之一,或是在过电压周期试验和老化试验所要检验的性能方面与生产单元相等效的特制单元。过电压周期试验和老化试验中所用试验单元的设计可以与生产单元有所不同(附录B中详细叙述了试验单元设计的限制)。1.3.2可比元件设计
可比元件设计是指在一定范围内的元件结构设计,在耐久性试验过程中这些元件在性能方面与生产单元中的元件是可比的(见附录B中详细叙述的设计极限)。1.3.3元件间绝缘
两申联连接的元件之间的绝缘,包括:一元件中包围电极的绝缘层的外面几圈;一放在两元件之间的隔离绝缘层。该隔离绝缘层可以超出压扁元件的宽度和(或)长度范围(见附录C)。
2质量要求和试验
2.1试验要求
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局2001-11-02批准2002-06-01实施
GB/T11024.2—2001
2.1.1试验类别
过电压周期试验是为了验证在从额定最低温度到室温的范围内,反复的过电压周期不致使介质击穿而进行的型式试验。www.bzxz.net
老化试验是为了验证在提高的温度下,由增加电场强度所造成的加速老化不会引起介质过早击穿而进行的型式试验。
这两项试验应由制造厂作为型式试验对一特定介质系统进行(不是对每一特定额定值的电容器,因为型式试验的结果适用于附录B中所规定限度内的各种各样额定值的电容器)。购买方有要求时制造厂应提供详列这些试验结果的证明书。2.1.2耐久性试验和要求
过电压周期试验和老化试验应按下列顺序进行。一组试验单元进行过电压周期试验,另一组进行老化试验,制造厂也可对一组单元进行这两项试验。除2.1.2.1按照GB/T11024.1-2001中9.2的规定可采用直流电压试验外,所施加试验电压的频率应为50Hz或60Hz。
2.1.2.1出厂试验
试验单元应承受端子之间的出厂电压试验(见GB/T11024.1一2001中第9章),其幅值应能使每一元件两端均获得适当的试验电压。2.1.2.2试验前单元的稳定化处理试验单元应在温度不低于十10℃的环境中,在不低于1.1U的电压下,历时不少于16h。注:稳定化处理是用来稳定试验单元的介电性能。2.1.2.3初始电容及介质损耗测量将试验单元于不通电状态,在温度从十60℃+75℃(允许偏差士2℃)范围内可调的、具有强追空气循环的烘箱中,放置至少12h。然后,在相同的环境温度下对单元施加Un,并在施加电压4.5min~5.5min内测量电容和损耗。注
1除温度和测量时间按本条要求外,测量程序应按照GB/T11024.1一2001中7.1和8.1相应的测量程序进行。2为了避免在测量结束之前试验单元内的温度降低,可将试验单元绝热来代替在相同的环境温度下进行试验。2.1.2.4试验电压
对易受到较高过电压、瞬变过程等作用的电容器(见GB/T11024.1一2001的9.1中注4和31.1),进行过电压周期试验时(见2.1.3和附录A)应相应增加所施加的试验电压的幅值。2.1.3过电压周期试验
2.1.3.1试验方法
将单元于不通电状态,在温度不高于温度类别(见GB/T11024.1-2001中4.1)下限的、具有强迫空气循环的冷却箱中,放置至少12h。然后,将试验单元从空气循环的冷却箱中取出,放置在环境温度十15℃~十35℃的静止空气中,并在取出后5min内施加1.1U~电压,如果5min内不能完成施加电压,则应将试验单元绝热以避免过分的加热。加压后5min内施加2.25U的过电压,持续15个周波电压不中断,此后再保持1.1U电压不中断。在1.1U下间隔1.5min~2min后,施加另外一次相同的过电压,施加程序同上。单元每天应受到总数为130次~170次过电压周期,每次持续15个周波。然后立即将单元于不通电状态,在空气循环的冷却箱中放置至少12h再继续试验,每天如此,直到单元受到总数为850次的15个周波持续的过电压周期(总计12750个过电压周波)为止。注
1有关过电压波形和偏差的详细要求示于附录A中。2试验应在连续的几天内完成,允许中断,但在整个中断期间内试验单元应在冷却箱中保持不通电状态。2
2.1.3.2最后电容和介质损耗测量GB/T11024.2—2001
在完成2.1.3.1试验的两天内,应在相同温度、相同电压和相同频率下重复2.1.2.3的测量。2.1.3.3验收准则
两单元试验时应不发生击穿,三单元试验时允许有一单元击穿。按2.1.2.3和2.1.3.2测得的电容之差应小于相当于一个元件击穿或一根内部熔丝动作之量。2.1.4老化试验
2.1.4.1试验方法
老化试验过程中介质的温度应至少等于下列两温度中较高者:a)60℃,
b)24h平均最高温度(见GB/T11024.1—2001中表1)加上生产单元在热稳定试验结束时测得的介质温升。
注:介质温度可用热电偶测量,或者根据热稳定试验结束时测得的电容用电容对温度的数曲线来估算,也可从以前确定的内部和外部溢度之间的关系来估算,比如采用JB/T8957中所述的电阻性的模拟电容器。在试验期间,应将试验单元放置在一个环境温度可调的、使介质能达到所要求的温度的烘箱中。环境温度应保持恒定,误差为一2℃~十5℃。在施加电压前,应将试验单元在这一环境中稳定12h。由于试验时间长,因此允许电压中断。在电压中断期间,单元应继续处于控制的环境温度中。如果烘箱断电,则在单元施加电压前应再放置12h以达到环境温度。试验时间取决于试验电压。应采用下列试验条件之一试验电压
2.1.4.2最后电容和介质损耗测量持续时间,h
在完成2.1.4.1试验的两天内,应在相同温度,相同电压和相同频率下重复2.1.2.3的测量。2.1.4.3验收准则
两单元试验时应不发生击穿,三单元试验时允许有一单元击穿。按2.1.2.3和2.1.4.2测得的电容之差应小于相当于-个元件击穿或一根内部熔丝动作之量。2.1.5试验有效性
耐久性试验是对元件(其介质设计和介质组成)以及这些元件组装成电容器单元的制造工艺而进行的试验。
2.1.5.1单元设计变更
每一耐久性试验也覆盖与试验单元的设计相差在附录B规定的限度内的其他电容器的设计。2.1.5.2使用条件变更
每一耐久性试验也可覆盖符合下列条目下的其他使用条件:一温度类别的下限高于过电压周期试验单元的下限的单元;一温度类别的上限低于老化试验单元的上限的单元;一在50Hz下进行的试验也适用于60Hz(和较低频率)的单元,反之亦然。GB/T 11024.2—2001
附录A
(标准的附录)
过电压波形
试验电压的频率应为50Hz或60Hz。应在不中断(1.05~1.15)U~稳态电压的情况下施加过电压。图A1中给出了恒定电压和过电压的幅值极限。T,
图A1过电压周期的时间和幅值极限除T,外,时间均用试验频率的周波数表示。T,是相邻两过电压周期之间的间隔1.5min~2min。附录B
(标准的附录)
可比元件设计和试验单元设计的要求B1可比元件设计准则
如果满足下列要求,则认为可比元件设计与生产单元中的元件是可比的。Z
a)可比元件介质中固体材料的层数应相同或少一些,且应用同一种液体没渍。对于过电压周期试验,额定电压和电场强度均应相同或高一些。对于老化试验,介质厚度应在70%~130%内,但额定电场强度应相同或高一些。当介质中含有膜和纸两种时,用于比较的电场强度值是仅按固体材料的厚度和它们各自的介电常数计算得出的每种固体材料上的电场强度值。b)固体介质材料的组合应相同,例如:全膜、全纸或膜-纸-膜等。4
GB/T11024.2-2001
c)固体和液体介质材料应满足同一制造厂的技术规范。d)铝箔设计应相同:
一同一制造厂的技术规范;
一厚度在士20%范围内;
——铝箔凸出或不凸出;
一铝箔折边和(或)切边(如果是设计特点);一留边较少或相同。
e)元件连接方式应相同,例如引线片、焊接等。f)元件长度(有效铝箔宽度)允许在50%~400%内变化,元件的展开长度(有效铝箔长度)允许在30%~300%内变化(见附录C)。
B2试验单元设计
如果满足下列要求,则认为试验单元与生产单元是可比的:a)与生产单元相比,满足B1要求的元件应是相似组合的,元件间绝缘相同或较薄,元件应以同样方式压紧,压紧系数在制造偏差内。b)应至少连接4个元件,额定电压(50H2)下的容量不小于30kvar。所有接人的元件应彼被此相邻地放置。对于进行过电压周期试验的单元,应至少装设一个元件间绝缘,这样在试验期间,元件间绝缘才能受到两串联连接元件间产生的电压差的作用。注:接入的元件可以是串联和并联连接的,不管怎样,只要与试验设备相适应即可。对于老化试验单元,所有元件可以并联连接。
c)可比元件外部的连接件可以加大,以便适应(例如由于一些元件并联造成的)电流增加。d)对壳绝缘厚度应相同或较厚;注:本要求是用来保证干燥和授溃条件与生产单元的相同。对壳绝缘的耐电要求通过GB/T11024.1--2001中第10,15和16章的试验来进行检验。e)应使用制造厂的标准设计外壳,与生产单元相比,外壳尺寸在下列范围之内:外壳的宽度:50%到200%;
外壳的高度:50%到400%;
外壳的长度:50%到200%。
注,考虑到元件尺寸的变化,上述外壳尺寸的范围是必要的。外壳材料应是相同的,但漆色可以不同。为了和试验电压和(或)试验电流相适应,可调整套管的设计和套管的数量。f)干燥和浸渍工艺应与正常生产工艺相同。g)试验单元在所有其他各方面,如放电电阻和内部熔丝等部件,也应该是相同的,并且制造工艺也应与生产单元相同。
C1压扁的元件
在厚度方向压扁的元件
GB/T11024.2--2001
附录C
(提示的附录)
元件和电容器外壳尺寸的定义
(压扁的)宽
压扁的元件
元件展开长度或有效铝箔长度由在(压扁的)宽度方向展开的元件获得。C2电容器外壳
图C2电容器外壳
高度始终是由装有套管的一面到另一面来确定。一般压扇元件的宽度方向对应于外壳的宽度方向。元件的长度方向可对应于外壳的高度方向或外壳的长度方向,这取决于设计。GB/T11024.2-2001
中华人民共和国
国家标准
标称电压1kV以上交流
电力系统用并联电容器
第2部分:耐久性试验
GB/T11024.2-—2001
中国标准出版社出版
北京复兴门外三里河北街16号
邮政编码:100045
电话:6852394668517548
中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷新华书店北京发行所发行
各地新华书店经售
开本880×12301/16
印张3/4字数17于字
2002年4月第一版2002年4月第一次印刷印数1-1000
书号:155066·1-18289定价10.00元网址bzcbs.com
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