HG/T 2348-1992 磁带用聚酯薄膜表面粗糙度的测量触针法 HG/T2348-1992 标准下载解压密码：www.bzxz.net

中华人民共和国化工行业标准
磁带用聚酯薄膜表面粗糙度
的测量触针法
HG/T2348—92
本标准参照采用国际标准ISO4288一1985《触针式仪器测量表面粗糙度的规则和方法》1主题内容与适用范围
本标准规定了采用轮廊顺序转换的触针式仪器和带有计算机测量系统的触针式仪器，测量磁带用聚酯薄膜表面粗糙度Ra、Rz和Ry（Rt）的方法。本标准适用于录像带、录音带和软盘用聚酯薄膜表面粗糙度测量，2引用标准
GB1031表面粗糙度参数及其数值GB3505表面粗糙度术语表面及其参数GB6061轮廊法测量表面粗糙度的仪器术语GB6062轮廓法触针式表面粗糙度测量仪轮廓记录仪及中线制轮廓计GB7220表面粗糙度术语参数测量触针式仪器测量表面粗糙度的规则和方法GB10610
3术语及定义
本标准采用上述引用标准中所给定的有关术语和定义。4、测量原理
当触针沿被测薄膜表面进行扫描时，由于薄膜表面存在微观不平，触针将作垂直于被测面的机械运动，这种机械运动信号，被仪器进行信息转换，放大、滤波和自动计算后，就成为结果，显示在仪器上，或打印、描绘在记录纸上，5测量仪器与装置
5.1触针式仪器
本标准采用符合上述引用标准的轮廓序转换触针式仪器和带有电子计算机的触针式仪器。5.2截止波长（cutofm）c
截止波长1c应等于根据表1、表2而选用的取样长度值，5.3触针针尖曲率半径
优先选用2um，可以选用小于或等于5um，当选用小于或等于5um时，应加以注明。5.4试样支撑玻璃或金属
支撑被测试样的玻璃或金属表面粗糙度Ra应小于或等于0.003um。中华人民共和国化学工业部1992-06-01批准标准批疫网bzem.ccm各类标准行业质解免费下线1993-03-01实施
6测量条件
6.1评定长度和取样长度
HG/T2348—92
评定被测表面的粗糙度，必须采用某个粗糙度参数的一组测量值，其中每一个测量值是在构成一个评定长度的若干个取样长度上确定的利用这些测量值，按式（1）求出表面粗糙度参数的平均值R：-(Ri)
ki-,(n
式中：k——评定长度的个数，即沿被测表面的测量次数；Ri—)个取样长度内确定的表面粗糙度参数值；—1个评定长度内取样长度的个数。(1)
由同一被测表面所获得的测量结果的可靠性和表面粗糙度参数平均值的精度，将取决于评定长度内取样长度的个数和评定长度的个数玉。为了确保可靠性和精度，必须使n>5
=5，即由5个连续取样长度构成的评定长度为标准评定长度，取样长度l：应优先选用表1、表2中给出的1值来测量Ra、Rz和Ry（Rt）参数.表1测量Ra值的取样长度
0.008~0.020
>0.020~0.100
0.025~0.100
>0.100~0.500
取样长度！
表2测量Rz和Ry（Rt）值的取样长度取样长度1
评定长度In
评定长度In
如果用0.08mm截止波长测量Ra时，Ra小于0.020μm面用0.25mm截止波长测量时，Ra大于0.020um，那么，在这种情况下，应选用0.08mm截止波长进行测量。Rz、Ry依此类推。在同时测量Ra、Rz、Ry（Rt）三个参数时，按表1给出的1值进行测量。为了确定第一次测量所用的截止波长值，可先进行目测比较，亦可根据试样条件进行分析。6.2测量方向
沿膜卷的横向（TD）进行测量，在特殊情况下，可沿其它方向进行测量，此时，应在技术文件中注明在有争议时，应沿产生表面粗糙度参数最大值的方向进行测量，6.3试样状态调节和量的标准环境试样在温度23±2℃，相对湿度50%±5%的洁净环境下进行状态调节，调节时间不少于4h。5
标准换换网m.bzaoo,co各美标准行业资料免费下款HG/T2348—92
测量在与状态调节相同的环境下进行，7试样
7.1样片尺寸和数量
从每一被测试样的不同部位随机裁取2个尺寸为120mm×60mm的样片，使其长边平行于膜卷的纵向（MD).在两个样片的不同部位上进行测量，使测量总次数k不少于17.7.2被测表面
样片的被测表面应无尘、无折皱、无划伤、不起毛，不允许有任何可能改变测量结果的外来杂质存在。
必要时，可用不掉毛的纤维团、织物或擦镜纸沾分析纯无水乙醇或丙酮轻轻擦洗被测表面，以除去尘土等异物，但切忌伤表面，8测量步骤
8.1校正试验
用单刻线标准块或多刻线标准块和粗糙度标准块校正仪器，两次校正试验间隔时间应不大于3个月。
8.2固定样片
固定样片前，用无水乙醇或丙酮清洗支撑试样的玻璃或金属表面.！将被测样片固定在薄膜固定装置上，样片与支撑玻璃或金属表面之间应无气泡、无空隙8.3输入或设定测量条件
通过仪器的按健或旋钮输人或设定规定的测量条件，8.4测量
启动仪器进行测量
9结果计算与判定
9.1均值
按式（1）求出Ra、Rz、Ry(Rt）的算术平均值Ra、Rz和Ry（Rt)。9.2标准偏差
按式（2）分别求出相应参数的标准偏差s.[2 Ri? -
式中Ri-第i次测量值i=1、2、3
k沿表面测量次数.
9.3结果判定
如果表面粗糙度参数Ra、Rz的所有测量值中，超过标准规定值的个数少于总数的16%，则该表面是合格的。（即7次测量值中只充许有一次超差），判不合格前，应另取双倍数量的样片进行不少于13次测量，如果超过标准规定值的个数仍不少于总数的16%，则判该表面不合格。当给定表面粗糙度参数Ry（Rt）最大值的要求时，在表面粗糙度的测量过程中，整个被测表面所有粗糙度参数测量值均不应超过标准规定值。6www.bzxz.net
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测量报告
测量报告包括下列内容：
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试样名称、批（编）号、品种规格、来源；测量仪器；
测量方法（标准号）；
测量条件（标准要求说明的条件）；测量结果：Ra、Rz、Ry（Rt）的算术平均值、标准偏差、最大值、测量次数和超过标准规定值的测量次数以及所用的截止波长值；f。结果判定：根据9.3条与标准规定值判定合格或不合格；g.
测量日期、测量者及审核者。
附加说明：
本标准由中华人民共和国化学工业部科技司提出本标准由化学工业部第一胶片厂归口。本标准由杭州磁带厂、化学工业部第一胶片厂、佛山聚酯薄膜公司共同起草，本标准主要起草人翟琼宗、王颖、韩方、李懿庄。本标准参照采用西德标准DIN4768-1990《电子接触（触针）式仪器测量表面粗糙度RaRz、Rmax，基本概念和测量条件》。标准授损网口品n.cm各关标准行业资料免毒下载
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