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基本信息

标准号: YS/T 362-2006

YS/T 362-2006纯钯中杂质素的发射光谱分析

标准类别:有色金属行业标准(YS)

发布日期:2006-05-25

实施日期:2006-12-01

出版语种:简体中文

下载格式:.rar.pdf

相关标签: 发射光谱 杂质 分析

标准分类号

标准ICS号:冶金>>金属材料试验>>77.040.30金属材料化学分析

中标分类号:冶金>>金属化学分析方法>>H15贵金属及其合金分析方法

关联标准

替代情况:替代YS/T 362-1994

出版信息

出版社:中国标准出版社

页数:平装16开, 页数:6, 字数:7千字

标准价格:8.0 元

出版日期:2006-12-01

相关单位信息

起草人:方卫、徐光、杨玉芳

起草单位:贵研铂业股份公司

提出单位:全国有色金属标准化技术委员会

发布部门:中华人民共和国国家发展和改革委员会

主管部门:国家发展和改革委员会

标准简介

本标准规定了纯钯中杂质素含量的测定方法。本标准适用于99.95%~99.99%纯钯中杂质素含量的测定。测定的杂质素及含量范围见表1。 YS/T 362-2006 纯钯中杂质素的发射光谱分析 YS/T362-2006