本标准规定了游标卡尺、带表卡尺和数显卡尺的术语和定义、型式与基本参数、要求、试验方法、检验条件、检验方法、标志与包装等。本标准适用于分度值/分辨力为0.01mm、0.02mm、0.05mm和0.10mm，测量范围为(0～70)mm至(0～4000)mm的游标卡尺、带表卡尺和数显卡尺。 GB/T 21389-2008 游标、带表和数显卡尺 GB/T21389-2008 标准下载解压密码：www.bzxz.net

ICS 17.040. 30
中华人民共和国国家标准
GB/T21389—2008
代替GB/T1214,1—1996CB/T1214.21996.GH3/T6317·-1993,GB/T14899-1994游标、带表和数显卡尺
Vernier,dial and digital display cajipers2008-02-02发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2008-07-01实施
GB/T 21389—2008
本标准是对GB/T1211.1—1996游标类F尺通用技术条件》，GB/T1214.21996《游标类卡尺游标卡尺》、G13/T63171993《带表卡尺》、GB/T14899—1D94《电了数显卡尺》和IB/T8370-1996《游标类卡尺游标卡尺（测量范用为0mm~1500mm.0mm~2000mm）》5项标准进行整合修订的。
本标准代替GB/T1214.1—1096《游标类卡尺通用技术条件》，GB/T1211.2—1006游标类卡尺游标卡尺》GB/T6317—1993带表卡尺》、GI3/T148991994《电子数显卡尺》。自本标准实施之H起.J13/T83701996《游标类卡尺游标卡八（测量范围为mm～1500mIn、0 n~-2 000 mm)》作废。
本标准与上述三项标准相比，主要变化如下：扩展了卡尺\的测量范画及形式，增加了卡尺结构基本参数的遵循原则，修改了卡尺结构基本参数的推荐值（GP/11214.2-1996的第1章、第3章；GR/T53171593的第1章、第3章；GB/T14899一1994的第1章、第1章JB/T83701996的第|章、第3章；本标准的第1章、第1章）：
一用\分度值”和“分辨力”术语代替“读数值”和“分辨率”术语（GB/T1211.11996的第1章；GI3/T148991991的第1章：本标准的第1章、表4等）：删除了“带表下尺”、“测量范围”“示值变动性”、“电子数卡尺”和“分辨率”的术语定义（GB/T6317—1993的第3章;GB/I14890—[994的第3章）；增加了带台阶测量面卡尺的形式示意图（本标准的图2、图5）：修改了卡尺测量不伸出长度差的要求（放宽）·并增如了其检验方法（GB/T1211.2一1506的3.3;CB/T6317—1993的1.5:GB/T14899—1994的5.5,本标准的5.3和8.3)；修改并统一规定了卡尺测量面的表面粗糙度Ra的最人值（GB/T6317-1993的5.6；GB/T 14899—1994 的 5. 4;本标准的 3, 5) ;用\标尺标记”术语代替“尺身刻线”和“游标刻线”等术语，并引人“零值误差”术语(GB/T1211.1—1996的3.6,3.7;GB/T 6317—1993的5,7.5.11;JB/T 8370-1996的4.5;本标准的 5.6 和5.8)；
-用“微视差游标卡尺\术语代替“无视差游标卡尺”和*同一平面型游标卡尺\（GB/T1214.11996的 3. 6. 3;本标准的5,7.1);一增加了对数显卡尺通讯接口的要求（本标准的5.1C)；增加了对数显卡尺防护等级的要求（本标准的5.11)；：一增加对数显卡尺抗静电能方利电磁十扰能力的要求（本标准的5.12）—修改了卡尺外测量面平面度的要求（GB/T1214.1—1D96的4.3;GB/T6317-1993的5.12；GB/T14809-[994的5.6;JB/T8370—1996的4,3本标准的5.13.1)；修改并统一规定了卡尺两外测量面合并问隙的要求及检验方法（GB/T63171993的5.13；GB/T148991994的5.7；本标准的5.13.1和8.1G.1)；用\最大允许误差\术语代替“示值误差”术语对卡尺示值指标做出规定（GB/T1214.11996的3. 9;GB/T 1214. 2-1996的4. 5,1. 6,CB/T 6317—1996的5. 15.CB/T 14899—1994的1）本标准所称“卡尺”系指”游标云尺”、“带表卡尺”“数显卡尺”二者的统称。1
GB/T 21389-2008
5.10;本标准的5.15)：
修改并统一规定了卡尺外测量的最大允许误差要求，给出了最大允许误差的计算公式，以使标准的使用更方便更具指导性，并按测量范围上限给山了部分计算值（(GB/I1214.1—1996的3.1;GB/T6317-1993的5.15,GB/T14899-1994的5.10+JB/T83701996的4.7:本标准的5.15.1)
修改并统一规定了卡尺刀口内测量爪内测量的最大允许误差要求及其检验方法（GB/T1214.2-1996的4.5.5.5;GB/T 6317-J593的5.15.A1.2;GB/T 14899—1991的5.、A10;本标准的 5. 15. 2 和 8. 12. 2) ;
——修改了数显卡尺深度及台阶测量的最大允许误差要求（GB/T14899—1994的5.10；本标准的5.15.3);
-—增加了检验卡尺时平衡温度时间的检验条件（GB/T14895—1994的A1；本标准的第7章）；一对卡尺外测量示值检定点，改为提出对示值检测点的数量及其分布规律性的要求，对示值检定点的推荐量块尺寸作为参考资料在资料性附录中给出（GB/T1214.2一1996的5.7：GB/T63171993的A1,1:GB/T14899—1994的A11.1：JB/T8370—1996的5.4：本标准的8.12.1.3、附录C)；
修改了卡尺的相互作用（即：移动力.移动力变化和晃动量）的要求及其定量检验方法，并作为参考资料在资料性附录中给出（GB/11214.21996的5.2.2（3/T6317—1993的A4;GB/T148991994的A3.1、A3.2,JB/T83701996的5.2;本标准的附录A)；一-增加了卡尺两外测量面平面度用刀口形直尺检查的评定细则，并作为参考资料在资料性附录中给出，册删除平品检查法（GB/T1211.2·1996的5.3，GB/T63171993的A3；GB/T118991994的A7;JB/T837C—199G的5.3;本标准的附录B)。本标准的附录B为规范性附录：附录A、附录C为资料性附录。本标准由中国机械工业联合会提出。本标准出全国量具量仪标准化技术委员会（SAC/TC:132)归口。本标准负资起草单位：成都工具研究所和挂林量具刃具厂。本标准参加起草单位：上海量具刃具厂、江量具有限公司、哈尔滨量具刃具集团有限责仟公司、成都成量工具有限公司和桂林广陆数字测控股份有限公司。本标准主要起草人：陈学仁、赵伟荣、姜志刚、周国明、杨东顺、张伟、于晓霞、李隆勇，彭凤平。本标准所代替标准的历次版本发布情况为：-GB/T 1214. 1—1996:
GB1214[975,GB1214—1985GB/T1214.21996;-GB6317—1986.GB/T63171993;
—GB/T148991994.
1范围
游标、带表和数显卡尺
GB/T21389—200B
本标准规定广游标卡尽、惜表卡尺和数显卡尺的术讲和定义、形式与基本参数、要求、试验方法，检验条件、检验方法、标志与包装等。本标准适用于分度值/分辨力为c.c】mm.0.02mm、0.05mm利0.10mm，测量范围为（0～7()）tmm至（0~-400）mm的游标卡尺，带表卡尺和数显卡尺以下简称“卡尺\）。2规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件、其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注口期的引用文件，其最新版本适用于本标谁。GB/T2423.3—1993电工电子品基本环境试验规程试验Ca：恒定湿热试验方法（eqVIEC60068-23:184)
GB/T2423.22-2C02电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化（IEC60068 2-14:1984.IDT)
GB4208—1953外壳防护等级（IP代码）（en1EC529：1989）GB/T17163几何量测量器具术语基本术语GR/17164儿何量测量器具术语产品术语G1/T17626.2--1998电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验（idtIEC61000-4-2：1995
电磁兼容试验和测量技术射频电场辐射抗扰度试验（idtIEC)G13/T 17626.3—1998
61000-4-3,1995)
3术语和定义
GB/T17163.CB/T17164中确立的以及下列术语和定.义适用于本标准。3.1
响应速度responscspeed
数显卡尺能正常显示数值时，尺框相对于尺身的最大移动速度。3.2
最大允许误差（MPE）maximumpermissibleerror出技术规范、规则等对卡尺规定的误差级限值。注：允诈误差的极限值不能小于数字级差（分辨力）或游标标尺间隔。4形式与基本参数
4、1卡尺的形式见图1～图5所示。图示仅供图解说明，不表示详细结构。4.2测量范围1限大于200mm的卡尺宜具有微动装置。GB/T21389—2008
八口内滋过面
外测量面
外测且
动螺钉
指示转资上
微动装置
本形式分带深度尺和不带深度尺两种，若带深度尺测范围t限小宜超过SCOmn。b指示装骨形式见图6所示。
小口内宜
心阶测街
测基面
I型卡尺（不带台阶测量面）
外测量爪
制动螺汀
指示装置
徽动装宣
本形式为I型七增加台阶测盈西。b本形式分带深度尺和不带深度尺两种：若带深度尺，测量范图上限不宜超过 300 mII。e指示发置形式见图6所示。
图2Ⅱ型卡尺（带台阶测量面）
刀外测面
：指示装置形式见图6所示。
刀外量爪
外测基爪
、外测骨面
网弧内测空面
制动竭订
指示装
图3Ⅲ型卡尺
微动装置
深度尺
深度测显面
深度测量面
深度尺
3指示装置兆式见图6所示。
台阶测量值“
外测量瓜
外测照面
圆弧内圣而
【割动娠钉指示装道”
图4V型卡尺《不带台阶测量面）尺推
外测单爪
超动螺钉
外虽面
国抵内面
4本形式为在K塞上增加台阶测量面指示装置形式见图6所示。
指示装置”
图5V型卡尺（带台阶测面）
十标尺
游标尺
51234689
游标卡尺的指示装置
毫来读数部行
b）表卡尺的指示装晋
微动装管
主标尺
图6卡尺的指示装置示意图
GB/T 21389—2008
微动装置
功能按讯
电子数显器
数显卡尺的指示装置
GB/T21389—2008
4.3卡尺结构基本参数的遵循原则4.3.1尺身
卡尺尺身应其有足够的长度，以保证在测量范国上限时尺框及微动装置不至于仲出尺身之外，并宜具有（3～15）mm的测量长度裕量，以方便使用。4. 3. 2测量瓜
为保证规定的技术指标，外测量不的最大伸出长度和1，不宜大于表1中的推荐值，4.3.3测量面
测量爪测量面的长度宜为测量伸出长度的3/5至3/4。4.3.4圆孤内测量爪
圆弧内测量合并宽度的公称寸应为：10lm、20mm30mm、4Gmm，其圆孤半径不应大于合并宽度的1/2。
卡尺的测量范围及基本参数的推荐值见表1。4.3.5
测盘范围
0~·30c
0~-1 00)
0~-1500
C: --2 co0
G--2 503
0-3 00
-~3500
0-~4000
注：表宁各字母所代表的基本参数见围1一图基本参数（推荐值）
12(15)
当外测量瓜的律出长度1.、：人于表中推荐值时，其技术指标由供需双方技术协议确定b当-20 mm 时,1. =1s mm.
5要求
5.1外观
5.1.1卡尺表面不应有影响外观和使用性能的裂痕、划伤、碰伤、锈蚀、毛刺等缺陷。5.1.2卡尺表面的镀、涂层不应有脱落和影响外观的色泽不均等缺陷。5.1.3标尺标记不应有目力可见的断线，粗细不均及影响读数的其他缺陷。5.1.4指示装置的表蒙、显示屏应透明、清洁，无划痕、气泡等影响读数的缺陷。5.2相互作用
尊位为毫米
10(20)
20(30)
卡尺的尺框、微动装置沿尺身的移动应平稳、无卡滞和松动现象，用制动螺钉能准确、可靠地紧固在4
尺身E。
5.3测量爪伸出长度差
CB/T 21389--2008
卡尺两外测量面合并时，两外测量不伸出长度t，或的差、两汀口内测量爪伸出长度的差均不应大于0.2mm(见图1~图5)，
5.4材料和测重面硬度
卡尺，般采用碳钢、工具钢或不锈钢制造，测量面的硬度不应低于表2的规定表2
量面名称
内、外测量面
其他测虽面
材料”
碳钢,T.具钢
不锈钢
碳钢、工具钢、不锈钢
测虽面的材料也可采用硬质合金或其他超硬材料。测量面的表面粗糙度
下尺测量面的表面粗糙度Rα值不应大于表3的规定。表3
测量向名称
外测量面
内测虽面
其他测昼面
5.6标尺标记
664 HV(或 38 HRC)
551 HV(或 52. 5 HRC)
377 HV(或 1G HRC)
单位为微米
表面粗糙度 Ra
游标卡尺的主标尺和游标尺的标记宽度及其标记宽度差应符台表4的规定。表4
分度值
标记宽度
0. 33~-0. 18
单位为整米
标记宽度差
5.6.2情表卡尺主标尺的标记宽度及其标记宽度差，阅标尺的标记宽度及标尺间距应符合表5的规定；指针末端的宽度应与圆标尺的标记宽度-致。表5
标尺名称
主标尺
5.7指示装置各部分相对位置
标记宽度
5. 15~-0. 25
0.15~-0. 20
标记宽虚差
单位为毫米
标尺间距
5.7.1游标卡尺的游标尺标记表面梭边至主标尺标记表面的距离不应大于0.30mI;微视差游标下尺的游标尺标记表面棱边至主标尺标记表面间的距离，游标尺标记端面与主标尺标记端面的距离：不应超过表 6的规定(见图7)。
CB/T 21389—2008
主标尺标记表面
分度值
游标民标记表面
游标卡尺
主标贝标记装面
游标尺标记衣面
主标尺标记表面
微视差游标卡尺
图 7 游标尺与主标尺间的相对位置表6
游标尺标记表亩校边率主标尺标记表面间的距离h测量范围上限
游标尺标记表面
单位为毫术
游标尺标记端面与主标尺
标记端面的距离 5
带表卡尺的指针末端应盖住圆标尺上短标尺标记长度的30%～80%：指针末端与圆标尺标记5. 7.2
表面间的间隙不应大于表了的规定。表7
分度值
0.01.G.n2
指号末端与圆标尺标记表前间的间隙0. 7
单位为毫米
5.8零值误差
5.8.1游标卡尺两外测量间手感接触时，游标尺上的“零”“尾标尺标记与十标尺相应标尺标记应相互重合，其重合度不应超过表8的规定，表8
分度值
“零\标尺标记重合度
游标尺(可调）
游标尺（不可调）
单位为毫米
“昆”标尺标记重合度
游标尺(可调)
游标尺(不可凋）
5.8.2带表卡尺两外测量面于感接触时，指针应指向圆标尺上的零”标尺标记，并处于正上方12点钟方位，左右偏位不应大于1个标尺分度；此时，毫米读数部位至主标尺“零\标记的距离不应超过标记宽度，压线不应超过标记宽度的1/2。5.9电子数显器的性能
5.9.1数字显示应清晰、完整、无闪跳现象；响应速度不应小于1m/s5.9.2功能键应灵活、可靠，标注符号或图文应清晰且含义准确。5.9.3数字漂移不应大于1个分辨力值，工作电流不宜大于40μA。5.9.4电子数显器应能在环境漏度0℃-~10℃、相对湿度不大于80%的条件下，避行正带工作。5.10通讯接口
制造商应能够提供数显卡尺与其他设备之间的通讯电缆利通讯软件。GB/T 21389—2008
5.10.2通讯电缆应能将数显卡尺的输出数据转换为RS-232、UJSB或其他通用的标准输出接口形式5.11防护等级(IP)
数显卡尺的防护等级不应低于IP40（见GB42G8—1993)。5.12抗静电于扰能力和电磁于扰能力数显卡尺的抗静电于扰能力和电磁干扰能力均不应低于1级（见CB/T17626.21998、GB/T 17626.31998).
5.13外测量面的平面度、平行度及合并间5.13.1卡两外测量面的平面度不应大于表9的规定；两外测量面于感接触时的合并间隙（无论尺紧固与否），在宽量面处不应透光，在刀口窄量百处不应透白光。表9
范监上限
s21 000
1 c09-.4 000
外测量面的平面度
即外测量面边缘不大于测母函宽度的1/20范固内（但最小为C.2i1)，外测量面的平面度不卡单位为毫来
卡尺两外测量面在測量范国内任意位置时的平衍度（无论尺裤紧固与否）均不应人于表10的5.13.2
规定。
分度值/nm
0.01.0.02
平行度公差计算公式/mbZxz.net
注1：I为两外量面在测母范围内任意位置耐的测量长度，单位为mIL子C)。注2：计算结果一律四舍玉人至1Cμml。圆弧内测量爪合并宽度的极限偏差及圆孤内测最面的平行度5.14
单位为尝米
带有圆弧内测量爪的卡尺，其圆弧内测量不的合并宽度6（见图3-~图5及表1)的极限偏差及其圆弧内测量面的平衍行度不应超过表 11 的规定。分度值/分辨力
单位为毫米
合并宽度的极限偏差”
网弧内量面的平行度
a圆孤内测量爪合并宽度的极限偏差及其圆弧内测量面的平行度,应按沿平行尺衰平面方向的实际偏差计，在具他方尚的实端差均不减大于平行于尺身平面方向的实际偏差：5.15最大允许误差
5.15.1外测量的最大允许误差
卡尺外测量的最人允许误差应符合表12的规定。7
GB/T 21389—2008
测童范围
0.C1:0.02
最大允许误差
分度值/分辨力
单位为毫米
最大允许误差计算公式「计算值最大允许误差计算公式计算值最大允许误差计算公式计算假
±(20c.05L) μm
+(20+3.06L)μm
±(20-0.181) μm
±(40+0. 161.) μm
±（10+0.087)μm
(40 / c. 09L) μm
±(50+0.11.)μm
注：表中最大允许误差计算公式中的L为测量范围上限值，以毫米计。计算结果应四舍五入到10μm.日其值不能小于效字级差（分群力)或游标标尺问隔。刀口内测量爪的最大允许误差
5.15.2.1带有几口内测量下的卡尺,两刀口内测量不柜对平面间的间隙不施大于 0. 12 mm5.15.2.2带有刀口内测量乐的卡尺，当调整外测量面间的距离到尺寸H（见表13）时，其刀口内测量不的尺寸极限偏差及乃口内测量面的乎行度不应超过表13的规定。表13
刀口形内测量瓜的尺寸极限偏差测鼠范园上限，
>300--1 000
2-1 c00--4 000
0.01:0.02
单位为毫来
刀口形内测面的平行度
分度值/分辨力
0.0元;0.1c
0. 1,(. C2
：测虽要求：』内测量不的尺寸极限偏差及刀口内测虽面的平行度，应按沿平行于尺身平面方向的实际偏差计；在其他方向的实际偏差均不应大于平行于尺身平面方宦的实际痛差。5.15.2.3带有刀口内测量爪的卡尺，当用户要求保证刀口内测量的示值误差时，刀口内测量不的尺寸不执行表13中有关刀口内测量爪尺十极限偏差的规定值，以保证其示值误差为准（但仍应保证表13中行度要求及脚注的测量要求）。其最大允许误差见表12规定5.15.3深度、台阶测量的最大允许误差带有深度和（或）台阶测量的卡尺，其深度，台阶测量20I时的最大允许误差不应超过表14的规定，
5.16重复性
分度值/分辨力
0, 1;G.02
带表卡尺和数显卡尺的重复性不应大于表15的规定。15
分度值/分辨力
带表卡尺
. 02:0.05
6试验方法
温度变化试验
GB/T 21389—2008
单位为毫米
最大允许误差
单位为毫米
重复计
数显卡尺
数显卡尺的温度变化试验应符合GB/T2423.22一2002的规定。6.2湿热试验
数显卡尺的湿热试验应符合GB/T2423.3—1993的规定。6.3抗静电干扰试验
数显卡尺的抗静电十扰试验应符合GB/T17626.2·1998的规定，6.4抗电磁干扰试验
数显卡尺的抗电磁干扰试验应符合GB/\117626.3—1998的规定，6.5防尘、防水试验
数显卡尺的防尘、防水试验应符合GB4208一1993的规定检验条件
7.1检验前，应将被检下尺及量块等检验用设备同时置于铸铁平板或本桌！，其平衡温度时间见表16，
测量范墨上限/mm
303--500
2-50t--1 100
置于铸铁乎板上
平衡温度时间
置于木桌上
数显卡尺检验时-空内温度应为20℃土5，相对湿度不应大于80%。8检验方法
8.1外观
日力观察。
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