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JB/T 10875-2008

基本信息

标准号: JB/T 10875-2008

中文名称:发光二极管光学性能测试方法

标准类别:机械行业标准(JB)

标准状态:现行

发布日期:2008-06-04

实施日期:2008-11-01

出版语种:简体中文

下载格式:.rar.pdf

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相关标签: 发光 二极管 光学 性能 测试方法

标准分类号

标准ICS号:电子学>>31.260光电子学、激光设备

中标分类号:电子元器件与信息技术>>光电子器件>>L53半导体发光器件

关联标准

出版信息

出版社:中国机械工业出版社

页数:13页

标准价格:15.0 元

出版日期:2008-11-01

相关单位信息

起草人:庄松林、杨卫桥、叶关荣、鲍超、章慧贤、冯琼辉、王蔚生、毛滋春

起草单位:上海理工大学;上海半导体照明工程技术研究中心;浙江大学等

归口单位:全国光学和光电子学标准化技术委员会

提出单位:中国机械工业联合会

发布部门:中华人民共和国国家发展和改革委员会

标准简介

本标准规定了在额定电流工作条件下的半导体发光二极管(以下简称LED器件)光学性能测试方法。本标准适用于单色可见光、白光LED器件光学性能测试,组件和效率器件的光学性能测试参照执行.本标准是一种推荐性的测试方法,只要达到同样的测量目的,也可采用其他的测试方法。 JB/T 10875-2008 发光二极管光学性能测试方法 JB/T10875-2008 标准下载解压密码:www.bzxz.net