JJG 21-2008
基本信息
标准号： JJG 21-2008
中文名称：千分尺检定规程
标准类别：国家计量标准(JJ)
英文名称：Verification Regulation of Micrometer
标准状态：现行
发布日期：2008-03-25
实施日期：2008-09-25
出版语种：简体中文
下载格式：.rar.pdf
下载大小：2228943
标准分类号
标准ICS号：计量学和测量、物理现象>>17.040长度和角度测量
中标分类号：综合>>计量>>A52长度计量
关联标准
替代情况：替代JJG 21-1995
出版信息
出版社：中国计量出版社
页数：24页
标准价格：28.0 元
出版日期：2008-06-01
相关单位信息
起草人：张黎平、马钟焕、窦艳红
起草单位：黑龙江省计量检定测试院、吉林省计量科学研究院
归口单位：全国几何量工程参量计量技术委员会
提出单位：全国几何量工程参量计量技术委员会
发布部门：国家质量监督检验检疫总局
主管部门：国家质量监督检验检疫总局
标准简介
本标准适用于分度值为0.01mm，测量上限至500mm的外径千分尺；测量上限至25 mm的板厚、壁厚千分尺；以及分辨力为0.001mm，0.0001 mm，测量上限至500 mm的数显外径千分尺的首次检定、后续检定和使用中检验。 JJG 21-2008 千分尺检定规程 JJG21-2008 标准下载解压密码：www.bzxz.net
本标准适用于分度值为0.01mm，测量上限至500mm的外径千分尺；测量上限至25 mm的板厚、壁厚千分尺；以及分辨力为0.001mm，0.0001 mm，测量上限至500 mm的数显外径千分尺的首次检定、后续检定和使用中检验。
本规程引用下列文献:
JJF1001—1998 通用计量术语及定义
JJF1059—1999 测量不确定度评定与表示
JJF1094—2002 测量仪器特性评定
GB/T1216—2004 外径千分尺
GB/T20919—2007 电子数显外径千分尺
JB/T2989—1999 板厚千分尺
使用本规程时,应注意使用上述引用文献的现行有效版本。
1 范围 (1)
2 引用文献 (1)
3 概述 (1)
4 计量性能要求 (3)
4.1 测微螺杆的轴向串动和径向摆动 (3)
4.2 测砧与测微螺杆测量面的相对偏移 (3)
4.3 测力 (3)
4.4 刻线宽度及宽度差 (3)
4.5 指针与刻度盘的相对位置 (3)
4.6 微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离 (3)
4.7 微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置 (3)
4.8 测量面的平面度 (3)
4.9 数显外径千分尺的示值重复性 (3)
4.10 数显外径千分尺任意位置时数值漂移 (4)
4.11 两测量面的平行度 (4)
4.12 示值误差 (4)
4.13 数显外径千分尺细分误差 (5)
4.14 校对用量杆 (5)
5 通用技术要求 (6)
5.1 外观 (6)
5.2 各部分的相互作用 (6)
6 计量器具控制 (6)
6.1 检定条件 (6)
6.2 检定项目 (6)
6.3 检定方法 (7)
6.4 检定结果的处理 (11)
6.5 检定周期 (11)
附录A 千分尺示值误差测量结果的不确定度评定 (12)
附录B 数显千分尺示值误差测量结果的不确定度评定 (16)
附录C 检定证书和检定结果通知书内页格式 (20)
本标准适用于分度值为0.01mm，测量上限至500mm的外径千分尺；测量上限至25 mm的板厚、壁厚千分尺；以及分辨力为0.001mm，0.0001 mm，测量上限至500 mm的数显外径千分尺的首次检定、后续检定和使用中检验。
本规程引用下列文献:
JJF1001—1998 通用计量术语及定义
JJF1059—1999 测量不确定度评定与表示
JJF1094—2002 测量仪器特性评定
GB/T1216—2004 外径千分尺
GB/T20919—2007 电子数显外径千分尺
JB/T2989—1999 板厚千分尺
使用本规程时,应注意使用上述引用文献的现行有效版本。
1 范围 (1)
2 引用文献 (1)
3 概述 (1)
4 计量性能要求 (3)
4.1 测微螺杆的轴向串动和径向摆动 (3)
4.2 测砧与测微螺杆测量面的相对偏移 (3)
4.3 测力 (3)
4.4 刻线宽度及宽度差 (3)
4.5 指针与刻度盘的相对位置 (3)
4.6 微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离 (3)
4.7 微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置 (3)
4.8 测量面的平面度 (3)
4.9 数显外径千分尺的示值重复性 (3)
4.10 数显外径千分尺任意位置时数值漂移 (4)
4.11 两测量面的平行度 (4)
4.12 示值误差 (4)
4.13 数显外径千分尺细分误差 (5)
4.14 校对用量杆 (5)
5 通用技术要求 (6)
5.1 外观 (6)
5.2 各部分的相互作用 (6)
6 计量器具控制 (6)
6.1 检定条件 (6)
6.2 检定项目 (6)
6.3 检定方法 (7)
6.4 检定结果的处理 (11)
6.5 检定周期 (11)
附录A 千分尺示值误差测量结果的不确定度评定 (12)
附录B 数显千分尺示值误差测量结果的不确定度评定 (16)
附录C 检定证书和检定结果通知书内页格式 (20)
标准图片预览
标准内容
中华大民共和国国家计量检定规程JJG21--2008
千分尺
2008-03-25发布
200809-25实施
国家质量监督检验检疫总局发布JJG21-2008
千分尺检定规程
VerificationRegulationofMicrometerJJG21---2008
代替JJG21—1995
本规程经国家质量监督检验检疫总局2008年3月25日批准，并自2008年9月25日起施行。
归口单位：全国几何量工程参量计量技术委员会起草单位：黑龙江省计量检定测试院吉林省计量科学研究院
本规程委托全国几何量
计量技术委员会负责解释
本规程主要起草人：
JJG21-—2008
张黎平（黑龙江省计量检定测试院）马钟焕（吉林省计量科学研究院）窦艳红（吉林省计量科学研究院）参加起草人：
王晓亮（黑龙江省计量检定测试院）王利（哈尔滨市计量检定测试所）2
引用文献
概述·
4计量性能要求
JJG21---2008
测微螺杆的轴向串动和径向摆动·测砧与测微螺杆测量面的相对偏移测力·
刻线宽度及宽度差
指针与刻度盘相对位置
微分简锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离··微分简锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置，测量面的平面度
数显外径千分尺的示值重复性·数显外径千分尺任意位置时数值漂移两测量面的平行度
示值误差
数显外径千分尺细分误差
校对用量杆
5通用技术要求·
5.1外观·
各部分的相互作用
6计量器具控制：
检定条件：
检定项目
检定方法
检定结果的处理….
检定周期·
附录A千分尺示值误差测量结果的不确定度评定附录B
附录C
数显干分尺示值误差测量结果的不确定度评定检定证书和检定结果通知书内页格式(1)
（3）
（3）
（3）
（4）
（5）
（5）
（6）
1范围
JJG21—-2008
千分尺检定规程
本规程适用于分度值为0.01mm，测量上限至500mm的外径千分尺；测量上限至25mm的板厚、壁厚千分尺；以及分辨力为0.001mm，0.0001mm，测量上限至500mm的数显外径千分尺的首次检定、后续检定和使用中检验。引用文献
本规程引用下列文献：
JF1001—1998《通用计量术语及定义》JJF1059—-1999《测量不确定度评定与表示》JJF1094—2002-《测量仪器特性评定》GB/T1216—2004《外径千分尺》GB/T20919—2007《电子数显外径千分尺》JB/T2989--1999《板厚千分尺》使用本规程时，应注意使用上述引用文献的现行有效版本，概述
测微螺杆、
千分尺是由尺架、测砧、
1，2，3，4，5，6所示。
测力装置
锁紧装置和读数装置等组成。如图6
图1测砧为固定式的千分尺
1尺架；2测：3—测微螺杆：4-锁紧装置，5-固定套管6-微分简；7—测力装置；8—热装置图2测为可换式或可调式的千分尺1—测紧固螺钉;2测砧;3尺架;4—测微螺杆;5—隔热装置，6—测力装置，7—微分简;8固定套简；9锁紧装置a）
JJG21-2008
校对用量杆
图4壁厚千分尺
1—尺架；2—测砧：3—测微螺杆；4—锁紧装置：5—固定套管6—微分简；7—测力装置8—隔热板(b)
图5板厚千分尺
（a）1-尺架；2测砧，3—测微螺杆：4锁紧装置；5—刻度盘；6—指针；7—固定套管：8—微分简9—测力装置(b）1—尺架；2—测砖：3—测微螺杆：4—锁紧装置，5—固定套管：6—微分筒；7—测力装置00.000
图6数显外径千分尺
1一尺架：2-
测微螺杆;3-
锁紧装置：4
固定装置：5一微分简
6—隔热装置：7—测；8—按钮；9—显示器；10—测力装置JJG21—2008
千分尺是应用螺旋副传动原理，将回转运动变为直线运动的一种量具，主要用来测量各种外尺寸。
4计量性能要求
4.1测微螺杆的轴向串动和径向摆动测微螺杆的轴向串动和径向摆动均不大于0.01mm。4.2测砧与测微螺杆测量面的相对偏移测砧与测微螺杆测量面的相对偏移量应不超过表1规定。表1测砧与测微螺杆测量面的相对偏移量测量范围上限
4.3测力
偏移量
测量范围上限
200，225
250，275，300
325，350，375
400，450
475，500
偏移量
千分尺的测力（系指测量面与球面接触时所作用的力）应为（510)N。4.4刻线宽度及宽度差
微分筒刻线宽度为（0.08～0.20)mm，固定套管上的刻线与微分简上的刻线的宽度差均应不大于0.03mm。带刻度盘的刻线宽度为（0.20～0.30)mm，其宽度差应不大于0.05mm。
4.5指针与刻度盘的相对位置
板厚千分尺刻度盘上的指针末端应盖住刻线盘短刻线长度的30%～80%，指针末端上表面至刻线度盘表面的距离应不大于0.7mm。指针末端与刻度盘刻线的宽度应一致，差值应不大于0.05mm。
4.6微分简锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离微分筒锥面棱边至固定套管刻线表面的距离应不大于0.4mm。4.7微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置当测量下限调整正确后，微分筒上的零刻线与固定套管纵刻线对准时，微分筒的端面与固定套管毫米刻线右边缘应相切，若不相切，压线不大于0.05mm，离线不大于0.1mm。
测量面的平面度
外径千分尺测量面的平面度应不大于0.6um。壁厚千分尺、板厚千分尺测量面的平面度应不大于1.5um。数显外径千分尺测量面平面度应不大于0.3μm。4.9数显外径千分尺的示值重复性3
JJG21-2008
数显外径千分尺的示值重复性应不大于1um，4.10数显外径千分尺任意位置时数值漂移在任意位置时的数值漂移应不大于1um/h4.11两测量面的平行度
外径千分尺锁紧装置坚固与松开时，千分尺两工作面的平行度均应不超过表2规定。表2外径千分尺示值的最大允许误差及两测量面的平行度测量范围/mm
0~25，25~50
50~75，75~100
100~125，125150
150~175，175～200
200~225，225~250
250~275，275~300
300~325，325~350
350~375，375~400
400~425，
425~450
450~475，475~500
最大允许误差/μm
板厚千分尺两测量面的平行度应不超过4μm。数显外径千分尺两测量面的平行度应不超过表3规定。两测量面的平行度/μm
表3数显外径干分尺示值的最大允许误差及两测量面平行度测量范围/mm
0~25，25~50
50~75，75~100
100~125，125~150
150~175，175~200
200~225，225~250
250~275，275300
300~325，325~350
350~375，375~400
400~425，425~450
450~475，475~500
4.12示值误差
最大允许误差/μm
外径千分尺示值的最大允许误差应不超过表2规定。两测量面的平行度/μm
JJG21-2008
壁厚千分尺、板厚千分尺示值的最大允许误差应不超过士8um。数显外径千分尺示值的最大允许误差应不超过表3规定对于测量上限大于150mm的千分尺可只检测微头示值误差，测微头各点相对于零点的示值最大允许误差不超过土3μm。4.13数显外径千分尺细分误差
数显外径千分尺数显装置的细分误差应不超过士2μum。4.14校对用量杆
4.14.1外径千分尺校对用量杆
外径牛分尺校对用量转1の组验型糖过表4规定。
死径千分尺校对用量杆的尺守偏美变动量
校对量杆标称尺
325，350
425，
分尺校对用量
数显外经
数显外径千分
标称尺寸/mm
25，50
125，150，175
200，225，250
275，300
8888883
寸偏差和变动量应不超
效用量托的
变动量/μm
5规定。
数显外径千分尺校对用量杆的尺式偏单移变动量
NA MEROLO
变动量/μm
325，350，375，400
425，450，475
5通用技术要求
5.1外观
JJG21—2008
5.1.1千分尺及其校对用的量杆不应有碰伤、锈蚀、带磁或其他缺陷，标尺刻线应清晰、均匀，数显外径千分尺数字显示应清晰、完整。5.1.2，千分尺应附有调整零位的工具，测量上限大于或等于25mm的千分尺应附有校对用的量杆。千分尺应具有测力装置、隔热装置和锁紧装置。校对量杆应有隔热装置。5.1.3千分尺上应标有分度值、测量范围、制造厂名（或厂标）及出厂编号。5.1.4后续检定和使用中检验的千分尺及其校对用的量杆不应有影响使用准确度的外观缺陷。Www.bzxZ.net
5.2各部分的相互作用
微分筒转动和测微螺杆的移动应平稳无卡滞现象。5.2.2可调或可换测砧的调整或装卸应顺畅，作用要可靠，调零和锁紧装置的作用应切实有效。
5.2.3带有表盘的千分尺，表针移动应灵活、无卡滞现象。5.2.4
数显外径千分尺各工作按钮应灵活可靠。6计量器具控制
计量器具控制包括首次检定、后续检定和使用中检验。6.1检定条件
6.1.1环境条件
检定千分尺的室内温度和被检千分尺在室内平衡温度的时间均应符合表6规定。室内湿度不大于70%RH。
表6室内温度及被检千分尺在室内平衡温度的时间受检千分尺
外径、板厚、壁厚
6.1.2检定设备
受检千分尺
测量范围/mm
>100～500
～100
>100～200
>200~500
主要检定设备见表7。
6.2检定项目
检定项目见表7。
室内温度对20℃的允许偏差/℃
千分尺
校对用的量杆
平衡温度的时间
受检项目
各部件相互作用
JJG21-2008
表7检定项目及主要检定设备
主要检定设备
测微螺杆的轴向串动和径
向摆动
测砧与测微螺杆测量面的
相对偏移
刻线宽度及宽度差
指针与刻线盘的相对位置
微分筒锥面的端面梭边至
固定套管刻线面的距离
微分筒锥面的端面与固定
套管毫米刻线的相对位置
测量面的平面度
数显外径千分尺的示值重
数显外径千分尺任意位置
时数值漂移
两测量面的平行度
示值误差
数显外径千分尺细分误差
校对用量杆
杠杆千分表
平板、杠杆百分表或百分表
专用测力仪
工具显微镜
工具显微镜、塞尺
2级平晶、刀口尺
4等量块或相应的专用量块
平行平晶、4等、5等量
块、钢球检具
4等、5等量块或相应的
专用量块
微分筒或5等量块
立式接触式干涉仪、测长
机、3等量块
注：“+”表示应该检定，“二”表示可不检定。6.3检定方法
6.3.1外观
目力观察。
6.3.2各部分的相互作用
手动试验和目力观察。
6.3.3测微螺杆的轴向窜动和径向摆动首次检定
后续检定
使用中检验
般情况下用手感检查测微螺杆的轴向窜动和径向摆动。有异议时，可按下列方法检定。
6.3.3.1测微螺杆的轴向窜动，用杠杆千分表检定。检定时，杠杆千分表与测微螺杆测量面接触，沿测微螺杆轴向方向分别往返加力3N～5N，如图7所示。杠杆千分表7
示值的变化，即为轴向窜动量。JJG21—2008
6.3.3.2测微螺杆的径向摆动亦用杠杆千分表检定。检定时，将测微螺杆伸出尺架10mm后，使杠杆千分表接触测微螺杆端部，再沿杠杆千分表测量方向加力2N～3N，然后在相反方向加同样大小的力，此时杠杆千分表示值的变化即为径向摆动量。径向摆动的检定应在测微螺杆相互垂直的两个方向进行。此过程如图8所示。杠杆千分表
图7轴向
6.3.4测砧与测微螺
加力方向
加力方向
则量面的相对
千分尺测砖
一般情况下目无
分尺可使两测量面
量杆进行检定。划
测量范围为
检具测出偏移量
在平板上用
检定时借助千斤
爱接触观察其偏糕
微螺粹测量
测量上限
杠杆千分表
径收示意图
的相对偏移点
~25）mm的千
于25mm的于尺可借助校对
得议时，可按下刻
25)mm的用塞尺比较，测量上限大于25mm的外密开分尺用专用
杆百分表检定：对
敦置在平板上，如
工作面平行，然后用百分表测出测砖国童
所示，调整
微螺森
0mm的千分尺用自
百分表检定。
顶使千分尺的
方位上的偏移量
螺杆与平板
然后将尺架
法测出测砧与测微杆在另一方位上的偏移量。避占与测微螺杆侧转90°，按上述度
测量面的相对偏秘
按下式求得
此项检定也可用其他专照检具检定V
千斤顶
METROLOG
桃杆分表
（佰分表）
测量杆
被检尺
千斤项
图9在平板上用杠杆百分表检定示意图6.3.5测力
用分度值不大于0.2N的专用测力计检定。检定时，使测量面与测力计的球工作面接触后进行。
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千分尺
2008-03-25发布
200809-25实施
国家质量监督检验检疫总局发布JJG21-2008
千分尺检定规程
VerificationRegulationofMicrometerJJG21---2008
代替JJG21—1995
本规程经国家质量监督检验检疫总局2008年3月25日批准，并自2008年9月25日起施行。
归口单位：全国几何量工程参量计量技术委员会起草单位：黑龙江省计量检定测试院吉林省计量科学研究院
本规程委托全国几何量
计量技术委员会负责解释
本规程主要起草人：
JJG21-—2008
张黎平（黑龙江省计量检定测试院）马钟焕（吉林省计量科学研究院）窦艳红（吉林省计量科学研究院）参加起草人：
王晓亮（黑龙江省计量检定测试院）王利（哈尔滨市计量检定测试所）2
引用文献
概述·
4计量性能要求
JJG21---2008
测微螺杆的轴向串动和径向摆动·测砧与测微螺杆测量面的相对偏移测力·
刻线宽度及宽度差
指针与刻度盘相对位置
微分简锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离··微分简锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置，测量面的平面度
数显外径千分尺的示值重复性·数显外径千分尺任意位置时数值漂移两测量面的平行度
示值误差
数显外径千分尺细分误差
校对用量杆
5通用技术要求·
5.1外观·
各部分的相互作用
6计量器具控制：
检定条件：
检定项目
检定方法
检定结果的处理….
检定周期·
附录A千分尺示值误差测量结果的不确定度评定附录B
附录C
数显干分尺示值误差测量结果的不确定度评定检定证书和检定结果通知书内页格式(1)
（3）
（3）
（3）
（4）
（5）
（5）
（6）
1范围
JJG21—-2008
千分尺检定规程
本规程适用于分度值为0.01mm，测量上限至500mm的外径千分尺；测量上限至25mm的板厚、壁厚千分尺；以及分辨力为0.001mm，0.0001mm，测量上限至500mm的数显外径千分尺的首次检定、后续检定和使用中检验。引用文献
本规程引用下列文献：
JF1001—1998《通用计量术语及定义》JJF1059—-1999《测量不确定度评定与表示》JJF1094—2002-《测量仪器特性评定》GB/T1216—2004《外径千分尺》GB/T20919—2007《电子数显外径千分尺》JB/T2989--1999《板厚千分尺》使用本规程时，应注意使用上述引用文献的现行有效版本，概述
测微螺杆、
千分尺是由尺架、测砧、
1，2，3，4，5，6所示。
测力装置
锁紧装置和读数装置等组成。如图6
图1测砧为固定式的千分尺
1尺架；2测：3—测微螺杆：4-锁紧装置，5-固定套管6-微分简；7—测力装置；8—热装置图2测为可换式或可调式的千分尺1—测紧固螺钉;2测砧;3尺架;4—测微螺杆;5—隔热装置，6—测力装置，7—微分简;8固定套简；9锁紧装置a）
JJG21-2008
校对用量杆
图4壁厚千分尺
1—尺架；2—测砧：3—测微螺杆；4—锁紧装置：5—固定套管6—微分简；7—测力装置8—隔热板(b)
图5板厚千分尺
（a）1-尺架；2测砧，3—测微螺杆：4锁紧装置；5—刻度盘；6—指针；7—固定套管：8—微分简9—测力装置(b）1—尺架；2—测砖：3—测微螺杆：4—锁紧装置，5—固定套管：6—微分筒；7—测力装置00.000
图6数显外径千分尺
1一尺架：2-
测微螺杆;3-
锁紧装置：4
固定装置：5一微分简
6—隔热装置：7—测；8—按钮；9—显示器；10—测力装置JJG21—2008
千分尺是应用螺旋副传动原理，将回转运动变为直线运动的一种量具，主要用来测量各种外尺寸。
4计量性能要求
4.1测微螺杆的轴向串动和径向摆动测微螺杆的轴向串动和径向摆动均不大于0.01mm。4.2测砧与测微螺杆测量面的相对偏移测砧与测微螺杆测量面的相对偏移量应不超过表1规定。表1测砧与测微螺杆测量面的相对偏移量测量范围上限
4.3测力
偏移量
测量范围上限
200，225
250，275，300
325，350，375
400，450
475，500
偏移量
千分尺的测力（系指测量面与球面接触时所作用的力）应为（510)N。4.4刻线宽度及宽度差
微分筒刻线宽度为（0.08～0.20)mm，固定套管上的刻线与微分简上的刻线的宽度差均应不大于0.03mm。带刻度盘的刻线宽度为（0.20～0.30)mm，其宽度差应不大于0.05mm。
4.5指针与刻度盘的相对位置
板厚千分尺刻度盘上的指针末端应盖住刻线盘短刻线长度的30%～80%，指针末端上表面至刻线度盘表面的距离应不大于0.7mm。指针末端与刻度盘刻线的宽度应一致，差值应不大于0.05mm。
4.6微分简锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离微分筒锥面棱边至固定套管刻线表面的距离应不大于0.4mm。4.7微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置当测量下限调整正确后，微分筒上的零刻线与固定套管纵刻线对准时，微分筒的端面与固定套管毫米刻线右边缘应相切，若不相切，压线不大于0.05mm，离线不大于0.1mm。
测量面的平面度
外径千分尺测量面的平面度应不大于0.6um。壁厚千分尺、板厚千分尺测量面的平面度应不大于1.5um。数显外径千分尺测量面平面度应不大于0.3μm。4.9数显外径千分尺的示值重复性3
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数显外径千分尺的示值重复性应不大于1um，4.10数显外径千分尺任意位置时数值漂移在任意位置时的数值漂移应不大于1um/h4.11两测量面的平行度
外径千分尺锁紧装置坚固与松开时，千分尺两工作面的平行度均应不超过表2规定。表2外径千分尺示值的最大允许误差及两测量面的平行度测量范围/mm
0~25，25~50
50~75，75~100
100~125，125150
150~175，175～200
200~225，225~250
250~275，275~300
300~325，325~350
350~375，375~400
400~425，
425~450
450~475，475~500
最大允许误差/μm
板厚千分尺两测量面的平行度应不超过4μm。数显外径千分尺两测量面的平行度应不超过表3规定。两测量面的平行度/μm
表3数显外径干分尺示值的最大允许误差及两测量面平行度测量范围/mm
0~25，25~50
50~75，75~100
100~125，125~150
150~175，175~200
200~225，225~250
250~275，275300
300~325，325~350
350~375，375~400
400~425，425~450
450~475，475~500
4.12示值误差
最大允许误差/μm
外径千分尺示值的最大允许误差应不超过表2规定。两测量面的平行度/μm
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壁厚千分尺、板厚千分尺示值的最大允许误差应不超过士8um。数显外径千分尺示值的最大允许误差应不超过表3规定对于测量上限大于150mm的千分尺可只检测微头示值误差，测微头各点相对于零点的示值最大允许误差不超过土3μm。4.13数显外径千分尺细分误差
数显外径千分尺数显装置的细分误差应不超过士2μum。4.14校对用量杆
4.14.1外径千分尺校对用量杆
外径牛分尺校对用量转1の组验型糖过表4规定。
死径千分尺校对用量杆的尺守偏美变动量
校对量杆标称尺
325，350
425，
分尺校对用量
数显外经
数显外径千分
标称尺寸/mm
25，50
125，150，175
200，225，250
275，300
8888883
寸偏差和变动量应不超
效用量托的
变动量/μm
5规定。
数显外径千分尺校对用量杆的尺式偏单移变动量
NA MEROLO
变动量/μm
325，350，375，400
425，450，475
5通用技术要求
5.1外观
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5.1.1千分尺及其校对用的量杆不应有碰伤、锈蚀、带磁或其他缺陷，标尺刻线应清晰、均匀，数显外径千分尺数字显示应清晰、完整。5.1.2，千分尺应附有调整零位的工具，测量上限大于或等于25mm的千分尺应附有校对用的量杆。千分尺应具有测力装置、隔热装置和锁紧装置。校对量杆应有隔热装置。5.1.3千分尺上应标有分度值、测量范围、制造厂名（或厂标）及出厂编号。5.1.4后续检定和使用中检验的千分尺及其校对用的量杆不应有影响使用准确度的外观缺陷。Www.bzxZ.net
5.2各部分的相互作用
微分筒转动和测微螺杆的移动应平稳无卡滞现象。5.2.2可调或可换测砧的调整或装卸应顺畅，作用要可靠，调零和锁紧装置的作用应切实有效。
5.2.3带有表盘的千分尺，表针移动应灵活、无卡滞现象。5.2.4
数显外径千分尺各工作按钮应灵活可靠。6计量器具控制
计量器具控制包括首次检定、后续检定和使用中检验。6.1检定条件
6.1.1环境条件
检定千分尺的室内温度和被检千分尺在室内平衡温度的时间均应符合表6规定。室内湿度不大于70%RH。
表6室内温度及被检千分尺在室内平衡温度的时间受检千分尺
外径、板厚、壁厚
6.1.2检定设备
受检千分尺
测量范围/mm
>100～500
～100
>100～200
>200~500
主要检定设备见表7。
6.2检定项目
检定项目见表7。
室内温度对20℃的允许偏差/℃
千分尺
校对用的量杆
平衡温度的时间
受检项目
各部件相互作用
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表7检定项目及主要检定设备
主要检定设备
测微螺杆的轴向串动和径
向摆动
测砧与测微螺杆测量面的
相对偏移
刻线宽度及宽度差
指针与刻线盘的相对位置
微分筒锥面的端面梭边至
固定套管刻线面的距离
微分筒锥面的端面与固定
套管毫米刻线的相对位置
测量面的平面度
数显外径千分尺的示值重
数显外径千分尺任意位置
时数值漂移
两测量面的平行度
示值误差
数显外径千分尺细分误差
校对用量杆
杠杆千分表
平板、杠杆百分表或百分表
专用测力仪
工具显微镜
工具显微镜、塞尺
2级平晶、刀口尺
4等量块或相应的专用量块
平行平晶、4等、5等量
块、钢球检具
4等、5等量块或相应的
专用量块
微分筒或5等量块
立式接触式干涉仪、测长
机、3等量块
注：“+”表示应该检定，“二”表示可不检定。6.3检定方法
6.3.1外观
目力观察。
6.3.2各部分的相互作用
手动试验和目力观察。
6.3.3测微螺杆的轴向窜动和径向摆动首次检定
后续检定
使用中检验
般情况下用手感检查测微螺杆的轴向窜动和径向摆动。有异议时，可按下列方法检定。
6.3.3.1测微螺杆的轴向窜动，用杠杆千分表检定。检定时，杠杆千分表与测微螺杆测量面接触，沿测微螺杆轴向方向分别往返加力3N～5N，如图7所示。杠杆千分表7
示值的变化，即为轴向窜动量。JJG21—2008
6.3.3.2测微螺杆的径向摆动亦用杠杆千分表检定。检定时，将测微螺杆伸出尺架10mm后，使杠杆千分表接触测微螺杆端部，再沿杠杆千分表测量方向加力2N～3N，然后在相反方向加同样大小的力，此时杠杆千分表示值的变化即为径向摆动量。径向摆动的检定应在测微螺杆相互垂直的两个方向进行。此过程如图8所示。杠杆千分表
图7轴向
6.3.4测砧与测微螺
加力方向
加力方向
则量面的相对
千分尺测砖
一般情况下目无
分尺可使两测量面
量杆进行检定。划
测量范围为
检具测出偏移量
在平板上用
检定时借助千斤
爱接触观察其偏糕
微螺粹测量
测量上限
杠杆千分表
径收示意图
的相对偏移点
~25）mm的千
于25mm的于尺可借助校对
得议时，可按下刻
25)mm的用塞尺比较，测量上限大于25mm的外密开分尺用专用
杆百分表检定：对
敦置在平板上，如
工作面平行，然后用百分表测出测砖国童
所示，调整
微螺森
0mm的千分尺用自
百分表检定。
顶使千分尺的
方位上的偏移量
螺杆与平板
然后将尺架
法测出测砧与测微杆在另一方位上的偏移量。避占与测微螺杆侧转90°，按上述度
测量面的相对偏秘
按下式求得
此项检定也可用其他专照检具检定V
千斤顶
METROLOG
桃杆分表
（佰分表）
测量杆
被检尺
千斤项
图9在平板上用杠杆百分表检定示意图6.3.5测力
用分度值不大于0.2N的专用测力计检定。检定时，使测量面与测力计的球工作面接触后进行。
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