首页 > 有色金属行业标准(YS) > YS/T 644-2007 铂钌合金薄膜测定方法 X射线光电子能谱法 测定合金态铂及合金态钌含量
YS/T 644-2007

基本信息

标准号: YS/T 644-2007

中文名称:铂钌合金薄膜测定方法 X射线光电子能谱法 测定合金态铂及合金态钌含量

标准类别:有色金属行业标准(YS)

标准状态:现行

发布日期:2007-04-13

实施日期:2007-10-01

出版语种:简体中文

下载格式:.rar.pdf

下载大小:KB

相关标签: 合金 薄膜 测定方法 射线 光电子 能谱 测定 含量

标准分类号

标准ICS号:冶金>>有色金属>>77.120.99其他有色金属及其合金

中标分类号:冶金>>有色金属及其合金产品>>H68贵金属及其合金

关联标准

出版信息

出版社:中国标准出版社

页数:平装16开/页数:6/字数:6千字

标准价格:10.0 元

出版日期:2007-10-01

相关单位信息

起草人:杨滨、杨喜昆、咎林寒等

起草单位:昆明贵金属研究所

归口单位:全国有色金属标准化技术委员会

提出单位:全国有色金属标准化技术委员会

发布部门:中华人民共和国国家发展和改革委员会

标准简介

本标准规定了铂钌合金薄膜材料中合金态铂及合金态钌含量的测定方法。本标准适用于铂钌合金薄膜材料中合金态铂及合金态钌含量的测定。也可适用于铂合金薄膜材料中合金态铂及合金态金属含量的测定。本标准不适用于单层厚度不大于10nm的层状薄膜。 YS/T 644-2007 铂钌合金薄膜测定方法 X射线光电子能谱法 测定合金态铂及合金态钌含量 YS/T644-2007 标准下载解压密码:www.bzxz.net