本规程适用于分度值不大于0.01mm、测量范围上限至8mm的读数显微镜，以及分度值不大于0.01mm、测量范围：纵向为(0～50)mm、橫向为(0～13)mm的测量显微镜的首次检定、后续检定和使用中检验。 JJG 571-2004 读数、测量显微镜检定规程 JJG571-2004 标准下载解压密码：www.bzxz.net
本规程适用于分度值不大于0.01mm、测量范围上限至8mm的读数显微镜，以及分度值不大于0.01mm、测量范围：纵向为（0～50）mm、橫向为（0～13）mm的测量显微镜的首次检定、后续检定和使用中检验。

中华人民共和国国家计量检定规程JJG571-—2004
读数、测量显微镜
Reading Microscope and Measuring Microscope2004-09-21发布
2005-03-21实施
国家质量监督检验检疫总局发布JJG571—2004
读数、测量显微镜检定规程
Verification Regulationof ReadingMicroscopeandMeasuringMicroscopeJJG571—2004
代替JJG904——1996
代替JJG571-1988
本规程经国家质量监督检验检疫总局于2004年09月21日批准，并自2005年03月21日起施行。
归口单位：全国儿何量工程参量计量技术委员会主要起草单位：中国计量科学研究院河南省计量测试研究所
参加起草单位：中国航空工业第一集团公司第三四研究所本规程委托全国几何量工程参量计量技术委员会负责解释本规程主要起草人：
朱小平
张卫东
参加起草人：
赵新丽
王蔚晨
JJG571-—2004
（中国计量科学研究院）
（河南省计量测试研究所）
（中国计量科学研究院）
（中国航空工业第一集团公司第三O四研究所）（中国计量科学研究院）
引用文献
4计量性能要求
JJG571—2004
圆工作台受径向力时引起的位移4.1
玻璃台面与纵、横向滑板移动方向的平行度纵、横向滑板移动的直线度
纵、横向滑板移动的相互垂直度4.5
显微镜升降方向对玻璃台面的垂直度圆工作台的示值误差
显微镜的示值误差
回程误差
通用技术要求·
各部分的相互作用·
5.3显微镜各刻线间的相对位置
棱镜座转动引起影像的位移
螺旋线分划板中心与回转中心的重合性5.5
6计量器具控制
6.1检定条件。
6.2检定项目·
6.3检定方法
6.4检定结果的处理.，
6.5检定周期
附录A
读数显微镜示值误差检定结果的不确定度分析附录B
测量显微镜示值误差检定结果的不确定度分析附录C样
检定螺旋线分划中心与其回转中心重合性的检定装置附录D
检定证书和检定结果通知书内页格式(1)
（3）
1范围
JJG571—2004
读数、测量显微镜检定规程
本规程适用于分度值不大于0.01mm、测量范上限至8mm的读数显微镜，以及分度值不大于0.01mm、测量范围：纵向为（0~50）mm、横向为（0~13）mm的测量显微镜的首次检定、后续检定和使用中检验。引用文献
本规程引用下列文献：
JJF1001--1998通用计量术语及定义JF1059—1999测量不确定度评定与表示JF1094-—2002测量仪器特性评定JB/T2369—1993读数显微镜
JB/T9339--1999测量显微镜
使用本规程时，应注意使用上述引用文献的现行有效版本。3概述
读数显微镜和测量显微镜（以下简称显微镜）都是光学机械式长度计量仪器，读数显微镜主要作为长度计量仪器中的瞄准定位读数装置，也可单独用于刻线宽度、间距等长度量的测量；测量显微镜的主要用途是通过影像法以直角坐标或极坐标原理测量零件的形状尺寸。读数显微镜外形结构如图1、图2、图3所示，测量显微镜外形结构如图4所示。
图1读数显微镜外形图之-
1物镜；2测微分划板盒；
3-目镜：4-测微旋钮：5—照明灯图2读数显微镜外形图之二
1一物镜；2一测微旋钮；3一目镜：4一测微分划板盒；5一零位调整旋钮；6一照明灯1
图3读数显微镜外形图之三
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1—镜简座盘；2—紫固镖钉：3一分划板盒：4一日镜；5一测微鼓轮；
6—物镜：7-镜筒
计量性能要求
4.1圆工作台受径向力时引起的位移图4测量显微镜外形图
1-基座；2—纵向测微鼓轮；3，4—紧固螺钉：5—臂架；6—立柱；7—显微镜升降旋钮；8—校镜座：9—目镜；10—显微镜管；11—玻璃台；12—圆工作台；13一横向测微鼓轮：14—反射镜圆工作台受径向力5N时引起的位移量应不超过0.01mm。4.2玻璃台面与纵、横向滑板移动方向的平行度在纵向50mm长度上应不超过0.04mm；在横向13mm长度上应不超过0.01mm4.3纵、横向滑板移动的直线度
纵、横向滑板移动的直线度（以角摆表示）应不大于25\。4.4纵、横向滑板移动的相互垂直度纵、横向滑板移动的相互垂直度应不超过±0.003mm/10mm。显微镜升降方向对玻璃台面的垂直度4.5
显微镜升降方向对玻璃台面的垂直度应不超过5。4.6圆工作台的示值误差
圆工作台的最大允许误差6°。
4.7显微镜的示值误差
最大允许误差见表1要求。
4.8回程误差
最大允许误差见表1要求。
仪器名称
读数显微镜
测量显微镜
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表1显微镜物镜放大倍数误差、回程误差和示值误差的要求分度值/mm
5通用技术要求
5.1外观
物镜放大倍数
最大允许误差/um
回程误差
示值误差
5+L/15
测量长度，mm
5.1.1仪器应标有名称、型号、编号、制造厂名称（或厂标）及M标志。5.1.2仪器工作面应无锈迹、碰伤、明显划痕等缺陷，仪器的涂、镀层应无脱落现象。5.1.3光学系统在整个视场内成像应清晰，视场内应无油迹、灰尘、水渍和霉点等影响使用的症瘫病。
5.1.4显微镜测微鼓轮、套管和分划板上刻线应平直、清晰、均匀，无断线和脱漆（或脱色）现象，数字亦应清晰。5.1.5读数显微镜的毫米刻线与十字线之间、0.1mm刻度尺与螺旋线分划板之间、指标线与微米刻线之间均应无目力可见的视差。后续检定和使用中检验的仪器，允许有不影响计量性能的上述缺陷。5.2各部分的相互作用
5.2.1仪器各活动部分运动应灵活平稳，无卡滞和跳动现象。紧固螺钉的作用应可靠有效。
5.2.2测微鼓轮的行程应大于工作行程，在超始和最终位置上均应大于0.3mm。5.2.3测微鼓轮的微分筒锥面内棱边与固定套管刻线面之间的距离应不大于0.4mm。5.3显微镜各刻线间的相对位置
5.3.1图1、图2结构的读数显微镜指标线与微米刻线应平行，指标线应盖住微米刻度尺短刻线长度的7/10以上，但不应超过微米刻度尺短刻线的长度。5.3.2图1结构的读数显微镜的微米刻度尺运动方向与刻度尺轴线的平行度应不大于微米刻度尺短刻线长度的1/5。
5.3.3图2结构的读数显微镜0.1mm刻度尺与螺旋线分划板之间应无目力可见的歪斜，当螺旋线对准0.1mm刻度尺上的0.5mm刻线时，指标线偏离微米刻度尺零刻线不超过0.001mm。
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5.3.4图3结构的读数显微镜，十字线的竖线应与毫米刻线平行。当十字线竖线对准毫米刻度尺的零刻线时，测微鼓轮的零位应对准指标线，其偏移量不超过1/5个分度；当测微鼓轮转动100个分度时，十字线竖线应移动到对应刻线位置，其偏移量不超过1个分度。
十字线分划板运动方向与毫米刻度尺轴线的平行度应不大于毫米刻线长度的1/10。5.3.5图4结构的测量显微镜，当纵向读数装置上测微鼓轮的零线与指标线对准后，毫米刻线对指标线的偏移量应不超过0.1mm；当横向读数装置上微分筒的零线与固定套管的纵线对准后，微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线右边缘应相切，离线不大于0.1mm或压线不大于0.05mmo
5.4棱镜座转动引起影像的位移
棱镜座转动引起影像的位移量应不超过视场直径的1/6。5.5螺旋线分划板中心与回转中心的重合性螺旋线分划板中心与回转中心的重合性应无目力可见的偏移。6计量器具控制
计量器具控制包括首次检定、后续检定和使用中的检验。6.1检定条件
6.1.1检定环境条件见表2。
表2检定环境条件
仪器名称
读数显微镜
测量显微镜
分度值/mm
6.1.2检定设备
主要检定设备见表3。
6.2检定项目
室温/℃
20 ± 5
20 ± 3
20 ±5
各检定项目和检定类别见表3。
6.3检定方法
6.3.1外观
目力观察。
6.3.2各部分相互作用
室温变化/（℃/h）
被检仪器在室内平衡温度时间/h3
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表3检定项目、检定类别和主要检定设备检定类别
检定项目
各部分相互作用
显微镜各刻线间的相对位置
棱镜座转动引起影像的位移
圆工作台受径向力引起的位移
玻璃台面与纵横向滑板移动
方向的平行度
纵、横向滑板移动的直线度
纵横向滑板移动的相互垂直度
显微镜升降方向对玻璃
台面的垂直度
圆工作台的示值误差
螺旋线分划板中心与回转
中心的重合性
显微镜的示值误差
回程误差
主要检定设备
0.4mm的Ⅱ级塞尺
十字线分划板
十字线分划板、
分度值≤0.1N测力计
0级千分表
1\自准直仪
±3\四方体分度值为
0.002mm杠杆千分表
十字线分划板、
40mm平行平晶
2级刀口直角尺
分度值为0.01mm，测
量范围（0~1）mm，U
=0.2μm（k=3）专用
玻璃刻度尺；分度值为
0.1mm，测量范围（0
10)mm,U=0.5μm
（k=3）专用玻璃刻度
尺；二等标准玻璃线纹
尺和读数显微镜检定装
1.表中“+”表示应检定，“_”表示可不检定。首次检定
后续检定
使用中检验
检定项目说明
读数显微镜
测量显
2.由于仪器结构的不同，仪器不具备某一检定项目所涉及的功能时，该项目可不检定。“×”表示不涉及该项目，“△”表示涉及该项目。目力观察和手动试验。其中测微鼓轮微分筒锥面内棱边与固定套管刻线面之间的距离，用塞尺以比较法在微分简转动一周内均匀分布的四个方位上进行测量。6.3.3显微镜各刻线间的相对位置5
目力观察和手动试验。
6.3.4棱镜座转动引起影像的位移JJG571-2004
将十字线分划板平放在玻璃工作台面上，借助显微镜的升降旋钮调整显微镜，使目镜视场内见到清晰的十字线影像。转动棱镜座一周，观察十字线影像的最大位移量作为测量结果。
6.3.5圆工作台受径向力引起的位移在玻璃工作台面上安置十字线分划板，调整显微镜，使目镜中看到清晰的十字线影像。转动纵、横向读数装置的测微鼓轮，使十字线影像与目镜中的十字线对准，记下纵、横向测微鼓轮的读数a，和b，。在圆工作台侧面上加径向力5N，撤掉外力后，转动测微鼓轮使两十字线再次对准，并记下纵横向测微鼓轮的读数a，和b2。圆工作台受径向力所引起的位移量1按式（1）计算。l=/(a2 - ar)2 + (b2 -b,)
式中：a1，a2纵向测微鼓轮的读数值，mm；b,，bz—横向测微鼓轮的读数值，mm6.3.6玻璃台面与纵、横向滑板移动方向的平行度(1)bzxZ.net
借助表架将千分表固定在显微镜的物镜简上，调整千分表使其测量轴线垂直于工作台面。升降显微镜，使表的测头与玻璃台面接触，并指示于行程中间的某一测值。分别移动纵、横向滑板整个工作行程，观察千分表的示值变化，各方向上示值最大变化量作为测量结果。
6.3.7纵、横向滑板移动的直线度将被检仪器和自准直仪安装在同一块平板上后，在圆工作台面上安置反射镜。调整自准直仪和反射镜，使其光轴平行于一滑板移动方向。然后，在整个工作行程内移动该滑板，分别记下该滑板在水平和垂直两个方位上的最大示值变化量，取最大变化值作为该移动滑板的角摆。按同样方法测量另一滑板的角摆。6.3.8纵、横向滑板移动的相互垂直度将四方体平放在玻璃台面上并加以固定，同时借助夹具把杠杆千分表固定在显微镜物镜简上，调整杠杆千分表的测量轴线使其与横向滑板移动方向平行。移动横向滑板，使杠杆千分表测头与四方体的一个工作面接触。调整四方体使该工作面平行于纵向滑板移动方向，然后改变杠杆千分表的测量方向，使其测量轴线垂直于四方体的相邻工作面并与之接触。移动横向滑板10mm，记下杠杆于分表的示值变化量a，将其作为测量结果。
6.3.9显微镜升降方向对玻璃台面的垂直度测量时，将十字线分划板固定在玻璃台面上，升降显微镜直至在目镜中见到清晰的十字线影像。调整圆工作台，使十字线分划板的十字线与纵横向滑板移动方向平行，转动纵横向测微鼓轮，使十字线影像与目镜中的十字线对准，记下纵向和横向读数a，和b。提升显微镜，将平行平晶放在十字线分划板上，升降显微镜直至目镜中见到清晰的十字线影像，转动纵横向测微鼓轮，使十字线影像再次与目镜中的十字线对准，记下6
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纵、横向读数a2和b2。按式（2）计算显微镜升降方向对玻璃台面的垂直度△。。3438n(az-a)+（bz-b,)2
L(n-1)
式中：△。显微镜升降方向对玻璃台面的垂直度，（\)；L-—平行平晶的尺寸，mm；
n——平行平晶的玻璃折射率；
ai，a2——纵向读数装置在两个位置上的示值，mm；6i，b2—横向读数装置在两个位置上的示值，mm。该项目也可采用满足不确定度要求的其他方法测量。6.3.10圆工作台的示值误差
先将圆工作台的示值对准于零位ao，把刀口直角尺平放在玻璃台面上并调焦。调整直角尺使其一刃边影像与目镜中十字线的水平线（或垂直线）平行，然后依次地转动圆工作台至90°，180°，270°，使直角尺的工作刃边影像交替地与目镜中十字线的水平线（或垂直线）平行，并记下圆工作台的示值ag0，α180，α270。按式（3）计算各测量点相对于零位的误差。以各点对零位的误差中最大值与最小值的差值为圆工作台的示值误差。
g=（a-a)-α
式中：α；—分别取值90°、180°、270%。6.3.11螺旋线分划板中心与回转中心的重合性(3)
将读数显微镜安装在检定装置上（见附录图C1），把专用玻璃刻度尺放在检定装置的工作台上，调焦至毫米刻线清晰地成像在读数显微镜的视场内，使其中一条毫米刻线与螺旋线分划板中的辅助圆（或微米刻线端点）相切并转动螺旋线分划板一周，观察辅助圆（或微米刻线端点）与毫米刻线间有无相对位移。6.3.12显微镜的示值误差
6.3.12.1读数显微镜
分度值为0.0025mm，0.001mm，0.0005mm的读数显微镜，用分度值为0.01mm的专用玻璃刻度尺测量；分度值为0.01mm，0.005mm的读数显微镜，用分度值为0.1mm的专用玻璃刻度尺测量。
分度值为0.001mm和0.0005mm的读数显微镜，首先将其安装在检定装置上（见附录图C.1），再把刻度尺安放在检定装置的工作台上，调焦使专用玻璃刻度尺的刻线清晰地成像在读数显微镜的视场内，并使专用玻璃刻度尺轴线与读数显微镜的0.1mm刻度尺轴线平行，按串联形式排列。借助检定装置的工作台使专用玻璃刻度尺的零刻线处于读数显微镜0.1mm刻度尺的零位，用双刻线（或螺旋线）正向对准，正向重复读数2次取平均值记为a10然后借助检定装置的工作台移动专用玻璃刻度尺，使0.12mm刻线对准读数显微镜的0.1mm刻度尺的零刻线，用读数显微镜的双刻线（或螺旋线）正向对准专用玻璃刻度尺的零刻线，正向重复读数2次取平均值，记为a1。用同样的方法按表4规定的受检点进行测量记下读数，适当越程后再依次进行反向测量记下读7
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数b1。重复上述正反行程测量，又得读数α2.和bz，以正向两次读数（a，a2:）的平均值作为第i测量点正向示值c;，取反向两次读数（b，b2t）的平均值作为第i测量点反向示值c：，则各受检点对起始点的正向或反向示值误差按式（4）计算：=［（c-co）-L1x1000
式中：8—一各受检点的示值误差，um；ci，co—仪器各受检点和零点的正向或反向示值，mm；L一专用玻璃刻度尺在第i受检点相对零点的实际尺寸，mm。表4受检点分布位置
仪器名称
读数显微镜
测量显微镜
分度值
受检点分布位置
0,1,1.2,2,2.4,3,3.6,4,4.8,5，6,7,80,0.2,0.4,0.6,0.8,1,2,3
0，0.05，0.1，0.25，0.5，0.75，10,0.12,0.34,0.56,0.88,1
按5mm间隔测量
3,5,8,10,13
对于分度值为0.01mm，0.005mm，0.0025mm的读数显微镜，先按前述方法进行安装调整，使专用玻璃刻度尺的轴线方向与读数显微镜视场中十字线移动方向一致。再将读数显微镜测微鼓轮的零刻线与指标线大致对准，同时使十字线分划板竖线对准专用玻璃刻度尺的零刻线，进行正向瞄准记下读数an。然后再转动测微鼓轮按表4规定的受检点移动十字线，并使其竖线正向对准专用玻璃刻度尺上相应刻线，分别记下读数a1i适当越程后再依次进行反向测量记下读数b1，重复上述正反行程测量又得读数α2和b2i。以正向两次读数（al，a2）的平均值作为第i测量点正向示值，取反向两次读数（b1，bz）的平均值作为第i测量点反向示值，则各受检点对起始点的正向或反向示值误差按式（4）计算。
以最大、最小正向示值误差之差作为正向行程示值误差。按同样的方法计算反向行程示值误差，取正、反行程示值误差中较大值作为测量结果。6.3.12.2测量显微镜
用标准玻璃刻度尺按表4受检点分布要求对纵横向读数装置分别进行测量。将标准玻璃刻度尺放在玻璃台面上，转动测微鼓轮使所检坐标方向的示值大致处于零位。调整刻度尺轴线与纵向移动方向相平行，并使其零线与目镜中的十字线大致对准。然后正向转动测微鼓轮，使刻度尺的零线与目镜中的十字线对准，记下读数a1o。再正向转动测微鼓轮，并依次按表4受检点分布要求使玻璃刻度尺的对应刻线与目镜中的十字线对准，记下读数an。适当越程后再依次进行反向测量记下读数bu，重复上述8
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