JJF (电子) 30805-2007
基本信息
标准号： JJF (电子) 30805-2007
中文名称：电波暗室校准规范
标准类别：国家计量标准(JJ)
标准状态：现行
出版语种：简体中文
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标准分类号
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标准简介
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标准内容
JJF（电子）
中华人民共和国信息产业部电子计量校准规范JJF（电子）30805—2007
电波暗室
Anechoic chamnber
2007-04-16发布
2007-05-01实施
中华人民共和国信息产业部发布103
JJF（电子）30805—2007
电波暗室校准规范
CalibrationSpecificationsof
Anechoicchamber
JJF（电子）30805-
本规范经中华人民共和国信息产业部2007年04月16日批准，并自200年05月01日起施行。
归口单位：信息产业部电子计量管理办公室主要起草单位：信息产业部电子第五研究所（信息产业部电子601计量站）
本规范技术条文委托起草单位负责解释。104
JJF（电子）
本规范主要起草人：
李胜海
参加起草人：
30805—2007
（信息产业部电子第五研究所）（信息产业部电子第五研究所）（信息产业部电子第五研究所）（信息产业部电子第五研究所）（信息产业部电子第五研究所）105
引用文献·
计量性能要求…
校准条件
校准项目和校准方法
校准结果
复校时间间隔
附录A校准记录内页参考格式
JJF（电子）免费标准bzxz.net
30805—2007
·（2）
·（7)
JJF（电子）30805—2007
1范围
电波暗室校准规范
共15页第1页
本规范主要适用于电磁兼容实验中3m法电波暗室的校准。5m及10m法暗室可以参照本规范进行校准。
引用文献
GB9254-1998信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法GB/T17626.3-1998电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验GB/T6113.1-1995无线电干扰和抗扰度测量设备规范注：使用本规范时，应注意使用上述引用文献的现行有效版本。3概述
电波暗室（Anechoicchamber），是为模拟开阔试验场而建造的，是电磁兼容试验中用到的主要的试验场地。电波暗室分半电波暗室和全电波暗室，全电波暗室是六个面均贴有吸波材料的暗室，半电波暗室是除了地面外的其他五个面贴有吸波材料的暗室。4计量性能要求
4.1屏蔽效果(FE)
频率30MHz～18GHz，屏蔽效果≥100dB。4.2归一化场地衰减(NSA)
频率30MHz～18GHz，测得值与标准值之差小于土4dB。4.3场地均匀性(FU)
在规定的16点测试平面内，剔除4个点，剩余12个点中最大和最小的差值小于6dB。5
校准条件
5.1环境条件
温度：（23±5）℃
相对湿度：（65土15）%
周围无影响正常校准工作的电磁干扰和机械震动。107
JJF（电子）30805—2007
5.2对标准设备的要求
5.2.1频谱分析仪（内置跟踪源）频率范围：30MHz～18GHz；
跟踪源输出功率：≥0dBm；
参考电平准确度：土0.3dB。
5.2.2电场探头
频率范围：
(30～1000)MHz;
场强测量范围：（1～30）V/m，测量不确定度：0.5dB。5.2.3
信号发生器
频率范围：（30～1000）MHz；
输出功率：≥0dBm。
微波信号发生器
频率范围：（1～18）GHz；
输出功率：≥0dBm。
5.2.5.宽带天线
共15页
第2页
频率范围：30MHz～18GHz，可以由几种天线组合而成，如双锥天线、对数周期天线、喇叭天线等；
天线系数经过严格校准。
功率放大器
频率范围：30MHz～18GHz；
功率：能在规定的均匀域产生3V/m～10V/m的场强。前置放大器
频率范围：30MHz～18GHz;
放大倍数：>20dB。
6校准项目和校准方法
6.1外观及结构检查
6.1.1被校电波暗室结构应完好无损，吸波材料粘贴完好。6.1.2被校电波暗室各部分的控制器（天线升降、转台转动、监视系统）能够正常工108
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6.2屏蔽效果的校准
共15页
第3页
屏蔽效果的校准方法按照国标《GB/T12190-1990高性能屏蔽室屏蔽性能的测试》。暗室在屏蔽壳体建造完成后，尚未添加吸波材料之前应先进行屏蔽效果的校准。6.3归一化场地衰减的校准
6.3.1(30～1000)MHz归一化场地衰减校准归一化场地衰减校准的场地布置图.（图1）频谱分析仪/
跟踪信号源
前置放大器
计算机
发射天线
高度1~2米
接收天线
高度1~4米
图1(30~1000)MHz归一化场地衰减校准系统组成在电波暗室中，在旋转台周围确定一个1.5米×1.5米的“测试空间”，将发射天线首先放置在“测试空间”的中间，接收与发射天线首先置于水平极化方式，高度定为1米。接收与发射天线均为对数周期天线。6.3.1.2
按图1连接仪器。将频谱分析仪的跟踪信号源输出经过10dB衰减器连接到发射天线，接收天线接收到的信号经过6dB衰减器连接到前置放大器的输入端，前置放大器的输出端输入到频谱分析仪的输入端。6.3.1.3
频谱分析仪的扫频步长的设置：(30～200)MHz时为1MHz，(200～1000)MHz时为5MHz。调整信号发生器的输出电平，使其高于周围和频谱分析仪的噪声电平至少20dB，并得到一个适宜的接收电压指示。频谱分析仪频率的扫描速度应远大于天线升降速度。
利用天线控制台使接收天线在(14)米的范围内升降，利用频谱分析仪的最大值保持模式(MaxHold)记录接收信号的最大值Us。109
JJF（电子）3
30805—2007
第4页
共15页
断开与各自天线相连的发射和接收电缆，用转接器直接将两根电缆（包括衰减器）连接起来，记录连接后频谱仪的电平值Udir。6.3.1.6
式中：
归一化场地衰减(NSA)的测量值AN可按下式计算：An= Udir- Us- AFT-AFR
Ualir一两根电缆(包括衰减器)直接相连时频谱仪的读数：Us一两根电缆(包括衰减器)分别接发射天线和接收天线时频谱仪的读数；AFr一发射天线的天线系数；
AFR一接收天线的天线系数。
测得的AN与理论值相减，其差值应不超过士4dB。理论值在GB9254-1998或GB/T6113.1-1995中已给出。
要分别在“测试空间”的中间和前、后、左、右（距中心0.75米）五个不同位置，并分别进行垂直、水平极化方向及发射天线在两种不同高度(垂直极化时1米和1.5米，水平极化时1米和2米)进行校准，共20种组合。6.3.2（1～18）GHz归一化场地衰减校准6.3.2.1
场地布置图如图2
在（1～18）GHz频段，测试场地应该尽量满足无反射条件，例如全电波暗室或者是地面使用吸波材料的半电波暗室。对于3米的测试距离，吸波材料的最小区域是1.3米×1.3米，将它们放置在发射天线的前面0.4米m处。接收天线
频谱仪
计算机
发生器
发射天线
图2(1~18)GHz归一化场地衰减校准系统组成计算归一化场地衰减理论值（An)110
JJF（电子）30805—2007
共15页第5页
（1～18）GHz之间的归一化场地衰减理论值可以用下面的公式计算。Ax(dB)=201og(R)-201og(f)+32
： (2)
式中：R--在接地平板上发射和接收天线的投影之间的水平间隔距离(用m表示)；f一频率（用MHz表示)；
An一归一化场地衰减(用dB表示）。在（1～18）GHz频段，在接收天线处没有连续的高度扫描，发射和接收天线始终处于相同的高度h。为了尽可能接近EUT测量条件，发射天线应该是一个低指向性的线形极化天线，例如对数周期或者偶极子天线。如果天线的3dB波束宽度大于40°，该天线被认为具有低指向性。
按图2连接好仪器。
调整信号发生器的输出使接收到的电压显示超过环境噪声和频谱分析仪噪声电平至少20dB。
250MHz。
记录每个频率点的接收电压值，该值是公式(1)中的Us。建议频率步长为从天线处断开发射和接收电缆，用一个直通适配器直接连接这两根电缆（包括衰减器），记录每个频率点的实际电平值Udir。6.3.2.7
通过公式（1）可以计算出对应每个频率点的场地衰减AN。理论值减去第6.3.2.5步测得的实测值，结果应在土4dB之内。要分别在“测试空间”的中间和前、后、左、右（距中心0.75米）五个不同位置，并分别进行垂直、水平极化方向及天线在两种不同高度（垂直极化时1米和1.5米，水平极化时1米和2米）进行校准。6.3.2.10
注意事项
假如NSA测量结果的偏差超出士4dB，那么首先应检查下述环节：测量方法；
天线系数的准确度，排除天线的影响；3）电缆和使用的连接器；
4）月
所用仪器的准确度。
5）1GHz以上如校准失败，应当适当的增加地面吸波材料的面积。增加的顺序首先沿着两个天线之间的轴线，然后与它垂直。当测试距离在2米以内时，地面可能11
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不需使用吸波材料。
6.4场均匀性的校准
场均匀性校准的场地布置图（图3）信号源
计算机
调制解调器
场强探头
宽带天线
高度：1.55m
场强探头
连接至场强探头支架
图3场均匀性校准系统组成
共15页
第6页
6.4.1在“测试空间”建立一个“均匀域”平面，测试架就放置在这个平面。平面内均匀划分为16个点，每个点之间的距离是0.5米，最低点离地面的高度为0.8米（如图4)。发射天线高度定为1.55米。
6.4.2信号发生器输出频率从（801000)MHz，建议步长为1%。经过功率放大器放大的信号通过发射天线在这个测试平面产生规定的场强(3～10）V/m，用各向同性的场强探头分别测量每个点的场强，取数值最接近的12个值，剔除另外4个。12个值中，最大和最小的差值小于6dB，就认为测试平面是均匀的。6.4.3分别在发射天线水平极化和垂直极化两种极化方式进行校准。
传感器的位
图4场校准均匀域尺寸
6.4.4由于在场均匀性校准中取点要求很密集（最大10%步长），测试数据量很大，所以需要通过计算机进行自动校准并计算结果可以利用计算机将校准结果绘制成曲线，非常直观和容易作出判断。
6.4.5（1～18)GHz场均匀性的校准可以参照(80～1000)MHz场均匀性的校准方法。112
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校准结果
共15页
第7页
经校准后的电波暗室应出具校准证书。证书应包含足够信息，如委托单位、被校准暗室名称、型号、编号、校准日期、校准地点、校准实验室名称、校准结果及其测量不确定度等。如委托单位要求，可给出符合性的结论。复校时间间隔
用户根据使用情况自行决定，建议复校时间间隔两年。113
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电波暗室
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电波暗室校准规范
CalibrationSpecificationsof
Anechoicchamber
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本规范经中华人民共和国信息产业部2007年04月16日批准，并自200年05月01日起施行。
归口单位：信息产业部电子计量管理办公室主要起草单位：信息产业部电子第五研究所（信息产业部电子601计量站）
本规范技术条文委托起草单位负责解释。104
JJF（电子）
本规范主要起草人：
李胜海
参加起草人：
30805—2007
（信息产业部电子第五研究所）（信息产业部电子第五研究所）（信息产业部电子第五研究所）（信息产业部电子第五研究所）（信息产业部电子第五研究所）105
引用文献·
计量性能要求…
校准条件
校准项目和校准方法
校准结果
复校时间间隔
附录A校准记录内页参考格式
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·（2）
·（7)
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1范围
电波暗室校准规范
共15页第1页
本规范主要适用于电磁兼容实验中3m法电波暗室的校准。5m及10m法暗室可以参照本规范进行校准。
引用文献
GB9254-1998信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法GB/T17626.3-1998电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验GB/T6113.1-1995无线电干扰和抗扰度测量设备规范注：使用本规范时，应注意使用上述引用文献的现行有效版本。3概述
电波暗室（Anechoicchamber），是为模拟开阔试验场而建造的，是电磁兼容试验中用到的主要的试验场地。电波暗室分半电波暗室和全电波暗室，全电波暗室是六个面均贴有吸波材料的暗室，半电波暗室是除了地面外的其他五个面贴有吸波材料的暗室。4计量性能要求
4.1屏蔽效果(FE)
频率30MHz～18GHz，屏蔽效果≥100dB。4.2归一化场地衰减(NSA)
频率30MHz～18GHz，测得值与标准值之差小于土4dB。4.3场地均匀性(FU)
在规定的16点测试平面内，剔除4个点，剩余12个点中最大和最小的差值小于6dB。5
校准条件
5.1环境条件
温度：（23±5）℃
相对湿度：（65土15）%
周围无影响正常校准工作的电磁干扰和机械震动。107
JJF（电子）30805—2007
5.2对标准设备的要求
5.2.1频谱分析仪（内置跟踪源）频率范围：30MHz～18GHz；
跟踪源输出功率：≥0dBm；
参考电平准确度：土0.3dB。
5.2.2电场探头
频率范围：
(30～1000)MHz;
场强测量范围：（1～30）V/m，测量不确定度：0.5dB。5.2.3
信号发生器
频率范围：（30～1000）MHz；
输出功率：≥0dBm。
微波信号发生器
频率范围：（1～18）GHz；
输出功率：≥0dBm。
5.2.5.宽带天线
共15页
第2页
频率范围：30MHz～18GHz，可以由几种天线组合而成，如双锥天线、对数周期天线、喇叭天线等；
天线系数经过严格校准。
功率放大器
频率范围：30MHz～18GHz；
功率：能在规定的均匀域产生3V/m～10V/m的场强。前置放大器
频率范围：30MHz～18GHz;
放大倍数：>20dB。
6校准项目和校准方法
6.1外观及结构检查
6.1.1被校电波暗室结构应完好无损，吸波材料粘贴完好。6.1.2被校电波暗室各部分的控制器（天线升降、转台转动、监视系统）能够正常工108
JJF（电子）30805—2007
6.2屏蔽效果的校准
共15页
第3页
屏蔽效果的校准方法按照国标《GB/T12190-1990高性能屏蔽室屏蔽性能的测试》。暗室在屏蔽壳体建造完成后，尚未添加吸波材料之前应先进行屏蔽效果的校准。6.3归一化场地衰减的校准
6.3.1(30～1000)MHz归一化场地衰减校准归一化场地衰减校准的场地布置图.（图1）频谱分析仪/
跟踪信号源
前置放大器
计算机
发射天线
高度1~2米
接收天线
高度1~4米
图1(30~1000)MHz归一化场地衰减校准系统组成在电波暗室中，在旋转台周围确定一个1.5米×1.5米的“测试空间”，将发射天线首先放置在“测试空间”的中间，接收与发射天线首先置于水平极化方式，高度定为1米。接收与发射天线均为对数周期天线。6.3.1.2
按图1连接仪器。将频谱分析仪的跟踪信号源输出经过10dB衰减器连接到发射天线，接收天线接收到的信号经过6dB衰减器连接到前置放大器的输入端，前置放大器的输出端输入到频谱分析仪的输入端。6.3.1.3
频谱分析仪的扫频步长的设置：(30～200)MHz时为1MHz，(200～1000)MHz时为5MHz。调整信号发生器的输出电平，使其高于周围和频谱分析仪的噪声电平至少20dB，并得到一个适宜的接收电压指示。频谱分析仪频率的扫描速度应远大于天线升降速度。
利用天线控制台使接收天线在(14)米的范围内升降，利用频谱分析仪的最大值保持模式(MaxHold)记录接收信号的最大值Us。109
JJF（电子）3
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第4页
共15页
断开与各自天线相连的发射和接收电缆，用转接器直接将两根电缆（包括衰减器）连接起来，记录连接后频谱仪的电平值Udir。6.3.1.6
式中：
归一化场地衰减(NSA)的测量值AN可按下式计算：An= Udir- Us- AFT-AFR
Ualir一两根电缆(包括衰减器)直接相连时频谱仪的读数：Us一两根电缆(包括衰减器)分别接发射天线和接收天线时频谱仪的读数；AFr一发射天线的天线系数；
AFR一接收天线的天线系数。
测得的AN与理论值相减，其差值应不超过士4dB。理论值在GB9254-1998或GB/T6113.1-1995中已给出。
要分别在“测试空间”的中间和前、后、左、右（距中心0.75米）五个不同位置，并分别进行垂直、水平极化方向及发射天线在两种不同高度(垂直极化时1米和1.5米，水平极化时1米和2米)进行校准，共20种组合。6.3.2（1～18）GHz归一化场地衰减校准6.3.2.1
场地布置图如图2
在（1～18）GHz频段，测试场地应该尽量满足无反射条件，例如全电波暗室或者是地面使用吸波材料的半电波暗室。对于3米的测试距离，吸波材料的最小区域是1.3米×1.3米，将它们放置在发射天线的前面0.4米m处。接收天线
频谱仪
计算机
发生器
发射天线
图2(1~18)GHz归一化场地衰减校准系统组成计算归一化场地衰减理论值（An)110
JJF（电子）30805—2007
共15页第5页
（1～18）GHz之间的归一化场地衰减理论值可以用下面的公式计算。Ax(dB)=201og(R)-201og(f)+32
： (2)
式中：R--在接地平板上发射和接收天线的投影之间的水平间隔距离(用m表示)；f一频率（用MHz表示)；
An一归一化场地衰减(用dB表示）。在（1～18）GHz频段，在接收天线处没有连续的高度扫描，发射和接收天线始终处于相同的高度h。为了尽可能接近EUT测量条件，发射天线应该是一个低指向性的线形极化天线，例如对数周期或者偶极子天线。如果天线的3dB波束宽度大于40°，该天线被认为具有低指向性。
按图2连接好仪器。
调整信号发生器的输出使接收到的电压显示超过环境噪声和频谱分析仪噪声电平至少20dB。
250MHz。
记录每个频率点的接收电压值，该值是公式(1)中的Us。建议频率步长为从天线处断开发射和接收电缆，用一个直通适配器直接连接这两根电缆（包括衰减器），记录每个频率点的实际电平值Udir。6.3.2.7
通过公式（1）可以计算出对应每个频率点的场地衰减AN。理论值减去第6.3.2.5步测得的实测值，结果应在土4dB之内。要分别在“测试空间”的中间和前、后、左、右（距中心0.75米）五个不同位置，并分别进行垂直、水平极化方向及天线在两种不同高度（垂直极化时1米和1.5米，水平极化时1米和2米）进行校准。6.3.2.10
注意事项
假如NSA测量结果的偏差超出士4dB，那么首先应检查下述环节：测量方法；
天线系数的准确度，排除天线的影响；3）电缆和使用的连接器；
4）月
所用仪器的准确度。
5）1GHz以上如校准失败，应当适当的增加地面吸波材料的面积。增加的顺序首先沿着两个天线之间的轴线，然后与它垂直。当测试距离在2米以内时，地面可能11
JJF（电子）30805—2007
不需使用吸波材料。
6.4场均匀性的校准
场均匀性校准的场地布置图（图3）信号源
计算机
调制解调器
场强探头
宽带天线
高度：1.55m
场强探头
连接至场强探头支架
图3场均匀性校准系统组成
共15页
第6页
6.4.1在“测试空间”建立一个“均匀域”平面，测试架就放置在这个平面。平面内均匀划分为16个点，每个点之间的距离是0.5米，最低点离地面的高度为0.8米（如图4)。发射天线高度定为1.55米。
6.4.2信号发生器输出频率从（801000)MHz，建议步长为1%。经过功率放大器放大的信号通过发射天线在这个测试平面产生规定的场强(3～10）V/m，用各向同性的场强探头分别测量每个点的场强，取数值最接近的12个值，剔除另外4个。12个值中，最大和最小的差值小于6dB，就认为测试平面是均匀的。6.4.3分别在发射天线水平极化和垂直极化两种极化方式进行校准。
传感器的位
图4场校准均匀域尺寸
6.4.4由于在场均匀性校准中取点要求很密集（最大10%步长），测试数据量很大，所以需要通过计算机进行自动校准并计算结果可以利用计算机将校准结果绘制成曲线，非常直观和容易作出判断。
6.4.5（1～18)GHz场均匀性的校准可以参照(80～1000)MHz场均匀性的校准方法。112
JJF（电子）30805—2007
校准结果
共15页
第7页
经校准后的电波暗室应出具校准证书。证书应包含足够信息，如委托单位、被校准暗室名称、型号、编号、校准日期、校准地点、校准实验室名称、校准结果及其测量不确定度等。如委托单位要求，可给出符合性的结论。复校时间间隔
用户根据使用情况自行决定，建议复校时间间隔两年。113
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