基本信息
标准号:
SJ 2658.1-1986
中文名称:半导体红外发光二极管测试方法 总则
标准类别:电子行业标准(SJ)
标准状态:现行
实施日期:1986-10-01
出版语种:简体中文
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相关标签:
半导体
红外
发光
二极管
测试方法
总则
标准分类号
中标分类号:电子元器件与信息技术>>光电子器件>>L53半导体发光器件
关联标准
相关单位信息
标准简介
SJ 2658.1-1986 半导体红外发光二极管测试方法 总则 SJ2658.1-1986