主要规定了术语和定义、技术要求、质量和可靠性评定程序、分组的测量方法和试验方法、标志、包装和运输贮存等内容。 SJ/T 11404-2009 铌酸锂集成光学器件通用规范 SJ/T11404-2009 标准下载解压密码：www.bzxz.net

ICS33.180
备案号：
中华人民共和国电子行业标准
SJ/T11404—2009
酸锂集成光学器件通用规范
Generalspecificationsfor
LiNbOintegratedopticaldevices2009-11-17发布
2010-01-01实施
中华人民共和国工业和信息化部发布本规范附录A为规范性附录。
本规范由工业和信息化部电子工业标准化研究所归口。本规范主要起草单位：中国电子科技集团公司第四十四研究所。本规范主要起草人：郭萍、李刚毅、赵英、沈映欣。INDUS
INFORMAN
SJ/T114042009
TECHNO
1范围
锯酸锂集成光学器件通用规范
SJ/T114042009
本规范规定了锯酸锂集成光学器件（以下简称“器件”）所需的质量评定程序、检验要求、筛选、抽样要求、试验和测量方法的内容。本规范适用于由锯酸锂材料制作的强度调制器、相位调制器、光开关以及用于光纤陀螺的Y波导相位调制器等，由钼酸锂材料制造的具有类似功能的集成光学器件可参照执行。ANDINHORM
2规范性引用文件
下列文件中的条款通过本规范的引用而成为本规范的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本规范，然而，鼓励根据本规范达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本，凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本规范。GB/T191-2000包装储运图示标志GB/T2421电工电子产品环境试验第1部分：总则GB/T2423.1电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温GB/T2423.2-电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验B：高温GB/T2423.5>电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ea和导则：冲击GB/T2423.10电工电子产品环境试验第2部分，试验方法试验Fc和导则振动（正弦）GB/T2423.11电工电子产品环境试验第2部分。试验方法试验Fd：宽频带随机振动一一般
GB/T2423.22工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化GB/T2423.28电工电子产品环境试验、第2部分：~试验方法试验T锡焊GB/T2828.1-2003计数抽样检验程序，第1部分：按接收质量限（AQL）检索的逐批检验抽样计划纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-4部分：试验光纤/光缆GB/T18310.4
保持力
半导体分立器件试验方法门
GJB128A-1997·
锯酸锂集成光学器件通用规范
GJB4026-2000
锯酸锂集成光学波导调制器测试方法SJ20869
3术语和定义
SJ20869已确立的和下列术语和定义适用于本规范。3.1
相位调制器phasemodulator
利用器件的电光效应，通过外加电场改变波导中传导光波的相位的器件。3.2
强度调制器intensitymodulator利用器件中的分束器将传导光波分束成两路相干光，经过相位调制器改变两束光波的相位差，通过合束器使输出光强随外加电信号而改变的器件。1
SJ/T114042009
光开关opticalswitching
通过外加电场改变传导光波的传播相位，从而使传导光波在两波导间关断或打开3.4
Y波导相位调制器Ywave-guideoptical device利用器件中Y形3dB分束器，将传导光波一分为二并利用相位调制器对两束光分别进行相位调制的器件。
波形失真度
waveformdistortion
当器件外加调制信号（方波或锯齿波）时，引起输出波形倾斜的失真。3.6
开关电压switchingvoltage
Veon-oft
光开关开通和关断时的电压差。3.7
开关串音switchingcrosstalk
Kon-off
光开关关断和开通时输出光信号的光功率之比3.8
特征阻抗
characteristic impedance
在一定频率下，施加在器件的端电压和流过该器件的电流之比3.9
电反射
electricalreflection
器件的正向输入电信号与反射电信号之比。要求
优先顺序
如本规范与详细规范不一致时，应遵循下列优先顺序：a)详细规范；
b)通用规范；
c）第2章中所引用文件。
4.2器件分类#
器件分为以下几类：
-相位调制器；
强度调制器；
光开关：
Y波导相位调制器；
其它。
4.3光电性能
器件的下列光电性能应满足详细规范规定（各分类器件的相关参数见附录A）工作波长（）：
插入损耗（L）：
半波电压（V.）
带宽（B)：
调制消光比（E）
分束比（D）：
偏振串音（K）：
波形失真度（胎）；
开关阵列（A)
开关串音（Ktt）：
残余强度调制（M）（要求时）
特征阻抗（Z）(要求时):1
电反射（St）（要求时）
背向光反射（R）（要求时）：
开关电压（v）（要求时）。
4.4材料、零部件
器件所用的材料零部件应符合本规范、详细规范及设计文件的规定。4.5设计、结构，
器件的设计、结构应符合本规范及详细规范的规定。4.6外观质量
外观质量应符合如下规定：
器件的标志应规范、完整、清晰：b)
器件的外表面应无肉眼可识别的毛刺、划痕、空洞气泡、沙眼；器件的金属引线应无断裂、扭曲，金属引线根部的玻璃绝缘子无裂（痕)
连接（粘结）处应牢固。
4.7标志
4.7.1器件的标志
SJ/T114042009
损伤等缺陷：
每个器件上的标志应符合本规范及详细规范的要求：如器件体积较小应采用下列优先顺序进行标志：
引出端识别标志；
检验批识别代码；
型号：
制造商名称或代号：
其它特殊标志。
包装标志
除非另有规定，器件的包装应有下列标志：除4.7.1a）外的所有标志；
详细规范号：
出厂日期；
其它特殊标志。
4.8环境、机械和耐久性
按本规范表2、表3、表4、表5的规定进行。4.9寿命
SJ/T114042009
按详细规范规定。
4.10订货资料
除非另有规定，订购资料应包括下列内容：a）产品型号、名称；
主要参数指标；
尾纤的长度、光纤类型及连接方式：外形结构及尺寸：
其它。
质量评定程序
5.1分类
质量评定程序包括筛选（要求时）、鉴定检验和质量一致性检验5.2环境条件
除非另有规定，应按GB/T2421第五章的规定进行。5.3检验批的构成
5.3.1通则
任何一次提交鉴定检验或质量一致性检验的全部产品构成一个检验批。每一个检验批应由相同型号的产品组成，或由属于一个或几个详细规范的结构相似的几个检验子批组成。这些产品从开始制造直至封装为止都应是在同一个承制方的相同的生产线上，在同一个规定的周期内采用相同的生产工艺、按照相同的产品设计以及相同的材料标准制成的，每个检验批均应具有可识别的标志。5.3.2检验子批
一个检验子批应由同一个详细规范中一种型号产品构成。这些产品在同一个生产周期内，在相同生产线上，采用相同的生产工艺、按照相同的产品设计及相同材料标准生产的。5.3.3结构相似器件
结构相似器件是从开始直到最终封装采用相同的制造工艺，按相同的材料标准，相同的产品设计、在相同的生产线上制造的仅仅是光电性能不同的器件。5.4筛选
当详细规范规定了筛选要求时，所有器件可按表1规定进行筛选，并别除全部有缺陷的器件。若表1中给出的筛选项目的一部分构成了制造工序的一部分时，则不必重复这些过程。筛选应在A、B、C组检验前进行。当表1中规定的筛选项目与已确认的失效机理无关或有矛盾时，可采用未规定的其它筛选项目的试验。
检验项目
内部目检(封装前）bzxZ.net
高温贮存
参数测试（要求时）
低温贮存
参数测试（要求时)
温度变化
引用标准
本规范6.2.1
GB/T2423.2
SJ20869和本规范
GB/T2423.1
SJ20869和本规范
表1筛选
除非另有规定，Tm=25℃
Tm产最高贮存温度，至少24h
按详细规范规定
Tu=最低贮存温度，至少24h
按详细规范规定
GB/T-2423.22、试验条件N或N67DSJ20869和乐规范
参数测试（要求时）
终点参数测试
高低温工作
外观质量
鉴定检验）
5.5.1通则
ST20869.和本规范按详细规范规定6.1
本规范6.2.2
按详细规范规定
按详细规范规定
SJ/T11404—2009
符合本规范4.5规定
符合详细规范规定
符合详细规范规定
符合详细规范规定
符否本规范4.3规定
符合详细规范规定
符合46规定
鉴定检验应在鉴定机构认可的试验室进行按本规范表2的规定进行鉴定检验：若满足表2的要求则认为器件通过了质量认证。除了允许使用不合格品进行试验的项自外，提交鉴定的所有样本均应经受表2中0分组的试验，再将经过0分组检验合格的样本按表2规定的抽样方案分成1～3分组进行试验。5.5.2样本的识别
鉴定机构的监督代表可以对需要进行鉴定检验的每个样本打上标志，或授权其他人打上标志，以便把这些样本与那些不准备进行鉴定检验的产品区分开。5.5.3合格判定
除另有规定，一个或多个样品失效后；按原抽样方案对该分组重新提交一次，若仍失效则鉴定检验不合格。
SJ/T114042009
0分组
1分组
2分组
3分组
4分组
5分组
检验项目
外部目检
外形尺寸
光电性能
高温贮存
参数测试（要求
低温贮存
参数测试（要求
温度变化
参数测试（要求
终点测试，
高低温工作
报动（正弦)或
随机报动
终点测试
光纤轴向拉力
终点测试
键合强度·
可焊性：
耐溶剂性“
引用标准
量具测量
SJ20869和本规范
GB/T2423.2
SJ20869和本规范
GB/T2423.1
SJ20869和本规范
GB/T2423.22
SJ20869和本规范
SJ20869和本规范
本规范6.2.2
GB/T2423.10
GB/T2423.11
GB/T2423.5
SJ20869和本规范
GB/T18310.4
本规范6.2.3
SJ20869和本规范
GJB128A-1997
方法2037
GB/T2423.28
GJB128A-1997
方法1022
表2鉴定检验
除非另有规定，Tm=25.℃
按详细规范规定
Tm=最高贮存温度，至少24h
按详细规范规定
T最低忙存温度，至少24h
按详细规范规定
试验条件Na或Nb
按详细规范规定
按详细规范规定
按详细规范规定
10Hz~2000Hz，98m/s轴向
10min。或按详细规范规定
20Hz2000Hz，加速度谱密度
2（m/s）/Hz，轴向，每方向
3min。或按详细规范规定
蜂值加速度300m/s，脉冲持续
时间6ms，轴向，每方向3次。
或按详细规范规定
按详细规范规定
按详细规范规定
按详细规范规定
按详细规范规定
按详细规范规定
试验条件Ta
此试验可用同一检验批中不合格器件进行试验。此为内引线数。
若激光打标此试验可不进行。
5.6质量一致性检验
符合本规范4.6规定
符合详细规范规定
符合本规范4.3规定
符合详细规范规定
符合详细规范规定
符合详细规范规定
符合详细规范规定
符合详细规范规定
符合详细规范规定
外观无损伤
符合详细规范规定
抽样方案
按详细规范
5.6.1总则
质量一致性检验由A组、B组、C组组成。5.6.2抽样方案
按本规范相应表的规定进行。
5.6.3A组检验逐批检验
每个检验批或检验子批均应进行A组检验，检验项目及要求应按表3规定。表3A组检验
检验项目
外观质量
外形尺寸
光电性能
引用标准
按详细规范规定
SJ20869和本规
5.6.4B组检验-
一逐批检验
除非另有规定，Tamb=25℃
按详细规范规定
符合本规范4.6规定
符合详细规范规定
符合本规范4.3规定
SJ/T114042009
抽样方案
按GB2828.1的规定进
行，推荐采用检验水平为
般检验水平Ⅱ，正常检
验一次抽样方案，
每个检验批或检验子批均应按表4的规定进行B组检验，B组样本从A组检验合格批中随机抽取。B1分组中的试验若已在筛选中进行，则此组试验可不再进行。表4B组检验
检验分组
B1分组
B2分组
检验项目
高温贮存
参数测试（要
求时）
低温贮存
参数测试（要
求时）
温度变化
参数测试（要
求时)
终点测试
高低温工作
报动（正弦）
随机报动
终点测试
光纤轴向拉力
引用标准
GB/T.2423.2
SJ20869和本规范
GB/T2423.1
SJ20869和本规范
GB/T;2423.22
SJ:20869和本规范
SJ_20869和本规范
本规范6.2.2
GB/T2423.10
GB/T2423.11
GB/T2423.5
SJ20869和本规范
GB/T18310.4
除非另有规定，T=25℃
T最高贮存温度，至少
按详细规范规定
T产最低贮存温度，至少
按详细规范规定
试验条件Na或Nb
按详细规范规定
按详细规范规定
按详细规范规定
10Hz～2000Hz，轴向，
98m/s，每方向10min。或
按详细规范规定
20Hz～2000Hz，加速度谱
密度2（m/s\）/Hz，轴向，
每方向3min。或按详细规范
峰值加速度300m/s，脉冲
持续时间6ms，轴向，每方
向3次。或按详细规范规定
按详细规范规定
按详细规范规定
符合详细规范规定
符合详细规范规定
符合详细规范规定
符合详细规范规定
符合详细规范规定
符合详细规范规定
抽样方案
按GB2828.1的
规定进行：推荐
采用检验水平
为二般检验水
平IⅡI，正常检验
一次抽样方案，
n-2c-0
SJ/T114042009
5.6.5C组检验—周期性检验
C组检验为周期检验，检验周期为12个月。当鉴定后的产品工艺、材料更改：生产条件发生重大变动：生产间断时间超过12个月后重新生产。均应进行C组检验。
C组检验应按表5和详细规范的规定进行，在检验周期内应对结构上相似（属于同一详细规范或不同详细规范）的产品进行规定的检验项目。该组检验从通过A组检验的检验批中随机抽取。表5C组检验
检验分组
C1分组
C2分组
检验项目
键合强度
耐溶剂性
可焊性会
寿命会
终点测试
若激光打标此试验可不进行案
此为内引线数、
引用标准
GTB 128A-1997
方法203
GJB-128A-1997
方法1022
GB/T2423.28
体规范6.23
SJ20869-2003和本
规范6.1
可用同一检验批中光电参数不合格品进行试验：条件及要求
按详细规范规定
试验条件Ta
按详细规范规定
按详细规范规定
抽样方案
按详细规范规定
5.6.6B组和℃组终点测试
完成了B、C各分组全部规定试验后应按详细规范的规定对每个样本进行终点测试，除非另有规定，全部寿命试验的终点测试，应在样本承受了所有要求的试验并从这些试验中取出后的24h内完成，其它所有的终点测试应在48h内或按规定完成，承制方可以自行补充测试项目。在B(C组各分组试验结束时，终点测试应包括不用放大镜的外观检验，检查每个试验后的样本上标志是否清晰完整。试验中因机械夹具引起的标志损坏，不应导致批的拒收，但损坏的标志应重新打上。5.6.7批拒收判据
如果在质量一致性检验中，器件未通过某个分组中的一项试验，将导致该批不得接收。如果一个检验批不符合质量一致性检验要求又未重新提交，则认为是拒收批。>E
5.6.8重新提交批的处理
重新提交的批应与新的批分开，并应清楚地识别重新提交的批，当提交质量一致性检验的任一检验批未达到A、B、C组检验的任一分组要求时，应进行失效分析并确定失效机理，且确定失效是由于下列缺陷引起时才允许采用加严检验对该分组重新提交检验（对B2、C组采用加倍抽样合格判定数为零方案，对于A、B1组按GB2828.1-2003的加严检验一次抽样方案）：通过对整批进行重新筛选可以有效筛选掉的缺陷：a)
随机型缺陷。它们不能反应不良的基本产品的设计或不良的基本加工过程。b)
对失效产品进行分析，当出现下列情况时，整批不得提交：失效模式是由不良的工艺过程引起的不得提交：a)
设计错误引起的失效不得提交：筛选不掉的缺陷引起的失效不得提交。c
5.6.9样本的处理
已进行B2组和C组检验的样品不能交货。8
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