主要规定了相关的术语和定义、激光二极管和激光二极管模块失效机理的判定分析、质量和可靠性评定程序、分组试验程序、信息反馈及修正程序的原则等。 SJ/T 11403-2009 通信用激光二极管模块可靠性评定方法 SJ/T11403-2009 标准下载解压密码：www.bzxz.net

ICS31.260
备案号：
中华人民共和国电子行业标准　SJ/T11403—2009
通信用激光二极管模块可靠性评定方法Laser diode modules used for telecommunicationReliabilityassessment
2009-11-17发布
2010-01-01实施
S中华人民共和国工业和信息化部发布前言：
引言：
版权专有
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1范围
2规范性引用文件
3术语和定义、缩略语和符号
3.1术语和定义
3.2缩略语
3.3符号...
4可靠性和质量评定程序的多般要求4.1产品质量认证..
4.2检验职责
4.3.质量改进程序..
5试验程序和质量评定标准。
5.1试验程序....
5.2.老练和筛选！
5.3质量评定程序
6信息反馈及修正
6.1可靠性结果的分析
6.2技术交流.
6.3设计和/或工艺调整：
6.4产品交付..
6.5供应商文件
附录A（规范性附录）激光二极管和激光权专有
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SJ/T114032009
SJ/T:11403-2009
本标准的附录A是规范性附录
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本标准由工业和信息化部电子工业标准化研究所归口本标准起草单位：中国科学院半导体研究所本标准主要起草人：王欣、谢亮、主幼林。权专有
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权专有
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编制本标准日的是：
SJ/T11403-2009
建立评价激光二极管模块可靠性的标准方法，以降低使用风险并促进产品的开发和可靠性检建立预测失效随时间分布的方法，为预测设备失效率提供依据。另外，提供以下方面的指导：
系统供应商从激光二极管模块制造商处获得激究被管模块使用前应该保证的试验；系统供应商为证明激光二极管模块制造商可靠性的一系列试验评定方法。INDUSY
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版权专有
版救专有
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通信用激光二极管模块可靠性评定方法1范围
SJ/T_114032009
本标准适用于光通信用激光二极管模块（以下简称激光二极管模块）的可靠性评定。规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然饰，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。GB/T2423.1—2001，C电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温（IEC60068-2-1:1990，IDT)4
电工电子产品环境试验第2部分，试验方法试验B：高温（IECGB/T2423.2—2001）
60068-2-2:1974,IDT
GB/T2423.5—1995电工电子产品环境试验第2部分，试验方法试验Ea和导则：冲击（IEC60068-2-27:1987,T）
GB/T2423./1d-1995
电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Fc和导则振动（正弦）(IEC60068-2-6:1982,IDT)
GB/T2423.222002，电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验N温度变化（IEC60068-2-14:1984,IDT)
GB/T2423.23-1995
电工电子产品环境试验试验Q：密封GB/T15651--1995半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件（IEC60747-5:1992，IDT)
GB/T17573—1998平导体器件，分立器件和集成电路（第1部分：总则（IEC60747-1:1983，IDT）GB/T18904.2一2002半导体器件第12-2部分：光电字器件的激光二极管模块空白详细规范（IEC60747-12-2:1995，MOD）一纤维光学系统或子系统用带尾纤GB/T19001—2000：质量管理体系，要求（IS0.9001:2000，IDT）GJB128A—1997半导体分立器件试验方法购DGJB548A一1996微电子器件：试验方法和程序GJB915A—97纤维光学试验方法
3术语和定义、缩略语和符号
3.1术语和定义
下列术语和定义适用于本标准
激光二极管模块aserdiodemodule本标准中的激光二极管模块是指用激光二极管芯片、背光探测器、热敏电阻、热电致冷器、光纤和隔离器等密封在—起，以实现稳定的光学输出及简易电连接控制的元器件组合。3.1.2
衬底submount
SJ/T11403-2009
版权专有
激光二极管模块中，激光三极管和背光探测器等可以在上面进行装配的热沉。制无效
激光二极管模块制造商laserdiodemodulemanufacturer激光二极管模块制造商负责提供满足详细规范和客户要求，且性能可靠的激光三极管模块3.1.4
系统供应商systemsupplier
制造含有激光二极管模块的通信与数据传输设备的制造方，即激光二极管模块的用户315
系统运营商systemoperator
在其经营传输通路上含有半导体激光一极管模块的通信与数据传输设备的网络运营商。3.16
性能限定元件capabilityqualifyingcomponents可以表征机械与光电设计过程中临界阶段和边界特性的元件这些元件的选取应该有助于鉴定最终产品的失效机理以确定激活能量。制无
结构相似性
对于同一个激光兰极管模块制造商制造的一系列激光二极管模块，很多不同型号的产品之间具有结构相似性，适用时，允许共用不同试验程序的结果。但是应该充分考虑到技术或者程序上的微小不同可能对可靠性带来的重大影响。
3.2缩略语
下列缩略语适用于本标准
ACc automatic current control权
自动电流控制。
automatic power control
自动功率控制。
cccapability qualifying components性能限定元件
lower specification limit
规范下限值。
upper specification limit
规范上限值。
TECthermoelectriccooler
热电制冷器。
3.3符号
下列符号适用于本标准。
period
版权专有
复制无效
权专有
周期（月)
制无效
激活能。
热沉温度。
推荐的热沉温度。
典型光功率值。
可靠性和质量评定程序的一般要求4.1产品质量认证免费标准下载网bzxz
SJ/T11403-2009
本标准是激光二极管模块制造商对激光二极管模块的可靠性和质量评价程序的部分，是提供给系统供应商、系统运营商和激光二极管模块制造商进行可靠性评定的指导方法。激光二极管模块制造商将可以通过制造过程中的器件技术指标认证、技术认证或是性能认证来证明：所采购元器件制造商通过GB/T19001标准认证的相关程序文件：a)
执行鉴定程序，包括对元器件和模块的加速寿命试验、老练及筛选：b)
确保性能、可靠性、连续性的鉴定维持程序：c)
d)，向研发和生产单位反馈可靠性信息的程序。4.2检验职责：
4.2.1检验过程的实施
表1和表2规定的检验由激光二极管模块制造商和元器件供应商（要求时）进行，检验的详细项目应有检验大纲和操作方案，只要能够用来剔除早期失效产品，并为改善失效机理提供参考即可，通常，这样的方案需要大量的数据和可靠的设备做为技术支持，如有必要，可根据详细规范要求进行附加试验。4.2.2推荐给激光二极管模块用户/系统供应商的程序系统供应商应能建立一套包括失效分析在内可以对结果进行分析和证明的程序。该程序包括一个对完全封装激光二极管模块的独立寿命试验，见表2试验2和/或试验3和/或试验5（每个试验样本数大于10）。系统供应商可能有不同的途径来完善产品，通常测试方案需要根据实际资源情况来制定。4.2.3：推荐给系统运营商的程序系统运营商应建立一套足够详细的监控程序和报告使用现场失效率情况的程序，使系统供应商和激光二极管模块制造商能够据此来改进产品，达到提高激光二极管模块的可靠性水平的目的。4.3质量改进程序
质量改进程序应该由元器件供应商和用户（激光二极管模块制造商、系统供应商和系统运营商）共同制定，以便找到产品的缺陷（包括激光二极管模块使用寿命过程中质量和可靠性问题）通过产品缺陷的纠正和预防以及质量改进程序实施后消除和预防不良因素的影响，使产品质量与可靠性水平大大提高。质量改进程序应该在质量评定程序和性能评价文件中得到体现。5试验程序和质量评定标准
.1武验程序制无效
SJ/T114032009
5.1.1.总则
版权专有
在表1和表2中规定的试验是用来加速激光二极管模块中常见的主要失效过程（见5：4）。选择适当的CQC可以使最终产品具有预防失效机理产生的能力，最终产品的有效性需要证明CQC是在程序和技术范围内执行的。这些试验将降低不可靠元件在系统中使用的风险，并且能够预计激光三极管模块寿命和失效分布。
试验样本的大小和级别将随着激光二极管模块制造商和激光二极管模块的用户/系统供应商交易量大小的不同而不同。这个方案应在性能评价文件和相关的详细规范中给出。注，待评价的激光二极管模块应能够充分代表标准的产品，并应通过详细规范规定的老练和筛选的程序。5.1.2鉴定检验
2，饿
见表1。这些试验通常作为初始质量签定程序的一部分由激光极管模块制造商执行。5.1.3质量一致性检验
见表2。针对批量生产的激光二极管模块作周期性检验以保证这些器件的质量和可靠性得到保持或提高
5.2老练和筛选
老练和筛选的要求见5.3.1.13。制无
耐久性试验：
带有热电制冷器的模块
b)没有热电制冷器的模块，
激光二极管（带热沉）
试验温度！
试验温度2
探测器（典型封装型式）
试验温度！
试验温度2
热电制冷器的高温贮存
热电制冷器的功率循环试验
鉴定检验
GB/T18904.2-2002
GB/T18904.2—2002
GB/T18904.2-2002
GB/T18904.2-2002
见表3和表9
见表3和表9
热敏电阻的高温购存
规定的P（连续工作）
温度：7=7
持续时间：5000h
规定的R（连续工作）
温度7=T
持续时间：：52000h
至少两个试验温度：
规定的R（连续工作）
持续时间：5000h
持续时间：5000h
至少两个试验温度：
规定的或五
T=125（min)
持续时间：000h
（-30）
详细规
按详细规范
按详细规范
按详细规范
持续时间：习000h
制冷器的7=1
持续时间，1~000h
循环数目：20000
7-7到（7-7）
传感器的T=7
光纤反复弯曲试验
光纤动态拉伸试验
温度循环
振动（正弦)
和/或冲击
高温贮存
ESDS（模块）
激光二极管
探测器
内部水汽含量试验
低温贮存
表1（续）
GJB915A—97
GJB915A-97
GB/T.2423.22—2002
GB.2423.231995
Qk试验接着Qc试验
GB/T 2423.10—1995
GB/T-2423.5
GB/T2423.2-2001
GB/T_17573-1998
GJB548A1996
方法3015
GJB128A—1997
方法1018
GB/T-2423.1-200L
按详细规范
按详细规范
温度：=
环次数：50
循环次数：500
按详细规范
按详细规范
温度：
持续时间前>1000h
见5.3.110和表11
见5.3.11
见5.3.1.12
持续时间>2-000ch
SJ/T114032009
每圆片5个样品
关于使用寿命分布的数据应是精确的累加：针对出货产品的临时批准；应给予2000小时的试验。推荐进行连续试验使得在10000小时的上限内，能够对寿命精确外推。作为精确的寿命预测，5000小时的持续时间试验是必须的。
表明技术限制。
版权专有
SJ/T114032009
可靠性试验：
版权专有
表2质量一致性检验
模块（带制冷器）
b）模块（不带制冷器）
e）激光二极管（带热沉）
d)探测器
温度循环
权专有
制无效
振动（正弦）
和/或冲击
高温贮存
ESDS（模块）
a）激光二极管
b）探测器
内部水汽含量试验
GB/T18904:2—2002
GB/T2423.1-2001
GB/T2423.22-2002
GB/T2423.23-1995
Qk试验接着Qc试验
GB/T2423.101996
GB/T2423.5-1995
GB/T2423.2-2001
GB/T17573—1998
GJB548A-1996方法
GJB128A-1997方法
周期试验：
表1试验1.1
表1试验1.2
表1试验1.3
表1试验14
温度：
周期试验：
循环次数：200次
循环次数：500次
按详细规范
周期试验：见注
温度：
持续时间：>2000h
周期试验见注和
5.3.10及表11
周期试验见注和
周期试验，见注和
每圆片5个样
按详细规范
注：试验结果应补加由激光二极管的用户/系统供应商针对完全封装好的模块按照表2中试验2和/或试验3和/或试验5（每个试验，样本数10）单独所作的试验。见42表示出于不同的圆片，
5.3质量评定程序
5.3.1检验程序
5.3.1.1寿命试验
为了证明激光三极管模块的长期可靠性，需要进行加速老练。在一个规定的持续时间试验中，热加速试验是应用最广的提供元器件可靠性的方法，并且适用于激光一极管和背光探测器。对于加热的情况权汉
寿命时间与温度的关系由阿列纽斯关系得到：tt=expl(Ek)(l/T-l/T))
式中：
复制无效
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