基本信息

标准号： SJ 2658.2-1986

中文名称：半导体红外发光二极管测试方法 正向压降测试方法

标准类别：电子行业标准(SJ)

标准状态：现行

实施日期：1986-10-01

出版语种：简体中文

下载格式：.rar.pdf

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相关标签： 半导体 红外 发光 二极管 测试方法 正向 压降

标准分类号

中标分类号：电子元器件与信息技术>>光电子器件>>L53半导体发光器件

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出版信息

页数：4页

标准价格：8.0 元

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