基本信息
标准号:
SJ 2658.2-1986
SJ 2658.2-1986半导体红外发光二极管测试方法 正向压降测试方法
标准类别:电子行业标准(SJ)
实施日期:1986-10-01
出版语种:简体中文
下载格式:.rar.pdf
相关标签:
红外
半导体
发光
二极管
压降
正向
标准分类号
中标分类号:电子元器件与信息技术>>光电子器件>>L53半导体发光器件
关联标准
相关单位信息
标准简介
SJ 2658.2-1986 半导体红外发光二极管测试方法 正向压降测试方法 SJ2658.2-1986