基本信息
标准号:
SJ 2658.4-1986
SJ 2658.4-1986半导体红外发光二极管测试方法 电容的测试方法
标准类别:电子行业标准(SJ)
实施日期:1986-10-01
出版语种:简体中文
下载格式:.rar.pdf
相关标签:
红外
半导体
发光
二极管
电容
标准分类号
中标分类号:电子元器件与信息技术>>光电子器件>>L53半导体发光器件
关联标准
相关单位信息
标准简介
SJ 2658.4-1986 半导体红外发光二极管测试方法 电容的测试方法 SJ2658.4-1986