基本信息
标准号:
SJ 2658.7-1986
SJ 2658.7-1986半导体红外发光二极管测试方法 辐射通量的测试方法
标准类别:电子行业标准(SJ)
实施日期:1986-10-01
出版语种:简体中文
下载格式:.rar.pdf
相关标签:
辐射
红外
半导体
发光
二极管
通量
标准分类号
中标分类号:电子元器件与信息技术>>光电子器件>>L53半导体发光器件
关联标准
相关单位信息
标准简介
SJ 2658.7-1986 半导体红外发光二极管测试方法 辐射通量的测试方法 SJ2658.7-1986