SJ 50033.11-1994 半导体分立器件3DK208型功率开关晶体管详细规 SJ50033.11-1994 标准下载解压密码：www.bzxz.net

中华人民共和国电子行业军用标准半导体分立器件
3DK208型功率开关晶体管详细规范1范围
1.1题伪容
SJ 50033/11—94
本规范规定了3DK208A~I型NPN硅功率开关品体管的详细要求，每种器件均按GJB33半导体分立器件总规范>的规定，提供产品保证的三个等级（GP、GT和GCT级）。1.2外形尺+
外形尺寸垃按GB7581半导休分立器件外形尺小的B2一1C型及如下规定（见图1)：代号
o. 心风
1.3最大额定值
中华人民共和国电子工业部1994-C930发布min
1994-12-01实施
8DK208B
SDK208C
3DK20BE
3DK208F
3D2C8G
3DK7G8H
3DK2081
Te—25c
SJ50033/11--94
注：1)T>25℃，按1000mW！C的速率线性地降额。1.4主要电特性（7。—25C)
极限值
Aryey
Ves r=5.uv
fe - 6. 5A
3DK208A~I红 15~23
黄40~-55
绿 55～80
蓝B8-120
Veeraty
7: - 5. 0A
Ie =5, 0A
Tu = 0. 5A
IBz = — 0. 5A
Te - 1. 2A
-55~17#
RulkG-e?
Veu-1oV
1sm C. 1MH2 Vr =25V
注：1）A≤40各档，其误整不超过20%，h：>40各当，其误差不超过_10%。2引用文件
GB4587双极型晶体管测试方法
GB7581半导体分立器件外形尺寸GJR33
半导体分业器件总规范
GJB128半导体分立器件试验方法3要求
3.1详细要求
各项要求应按GB33和本规范的规定。3.2设计、结构私外形尺寸
器件的设计、结构和外形及寸应按GJB33￥：本规范的规定。3.2.1引出线材料和涂层
TKAONKAca-
SJ 50033/11-94
引出线材料应为可伐，引出线表面应为锡层或镍层。对引出线涂层有选择要求时，在合间或订货单中应予规定。
器件的标忘应按GJR33的规定。
4质量保证规定
4.1抽样和检验
抽样和检验应按GJB33和本规范的规定。4.2鉴定检验
鉴定检验应按GJB33的规定。
4.3筛选（仅对GT和GCT级）
器件的筛选应按G.B33表2和本规整的规定，下列测试应按本规范表1的规定进行，超过本规范表1规定极限值的器件应了剔除。筛
（见GJB33的表2）
7、中间电参数测试
8、球率老化
9、最后测试
4.3.1功率老化条件
功率老化条件如下：
T,-162.5±12.5r
Ver =25V
Pra ze75W
4.4质量一致性检验
Teot和hrE
见4. 3. 1
GT和GCT级
按本规蕊表1的A2分组：
A≤初始值的100或200mA，取较大者。MhPEI≤初始借的主20%
质量一致性检验应按GJB33的规定进行。4.4.1A组检验
A4组检应按GJB33和本规范表1的规定进行。4.4.2B组检验
B组检验应按GJB33和本规范表2的规定进行。4.4.3C组检验
C组检验应按GJB33和本规萨表3转规定逆行。4.5检验方法
检验方法应按本规范相应的表和下死规定。4.5.1脉冲测试
脉冲测试应按GJB128的3.3.2.1的规定。4.5.2热阻
SJ 50033/11-94
热阻测试应按GB4587的2.10和下列规定加动率时的I=2.04，
VcE =25V:
基准温度测试点应为管壳；
基准点温度范围为25CT：≤75C，实际温度应记录：al
安装应带散热装置：
f.Rhe>的最人极限值应为1.0C:/W，4.5.3C组寿命试验
C组寿命试验应按GJB33和本现范的规定法行。4.5.4恒定加速度
恒定划速度试验应按GJB33和不规范的规定进行，表1 A组检验
检验或试验
A1分组
外现及机械检验
A2分组
集电极一发射极
二穿电压
3D208R
3DK208F
3DK208F
sDK208r
3DK208H
发射极一基极
击穿电压
集电极一基极
截止电流
集电极一发射板
载-电流
发射极一基径
截止电流
集电极一发射授
饮和电压
GJB128
本规范
附录A
2. 9. 2. 2
GE458Y
发射极一基极路
集电板-基极升路；
Ir =5mA
发射极一其极路；
Ves = Veno
发射极一基梭并路；
集屯吸基极路；
Ve = 6V
e 3. DA
LTPD衍
VreR:CEO
Verasn
TKAONKAca
检验或试验
基峻一发射极
跑和电压
正向电流传输比
A3分组
高工作
集电极·-基极
截止电流
低温工作
正向电流传输比
A4分组
输出电容
导通时间
既存时间
下降时间
A分组
安全工作区
（流）
试验1
试验2
试验3
3TK2C8B-1
试验4
3DK20&C
SJ 50033/11-94
续表1
GL 4E87
Ver =5. CV
T. =:25±5C
发射极一基极开路
Veg =0. 7Veo
Ta-—55C
VcE ± 5. oV
fe: = 5. CA
脉冲法(风4. 5. t)
Yee =10V
I = 5. 0A
I —) 5A
Ic —5. 0A
m = 0. 5A
IB =—U. 5A
tn = 0. 5A
Tc =25C
1=1s,单次
Ver =-15V
fe =10A
Ve =soV
Tr—5. 0A
Ver ==0V
VE =RGV
Te—418mA
检验或试验
3D2081
3DK208E
3DK208F
3DK208G
3DK208H
3DK208
最培测试
检验或试验
B1分组
可焊性
标志耐久性
B2分组
热冲击(温度循环）
H.细检漏
b、粗检漏
最后测试
133分组
稳态工作寿命下载标准就来标准下载网
最后测试
P1分组
开帽内部目检
（没计核案）
翼合强度
5分组
高温寿命(不工作）
最垢测试
SJ 50033/11-94
续表1
GB4587
条·洋
Ve.e =11oV
I -187mA
VeF — 150V
I 85mA
VeE=200V
Ie=41mA
VAr =250V
I-25rA
Ves --300V
1e 15m:A
V =350V
见表1步骤13
IPD衍
表2B组验
GJB125
低摄-55℃
其余条件见试验条伴 F
试整条件IⅡ
试验条件F
见表4步骤1利3
T, -162. #±12. 5℃
Vee =25V
乐表4步骤2和4
：试验荟件A
见丧-步2和
极限值
每托1个器件，
0失效
20(c=)
TTKAONKACa-
战验或试验
C1分红
外形尺小
Ca分组
热冲击
（玻璃应为）
引出端
2、细检漏
h.粗格痛
综台温度/还度固期
最后测试
C3分约
变频振动
恒定加速
最后测试
C4分组
盐气(侵蚀适月吋)
Ce分组
稳态工作寿命
最后测试
C6分组
GR 4557
！渠电极基极载山电
2凭电-基极载让电
SJ50033/11—94
表 3C组检验
GJH128
见图！
试验条件 3
试骑条A
试验条件Ｈ
试验条件
见表步骤1和3
按总规范
接总规范
资总现范
Tr=100 ℃
T, - 182. 5- 12. 5 C
V -- 25V
+步和
WE-25V
A组、P细和 C 组最后测试
G 458?
发射慢-基疫开略
发射极基設开略
Vt=- Va
正向电流传输比
正向电流传输比
SJ 50033/1194
续表4
GB4587
Ver =5. 3V
Ic = 5. 0A
2. 8. V:r=5. 0V
Ie =8. 0A
注：1）本测试超过A组极限直的攀件不应接收。5交货准备
5.1包装要求
包装要求应按GJB33的规定。
5.2贮存要求
购存要求应接GJB33的规定。
5.3运输要求
运输要求应按GJB33的规定。
6说明事项
6.1合同或订货单可规定要求的引出线材料和涂层（见.3.2.1)。6.2如使用单位需要时典型特性曲线等可在合同或订货单中规定6.3直流安全工作区（则图2）
初始值的
TKAONKAca
3DK208A
3DK208E-
F3DK20BC
3DK2080
3DK208F
3Dk20G
3DK208H
SJ50033/11-94
7F =25C
305080100200400
集电极一发射极电压er（V）
图23DK28自流安伞T作区
$J 50033/ 11-- 94
附录度
集电极一发射极击案电压测试方法(补充件）
女测试的旧的是为了在规定的条件下确定品体管的击穿电压是查大于规定的最低极限。试电路
电压源
注：在测试电流时，电流表的接头之间实际正可看成短路，或对电表读数作因电流表压降的校正图A1集电一发射极击穿电压测试电路A3 测试步骤
限筑电阻R，应足够大，以避免过的电流流过晶体管和电流表。燃加规定的偏置条件.增加电压真到想定的测试电流。妞果在规定的测试电流下所加的中压大于V)CEO的最低极限，晶体管为合格。本测试方法企图表现晶体管的负阻击穿特性，在这种情况下，必须使晶体管的成电极中漩及结温保持在安全值以内。
A4规定案件
环境温度TA
测试滑度了
附加说明：
本规范出中国电子标雁化研究所归口。本规范由衡阳市晶钵管厂负贵起草。本规范主要起草人，复贤学，欧阳映和计划项目代号：H901001H90102
TKAONKAca
小提示：此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容，若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。