SJ 50033.14-1994
基本信息
标准号： SJ 50033.14-1994
中文名称：半导体分立器件 3DK305型功率开关晶体管详细规
标准类别：电子行业标准(SJ)
标准状态：现行
出版语种：简体中文
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标准分类号
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出版信息
相关单位信息
标准简介
SJ 50033.14-1994 半导体分立器件 3DK305型功率开关晶体管详细规
SJ50033.14-1994
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标准内容
中华人民共和国电子行业军用标准半导体分立器件
3DK305型功率开关晶体管详细规范1范围
11主题内容
SJ50033/1494
本规范规定了2DK305A~-G型NPN孕动率开关品体管的详细要求。每种器件均按GIB 33≤半导体分立器件总规范的规定,提供产品保证的二个等(GIGT 和 GCT 级。1.2外形尺寸
外形尺寸应按CB7581&半导体分立器件外形尺寸的B2：01C型及如下规定（见图1)代
中华人民共和国电子工业部1994-09-30发布h
B2-01C
1994-12-01实施
1.3最大额定值
3DK305A
3DK305R
3DK305C
3DK305
3DK305F
SDK305F
3DK305G
Te =25C
SJ 50033/14—94
注：1)Tc>25C时.按333mW/C的速率线性地降额。1.4主要电特性（T一25℃）
极限值
Vee -- Jov
3DK305A~～G棕 7~15
红15 ~~25
橙 23 ~40
黄4055
绿55~80
Ic =1. 0A
[1 =-0. 2A
In? -—0. 3A
Vee =10V
Ic =C. 1A
f - 3. 0MHz
—55~175
Rhba e
Ve# = 10V
f-- 0. 1MHz Vcr =25V
注，1) ≤40 各档,其误差不超过±20%，hEl≥10 各档,其误差不超过10%。2 引用文件
GB45B7双极型晶体管测试方法
GB75B1半导体分立器件外形尺寸半导体分立器件总规范
GJB 33
GJB128半导体分器件试验方法
3要求
3.1详缩要求
各项要求应按GJB33和本规范的规定。3.2设计,结构和外形尺寸
TTKAONKAca-
SJ 50033/14—94
器件的设计、结构和外形尺寸应按GJB33和本规范的规定。3.2.1引出线材料和涂层
引出线材料应为可伐，引出线表面应为锡层或锦层。对引出线涂层有选择要求时，在合同或订货单中应于规定。
3.3标志
器件的标志应按GJB33的规定。
4质量保证规宠
4.1抽样和检验
抽样和检验应按GJB33和本规范的规定。4.2鉴定检验
鉴定检验应接GJB 33的规定。
4. 3筛选(仪对 GT和 GCT 级）
件的筛选应按GIB33表2和本规范的规定：下列测试应按本规范表1的规定进行，趣过本规范表1规定极限值的器件应于剔除。筛
（GIB33的表2）
7.中间电参数测试
8、功率老化
9、最后测试
4.3.1功率老化条件
功率老化条件妇下：
T -162. 5±12. 5C
Vce =25V
Ptor ≥25W
4.4质量一致性检验
Icman和he
GT 和 GCT 级
按本规范表1的A2分组：
ATc3:初始值的100%或1CU+A，取较大者。≤初始值的十2%
质量一致性检验应按GJB33的规定进行。4.4.1A组检验
A组检验应接GJB33和本规范表1的规定进行。4.4.2B组检验应按GJB33和本规范表2的规定进行。4.4.3C组检验
C组检验应按GJB33和本规范表3的规定进行。4.5检验方法
检验方法应按本规范相应的表和下列规定。4.5.1脉冲测试应按GJB128的3.3.2.1的规定。4.5.2热阻
SJ 50033/14--94
热阻测试应接GB4587的2.13和下列规定。旭动率时的Ic=0.741
Vee =25V:
基准温度測试点应为管壳
基准点温度范围为25℃≤T75℃，实际温度应记录；安装,应带散热装置：
1．Ru)的最大极限值应为3.0℃/W4.5.3C组寿命试验
（组个试验应按GJB3和本规范的规定进行4.5.4恒定加速衰
恒加速度试验应按GJP33和本规范的规定进行。完1A组检验
愉验或试验
A1分组
外死及机械检验
A?分组
碧电极·发射极
击将电沃
SDK305A
3DK305R
3DK305C
3DK305D
SDK30E
SOK305G
发射极一基极
击穿电乐
集电径一基极
截止电沉
集电极-发射极
截止中流
发射极-基极
靴上电流
集电极一发射扳
基极发射极
GJB128
本规苑
2.9. 2. 2
G3 4587
发射极一基极开路
It= 3mA
渠电极-基圾开路;
I =imA
发射一基极开路：
Wcr = Von
发射极一基极开酪；
Vcs = -
集电板一基极开路：
Ve3 - 6V
fe = I. CA
Ic - J. CA
VcOR-EN
V'eftuati
Vetwa)
TrKAONKAca-
拉整或试验
饱和电玉
正向电流传输比
A3分组
高温工作
集电极一基圾
截止电流
低温工作
正向电流传输比
A4分组
输出电容
导遵时间
贮存时间
下降叫间
A5分组
安全工作区
（直流）
试验]
试验？
试验3
试验4
3DK305A
SJ50033/14—94
续表1
GB4587
Ie = 0. 24
Vr- —loy
Ie =1. 04
T# =125±5@
发射极一基极开路
Vea =0. 7Vens
Ta= 55C
Vce IC
I. =1. 0A
脉证法（见4.5.1）
Vcr =lov
Ic —1. 0A
IB1 =0. 2A
I12 - - 0. 3A
Ic = 1. 54
IBl =9. 24
Ing =—0. 3A
fe =1. CA
Iu. 0. 2A
Tu4 = — 0. 3A
Te =25℃
t -1e,单次
Vr —20V
Je =2. 5A
Vee =25V
Ic = 2. 0A
V -eoV
Ic = 0. 53A
Ye: = 400V
Ir: —29mA
LTPD符
极限值
检验或试验
3DK305B
3DK305C
SDK305D
SDK305E
SDK3OSF
2DK305G
最后测试
验验或试验
标志酮久性
B2分组
热击(温度循环)
&、细极漏
1、粗扮漏
般后测试
B3分组
稳态工作寿命
最后测试
B4分组
开赔内部月检
（计核实）
锟合强度
TiR分组
高温寿命(不,工作）
最后测试
SJ 50033/14--94
续表1
GB 4587
Vuk =450V
Ie =22mA
Ven—500V
Ic-20mA
Ve: -b5ov
ic =15mA
Vec = 600V
Ver = 700V
I =12m4
Vre - 830V
Fe=lUmA
见衰4北骤1和3
LIPD符
表 2 B组检验
GJR128
低温-℃
其余条件压试验条件 F
试验条件 H
试验条件 F
见表4步骤二和3
T, --68. E±: 12. 5 (
Vc- =25V
fur>25W
见表4步骤2和4
试验条件 A
T, =175℃
见表45乐2和1
社i个器件，
0埃效bzxZ.net
TKAONKAca
检验或试验
C1分组
外形尺寸
[2分组
热冲击
（骏璃应）
引出端强度
1、细检漏
6、祖盐漏
综会温度/湿度质期
录最启测试
变频摄动
增定加速度
最后测试
CA分组
盐气《侵蚀)（适用时）
C6分组
稳态工作寿胎
最后测试
GB 4557
SJ50033/14--94
表C组检验
见图1
试验条件 B
试验条件A
抗验条件H
试验条许F
见表4长骤1和3
接总规范
按总规范
度总妮范
7- 162. 5± 12. 5 C
Tc -100 ℃
Vcr--25V
fr—25W
见表4步骤2和4
: VeE-25V
I: = 0. 7A
表 4A组、B组和C组最后测试
集击极一录极载止电流
基极投截正中流
GB4587
发射极一基并路
Ves-Ve
发射级，基极开路
Va-Vewt
正向电流传输比
正向电流传输比
SJ 50033/1494
续表4
GB4587
Ve- =l0V
I =1 CA
Vee-10V
Ic 1. UA
注：1）本测试超过A组极限值的器件不应接收。5交货准备
5.1包装要求
包装要求应按GJB33的规定。
5.2贮存要求
览在要求应按GJB33的规定。
5.3运输要求
运输要求应按GJB33的规定。
6说明事项
6.1合同或订货单可规定要求的引出线材料和涂层（见3.2.1)。6.2如使用单位需要时，典型特性曲线等可在合同或订货单中规定，6.3直流安全工作区（见图2）。限
初始值的
上25路
TKAONKAca
3DK305A
3DK305B:
-3DK305C
3DK305D
3DK305F
3DK305G
$J 50033/14-- 94
Te F25t
305080: 100.200400
巢电极一发射极电压 VeE (V)
图23DK305直流安全工作区
A1目的
SJ50033/14—94
附录A
集电极一发射极击穿电压测试方法（补充件）
本测试的日的是为了在规定的条件下，确定晶品体管的击穿它压是否大丁规定的最低极限。A2测试电路
电压源
注：在测试电流时，电流表的接头之间实云上可着成短路，或对电压表读数作对电流表压降的校正，图A1集电极：发射极击穿屯压测试中略A3测试步骤
限流中阻R，应足够大、以避免过渡的电流流迁呈体管和电流表。施加规定的偏置条件，增加电压直到规定的测试电流。如果在规定的测试电流下所加的电压大于VBRiCEo的最低极限，晶体管为合格，本测试方法企图表现晶体管的负阻击穿特性，在这种情况下，必须使品体管的集成电极电流,及结温保持在安全值以内。
A4规定条性
环境温度T；
测试温度Ic
附加说明：
本规范由中国比子标准化研究所归口。术现范由衡阳市晶体管厂负贡起草。在规范主要起草人：夏贤学、欧陷映计划项目代号：H901001.H901002二0
TrKAONiKAca-
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3DK305型功率开关晶体管详细规范1范围
11主题内容
SJ50033/1494
本规范规定了2DK305A~-G型NPN孕动率开关品体管的详细要求。每种器件均按GIB 33≤半导体分立器件总规范的规定,提供产品保证的二个等(GIGT 和 GCT 级。1.2外形尺寸
外形尺寸应按CB7581&半导体分立器件外形尺寸的B2：01C型及如下规定（见图1)代
中华人民共和国电子工业部1994-09-30发布h
B2-01C
1994-12-01实施
1.3最大额定值
3DK305A
3DK305R
3DK305C
3DK305
3DK305F
SDK305F
3DK305G
Te =25C
SJ 50033/14—94
注：1)Tc>25C时.按333mW/C的速率线性地降额。1.4主要电特性（T一25℃）
极限值
Vee -- Jov
3DK305A~～G棕 7~15
红15 ~~25
橙 23 ~40
黄4055
绿55~80
Ic =1. 0A
[1 =-0. 2A
In? -—0. 3A
Vee =10V
Ic =C. 1A
f - 3. 0MHz
—55~175
Rhba e
Ve# = 10V
f-- 0. 1MHz Vcr =25V
注，1) ≤40 各档,其误差不超过±20%，hEl≥10 各档,其误差不超过10%。2 引用文件
GB45B7双极型晶体管测试方法
GB75B1半导体分立器件外形尺寸半导体分立器件总规范
GJB 33
GJB128半导体分器件试验方法
3要求
3.1详缩要求
各项要求应按GJB33和本规范的规定。3.2设计,结构和外形尺寸
TTKAONKAca-
SJ 50033/14—94
器件的设计、结构和外形尺寸应按GJB33和本规范的规定。3.2.1引出线材料和涂层
引出线材料应为可伐，引出线表面应为锡层或锦层。对引出线涂层有选择要求时，在合同或订货单中应于规定。
3.3标志
器件的标志应按GJB33的规定。
4质量保证规宠
4.1抽样和检验
抽样和检验应按GJB33和本规范的规定。4.2鉴定检验
鉴定检验应接GJB 33的规定。
4. 3筛选(仪对 GT和 GCT 级）
件的筛选应按GIB33表2和本规范的规定：下列测试应按本规范表1的规定进行，趣过本规范表1规定极限值的器件应于剔除。筛
（GIB33的表2）
7.中间电参数测试
8、功率老化
9、最后测试
4.3.1功率老化条件
功率老化条件妇下：
T -162. 5±12. 5C
Vce =25V
Ptor ≥25W
4.4质量一致性检验
Icman和he
GT 和 GCT 级
按本规范表1的A2分组：
ATc3:初始值的100%或1CU+A，取较大者。≤初始值的十2%
质量一致性检验应按GJB33的规定进行。4.4.1A组检验
A组检验应接GJB33和本规范表1的规定进行。4.4.2B组检验应按GJB33和本规范表2的规定进行。4.4.3C组检验
C组检验应按GJB33和本规范表3的规定进行。4.5检验方法
检验方法应按本规范相应的表和下列规定。4.5.1脉冲测试应按GJB128的3.3.2.1的规定。4.5.2热阻
SJ 50033/14--94
热阻测试应接GB4587的2.13和下列规定。旭动率时的Ic=0.741
Vee =25V:
基准温度測试点应为管壳
基准点温度范围为25℃≤T75℃，实际温度应记录；安装,应带散热装置：
1．Ru)的最大极限值应为3.0℃/W4.5.3C组寿命试验
（组个试验应按GJB3和本规范的规定进行4.5.4恒定加速衰
恒加速度试验应按GJP33和本规范的规定进行。完1A组检验
愉验或试验
A1分组
外死及机械检验
A?分组
碧电极·发射极
击将电沃
SDK305A
3DK305R
3DK305C
3DK305D
SDK30E
SOK305G
发射极一基极
击穿电乐
集电径一基极
截止电沉
集电极-发射极
截止中流
发射极-基极
靴上电流
集电极一发射扳
基极发射极
GJB128
本规苑
2.9. 2. 2
G3 4587
发射极一基极开路
It= 3mA
渠电极-基圾开路;
I =imA
发射一基极开路：
Wcr = Von
发射极一基极开酪；
Vcs = -
集电板一基极开路：
Ve3 - 6V
fe = I. CA
Ic - J. CA
VcOR-EN
V'eftuati
Vetwa)
TrKAONKAca-
拉整或试验
饱和电玉
正向电流传输比
A3分组
高温工作
集电极一基圾
截止电流
低温工作
正向电流传输比
A4分组
输出电容
导遵时间
贮存时间
下降叫间
A5分组
安全工作区
（直流）
试验]
试验？
试验3
试验4
3DK305A
SJ50033/14—94
续表1
GB4587
Ie = 0. 24
Vr- —loy
Ie =1. 04
T# =125±5@
发射极一基极开路
Vea =0. 7Vens
Ta= 55C
Vce IC
I. =1. 0A
脉证法（见4.5.1）
Vcr =lov
Ic —1. 0A
IB1 =0. 2A
I12 - - 0. 3A
Ic = 1. 54
IBl =9. 24
Ing =—0. 3A
fe =1. CA
Iu. 0. 2A
Tu4 = — 0. 3A
Te =25℃
t -1e,单次
Vr —20V
Je =2. 5A
Vee =25V
Ic = 2. 0A
V -eoV
Ic = 0. 53A
Ye: = 400V
Ir: —29mA
LTPD符
极限值
检验或试验
3DK305B
3DK305C
SDK305D
SDK305E
SDK3OSF
2DK305G
最后测试
验验或试验
标志酮久性
B2分组
热击(温度循环)
&、细极漏
1、粗扮漏
般后测试
B3分组
稳态工作寿命
最后测试
B4分组
开赔内部月检
（计核实）
锟合强度
TiR分组
高温寿命(不,工作）
最后测试
SJ 50033/14--94
续表1
GB 4587
Vuk =450V
Ie =22mA
Ven—500V
Ic-20mA
Ve: -b5ov
ic =15mA
Vec = 600V
Ver = 700V
I =12m4
Vre - 830V
Fe=lUmA
见衰4北骤1和3
LIPD符
表 2 B组检验
GJR128
低温-℃
其余条件压试验条件 F
试验条件 H
试验条件 F
见表4步骤二和3
T, --68. E±: 12. 5 (
Vc- =25V
fur>25W
见表4步骤2和4
试验条件 A
T, =175℃
见表45乐2和1
社i个器件，
0埃效bzxZ.net
TKAONKAca
检验或试验
C1分组
外形尺寸
[2分组
热冲击
（骏璃应）
引出端强度
1、细检漏
6、祖盐漏
综会温度/湿度质期
录最启测试
变频摄动
增定加速度
最后测试
CA分组
盐气《侵蚀)（适用时）
C6分组
稳态工作寿胎
最后测试
GB 4557
SJ50033/14--94
表C组检验
见图1
试验条件 B
试验条件A
抗验条件H
试验条许F
见表4长骤1和3
接总规范
按总规范
度总妮范
7- 162. 5± 12. 5 C
Tc -100 ℃
Vcr--25V
fr—25W
见表4步骤2和4
: VeE-25V
I: = 0. 7A
表 4A组、B组和C组最后测试
集击极一录极载止电流
基极投截正中流
GB4587
发射极一基并路
Ves-Ve
发射级，基极开路
Va-Vewt
正向电流传输比
正向电流传输比
SJ 50033/1494
续表4
GB4587
Ve- =l0V
I =1 CA
Vee-10V
Ic 1. UA
注：1）本测试超过A组极限值的器件不应接收。5交货准备
5.1包装要求
包装要求应按GJB33的规定。
5.2贮存要求
览在要求应按GJB33的规定。
5.3运输要求
运输要求应按GJB33的规定。
6说明事项
6.1合同或订货单可规定要求的引出线材料和涂层（见3.2.1)。6.2如使用单位需要时，典型特性曲线等可在合同或订货单中规定，6.3直流安全工作区（见图2）。限
初始值的
上25路
TKAONKAca
3DK305A
3DK305B:
-3DK305C
3DK305D
3DK305F
3DK305G
$J 50033/14-- 94
Te F25t
305080: 100.200400
巢电极一发射极电压 VeE (V)
图23DK305直流安全工作区
A1目的
SJ50033/14—94
附录A
集电极一发射极击穿电压测试方法（补充件）
本测试的日的是为了在规定的条件下，确定晶品体管的击穿它压是否大丁规定的最低极限。A2测试电路
电压源
注：在测试电流时，电流表的接头之间实云上可着成短路，或对电压表读数作对电流表压降的校正，图A1集电极：发射极击穿屯压测试中略A3测试步骤
限流中阻R，应足够大、以避免过渡的电流流迁呈体管和电流表。施加规定的偏置条件，增加电压直到规定的测试电流。如果在规定的测试电流下所加的电压大于VBRiCEo的最低极限，晶体管为合格，本测试方法企图表现晶体管的负阻击穿特性，在这种情况下，必须使品体管的集成电极电流,及结温保持在安全值以内。
A4规定条性
环境温度T；
测试温度Ic
附加说明：
本规范由中国比子标准化研究所归口。术现范由衡阳市晶体管厂负贡起草。在规范主要起草人：夏贤学、欧陷映计划项目代号：H901001.H901002二0
TrKAONiKAca-
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