SJ 50033.17-1994 半导体分立器件 3DK308型功率开关晶体管详细规范 SJ50033.17-1994 标准下载解压密码：www.bzxz.net

中华人民共和国电子行业军用标准半导体分立器件
3DK308型功率开关晶体管详细规范1范围
1.1主题内容
S.I50033/17—94
本规范规定了?DK308A~G型NPN硅动率开关晶管的详细要求，每种器件均按GJB33半导体分立器件总规范的规定，提供产品保证的三个等级(GP,GT和GCT级）。1.2外形尺寸
外形尺寸应按GB75818半导体分立器件外形尺寸>的B2—U1C型及如下规定《见1)：代号
中华人民共和国电子工业部1994-09-30发布F
B2-01C
1994-12-01实施
1.3最大额值
3DK308A
3DK35B
3DKSC8D
3DR9C8E
3DK3U8F
3DK308G
Te =25℃
SJ50033/17--94
注：1)Tc>250按1.0W/C的速率线性池降额。1.4主要电特性(T=25'C)
极限值
Vce OV
棕~15
3DK305A~G红15~25
機25~-40
黄40~55
绿55-~80
Ie -3. 54
I - 3. 5A
Fm =0. 7A
Fue = ---1, 15A
Vie -lV
Vr3 — .0V
$5·~175
Rauri-e
F—0.1MHzVu 25V
洋，1）heEl≤40各档，其误差不超过±20%：hm1>40各档，其案差不暂过±10%2引用文件
GB4587双极型晶体管测试方法
GB7581半导体分立器件外形尺寸GJB 33
半导体分立器件总规范
GJB128半导体分立器件试验方法3要求
3.1详细要求
各项要求应按GJB33和本规范的规定。3.2设计、结构和外形尺寸
器件的设计，结构和外形尺寸应接GJB 33和本规范的规定。3.2.1引！出线材料和途為
TrKAONKAca-
SJ 50033/1794
引出线材料应为何伐，引出线表面应为锡层或镍层。对引出线涂层有选拯要求时，在合同或订货单凸应予规定，
3.3标志
器件的标志应按GJB33的规定。
1质量保证规定
4.1拙栏和检验
样和检验应按GJB33和云规范的视定。4.2鉴定检验
鉴定检验应按GJB38的规定。
4.3筛造（仅对GT知GCT级）
器件的筛选应按GJB33表2和本规范的规定。下列测试应按本规范表1的规定进行，超对过本规范表1规避极限值的馨件应予别除。选
（GJ33约表2）
7、中间参数测试
已、功率教化
S,最后测试
4.3.1功率老北条件
功率老化条件如下：
T—162-5±12.5C
Vt -25V
Pn =≥75W
4.4质量·致性检验
Te和he
GT和GCT级
变举规范表1的A2分组：
ce感视始值的1C0%或250A，皮较大者。初始直的士20%
质量一或性检验应按GIB33的视定进行4.4.1A组撤验
A组检验应按GJB33和本规范表1的规定迷行4.4.213组检验
B续验验应按GJB33和本规范表2的规庭进行。4.4.3C组检验
C维放验应按GJB33和本规范表3的规定进栏4.5检验片法
检验方法应按本规范相应的表和下列规定，4. 5. 1 脉险测试
冲测试应接GJB126的3.3.2.1的规定。4.5.2热租
$J 50033/17-94
热阻测试应按GB4587的2.10和下列规定。8.
好功率时的 1=2.0A;
Vcr =25V;
基准温度测试点应为管壳；
基准点温度范围为25C≤T。≤75C.实际温度应记录：d
安装应带散热装置；
Rhe的最大极限值应为1.0℃/W。4.5.3C组寿命试验
C 组寿俞试验应按 GJR 33和本规范的规定进行。4.5.4恒定加速度
恒定加速度试验应按 GJR 33和本规范的规定进行表 1 A 组检验
检验或试输
A1分组
外观及机械检验
A2分组
集电极一发射极
击穿电压
3DK308A
3DK308D
3DK308C
SDK308D
3DK308E
3DK308F
3DK308G
发射摄基极
击穿中压
集电极基极
截止电流
集电极发射极
裁止电流
发射极基极
截点电流
集电极一发射极
饱和电压
GJR 128
本规范
附录A
2. 9. 2.2
GE4587
发射极一基极开路
I = 5mA
集电极基极开路，
Ir =EmA
发射极基披于路；
Ver Voao
发射吸一基钣于路；
Ver = ↓ Vean
集电极基极牙路；
VeH = 6V
Vaeyren
VeK:EE
WeEist
TTKAONKACa-
验验或试验
基极一发射极
饱和电压
止可电流传输比
A3分组
高温工作
巢电极一基极
截止电
低温工作
正向电流传输比
A4分组
输山电奔
导通时间
忙存时间
下降时间
A5分组
安全工作区
（直）
试验1
试验2
试验3
试验4
3DK30BA
SJ 50033/17—94
续表1
GR4587
Ic = 3. 5A
Tg =0. 7A
Vce =i0V
Ie =3. 54
T, =125±3'℃
发射极一基极开路
Ven =0. 7Veno
TA =-55'℃
Vee = 1.0V
Ie -- 3. 5.A
脉冲法(见4.5.1)
Vca =10V
f-C,1MHz
Ic =3. 54
I ve - -- 1. 15A
Ic — 3. 5A
Ie =0. 7A
I = —1. 15A
Ie - 3. 5A
Ing 1.15A
Te =25C
1=15,单次
Vce=20V
Ic =7. 5A
Vce = 25V
Tc = 6. CAbzxZ.net
Vee =ROV
Te --1. 1SA
VcE—400V
Ic =36mA
检验或试验
3DK30gR
3DK3r8C
3DK308E
3DK308F
3UK308C
最后测试
检验或试验
B1分组
可煤性
标志耐久性
B2分组
热冲击(鲨度循环）
，组检
h、粗检漏
睛后测试
B3分组
稳态工作寿命
最后測试
B4分组
开幅内部目检
(设计核实）
合蕴康
高温涛命（不工作）
最后测试
SJ 50033/17—94
续衰1
GR452?
Ver 4s0V
Ic = 29mA
VCE ECOV
Io-24mA
Ver. -she
e = 20mA
Vte =600V
I -,TmA
Fre - 700V
i=13nA
Ver—800V
I =10mA
见表4步骤1和3
表2B组检验
GJH 128
低混—55℃
其杂条件见试验条件 F
试验条件 H
试验条件 F
见表4步骤1和3
T =162.5±12.6C
VeE = 25V
Prt =275W
现表4步骤和4
试验条件.1
Th -1℃
见表4步2利4
每批1个器件，
心失效
-rKAONKAca-
检验或试验
C1分组
外彩尺寸
C2分组
热神击
(玻应力)
引出端弼度
E、细捡痛
b、粗检漏
综合温度/湿度周期
最后测试
C3分组
变频振动
恒定加速度
最后谢试
C4分组
盐气(设蚀)(适用时）
C6分组
稳态工作寿的
CF分组
CB4587
SJ 50033/17—94
裘 3C组验
GJB128
见图1
验条件B
试验紊件A
试验条件H
试验条件F
见表4步骤1和3
按总规范
按总规范
按总规范
T =162.5± 12.5 C
Te=lor
Ve=25V
Paut=75W
见表1步2和4
Ves-25V
Ic= 2. 0A
表 4 A 组,B组和 C组最后测试
集电极一基极截上电流
集电极基极截止电流
发射极一基放开路
Vce=VCG
发射极·-基极开路
Vca-Ves
极限值
极限值
正向电流传输比
正向电流传输比
S.J 50033/1794
GB4587
V:E =I0V
Ie 3. 5A
Vce-l0v
Ic = 3. 5A
注，1）本测试超运A组极限值的器件不应接收。5交货准备
5.1包装要求
包装要求应按GJB 33的规定。
5.2存要求
存要求应按GJB33的规定。
5.3运输要求
运输要求应接GJB33的规定，
6说明事项
6.1台同或订货单可规定要求的引出线材料和涂层（见3.2.1)。6.2如使用单位需要时，典型特性曲线等可在合同或订货单中规定。6.3直流安全工作区（见图2)。
初姓值的
TKAONKAca
ESDK308A
311K30B
ALSR3OBC
E3UK3080
—3DK308E
3DK308F
3DK308G
SJ50033/17—94
Te =25C
305080100200:400
集电圾一发射被电压 V[V】
图23DK308直流安全工作区
A1目的
SJ 50033/17---94
附录A
集电极一发射极击穿电压测试方法（补充件）
本测试的目的是为了在规定的条件下，确定晶体管的击穿电压是否大于规定的最低极限。A2测试电路
电压源
注：在测试电流时，巴流表的接：头之间实际上可看成短路：或对电压表读数作医电流表压降的放下。图A1集电极一发射极击穿电压测试电路A3测试步骤
限流电阻R，应足够大，以避免过渡的电流流过晶体管和电流表。施加规定的偏登条件，增加电压直到规定的测试电流。如果在规定的测试电流下所加的电E大于V(2R)Ceo 的最低极限，体管为合格。本测试方法企图表现晶体管的负阻击穿特性，在这种情况下.必须使品休管的集成电极电流及结温保持在安全值以内。
A4规定条件
a，环境温度！
h．测试温度Ic。
附加说明：
本规范由中国电子标准化研究所归口。本规范由衡阳市晶体管厂负责起草。本规范主要越草人：夏贤学、欧阳映和计划项月代号：H901001.H90100210
rKAoNiKAca-
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