SJ 50033.25-1994
基本信息
标准号： SJ 50033.25-1994
中文名称：半导体分立器件 2CW1001～2CW1005型硅电压调整二极管详细规范
标准类别：电子行业标准(SJ)
标准状态：现行
出版语种：简体中文
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相关标签： 半导体 分立 器件 电压 调整 二极管 详细 规范
标准分类号
关联标准
出版信息
相关单位信息
标准简介
SJ 50033.25-1994 半导体分立器件 2CW1001～2CW1005型硅电压调整二极管详细规范
SJ50033.25-1994
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标准内容
中华人民共和国电子行业军用标准FL5961
SJ 50033/25--94
半导体分立器件
2CW10012CW1005
2CW1006-2CW1015型
硅电压调整二极管详细规范
1994-09-30发布
1994-12-01实施
中华人民共和国电子工业部批准中华人民共和国电子行业军用标准半导体分立器件2CW1001~2CW1005型硅电压调整二极管详细规范
Semiconductor discrete deviceDetail specitication for type 2Cw1001~2Cw1005silicon voltage-regulator diodc1范围
1.1主题肉容
SJ 50033/25-94
木规范规定了2CW1001～2CW1005型硅电压调整极管（以下简称器件)的详细要求。1.2适用范围
本规范适用于器件的研制、生产和采购。1.3分类
本规范根据器件质量保证等级进行分类。1-3.1器件的等级
按GJB336半导体分立器件总规范》1.3条的规危，摄供质量保证等级为普军、特军和超特军三及，分别用字母GP,GT和GCT表示。2引用标准
CB6571一86小功率信号二极，稳压及基准电压二极管测试方法GB7581—87半导体分立器件外形尺寸GJB3.--85半母体分立器件总规范GJ3128-8E半导体分立器件试验方法3要求
3.1详细婴求
各项要求应按GJB33和本规范的规定。3.2设计、结构和外形尺寸
器件的设计、结构和外形尺寸应按GIB33和本规范的规定。3.2-1引出端涂层
引出端表面应镶镊。在不影响器件性能和标志的情况下，对引出端涂层另有要求时，可在台同或订货单中规定（见6，3条）中华人民共和国电子工业部1994-09-30发布1994-12-01实施
TKAONKAca
3.2.2器件结构
$350033/25—94
在硅芯片的两面和引出端之间来用高温冶金键合结构。这种器传为坡璃封接非空腔结构。3.2.3外形尺寸
外形尺应符合GB7581中D2--10A型，见图三。H
注：)L：为引线弯曲或宜鱼后器件安装的最小轴向长度，图1外形图
3.3最大额定值和主要电特性
3.3.1最大额定值
2CW1001-~1005
注：1)当Tms>50℃，按时4mW/℃的速率线生降额，尼图2、3.3.2主要地特性（7=25℃）
D2—C2A
55~+10
-55~+175
KW1001
2CW1002
2CW1003
2CW1004
2CW1005
3.4.地测试要求
SJ 50033/25—94
电测试应符合GB6571及本规范的规定。3.5标志
Tam = 25'℃C
标志应符合GJB33和本规范的规定。型号标志可不限于-一行内，制遗厂可省路下列标志：制造「的识别：此内容来自标准下载网
检验批识别代码：
型号命名中的2C部分。
3.5.1极性标志
器件的负极端应旧鲜明的色带标志，以示出器件的极性。4质量保证规定
4.抽样和登验
拍样和检验应按GJB33和本规范的规定。4.2签定检验
鉴定检验应按GJB33的规定。
4.3筛选（仅对GT和GCT级）
筛选应按GJB33的表2和木规范的规定。其测试应接本规范表1进行，超过本规范表1极限值的器件应予以剔除。
筛速（GJ33表2)
5热冲击(溢度循环)
1恒定加速
s高温发偏
7中间测试
8电老化
9最后测试
4.3、.1电老化条件
侧试或试验
除低温为一55℃、循环10 欲射,其余间试验条件F不要求
不要求
不要求
Vz.Rza.fr.
见4.3.1条
△R2=初始直的士20%
2V一初始值的士2.5%
按GB128的1038方法试验条件B进行。TTKAONKAca-
SJ 50033/25--94
I2-64mA=96h.Th25±5℃。
安装条件，离管体10mm处安装夹具固定二极管引线使其悬空。4. 3. 2示波器显示检验
伏安特性的反向卡穿区应在适应的伏安特性范围内（V<3.5V），利用一个示波器进行观察，示波器的录示幅值应在水乎和垂直两个方向上至少有5cm。在曲线弯出起点处的电流应小于60uA，剔出伏安特性曲线轨迹中有明显的折线、双曲线.不连接曲线和曲线抖动的器件，4.4质盘致性检验
质一致性检验应按GJRB33和本规范的规定。4.4.1A组检验
A组捡验应按GJB33和本规范表1的规定进行。4.4.2B组检验
B组检验应按GJB33和本规范表2的规定进行。最后测试和参数变化量(4)的要求应按本规范表4的相应步骤的规定进行。4.4.3C组检验
C组检验应按GJB33和本规范表3的规定进行。最后测试和参数变化量（4)的要求应按本规范表1的相应步骤的规定进行。4.5检验和试验方法
验和试验方法应按本规范相应的表和下列规定。4.5.1浪涌电流（T2sM）
应在二极管反向施加970mA的峰值电流：并且这些峰值电流应与电流Izr(7.5mA)送加。采用方波棘冲，脉冲宽度10ms，浪痛1次。4.5.2调整电压(V2)
应在施加测试电流1zT为20s时，测量调整电压Vz值。量期间在距离二极管管体10mm处的引线温度应保持25℃。如果另有要求时，则可在加测试电流1为22~10C0ms时间内进行测量，并在合同或订货单中规定，4.5.3电压调整（Vzm）
电流为1z（64mA值）的10%（6.4mA）维持20，测试V的数值：再把电流增加到Iz的50%（32mA)维持20s，测出V的数值，这两个电压的变化值不应超过0.4V。试验期间基准点温度同4.5.2.
4.5.4电压温度系数(avz）
在环境温度Tmb1=25C和Tmb=7b1+50℃分别恒温不少于30min下，施加Iz(7.5mA)值20+s吋，分别测出Vzm、Vzrz（电流精度0.01mA，电压读出六位有效数字）。然后，按下式计算v2
100(VeT2 - Vzm)
ay(TuTamb.).V
测试方法见GB6571的2.2.3.1。
检验或试验
A1分组
外规及机械检验
A2分组
反向电流
调整电压
A3分组
反向电流
A4分组
微分电阻
拐点微分电阻
A6分组
浪凝电流
最后測试
A?分组
示波器显示
A8分组
电压调整值
电压盗度
2CW1002
2CW1803
2CW1904
2CW130s
GJE128
2. 2. 1.1
2. 2. 2. 1
2. 2. 2. 1
附录A
本规苑
本规范
2. 2. 3. 1
SJ50033/25--94
表1A组检验
GB 6571
直流法
Izr-7.5mA
（见本规范4.5.2)
T125℃
直流法
—12的10%
= 1050Hz
f-1000Hz
I2k —0. 50mA
Iu=50μA
Izsm = 970mA
（见本规范的4.5.1)
见表 4 步檗的 1 利 3
1z2=55%Izm
溯出Ve
1 =7. 5mA
（见本挽范的4.3.4)
极限值
最小值 最大值
TTKAONKAca-
检验或试验
B1分组
可焊性
标志的耐久生
B2分组
热击(温度循环）
最后测试
B3 分组
稳态工作寿命
最后测试
B6分组
高寿命
【非工作状态》
最后测试
控验或试验
C1分组
外形尺寸
C2分组
热冲击(皱璃应力)
引出端强度
弯曲试验
综和温度/湿度膚期
外观及机械检验
最后测试
C4分组
(适用时)盐气(腐蚀)
C6分组
德态工作寿命
最后测试
SJ 50033/25-94
表 2B 组检验
GJB 128
焊料按密
7-250±5
= 5 : 0. 5s
受试引出端数：2漫入深度高器件本体2.51m处
除低温为一55 亡、循坏10次外,其余同试验条件F
见表 4 步象的 1 和 3
1z- 54mA
S40l1.Tarh=25+5'C
按装条件，见本规范4.3.1
见表 4 步案的 2 和 3
T=175'9℃
t= 340h
表4步案的2和3
表 3C组检验
GJB128
见图1
试验条件 B
试验件 A受试引出端数2
重量：1000g
=15±3s
试验条件F重量500g
见表 4 步聚的 1 和 3
z=64mA Tam-25±5℃ t-1000h
安装条作：见本规范4.3,1
见表 4 步聚的 2 和 3
检验或试验
反向电流
发向电流
[调整电压
电压温度
2CW1001
2CW1002
2CW1003
2CW1004
2CW1605
5交货准备
5.1包装要求
SJ 50033/25- 94
表4A、B、C组检验的电测试
GB 5571
直流法 V,=3. 5V
2. 2. 1. 1
2. 2. 3. 1-
包装要求应符合GJB33的规定。
5.2存要求
烂存要求应符合GJB33的规定。
5.3运输婴求
运输要求应符合CJB33的规。
6说明事项
6.1预定用途
直流法 V3.5V
Iz=7-5mA
符合本规范的器件供新设备设计使用和供现有的后勤保障用，6.2订货文件内容
合间或订单中应载明下列内容，、本规范的名称和编号，
b，等级(1.3.1);
、数量：
d需要时，其他要求。
最小檀
凝大值
6.3对引山端涂层有特殊要求时，应在合同或订单中规定（见3.2.1条）。如使用单位髂要时，典型待性曲线等可在合商或订单中规定。6.4温度降额曲线
TTKAONKACa-
附加说明：
SJ50033/25—94
图2温度降额曲线
本规范由中国电子技术标准化研究所归口。本规范由人七三广越草。
本规范主要起草人;泰华,刘东才，于志贤，计划项目代号：B11026。
iTamb:)
YIKAONIKAca-
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SJ 50033/25--94
半导体分立器件
2CW10012CW1005
2CW1006-2CW1015型
硅电压调整二极管详细规范
1994-09-30发布
1994-12-01实施
中华人民共和国电子工业部批准中华人民共和国电子行业军用标准半导体分立器件2CW1001~2CW1005型硅电压调整二极管详细规范
Semiconductor discrete deviceDetail specitication for type 2Cw1001~2Cw1005silicon voltage-regulator diodc1范围
1.1主题肉容
SJ 50033/25-94
木规范规定了2CW1001～2CW1005型硅电压调整极管（以下简称器件)的详细要求。1.2适用范围
本规范适用于器件的研制、生产和采购。1.3分类
本规范根据器件质量保证等级进行分类。1-3.1器件的等级
按GJB336半导体分立器件总规范》1.3条的规危，摄供质量保证等级为普军、特军和超特军三及，分别用字母GP,GT和GCT表示。2引用标准
CB6571一86小功率信号二极，稳压及基准电压二极管测试方法GB7581—87半导体分立器件外形尺寸GJB3.--85半母体分立器件总规范GJ3128-8E半导体分立器件试验方法3要求
3.1详细婴求
各项要求应按GJB33和本规范的规定。3.2设计、结构和外形尺寸
器件的设计、结构和外形尺寸应按GIB33和本规范的规定。3.2-1引出端涂层
引出端表面应镶镊。在不影响器件性能和标志的情况下，对引出端涂层另有要求时，可在台同或订货单中规定（见6，3条）中华人民共和国电子工业部1994-09-30发布1994-12-01实施
TKAONKAca
3.2.2器件结构
$350033/25—94
在硅芯片的两面和引出端之间来用高温冶金键合结构。这种器传为坡璃封接非空腔结构。3.2.3外形尺寸
外形尺应符合GB7581中D2--10A型，见图三。H
注：)L：为引线弯曲或宜鱼后器件安装的最小轴向长度，图1外形图
3.3最大额定值和主要电特性
3.3.1最大额定值
2CW1001-~1005
注：1)当Tms>50℃，按时4mW/℃的速率线生降额，尼图2、3.3.2主要地特性（7=25℃）
D2—C2A
55~+10
-55~+175
KW1001
2CW1002
2CW1003
2CW1004
2CW1005
3.4.地测试要求
SJ 50033/25—94
电测试应符合GB6571及本规范的规定。3.5标志
Tam = 25'℃C
标志应符合GJB33和本规范的规定。型号标志可不限于-一行内，制遗厂可省路下列标志：制造「的识别：此内容来自标准下载网
检验批识别代码：
型号命名中的2C部分。
3.5.1极性标志
器件的负极端应旧鲜明的色带标志，以示出器件的极性。4质量保证规定
4.抽样和登验
拍样和检验应按GJB33和本规范的规定。4.2签定检验
鉴定检验应按GJB33的规定。
4.3筛选（仅对GT和GCT级）
筛选应按GJB33的表2和木规范的规定。其测试应接本规范表1进行，超过本规范表1极限值的器件应予以剔除。
筛速（GJ33表2)
5热冲击(溢度循环)
1恒定加速
s高温发偏
7中间测试
8电老化
9最后测试
4.3、.1电老化条件
侧试或试验
除低温为一55℃、循环10 欲射,其余间试验条件F不要求
不要求
不要求
Vz.Rza.fr.
见4.3.1条
△R2=初始直的士20%
2V一初始值的士2.5%
按GB128的1038方法试验条件B进行。TTKAONKAca-
SJ 50033/25--94
I2-64mA=96h.Th25±5℃。
安装条件，离管体10mm处安装夹具固定二极管引线使其悬空。4. 3. 2示波器显示检验
伏安特性的反向卡穿区应在适应的伏安特性范围内（V<3.5V），利用一个示波器进行观察，示波器的录示幅值应在水乎和垂直两个方向上至少有5cm。在曲线弯出起点处的电流应小于60uA，剔出伏安特性曲线轨迹中有明显的折线、双曲线.不连接曲线和曲线抖动的器件，4.4质盘致性检验
质一致性检验应按GJRB33和本规范的规定。4.4.1A组检验
A组捡验应按GJB33和本规范表1的规定进行。4.4.2B组检验
B组检验应按GJB33和本规范表2的规定进行。最后测试和参数变化量(4)的要求应按本规范表4的相应步骤的规定进行。4.4.3C组检验
C组检验应按GJB33和本规范表3的规定进行。最后测试和参数变化量（4)的要求应按本规范表1的相应步骤的规定进行。4.5检验和试验方法
验和试验方法应按本规范相应的表和下列规定。4.5.1浪涌电流（T2sM）
应在二极管反向施加970mA的峰值电流：并且这些峰值电流应与电流Izr(7.5mA)送加。采用方波棘冲，脉冲宽度10ms，浪痛1次。4.5.2调整电压(V2)
应在施加测试电流1zT为20s时，测量调整电压Vz值。量期间在距离二极管管体10mm处的引线温度应保持25℃。如果另有要求时，则可在加测试电流1为22~10C0ms时间内进行测量，并在合同或订货单中规定，4.5.3电压调整（Vzm）
电流为1z（64mA值）的10%（6.4mA）维持20，测试V的数值：再把电流增加到Iz的50%（32mA)维持20s，测出V的数值，这两个电压的变化值不应超过0.4V。试验期间基准点温度同4.5.2.
4.5.4电压温度系数(avz）
在环境温度Tmb1=25C和Tmb=7b1+50℃分别恒温不少于30min下，施加Iz(7.5mA)值20+s吋，分别测出Vzm、Vzrz（电流精度0.01mA，电压读出六位有效数字）。然后，按下式计算v2
100(VeT2 - Vzm)
ay(TuTamb.).V
测试方法见GB6571的2.2.3.1。
检验或试验
A1分组
外规及机械检验
A2分组
反向电流
调整电压
A3分组
反向电流
A4分组
微分电阻
拐点微分电阻
A6分组
浪凝电流
最后測试
A?分组
示波器显示
A8分组
电压调整值
电压盗度
2CW1002
2CW1803
2CW1904
2CW130s
GJE128
2. 2. 1.1
2. 2. 2. 1
2. 2. 2. 1
附录A
本规苑
本规范
2. 2. 3. 1
SJ50033/25--94
表1A组检验
GB 6571
直流法
Izr-7.5mA
（见本规范4.5.2)
T125℃
直流法
—12的10%
= 1050Hz
f-1000Hz
I2k —0. 50mA
Iu=50μA
Izsm = 970mA
（见本规范的4.5.1)
见表 4 步檗的 1 利 3
1z2=55%Izm
溯出Ve
1 =7. 5mA
（见本挽范的4.3.4)
极限值
最小值 最大值
TTKAONKAca-
检验或试验
B1分组
可焊性
标志的耐久生
B2分组
热击(温度循环）
最后测试
B3 分组
稳态工作寿命
最后测试
B6分组
高寿命
【非工作状态》
最后测试
控验或试验
C1分组
外形尺寸
C2分组
热冲击(皱璃应力)
引出端强度
弯曲试验
综和温度/湿度膚期
外观及机械检验
最后测试
C4分组
(适用时)盐气(腐蚀)
C6分组
德态工作寿命
最后测试
SJ 50033/25-94
表 2B 组检验
GJB 128
焊料按密
7-250±5
= 5 : 0. 5s
受试引出端数：2漫入深度高器件本体2.51m处
除低温为一55 亡、循坏10次外,其余同试验条件F
见表 4 步象的 1 和 3
1z- 54mA
S40l1.Tarh=25+5'C
按装条件，见本规范4.3.1
见表 4 步案的 2 和 3
T=175'9℃
t= 340h
表4步案的2和3
表 3C组检验
GJB128
见图1
试验条件 B
试验件 A受试引出端数2
重量：1000g
=15±3s
试验条件F重量500g
见表 4 步聚的 1 和 3
z=64mA Tam-25±5℃ t-1000h
安装条作：见本规范4.3,1
见表 4 步聚的 2 和 3
检验或试验
反向电流
发向电流
[调整电压
电压温度
2CW1001
2CW1002
2CW1003
2CW1004
2CW1605
5交货准备
5.1包装要求
SJ 50033/25- 94
表4A、B、C组检验的电测试
GB 5571
直流法 V,=3. 5V
2. 2. 1. 1
2. 2. 3. 1-
包装要求应符合GJB33的规定。
5.2存要求
烂存要求应符合GJB33的规定。
5.3运输婴求
运输要求应符合CJB33的规。
6说明事项
6.1预定用途
直流法 V3.5V
Iz=7-5mA
符合本规范的器件供新设备设计使用和供现有的后勤保障用，6.2订货文件内容
合间或订单中应载明下列内容，、本规范的名称和编号，
b，等级(1.3.1);
、数量：
d需要时，其他要求。
最小檀
凝大值
6.3对引山端涂层有特殊要求时，应在合同或订单中规定（见3.2.1条）。如使用单位髂要时，典型待性曲线等可在合商或订单中规定。6.4温度降额曲线
TTKAONKACa-
附加说明：
SJ50033/25—94
图2温度降额曲线
本规范由中国电子技术标准化研究所归口。本规范由人七三广越草。
本规范主要起草人;泰华,刘东才，于志贤，计划项目代号：B11026。
iTamb:)
YIKAONIKAca-
小提示：此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容，若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。