SJ 50033.29-1994 半导体分立器件EK20型砷化镓高速开关组件详细规范 SJ50033.29-1994 标准下载解压密码：www.bzxz.net

中华人民共和国电子行业军用标准FL5961
SJ50033/29—94
半导体分立器件
EK20型砷化镓高速开关组件
详细规范
Senmicanductor discrete deviceDetail specification for GaAs high-speed switchingassembly for type EK20
1994-09-30发布
中华人民共和国电子工业部
1994-12-01实施
中华人民共和国电子行业军用标准半导体分立器件
EK20型砷化镓高速开关组件
详细规范
Semiconductor discrete deviceDetail speclflcation for GaAs high-speed switchingassembiy for type EK20
1范围
1.1主题内容
SJ 50033/29—94
本规范规定了EK20型碑化镶高速开关组件(以下简称器件>的详细要求。1.2适用范围
本规范适用于器件的研制、生产和采购。1.3分类
本规范根据器件质量保证等级进行分类，1.3.1器件的等级
按GJB33半导体分立器件总规范》1.3条的规定，提供的质量保证等级为普军和特军级，分期用字母 GP 租 GT 表示。
2引用文件
GB6571—86小功率信号二极管稳压及基准电下二极管测试方法GJB33--85半导体分立锯件总规范GJB128—86半导体分立器件试验方法3要求
3.1详细要求
各项要求应符合GJB33和本规范的规定。3.2设计，结构和外形尺寸
器件的设计、结构和外形尺寸应按GJB33和本规范的规定。3.2.1出端涂层
引出端表面应镀银。对引出端涂层另有要求时，应在合同或订货单中规定（见6.3条）。3.2.2外形尺寸
中华人房共和国电子工业部1994-09-30发布1994-12-01实箍
YrKAOKAca
SJ50033/2994
外形尺寸应符合本规范的规定，见图146.7
图1外形图
3.3最大额定值和主娶电特性（T-25℃）3.3.1最大额定值
3.3.2主要电特性
Iru-10nA
Ir21 == 10mA
3.4电测试要求
(Vem-Vrt)
f=2MHz
Ir12=1mA:
J=1MHz
电测试应符合GB 6571及本规范的规定。3.5标志
-55～+125
IFzz ——ImA
Ir=10mA
—55-150
(Vwi8-V2)
I-1OmA
SJ 50033/29-94
标志应符合GJB33和本规范的规定。3.5.1极性标志
极性标志如图1所示。
质整保证规定
4.1抽样和检验
抽样和检验应按GJB 33的规定。4.2鉴定检验
鉴定检验应按 GIB 33 的规定。4.3筛选（仅对GT级）
筛选应按GJB33的表2和本规范的规定。其测试应按本规范表1的规定进行，超过本规范表 1 极限值的器件应了剔除。靖
见 G[B 33 表 2
3热冲士
6高盘反偏
7中间电象数测试
电老化
最后测试
4. 4 质量一致性检验
测试和试验
除低温为—55心、循环20次外，其余同试验茶件BT,=125 C
VR=8V(单管)。
本规范表1的2分组。
Te= 5mA
本规范表1的2分组！
T=85℃
A=始值的100%或0.1μA，取较大者：A7=切始值的100%或0.1A，取较大者。量一致性检验应按 GJB 33的规定、4. 4.1 A 组检验
A组检验应按GJB33和本规范中表1的规定进行。4.4.2B组检验
B组检验应按GJB33和本规范中表2的规定进行。4. 4. 3 C 组检验
C组检验应按GJB33和本规范中表3的规定进行。4.5检验和试验方法
检验和试验方法应按本规范相应表的规定。TKAONKAca
检验或试验
A1分组
外观及机械检验
A2 分组
正向电压
正向电乐差
反向变流
43分组
高温工作
反向电流
A4 分组
反可恢复时间
检验或试险
B1分组
可掉生
B2. 分组
热冲击
细检痛
粗检漏
后测试
B3 分组
稳态工作寿命
最后测试：
高摄命
[非工作状态】
最后测试
GJB128
SJ50033/29—94
表1A检验
GB6571
m=10mA
I p2i= t0mA
fr2=1mA
I rzi-1mA
(Y ~ Vr)
(Vr2 -Vr22)
Vr- l0V
Vr= lov
1A=125c
V,= lov
Ig= 30mA
f=1MHz
f-1MIz
表2B组检验
GJB 128
极限值
除低温为-55t、循环 10 次外,其余商试验1051
条牛B。
试验条件 H
试验杀件C
接表4,步骤1、2和3
! TA=85℃
Ie= 5mA
按表4. 步骤4、5和 6
Ta- 150r
按表4,步骤1、2和 3
恼验或试验
ci分组
外形尺寸
C2分组
引出端强度
细检漏
粗检漏
综合显度/湿度周期
外观及机模检验
量后测试
C3分组
变频搬动
恒定加速度
最后测试
C4分组
(适用时)
C6分组
稳态工作寿命
最后测试
正向电压
正向电压差
友商电流
正向电压bzxZ.net
正何电压整
反询电流变化量
sJ 50033/29--94
表 3 C 组检验
GJB128
见图1
试验象件A
试验条件E
试验条件H
试验条件 C
当略预处理
按表 4,少:、2 利 3
4909m/g*.U.5ms.在X,YZ每个方向独击5次
196000m/s,三个方向至少各1rmin按表 4 步骤 1、2 和 3
T,=85C
Ip- 5mA
按表 4,步骤4,5和6
表 4B组 C 组检验的电测试
GB 65Y1
IF= i0mA
Ir=:OmA
Ipz ImA
Ip—inA
(Vrt-Vri)
(VrVra)
Vx-20V
Vx--10y
Iru=10mA
IF2l-10mA
1r12-1mA
Ira lmA
(Vru-V)
(Vm-Y)
Va-10V
Vr=10V
报限值
殿小值
最大值
初始借的100%或
100mA，取较大者：
初始值的 100%或
100nA,取较大等，
TrKAONKAca-
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注：1)本测试超过A组极限信的器件不应接收。5交货准备
5.1包装要求
包装要求应按GJB33的规定。
5.2贮存要求
存要求应按GJB33的规定。
5.3运输要求
运输要求应按GJB33的规定。
6说明事项
6.1预定用途
符合本规范的器件供新议备设计使用和现有的后勤保障用。6.2订货资料
合间或订货单应规定下列内容：本规范的名称和编号，
等级（见1.3.1)；
c.数量；
d.需要时,其他婴求。
6.3对引出端涂层有特殊要求时，应在合间或订货单中规定（见3.2.1)如使用单位需要时，典型特性曲线等可在合同或订货单中规定，附加说明
本规范由中国电子技术标准化研究所归口，本规范由中国电子技术标准化研究所和长春半导体厂共同起草。本规范主要起草人，金贵水、马学之。计划项目代号：B11032，
YIKAONIKAca-
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