SJ 50033.38-1994
基本信息
标准号： SJ 50033.38-1994
中文名称：半导体分立器件CS4856～CS4861型硅N沟道耗尽型场效应晶体管详细规范
标准类别：电子行业标准(SJ)
标准状态：现行
出版语种：简体中文
下载格式：.rar .pdf
下载大小：139933
相关标签： 半导体 分立 器件 沟道 耗尽 场效应 晶体管 详细 规范
标准分类号
关联标准
出版信息
相关单位信息
标准简介
SJ 50033.38-1994 半导体分立器件CS4856～CS4861型硅N沟道耗尽型场效应晶体管详细规范
SJ50033.38-1994
标准下载解压密码：www.bzxz.net
标准图片预览
标准内容
中华人民共和国电子行业军用标准FL 5961
SJ 50033/38—94
半导体分立器件
CS4856~CS4861型
硅N沟道耗尽型场效应晶体管
详细规范
Semiconductor discrete deviceDetail specificationfortypesCS4856~CS4861silicon N-channel deplition mode field-effect transistor1994-09-30发布
1994-12-01实施
中华人民共和国电子工业部批准中华人民共和国电子行业军用标准半导体分立器件
CS4856~CS4861 型
硅N沟道耗尽型场效应晶体管
详细规范
Semiconductor diserete devireDetail 6pecifieation for types CS4856-CS4861silicon N-channel depliaion mode field-effect transistor1范围
1.1主题内容
SJ 50033/38—94
本规范规定了CS4856~CS4861型硅N离道耗尽型结型场效应晶体管（以下简称器件）的详细要求。
1.2 适用范围
本规范造用于器件的研制、生产和采购，1.3分类
本规范根据器件质量保证等级进行分类。1.3.1器件等级
按GIB33半导体分立器件总规范31.3的规定，提供的质量保证等级为普军特军和超特塞一级、分别用字母GP、GT和GCT表尽。2引用文件
GH 4596B4场效应晶体管测试方法GB7581—87半导体分立器件形尺寸GJB 33--5
半导体分立器件总规范
GJB128--86半导体分立器件试验方法3要求
3.1详细要求
各项要求应按GJB3S和本规范的规定。3.2设计、结构和外形尺寸
中华人民共和国电子工业部1994-09-30发布1994-12-01实施
TKAoNKAca
SJ50033/38—94
器件的设计、结构和外形尺寸应按GJB33和本规范规定。3.2.1引出端材料和涂层
引出端材料应为可伐。引山端表面涂层应为镀金、镀锡或浸锡。对引出端材料和涂唇要求选择或另有要求时，在合同或订单中应明确规定（见6.3)。3.2-2器件结构
采用硅N沟道耗尽型结型结构。
3.2.3外形尺寸
外形尺寸按GB7581的A301B型及如下的规定。见图145
引出端极性，
1.源极、2.调极3.珊级
图1外形尺寸
SJ50033/38—94
4: C1B
3.3最大额定值租七要电特性1T.-25C）3.3.1最人额定值
TA- 25 C 7t = 25 C
CS455S
CS4857
CS4852
CS4859
CS4860
CS4861
Vu和V
CS1359
CS485?
CS4858
注：1)T.>25C时，按2.06mW！（的速率线性释随2)T.>25C时，按13.3mW/的速率线性降额。3.3.2主要电特性
号(单位)
In\(mA)
测试杀性
Vm -5V
CS4856Www.bzxZ.net
CS4859
CS4857
CS4860
CS4856
CS4860
CS1861
最小懂
65至·203
最人值
-TrKAoNiKAca-
花号（单位)
Rauarr owy
Racchaw
测试条件
In*-20mA.V0
p=10mA,Vcs=0
In=5mA,Vα=0
Vns-EV
Vas-0,In}
=100g(rms)
注：）脉油法（见4.5.1）
3.4电测试要求
SJ 50033/38 94
CS1856
CS4859
CS4857
CS4860
CS4855
CS4861
CS4855
Cs4855
CS4857
CS4SeC
CS4538
CS4591
CS4556
CS4259
CS485?
CS4860
CS4858
CS4863
所有型号
所有孕
电测试应符合GB4586及六规范的规定。3.5标志
器件的标志应按GJB33的定，
4质量保证规定
4. 1抽样和检验
抽样和检验应按GIB33和本规范的规定。4.2鉴定检验
鉴定检验应按GJB33的规定。
4.3筛选(仅对GT和GCT级）
最小值
筛选感按GJB33表2私本规范的规定。其测试应按本规范表1进行，超过本规范表1极限值的器件应予剔。
(CJ 33丧 2)
6.高温反偏
7.中间参数测试
8.功率老化
9赣后测试
4.3.1功率老化条件
S.I 50033/38 - -94
测试或试验
不要求
不要求
Isno和a a?
见 4. 3. 1
本视范表 1 和 A2 分组
4s=±：ImA或树始值的±100%，取较大者；F o:和 Ardilc=2%;
4Ixs= +15%。
CS4856 至 CS4858 : Vss= —32VV s - 0;T -- 150 C
CS4859 至 CS4861: Ves -- ---24VVrs=0,Ta=150C
4.4质量一致性检验
质量一致性检验应按GJB33的规定进行。4.4.1A组检验
A组检验应按GJB33和本规池表1的规定进行。4.4.2B组检验
B组检验应按GJB33和本规范表2规定进行。最后测试和变化量(△)要求应按本规范表1的步骤进行。
4. 4-3 C 检验
C组检验应按GJB33和本规范表3的规定进行，最后测试和变化量（A)要求应按本规范丧4的步骤进行，
4.5检验和试验方法
检验和试验方法应按木规范相应的表和下列规定：4.5.1脉冲测试
球冲到试应按GJB128的3.3.2.1约规定。4.5.2开关时间测试
开关时间的测试条件和元件值见下表，W
C54856,CS4859
CS4857.CS48611
CS4858.CS4861
注:1)标浅值。精：
管参数睡有变化。
-rKAONKAca-
检验或试验
A1分组
外规及烈械检验
A2分丝
栅一源击穿电压
CS4856 至 CS1858
CS4850 至 CS4861
栅吸截止电流
CS4856至CS485S
C5485 至 C54861
零棚压漏极电筑
CS4266.CS4859
CS1857,CS4866
CS4858,CS4831
漏极载止电统
源通态电压
CS4856.L:54853
CS4857,C34666
CS4858,CS4861
栅源截止电压
CS4856,C84859
CS4857,CS4860
CS4858.CS4861
小信号漏源通态电租
CS1856,CS4859
CS485T.CS4860
CS4858,CS4861
GJB128
SJ 50033/38—94
表 1 A组检验
CB4586
涌源轰路
= 1,OμA
漏源短路
Vi= 2cV
Vus= 15V
概源短路
Va=15V
脉冲法(4. 5.1)
Vm-15V
Ves= -20V
Iu-20mA
fs=-10mA
In—5mA
Vn—15V
Vcs=0,
1 f-1kHz
I -lWUμA(rms?
最小最大值
- 0. 25 nA
检验或试验
A3分组
高溢工作：
粘极截止电流
CS 4858,CS4858
CS4859,CS4851
漏极截止电流
A1分组
于岸延返时向
CS4856.CS4859
CS4857,CS4860
CS4858.CS4861
上升时间
CS4.856.CS4859
CS4857.CS4860
CS4855.CS4861
关闭时间
CS4956,CS4859
CS48:7.CS4860
CS1858.C54851
小信号共源矩路
摊人电容
小信号共源短路
反电案
AE,A6 和 A7 分组不适
检验或试验
BI分组
可焊性
标忘的耐久性
$J 50033/38—94
续表1
GB 4585
T: =150 C
漏濃短路
Ves —-20V
Ves=-15V
Vrs--15V
Wrs-- —10V
Vre =d
Ve=-- i0V
J=IMHz
Ve -: -10V
j=1MHz
表2B组检验
GJB128
最小值最大侧
TTKAONKAca-
检验或试验
B32 分经
热击(滑度循坏)
月，细检漏
最序测试：
R3分组
稳态工作寿命
CS4856至 CS4858
CS1859 至 CS4861
最后测试：
34分组
帽内部目检(设计
验证）
锂合强度
R5 分组不适司
B分组
高温寿俞(不汇作)
限元测试：
检验或试验
外形尺寸
C2分组
热冲斑璃应)
引出端强度
8.细检漏
E.粗检漏
综合运度/湿度周期试赖
外观及机械检验
良后渊试：
SJ50033/38—94
续表2
GJB 128
试验条性H
试验条件心
见表,步骤1和2
Vc5= - 32V,Vx - 0.F,= IY5 C
V=24VV=0.T4~1750
见表4，步豫3和
试验案件人，
每个器伴所有的内部引线分别进行拉力试验
TA=205 C
元表4.步骤3对4
表3C组检验
试验条件1
试验条件F
试验条阵
试验条件心
现表1,步菜：和2
每-批-一个器件，
失效。
检验或试整
C3分组
变频振动
恒定如速度
最后测试，
C4分组
（撞用时）
C5分组不适用
C6分组
态工作寿命
CS4856至CS4858
CS4859 萃 CS4861
最后测试：
险验或试验
小信号清源
通态电
CS4856.CS4859
CS4857,CE4860
CS4858,CS4861
满极截止电流
漏授截止电流
小信号漏源
通念电
CS4856.CS4859
CS4857,CS4860
CS4858.CS4862
5交货准备
SJ 50033/38—94
续表3
GB 125
见表 4,步骤1 和2
Ta-175C
Va- --32V
Vre——24V
见表 4。 步骤 3 和 4
表 4B组和C组的最后测试
GB 4586
Vrs-0.In-0
f--IkHz
Ig100μA(rms)
Vrs=15V
Ves--10V
V-- 1sv
Ves= -- 10V
V-=0,In=0
f -- 1kHz
=100μA(rms)
[defaay
Tpoctty
rdeiant
最小值
最大值
TTKAONKACa-
5.1包装要求
包装要求应按 GJB 33 的规定。5.2存要求
贮存要求应按GJB33的规定。
5.3运输要求
运输要求应按GJB33的规定。
说明事项
5.1颠年月途
SJ 50033/38—94
待台个就范的露件供新设备设计使用和供现有设备的后纳保障用6.2订货资料
合同效订货串应规定下列内穿：a车规范的名称和编号；
h。等级<见1.3.1)；
c数基
d． 要时，其他要求。
3对出端款唇有特要求时，应在合同或订货单中规定（见3.2.1）。如使用单位需要时，典型夺性曲线等可在合同或订货单中规定。附加说明：
本规范中国电子技术标准化研究所归口。本规范白中国电子技术标准化研究所和七四六厂共同起草。本规范主要起草人：王长福、张宗国、吴志龙。计划项目代号：BJ11005。
10 --
YIKAONIKAca-
小提示：此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容，若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。
SJ 50033/38—94
半导体分立器件
CS4856~CS4861型
硅N沟道耗尽型场效应晶体管
详细规范
Semiconductor discrete deviceDetail specificationfortypesCS4856~CS4861silicon N-channel deplition mode field-effect transistor1994-09-30发布
1994-12-01实施
中华人民共和国电子工业部批准中华人民共和国电子行业军用标准半导体分立器件
CS4856~CS4861 型
硅N沟道耗尽型场效应晶体管
详细规范
Semiconductor diserete devireDetail 6pecifieation for types CS4856-CS4861silicon N-channel depliaion mode field-effect transistor1范围
1.1主题内容
SJ 50033/38—94
本规范规定了CS4856~CS4861型硅N离道耗尽型结型场效应晶体管（以下简称器件）的详细要求。
1.2 适用范围
本规范造用于器件的研制、生产和采购，1.3分类
本规范根据器件质量保证等级进行分类。1.3.1器件等级
按GIB33半导体分立器件总规范31.3的规定，提供的质量保证等级为普军特军和超特塞一级、分别用字母GP、GT和GCT表尽。2引用文件
GH 4596B4场效应晶体管测试方法GB7581—87半导体分立器件形尺寸GJB 33--5
半导体分立器件总规范
GJB128--86半导体分立器件试验方法3要求
3.1详细要求
各项要求应按GJB3S和本规范的规定。3.2设计、结构和外形尺寸
中华人民共和国电子工业部1994-09-30发布1994-12-01实施
TKAoNKAca
SJ50033/38—94
器件的设计、结构和外形尺寸应按GJB33和本规范规定。3.2.1引出端材料和涂层
引出端材料应为可伐。引山端表面涂层应为镀金、镀锡或浸锡。对引出端材料和涂唇要求选择或另有要求时，在合同或订单中应明确规定（见6.3)。3.2-2器件结构
采用硅N沟道耗尽型结型结构。
3.2.3外形尺寸
外形尺寸按GB7581的A301B型及如下的规定。见图145
引出端极性，
1.源极、2.调极3.珊级
图1外形尺寸
SJ50033/38—94
4: C1B
3.3最大额定值租七要电特性1T.-25C）3.3.1最人额定值
TA- 25 C 7t = 25 C
CS455S
CS4857
CS4852
CS4859
CS4860
CS4861
Vu和V
CS1359
CS485?
CS4858
注：1)T.>25C时，按2.06mW！（的速率线性释随2)T.>25C时，按13.3mW/的速率线性降额。3.3.2主要电特性
号(单位)
In\(mA)
测试杀性
Vm -5V
CS4856Www.bzxZ.net
CS4859
CS4857
CS4860
CS4856
CS4860
CS1861
最小懂
65至·203
最人值
-TrKAoNiKAca-
花号（单位)
Rauarr owy
Racchaw
测试条件
In*-20mA.V0
p=10mA,Vcs=0
In=5mA,Vα=0
Vns-EV
Vas-0,In}
=100g(rms)
注：）脉油法（见4.5.1）
3.4电测试要求
SJ 50033/38 94
CS1856
CS4859
CS4857
CS4860
CS4855
CS4861
CS4855
Cs4855
CS4857
CS4SeC
CS4538
CS4591
CS4556
CS4259
CS485?
CS4860
CS4858
CS4863
所有型号
所有孕
电测试应符合GB4586及六规范的规定。3.5标志
器件的标志应按GJB33的定，
4质量保证规定
4. 1抽样和检验
抽样和检验应按GIB33和本规范的规定。4.2鉴定检验
鉴定检验应按GJB33的规定。
4.3筛选(仅对GT和GCT级）
最小值
筛选感按GJB33表2私本规范的规定。其测试应按本规范表1进行，超过本规范表1极限值的器件应予剔。
(CJ 33丧 2)
6.高温反偏
7.中间参数测试
8.功率老化
9赣后测试
4.3.1功率老化条件
S.I 50033/38 - -94
测试或试验
不要求
不要求
Isno和a a?
见 4. 3. 1
本视范表 1 和 A2 分组
4s=±：ImA或树始值的±100%，取较大者；F o:和 Ardilc=2%;
4Ixs= +15%。
CS4856 至 CS4858 : Vss= —32VV s - 0;T -- 150 C
CS4859 至 CS4861: Ves -- ---24VVrs=0,Ta=150C
4.4质量一致性检验
质量一致性检验应按GJB33的规定进行。4.4.1A组检验
A组检验应按GJB33和本规池表1的规定进行。4.4.2B组检验
B组检验应按GJB33和本规范表2规定进行。最后测试和变化量(△)要求应按本规范表1的步骤进行。
4. 4-3 C 检验
C组检验应按GJB33和本规范表3的规定进行，最后测试和变化量（A)要求应按本规范丧4的步骤进行，
4.5检验和试验方法
检验和试验方法应按木规范相应的表和下列规定：4.5.1脉冲测试
球冲到试应按GJB128的3.3.2.1约规定。4.5.2开关时间测试
开关时间的测试条件和元件值见下表，W
C54856,CS4859
CS4857.CS48611
CS4858.CS4861
注:1)标浅值。精：
管参数睡有变化。
-rKAONKAca-
检验或试验
A1分组
外规及烈械检验
A2分丝
栅一源击穿电压
CS4856 至 CS1858
CS4850 至 CS4861
栅吸截止电流
CS4856至CS485S
C5485 至 C54861
零棚压漏极电筑
CS4266.CS4859
CS1857,CS4866
CS4858,CS4831
漏极载止电统
源通态电压
CS4856.L:54853
CS4857,C34666
CS4858,CS4861
栅源截止电压
CS4856,C84859
CS4857,CS4860
CS4858.CS4861
小信号漏源通态电租
CS1856,CS4859
CS485T.CS4860
CS4858,CS4861
GJB128
SJ 50033/38—94
表 1 A组检验
CB4586
涌源轰路
= 1,OμA
漏源短路
Vi= 2cV
Vus= 15V
概源短路
Va=15V
脉冲法(4. 5.1)
Vm-15V
Ves= -20V
Iu-20mA
fs=-10mA
In—5mA
Vn—15V
Vcs=0,
1 f-1kHz
I -lWUμA(rms?
最小最大值
- 0. 25 nA
检验或试验
A3分组
高溢工作：
粘极截止电流
CS 4858,CS4858
CS4859,CS4851
漏极截止电流
A1分组
于岸延返时向
CS4856.CS4859
CS4857,CS4860
CS4858.CS4861
上升时间
CS4.856.CS4859
CS4857.CS4860
CS4855.CS4861
关闭时间
CS4956,CS4859
CS48:7.CS4860
CS1858.C54851
小信号共源矩路
摊人电容
小信号共源短路
反电案
AE,A6 和 A7 分组不适
检验或试验
BI分组
可焊性
标忘的耐久性
$J 50033/38—94
续表1
GB 4585
T: =150 C
漏濃短路
Ves —-20V
Ves=-15V
Vrs--15V
Wrs-- —10V
Vre =d
Ve=-- i0V
J=IMHz
Ve -: -10V
j=1MHz
表2B组检验
GJB128
最小值最大侧
TTKAONKAca-
检验或试验
B32 分经
热击(滑度循坏)
月，细检漏
最序测试：
R3分组
稳态工作寿命
CS4856至 CS4858
CS1859 至 CS4861
最后测试：
34分组
帽内部目检(设计
验证）
锂合强度
R5 分组不适司
B分组
高温寿俞(不汇作)
限元测试：
检验或试验
外形尺寸
C2分组
热冲斑璃应)
引出端强度
8.细检漏
E.粗检漏
综合运度/湿度周期试赖
外观及机械检验
良后渊试：
SJ50033/38—94
续表2
GJB 128
试验条性H
试验条件心
见表,步骤1和2
Vc5= - 32V,Vx - 0.F,= IY5 C
V=24VV=0.T4~1750
见表4，步豫3和
试验案件人，
每个器伴所有的内部引线分别进行拉力试验
TA=205 C
元表4.步骤3对4
表3C组检验
试验条件1
试验条件F
试验条阵
试验条件心
现表1,步菜：和2
每-批-一个器件，
失效。
检验或试整
C3分组
变频振动
恒定如速度
最后测试，
C4分组
（撞用时）
C5分组不适用
C6分组
态工作寿命
CS4856至CS4858
CS4859 萃 CS4861
最后测试：
险验或试验
小信号清源
通态电
CS4856.CS4859
CS4857,CE4860
CS4858,CS4861
满极截止电流
漏授截止电流
小信号漏源
通念电
CS4856.CS4859
CS4857,CS4860
CS4858.CS4862
5交货准备
SJ 50033/38—94
续表3
GB 125
见表 4,步骤1 和2
Ta-175C
Va- --32V
Vre——24V
见表 4。 步骤 3 和 4
表 4B组和C组的最后测试
GB 4586
Vrs-0.In-0
f--IkHz
Ig100μA(rms)
Vrs=15V
Ves--10V
V-- 1sv
Ves= -- 10V
V-=0,In=0
f -- 1kHz
=100μA(rms)
[defaay
Tpoctty
rdeiant
最小值
最大值
TTKAONKACa-
5.1包装要求
包装要求应按 GJB 33 的规定。5.2存要求
贮存要求应按GJB33的规定。
5.3运输要求
运输要求应按GJB33的规定。
说明事项
5.1颠年月途
SJ 50033/38—94
待台个就范的露件供新设备设计使用和供现有设备的后纳保障用6.2订货资料
合同效订货串应规定下列内穿：a车规范的名称和编号；
h。等级<见1.3.1)；
c数基
d． 要时，其他要求。
3对出端款唇有特要求时，应在合同或订货单中规定（见3.2.1）。如使用单位需要时，典型夺性曲线等可在合同或订货单中规定。附加说明：
本规范中国电子技术标准化研究所归口。本规范白中国电子技术标准化研究所和七四六厂共同起草。本规范主要起草人：王长福、张宗国、吴志龙。计划项目代号：BJ11005。
10 --
YIKAONIKAca-
小提示：此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容，若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。