SJ 50033.41-1994
基本信息
标准号： SJ 50033.41-1994
中文名称：GR9414型半导体红外发射二极管详细规范
标准类别：电子行业标准(SJ)
标准状态：现行
出版语种：简体中文
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标准分类号
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出版信息
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标准简介
SJ 50033.41-1994 GR9414型半导体红外发射二极管详细规范
SJ50033.41-1994
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标准内容
中华人民共和国电子行业军用标准FL5961
SJ 50033/41-94
GR9414型半导体红外发射二极管详细规范
Detail specification for type GR9414semiconductor infrared light eitting diode1994-09-30发布
中华人民共和国电子工业部批准1994-12-01实施
中华人民共和国电子行业军用标准GR9414型半导体红外发射二极管详细规范Detail specification for type GR9414Semiconductor infrared light erniting diade1范围
1.1主题内容
SJ50033/41-94
本规范规定了GR9414型半导体红外发射二极管(以下简称器件)的详细要求。1.2适用范围
本规范适用于器件的研制，生产和采购。1.3分类
1.3.1器件型号
按输出光功率不向，器件分为GR9414A、GR9414B和GR9414Cc1.3.2器件的等级
按照GJB33（半导体分立器件总规范）的提定，提供产品保证等级为警军和特军两个等级,并分别用字母GP和CT表示。
2引用文件
GIR 33--8S
GJB 128—86
SI 2355.3—83
ST 2658—86
半导体分立器件总规范
半导体分立器件试验方法
率导体发光器件测试方法反向电流的测试方法半导体红外发光二极管测试方法SJ/Z9014.2—87半导体器件分立器件和集成电路第五部分：光电子器件3要求
3.1详细要求
各条要求应按照 GJB 33 和本规范的规定。3.2·设计、结构和外形尺寸
器件的设计、结构应控照GJB 33和本规范的规定。外形尺寸应符合图1的规定。中华人民共和国电子工业韶1994-09-30发布1994-12-01实施
YrKAOKAca
图1外形尺寸
3.2.1半导体芯片材料
SJ 50033/4194
半导体芯片材料为神化镓(GaAs)3.2.2引出端排列
引出端排列应符合图2的规楚。
：A间！
图2引出端排列
3.2.3封装形式
器件为全密封金属外壳玻璃透镜窗口封装，如图3所示。轰端透镜
金属外壳
3.2.4引线长案
封装形式
最小值标称值
最大值
SJ50033/41--94
可按合同的规定（现6.2)提供引线长度不同于图1规定的馨件。3.3线材料及涂
引线材料为可伐合金，引线涂层应镀金，也可按照合同要求（见6.2)镀锡。3.4最大额定值和主要光电特性
3.4.1最大额定值
主：1)脉严宽度1rs，每秒300个脉冲。3.4.2主要光电特性（Tmb-25℃）参
测试条件
极限值
GR9414A
GR94148
GR9414C
3.5标志
正向电压
It=30A
最大值
反向电流
殷大值
辐射强度
(mw/Sr)
IF= 30mA
最小值
- 55 -- 100
峰值发射波长
f,30mA
典型值
制造可以将GIB33第3.7条规定的下列标志从管体上省略：目。制造厂的识别。
4质量保证规定
4.1轴样和检验
抽样和检验应按照 GJB 33和本规范的规定。4.2筛选（仅对GT级）
55 ~100
光谱辐射
Ig=30mA
典型值
总电容
f = 1MHz
最大值
GT级器件应按表1中规定的步和条件进行百分之百的筛选试验。批中所有器件都应进行表2中I.、I。和V三个参数的测试。并将测试结果记录下来。所有器件都应标明序号，以便老化试验后做参数的最终测试。老化前经密封试验或I.、I和Ve参数测试失效的器件应从批中别除，且在批记录中记录失效器件的序号。老化后超过A极限慎的所有器件应从批中别除，且在批记录中记录失效器件数和序号。如果老化后有10%或更多的器件失效，测整个批不能作为GT级产品交货。3
TKAoNiKAca
整验和试验
？高温寿命
(不工作)
3热神击
（蕴度循环）
4恒定加速度
t密封
.细检
6.粗检游
中间电参数
度向电流免费标准bzxz.net
正向电压
辐射强度
GR 9414A
CR 9414B
GR9414C
B老化
(正间偏盘）
9最后测试
（老化后72h
内进行)
正向电压
辐射强度
4.3鉴定检验
SJ 50033/41-94
表 1 筛选的步聚和条件(仅对 GT级)方
GJB 128
GJR 128
GJB128
CJB128
51 2355.3
SI 2658.2
GB 128
SJ 2658.2
+= 72h
除最高温度为100七，极限温度下的试验时间至少15min，裤环次数为10次外，其余按试验条件A
不工作，加速度：196000m/2，
方间：Y1。
试验条件H,如压时间2h。
试验条件C,检验指示液的源度：100±5℃。
Ie = 30m4
r=30mA
fp= 50mA,=96h
1g-30ml
Tp=30mA
鉴定检验应包括表2、3 和4中规定的检验和试验。4.4质量--致性检验
极限他
最小丨最大
潮率≤10mPacm/s
初始值的20%
质量一致性检验应包括A，B和C组中规定的检验和试验，以及下面的规定。4.4.1如果造厂选择下面的方法做试验，那么应在做相应的B组试验之前，指定C组检验中使用的样品，而且计算C组检验接收或拒收的失效器件数应等于B组检验中指定维续做C组检验的样品中出现的失效器件数加上C组检验中出现的失效器件数。SI 50033/41- 94
在做C组检验中的稳态工作寿命试验时，制追厂可以选择将已经过340hB组稳态工作寿命试验的全部或部分样品再进行660h寿命试验，以满足C组寿命试验1000h的要求。4.4.2C组检验应在初始批时开始进行,然后在生产过程中每隔6个月进行一次。如果合同中已作规定（见6.2），那么制造厂应将质量一致性检验数据连同产品一起提供。4.5检验和试验方法
检验和试验方法按表 2、表 3、表4 和表 5 的规定,并对另外一些细节作如下规定。4.5.1稳态工作寿命
器件处于最大定电流为 50mA直流的正向偏置。4.5.2标志耐久性
管体上有标志的所有部位都要被刷上溶液，试验后，这些部位不得有机械摄伤痕迹，面且标志仍清楚。
表 2 A组检验
验验和试验
Al分组
外观和机械检验
A2分组
辐射强度
GR 9414A
GR 9414B
GR 9414C
泛向电流
正向电流
A3分纽
高温：
反向电筑
低谥：
正向电压
A4分组
总电容
A8分组
峰值发射渡长
光尨帮射带宽
GJB [28, 2071
SI/2 9014.2
SI 2355.3
SI 2658.2
SJ 2355.3
SJ 2658.4
SJ 2658. 12
51 2658. 12
Ip=30mA
1z = 30mA
Tenib = 100℃
Tmb - 55C
Te-30mA
f= 1MHz
i=30mA
Ip=30mA
极限值
外观无缺陷,键
层无明显锈蚀。
每批检验
一个,零
TKAONKAca-
检验和试验
B1分组
可焊性
标志的耐久性
B2分组
热冲击
(温度循环)
a.细检荐
b.粗检漏
最后测试
E3分组
秘态工作寿命
最后测试
B6分组
高寿节
(不作)
最后测试
检验和试验
C1分组
外形尺寸
2分组
热冲击
(璇璃应力)
引出端强度
b、细检漏
b.粗检讯
综合避度/湿度固期试划
外戏及机械检验
SI 50033/41--94
表 3 B组检验
GIB128
除最高温度为 100C,极限温度下的试验时间至少 15min 外,其余按试验条件 A试验条许H,加压时间2h,试验结束后测试氮滞枣大于IUm.Pa*cm/s的器作为不合格。
试验条件C,检验招示液的温度：10u±5C。见本规范表5步案1、2和3
Is- 50mA
见规范表5步案4
Trmb=100℃
见本规范表5步案4
表 4 C组检验
GJB128
无图1
试验条件 A
试验条件H.加压时间2h,试验结束后.测试氨漏率大于10mPa*cm/s的器件为不合格。
试验条件心
省略初始象件
外观无块损，镀层无明显锈蚀。见本视范表S步聚1、2和3折
检验和试验
C3分组
交频振动
恒定加速度
最后测试
C4 分组
（适用时）
C6分组
稳态丁作寿命
C7分组
(适用时)
正向熙态峰电流
最后测试
检验和试验
反向电流IR
正向电压Ve
辐射强度1。
GR 9414A
GR 9414B
GR9414C
辐射强度1。
GR 9414A
GR 9414B
GR 9411C
5交货准备
SJ 50033/4194
GIB128
不T.作，加速度：14700m/s*，脉冲持续时间：0.5ms1X1、Y1方向各冲击5次。不工作。
不工作，加速度：196000m/子，方向；Y1见表5步案1,2和3。
I, = 50mA(见 4.4. 1)
见表5步聚4。
*。=1，每秒300个脉冲
试验时间:5g
见表5步聚4。
表 5 R组和 C组电测试
SI 2359.3
SJ/2 9014,2
SJ/2 9014.2
Ir-30mA
Ir=30mA
T,=30mA
包装、贮存和运输要求应按B33的规定。最
极朗值
-rKAONKAca-
6说明事项
6.1预定用途
SJ 50033/4194
主要用作遥控光源、烟雾检测器光源、光学编码器、光断路器和光隔离器等。6.2订货文件内容
合同或订单中应写明卜列内容：a，本规范的名称和编号：
b。器件型号和等级；
c.数量：
如果引线不是镀金，应规定镀原(见3.3)；d.
如要引线长度不同于图1.应规定引线长度（见3.2.4)；e.
f.检验数据(见.4.4.2)：
g：其它。
6.3定义
本规范使月有符号和定义符合GJB33，SJ/7.9014.2和下列规定：IFu—--正向瞬态峰值岛流。
附加说明：
本规范出中国电子技术标难化研究所归口。本规范由电子工业部第阿十四研究所，苏州半导体总厂起草。本规范主要起草人：王雨苏、李春芳、周慈平、陈镊萍。1划项目代号：J11008。
YIKAONIKAca-
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SJ 50033/41-94
GR9414型半导体红外发射二极管详细规范
Detail specification for type GR9414semiconductor infrared light eitting diode1994-09-30发布
中华人民共和国电子工业部批准1994-12-01实施
中华人民共和国电子行业军用标准GR9414型半导体红外发射二极管详细规范Detail specification for type GR9414Semiconductor infrared light erniting diade1范围
1.1主题内容
SJ50033/41-94
本规范规定了GR9414型半导体红外发射二极管(以下简称器件)的详细要求。1.2适用范围
本规范适用于器件的研制，生产和采购。1.3分类
1.3.1器件型号
按输出光功率不向，器件分为GR9414A、GR9414B和GR9414Cc1.3.2器件的等级
按照GJB33（半导体分立器件总规范）的提定，提供产品保证等级为警军和特军两个等级,并分别用字母GP和CT表示。
2引用文件
GIR 33--8S
GJB 128—86
SI 2355.3—83
ST 2658—86
半导体分立器件总规范
半导体分立器件试验方法
率导体发光器件测试方法反向电流的测试方法半导体红外发光二极管测试方法SJ/Z9014.2—87半导体器件分立器件和集成电路第五部分：光电子器件3要求
3.1详细要求
各条要求应按照 GJB 33 和本规范的规定。3.2·设计、结构和外形尺寸
器件的设计、结构应控照GJB 33和本规范的规定。外形尺寸应符合图1的规定。中华人民共和国电子工业韶1994-09-30发布1994-12-01实施
YrKAOKAca
图1外形尺寸
3.2.1半导体芯片材料
SJ 50033/4194
半导体芯片材料为神化镓(GaAs)3.2.2引出端排列
引出端排列应符合图2的规楚。
：A间！
图2引出端排列
3.2.3封装形式
器件为全密封金属外壳玻璃透镜窗口封装，如图3所示。轰端透镜
金属外壳
3.2.4引线长案
封装形式
最小值标称值
最大值
SJ50033/41--94
可按合同的规定（现6.2)提供引线长度不同于图1规定的馨件。3.3线材料及涂
引线材料为可伐合金，引线涂层应镀金，也可按照合同要求（见6.2)镀锡。3.4最大额定值和主要光电特性
3.4.1最大额定值
主：1)脉严宽度1rs，每秒300个脉冲。3.4.2主要光电特性（Tmb-25℃）参
测试条件
极限值
GR9414A
GR94148
GR9414C
3.5标志
正向电压
It=30A
最大值
反向电流
殷大值
辐射强度
(mw/Sr)
IF= 30mA
最小值
- 55 -- 100
峰值发射波长
f,30mA
典型值
制造可以将GIB33第3.7条规定的下列标志从管体上省略：目。制造厂的识别。
4质量保证规定
4.1轴样和检验
抽样和检验应按照 GJB 33和本规范的规定。4.2筛选（仅对GT级）
55 ~100
光谱辐射
Ig=30mA
典型值
总电容
f = 1MHz
最大值
GT级器件应按表1中规定的步和条件进行百分之百的筛选试验。批中所有器件都应进行表2中I.、I。和V三个参数的测试。并将测试结果记录下来。所有器件都应标明序号，以便老化试验后做参数的最终测试。老化前经密封试验或I.、I和Ve参数测试失效的器件应从批中别除，且在批记录中记录失效器件的序号。老化后超过A极限慎的所有器件应从批中别除，且在批记录中记录失效器件数和序号。如果老化后有10%或更多的器件失效，测整个批不能作为GT级产品交货。3
TKAoNiKAca
整验和试验
？高温寿命
(不工作)
3热神击
（蕴度循环）
4恒定加速度
t密封
.细检
6.粗检游
中间电参数
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正向电压
辐射强度
GR 9414A
CR 9414B
GR9414C
B老化
(正间偏盘）
9最后测试
（老化后72h
内进行)
正向电压
辐射强度
4.3鉴定检验
SJ 50033/41-94
表 1 筛选的步聚和条件(仅对 GT级)方
GJB 128
GJR 128
GJB128
CJB128
51 2355.3
SI 2658.2
GB 128
SJ 2658.2
+= 72h
除最高温度为100七，极限温度下的试验时间至少15min，裤环次数为10次外，其余按试验条件A
不工作，加速度：196000m/2，
方间：Y1。
试验条件H,如压时间2h。
试验条件C,检验指示液的源度：100±5℃。
Ie = 30m4
r=30mA
fp= 50mA,=96h
1g-30ml
Tp=30mA
鉴定检验应包括表2、3 和4中规定的检验和试验。4.4质量--致性检验
极限他
最小丨最大
潮率≤10mPacm/s
初始值的20%
质量一致性检验应包括A，B和C组中规定的检验和试验，以及下面的规定。4.4.1如果造厂选择下面的方法做试验，那么应在做相应的B组试验之前，指定C组检验中使用的样品，而且计算C组检验接收或拒收的失效器件数应等于B组检验中指定维续做C组检验的样品中出现的失效器件数加上C组检验中出现的失效器件数。SI 50033/41- 94
在做C组检验中的稳态工作寿命试验时，制追厂可以选择将已经过340hB组稳态工作寿命试验的全部或部分样品再进行660h寿命试验，以满足C组寿命试验1000h的要求。4.4.2C组检验应在初始批时开始进行,然后在生产过程中每隔6个月进行一次。如果合同中已作规定（见6.2），那么制造厂应将质量一致性检验数据连同产品一起提供。4.5检验和试验方法
检验和试验方法按表 2、表 3、表4 和表 5 的规定,并对另外一些细节作如下规定。4.5.1稳态工作寿命
器件处于最大定电流为 50mA直流的正向偏置。4.5.2标志耐久性
管体上有标志的所有部位都要被刷上溶液，试验后，这些部位不得有机械摄伤痕迹，面且标志仍清楚。
表 2 A组检验
验验和试验
Al分组
外观和机械检验
A2分组
辐射强度
GR 9414A
GR 9414B
GR 9414C
泛向电流
正向电流
A3分纽
高温：
反向电筑
低谥：
正向电压
A4分组
总电容
A8分组
峰值发射渡长
光尨帮射带宽
GJB [28, 2071
SI/2 9014.2
SI 2355.3
SI 2658.2
SJ 2355.3
SJ 2658.4
SJ 2658. 12
51 2658. 12
Ip=30mA
1z = 30mA
Tenib = 100℃
Tmb - 55C
Te-30mA
f= 1MHz
i=30mA
Ip=30mA
极限值
外观无缺陷,键
层无明显锈蚀。
每批检验
一个,零
TKAONKAca-
检验和试验
B1分组
可焊性
标志的耐久性
B2分组
热冲击
(温度循环)
a.细检荐
b.粗检漏
最后测试
E3分组
秘态工作寿命
最后测试
B6分组
高寿节
(不作)
最后测试
检验和试验
C1分组
外形尺寸
2分组
热冲击
(璇璃应力)
引出端强度
b、细检漏
b.粗检讯
综合避度/湿度固期试划
外戏及机械检验
SI 50033/41--94
表 3 B组检验
GIB128
除最高温度为 100C,极限温度下的试验时间至少 15min 外,其余按试验条件 A试验条许H,加压时间2h,试验结束后测试氮滞枣大于IUm.Pa*cm/s的器作为不合格。
试验条件C,检验招示液的温度：10u±5C。见本规范表5步案1、2和3
Is- 50mA
见规范表5步案4
Trmb=100℃
见本规范表5步案4
表 4 C组检验
GJB128
无图1
试验条件 A
试验条件H.加压时间2h,试验结束后.测试氨漏率大于10mPa*cm/s的器件为不合格。
试验条件心
省略初始象件
外观无块损，镀层无明显锈蚀。见本视范表S步聚1、2和3折
检验和试验
C3分组
交频振动
恒定加速度
最后测试
C4 分组
（适用时）
C6分组
稳态丁作寿命
C7分组
(适用时)
正向熙态峰电流
最后测试
检验和试验
反向电流IR
正向电压Ve
辐射强度1。
GR 9414A
GR 9414B
GR9414C
辐射强度1。
GR 9414A
GR 9414B
GR 9411C
5交货准备
SJ 50033/4194
GIB128
不T.作，加速度：14700m/s*，脉冲持续时间：0.5ms1X1、Y1方向各冲击5次。不工作。
不工作，加速度：196000m/子，方向；Y1见表5步案1,2和3。
I, = 50mA(见 4.4. 1)
见表5步聚4。
*。=1，每秒300个脉冲
试验时间:5g
见表5步聚4。
表 5 R组和 C组电测试
SI 2359.3
SJ/2 9014,2
SJ/2 9014.2
Ir-30mA
Ir=30mA
T,=30mA
包装、贮存和运输要求应按B33的规定。最
极朗值
-rKAONKAca-
6说明事项
6.1预定用途
SJ 50033/4194
主要用作遥控光源、烟雾检测器光源、光学编码器、光断路器和光隔离器等。6.2订货文件内容
合同或订单中应写明卜列内容：a，本规范的名称和编号：
b。器件型号和等级；
c.数量：
如果引线不是镀金，应规定镀原(见3.3)；d.
如要引线长度不同于图1.应规定引线长度（见3.2.4)；e.
f.检验数据(见.4.4.2)：
g：其它。
6.3定义
本规范使月有符号和定义符合GJB33，SJ/7.9014.2和下列规定：IFu—--正向瞬态峰值岛流。
附加说明：
本规范出中国电子技术标难化研究所归口。本规范由电子工业部第阿十四研究所，苏州半导体总厂起草。本规范主要起草人：王雨苏、李春芳、周慈平、陈镊萍。1划项目代号：J11008。
YIKAONIKAca-
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