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SJ 50033.72-1995

基本信息

标准号: SJ 50033.72-1995

中文名称:半导体分立器件 PIN323型PIN二极管详细规范

标准类别:电子行业标准(SJ)

标准状态:现行

出版语种:简体中文

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标准内容

中华人民共和国电子行业军用标准FL5961
SJ 50033/72 - 1995
半导体分立器件
PIN323型PIN二极管详细规范
Semiconductor discrete deviceDetail specification of type PIN323 series for PIN diode1995-05-25发布
1995-12-01实施
中华人民共和国电子工业部批准中华人民共和国电子行业军用标准半导体分立器件
PIN323型PIN二极管详细规范
Seniconduclor discrete deviceDetail specification of typePIN323 series for PIN diode1范围
1.1主题内容
SI 50033/721995
本规范规定了PIN323型PIN三极管(以下简称器件)的详细要求。1.2适用范围
本规范适用于器件的研制、生产和采购。1.3分类
本规范根据器件质量保证等级进行分类。1.3.1器件的等级
按GIB33<半导体分立器件总规范)1.3条的规定,提供的质量保证等级为警军,特车和超特军三级。 分别用字母 GP、GT 和 GCT 表示。2引用文件
GB6570—86微波二极管測试方法半导体分立器件总规范
GJB 33--85
GJB128—86半导体分立器件试验方法GIB1557--92半导体分立器件微波二极管外形尺寸3要求
3.1详细要求
各项要求应符合GIB33和本规范的规定。3.2设计,结构和外形尺寸
器件的设计、结构和外形尺小应按GJB33和本规范的规定。3.2.1引出端材料和涂层
引出端材料应为铁镍钻合金,表面涂层应为金。3.2.2器件结构
器件是以硅为材料,采用正外延、掩蔽扩散制成的平面结构二极普3.2.3外形尺寸
中华人民共和国电子工业部1995-05-25发布1995-12-01实施
YIKAONKAca-
ST50a33/72-1995
外形尺寸按GJ1557的W22-01型,见图1和图2。负极标记
0.55 0.6s
1.98 2.18
0. 550.65
3.3最大额定值和主要电特性
3.3.1最大定值
PIN323
主要电特性(T *25C)
PIN323A
PIN323B
Ve=50V
3.4电测试要求
峨大位
Ir- SOmA
=10kHz
最大值
SJ50033/72-1995
VR= 30V
f=1MHz
暴小值
电测试应符合GB6570及本规范的规定。3.5标志
- 55 -[25
Ip=50mA
I = 50mA
Ie/fr=1/6
F-100MH
典型值
- 65 -175
外形尺
典型值典型值
包装盒上的标志应符合GJB33的规定。器件上不打标志,极性按图1和图2的规定。4质量保证规定
独释和检验
抽样和检验按 GJB 33 的规定。4.2鉴定检验
鉴定检验按 GJB 33 的规定。
4.3筛选(对GT和GCT级)
筛选应按GJB33表2和本规范的规定。其测试应按本规范表1的规定进行,超过本规范表1极限值的器件应予别除。
(见 GIB 33 表 2)
3热冲击
7中间测试
8电老化
9最后测试
试验方法
GJB 128
测试和试验
除循环20次外,其念同试验录件F。IeCe
1△Cu ≤0.02pF
其他参数:按本规范表1和A2分组TTKAONKAca-
4.3.1电老化
SI50033/72-1995
TA=125C.加矩形脉冲信号,V=15V,Iz=50mA.频率200Hz,占空比,15%。4.4质量一致挂检验
4.4.1A组检验
A组检验应按GJB33和木规范表1的规定进行。4.4.2B组检验
B组检验应按GJB33和本规范表2的规定进行。4.4.3C组检验
C组检验应按GJB33和本规范表3的规定进行。4.5检验和试验方法
检验和试验方法应按本规范相应表的规定。表1A组检验
检验或试验
A1分组
外观和机械试验
A2 分组
总宅容
反向电流
上向微分电阻
A3 分组
低温工作
反向电流
高混工作
反向电流
A4 分组
反向快复时间
检验或试验
B1分组
可焊性
B2分纪
热冲击(温度循环)
GJ6 128
GE 6570
Vr= 30V J= IMHz
VR-50V
Ir= 50mA f- 10kHz
TA=-55
Ik=ipA
T.= 125c.
VR= 50V
Iz=50mA
J/1^-1/6
表 2 B 组检验
GJB128
试验条件F-11≥10min
极限值
最小值最大值
检验或试验
、细检漏
b、粗检漏
最后测试:
B3分组
稳态工作寿命
最后测试
6分组
高温寿俞(非工作状态)
最后测试:
检验或试验
C1分组
外彬尺寸
C2分组
热冲击(玻璃应力)
张端强度
a、细检漏
b、粗检漏
综合温湿度/湿度周期试验
外现及机械检验
最危测试:
ra分组
变频报动
福定加速度
最后测试:
SJ 50033/72 --1995
续表2
GJB128
试验条件H
最大漏世率5mpa*cm/s
试验条件 C
见表4步骤1、2
340h,T,=85t,加短形冲俏号
反向电压15V,正面电流50mA,200Hz,占空批 15 %
见表 4 步骤 1、2.3.4
I = 175t.340h
见表 4步骤1,2、3.4
表 3 C组检骑
GJB 128
见图1和图2
试验条件 AwwW.bzxz.Net
试验条件E加力:0.833N
试验条件 H,最大满泄率
5mPa'cm'/s
试验条件心
省璐预处理
见表 4步要 1、2
14700m/:'(1500g),0.5m3
在X、Y、Z的每个方向上冲击S次196000m/:(20000g)
见表 4 步骤 1、2
TTKAONKAca
检验或试验
C4分组
垫气(婴求时)
C5 分组
稳态工作寿命
最后凝试:
反向电流
正向微分电阻
总电容变化量
正问微分自医变化量
5交货准备
5.1创装要求
SI 50033/72 - 1995
续表3
GJB128
1000h, TA= 85C,
其余条件同 B3 分组
更表 4步骤 1、2,3,4
表 4B组和 C组的测试
GB 6570
包装要求应按 GJB33的规定。
5.2贮存要求
亡存要求应按 GJB 33 的规定。5.3运输要求
运输要求应按GJB33的规。
6说明事项
6.1 预定用途
VR=50V
f=10kHz
Ve=30V
f-1MHz
Iμ= 50mA, f - 10kHz
极限值
最小值
最大值
1ACI初
始值的10%
符合本规范的器件供新备设计使用和供现有设备的后勤保障用。6.2订货资料
合同或订货单应规定下列内容:1.本规的名称和编号:
b。等级(见本规范1.3.1):
c.数量;
d。需要时,其他要求。
SJ50033/72--1995
6.3对引出端材料和涂层有特殊要求,应在合同或订货单中规定(见3.2.1)。如使用单位需要时,典型特性典线等可在合同或订货单中规定。附加说明:
本规范由中国电于技术标准化研究所归口。本规范由电子工业部第五十五研究所起草。本规范主要起草人:吴连、程耀沃、金贵永。计划项目代号:B21026。
YrKAoNiKAca
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