SJ 50033.121-1997 半导体分立器件 CS3458～CS3460型硅N沟道结型场效应晶体管详细规范 SJ50033.121-1997 标准下载解压密码：www.bzxz.net

中华人民共和国电子行业军用标准FL5961
SI 50033/121--97
半导体分立器件
CS3458~CS3460型
硅N沟道结型场效应晶体管
详细规范
Semiconductor discrete devicesDetail specification for type CS3458~CS3460silicon N-channef junction mode field-effect transistors1997.06-17发布
1997-10-01实施
中华人民共和国电子工业部批准中华人民共和国电子行业军用标准半导体分立器件
CS3458~CS3460型
硅N沟道结型场效应晶体管
详细规范
Semiconductor discrete devicesDetail specification for type CS3458~CS3460silicon N-channel junction mode field-effec1 iritnsistors1范围
1.1主题内容
SJ 50033/121—97
本规范规定了CS3458～CS3460型硅V沟道结型场效应晶体管（以下简称器件)的详细要求。
1.2适用范圈
本规范适用干器件的研制、生产和采购。1.3分类
本规范根据器件质量保证等级进行分类。1.3.1器件的等级
按照GJB33-85(半导体分立器件总规范>1.3条的规定，提供的质量保证等级为普年、特军和超特军三级，分别用字母GP、GT和GCT表示。2引用文件
GB4586--94场效应晶体管测试力法GB7581-87半导体分立器件外形尺寸半导体分立器件总规范
GJB33-85
GJB128--86半导体分立器件试验方法3要求
3.1详细要求
各项要求应按GJB33和本规范的规定。3.2设计、结构和外形尺寸
设计、结构和外形尺寸应按GIB33和本规范的规定：中华人民共和国电子工业部1997-06-17发布1997-10-01实施
TYKAOKAca-
3.2.1引出端材料和镀涂层
SJ50033/121-97
引出端材料应为可伐。引出端表面镀涂层应为镀金、镀锡或浸锡。对引出端涂层要求选择或另有要求时，在合同或订货单中应明确规定(见6.3)。3.2.2器件结构
采用硅N沟道耗尽型结型结构。
3.2.3外形尺寸
外形尺寸按GB7581中的A3-01B型及如下规定，见图1。ra
引出端极性:I-S(源极)
2-极）
图1外形尺寸图
3.3最大额定值和主要电特性
3.3.1般人额定值
P. (TA-25C)
注：1)T>25时，接1.7mW/K的速率线性降额。3.3.2主要电特性（T,25℃)
B2—01B
3-极）
-55-·200
[Yzisi
3.4电测试要求
SI50033/121+97
测试条件
Vng~20V
Vrs 20V
Vrs-10V
Vcs = 0
f=20Hz
Vrs=20V
Vus= 0
f=1kHz
电测试应符合GB4586及本规范的规定。3.5标志
标志应符合 GJB 33的规定。
4质量保证规定
4.1抑样和检验
抽样和检验应按GIB33和本规范的规定。4.2鉴定检验
鉴定检验应按 GJB 33的规定。
4.3筛选（仅对GT和GCT级）
CS3458
CS3459
CS3460
CS3458
CS3459
CS3460
CS3458
CS3459
CS3460
CS3458
C93459
CS3460
极限值
最小值
筛选应按GJB33表2和本规范的规定进行，其测试应按本规范表1的规定进行，超过本规范表1极限值的器件应予剔除。筛
（GJB33表2）
闪部目检(对幅前)
2高温寿命(LTPD)
3热冲击
（温度裤环）
试验方法
方法号
GJB128
T- 200℃,t224h
除低溢应为一55℃，循环2U次，1（极限值）>10min外，其余同试验染件C.25℃时不要求有规则的停顿。
TKAONKAa-
(GJB 33 表 2)
恒定加速度
5密封
6高温反偏
7中问电数测试
8老炼
(高温反偏）
9最后测试
a.细检瀚
b.粗捡漏
11外观及机械检验
4.4质量一致性检验
试验方法
方法号
GJB128
SJ 50033/121--97
Y,方向至少196000m/：(20000g)不采用1分钟保持时间的要求。
不要求
不要求
Icss1)和 Irs同A2分组
「Y21slen间A4分组
试验条件 A
Vcs --40V, Vrs=0, TA= 150t, t=168h见本规范表1的A2分组：
初始值的10%
4[Yzislas奶始慎的2U%
a.试验条件H满率≤5×10-Pacm/sb.试验条件C
标志清晰，外观无缺摄，涤尽无锈蚀。质量一致性检验应按 GJB 33 的规定进行,4.4.1A组检验
A组检验应按GJB33和本规范表1规定进行。4.4.2 B组检验
B组检验应按GJB33和本规范表2规定进行。最后测试和变化量（4）要求应按本规范表4的步骤进行。
4.4.3C组检验
C红检验按 GJB 33 和本规范表 2 规定进行。最后测试和变化基(△)要求应按本规范表4的步骤进行。
4.5检验和试验方法
检验和试验方法应按本规范捐应的表和下列规定。4.5.1脉冲测试
脉冲测试应按GJB 128 的3.3.2.1的规定进衔。检验或试验
A1分组
外观和机械检
A2分组
棚－源击穿电压
栅极截止也流
零神压混极电流
CS3458
CS3459
CS3460
栅一源截电压
CS3458
CS3459
CS3460
A3分组
高溢工作
栅极截止电流
A4 分
小信号共源路
正向传输跨导
CS3458
CS3459
CS3460
小信孕共源短路
传输跨导
CS3458
CS3459
CS3460
GJB128
SI 50033/121-97
表 1 A组检验
GB4586
本规范附录AVps=0
Ta= -luA
Vcs= - 30V
Vos=20V
脉冲法
Vrs=20V
Jn=IμA
T,=1s50
Ves=-30V
Vos=20V
Vos=0 f-1kHz
脉神法
（见4.5.1)
Vrs=30V
Vcs=0f- lkHz
VeR)GS
Vcstetv
Iess(2)
TY21sln
IY22sl
极限值
最小值最大值
标志清晰，外观
无缺损，徐层无
锈蚀。
TTKAONKAa-
检验或试验
小倍号共源短路
输入电容
CS3458
CS3459
CS3460
小信号共源短路
反馈电容
CS3458
CS3459
CS3460
噪声电压
CS3458
CS3459
CS3460
A5 即 A6 分组
不适用
A7分组
低温工作
小信导共源短路
正阿传输跨导
CS3459
C53466
SJ 50033/121-97
续表1
GB4586
Vrs=fl, Vcs = - 10V
f=1MHz
Vt=0, V= -6V
f=1MHr
V-0, Vas = - 4V
f=IMhz
Vrs = 30, Ves -0
f=lkHe
Vrs= 10, Vrs = 0
f=20Hz
TA=-SSC
Vrs = 20V, Vcs = 0
f=1kHz
腺冲法
(见 4.5.1)
lYzusle2)
极限值
最小值
最大值
检验或试验
B1分组
可捍性
标志耐久性
B2分组
（温度循环）
目.细检漏
h.粗检满
最后测试
133 分组
稳态工作寿命
(高温反偏）
最后测试
B4 分组
开帽内部目检
(设计核实）
链合强度
E35 分组
不适用
136分组
高温寿(不工作
最后测试
SJ50033/121-97
表 2 B组检验
GJB128
受试引出端数：3
除低温应为~55℃外,其余同试验条件C-1。
：a.试验条件H.最大漏率为
5×10-°Pe*cm'/g。
b,试验条件 C
见表 4,步骤 1、3 和 4
Vcg - - 40V, Vrs = (
Tx=150t 1=340h
见表 4, 步 2.3、4 和 5
目检标准按鉴定时的设计
试验条件A,每个器件所有
的内引线分别进行拉力试验。
TA-200℃ 1=340h
见表 4,步骤2 和 5
每批一个器件/0失效
20(c=0)
TTKAONKAa-
梭验或试验
CI分组
外形尺寸
C2分组
热神击
【玻璃应力）
引出端强度
a.细检漏
b.粗检漏
综合温度/度周期试验
外观及机械检验
最后测试
C3分组
变频振动
恒定加速度
最后测试
C4分组
(适用吋)
C5分组
不适用
C6分组
稳态工作寿命
（高温反偏）
最后测试
5交货准备
SJ50033/121-97
表3C组检验
GJB128
见图！
试骏条件A
试验条件E
a,试验条件H,最大漏率为
5×10-IPa*cm*/5s
b.试验条作C
省略预处理条作
标志清晰，外观无缺提，涂层无锈蚀。见表4. 步骤1、3和 4
不工作，按14700m/
(1500g)0.5m在X,Y)
每个方向上冲击5次
方询;XiY,
加速度：196000m/s（20000g）免费标准下载网bzxz
1zlmin
见表4.步骤1、3利4
Vas=-40V.Vi=0
T150℃4=1000h
见表 4. 步骤 2.3、4 和 5
概极截止电流
栅极截止电流
零栅压漏极电流
CS3458
C53459
CS3460
小信导共虚路
正向传药导
CS3459
CS3460
小作号头源短蹈
正问传翰跨导
SJ 50033/121—97
表4B组利C组的最后测试
GB4586
Vcs--30V
Ves = - 30V
Ves= 0
Vns= 20V
Vcs = 0
Vos20V
Vrs -0
f= 1kHt
Vps = 20 V
Vcs =
f-IxHz
1estt)
fusstsi
iY2sln
a/Yaislu\
注；1)对本试验超过A组极跟值的器件，不得向带户提供。5.1包装要求
包装费求应按GIB33的规定。
5.2要求
贮存要求应按GJR33的规定
5.3运输要求
运输要求应按GJB33的规定。
说明事项
6.1预定用途
极限值
最小值
最大值
初始值的25%
符合本规范的器件供新设备设计使用和供现有设备的后勤保障用。6.2货资料
合同或订货单中应规定下列内容：本规范的名称和编号：
等级(见1.3.1);
数量：
需要时,其他要求。
6.3对引出端材料有特殊要求时，应在合或订货单规定（见3.2.1）.如使用单位需要时，典型特性曲线等可在合同或订货单中规定。TTKAONKAa-
A1目的
SJ 50033/12197
附录A
栅一源击穿电压的测试方法
(补充件）
在规定条件下测试场效应普的樹一源击穿电压。A2电路图（见图A1)
A3要遵守的注意事项
A3.1一般注意事项（见GB4586第I章的1.2条）；A3.2电压表Vcs为商阳电压表。
A4测里步骤
把漏极和源极短路，从零开始逐渐调节训一源电医Vrs使栅极电流I为规定值。从电压表 VGs上洲得 V(BRJGSso
A5规定条件
环境温度Tamb=25℃；
栅极电源Ic=|A。
附加说明：
SJ50033/121-97
本规范由中国电子技术标准化研究所归口。本规范由国营第七四六厂起草。本规范主要起草人王
珍、徐锦仙。
计划项目代号：B51006
TYKAONT KAca-
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