SJ 50033.141-1999 半导体分立器件 2EK150型砷化镓高速开关二极管详细规范 SJ50033.141-1999 标准下载解压密码：www.bzxz.net

中华人民共和国电子行业军用标准FL5961
SJ 50033/141—1999
半导体分立器件
2EK150型化傢高速
开关二极管详细规范
Semiconductor discrete devicesDetail specification for type 2EK150GaAs high speed switching diode1999-11-10发布
1999-12-01实施
中华人民共和国信息产业部批准中华人民共和国电子行业军用标准半导体分立器件
2EK150型砷化镓高速开关二极管详细规范SJ50033/141-1999Semiconductor discrete devicesDetail specification for type 2EK150GaAs high speed switching diode1范围
1.1主题内容
本规范规定了2EK150型砷化镓高速开关极管（以下简称器件）的详细要求。1.2适用范围
本规范适用于器件的研制、生产和采购。1.3分类
本规范根据器件质量保证等级进行分类。1.3.1器件的等级
按GJB33A半导体分立器件总规范》1.3.1的规定，提供的器件质量保证等级为普军、特军和超特军三级，分别用字母JP、JT和JCT表示。2引用文件
GB/T6571--1995半导体器件分立器件：第3部分：信号（包括开关）和调整=极管
GJB33A—97半导体分立器件总规范GJB128A—97半导体分立器件试验方法3要求
3.1详细要求
各项要求应按GJB33A和本规范的规定。3.2设计、结构和外形尺寸
器件的设计、结构和外形尺寸应按GJB33A和本规范的规定，3.2.1引线材料和镀涂
引线材料为可伐，引线镀涂为镀金。3.2.2外完材料
外壳材料为金属/陶瓷封装材料。中华人民共和国信息产业部t999-11-10发布1999-12-01实施
ITKAONKAca-
3.2.3器件结构
SJ50033/141—1999
砷化GaAs外延材料，肖特基势垒扁平微带空腔封装3.2.4外形尺寸
器件的外形尺寸应按本规范的规定（见图1)。尺寸符号
3.3最人额定值和主要电特性
3.3.1最大额定值
·最人
尺寸符号
注：1）T,>25°C时，按0.35mA/°C线性降额。2
-55- [25
=55~150
3.3.2主要电特性（T-25°℃）
1=10 m4
最小值
最大值
3.4电测试要求
SJ 50033/141—1999
Ve=25 V
最小值
最人值
Ve=0 j-1 MH2
也测试应技GB/T6571及本规范的规定进行。3.5标悲
墩大值
1-10 mA, R=10kQ
VRm =6 V
最小值
最大值
根据器件的特点，只要求极性标志，按图1识别。器件包装盒上的标志应按GJB33A的规定。
质量保证规定
4.1抽样和检验
抽拌和检验应按 GJB 33A和本规范的规定。4.2鉴定检验
鉴定检验应按GJB33A和本规范表2、表3、表4和表5的规定。4.3筛选（仅对 JT级和 JCT级）筛选的步骤和条件应按 GJB 33A表2和本规范表 1的规定。其溅试应按本规范表 2的规定进行，超过表2极限值的器件应予除。表筛选
筛，选
1.内部目检（封帼前）
2.高温寿命
非工作寿命
（稳定烘焙）
3.温度循环
（空气一空气）
4.恒定川速度
a.细检漏
b.粗检漏
11.PDA的中间电测试和（A）变化显12.功率老炼
13.终点测试
PDA的中间测试也参数的（A）变化望
试验方法
Tre=150 °C, t-48 h
25°C时不要求停额，试验条件B.但高温为150°℃，循环20 次，「（在高、低温下的时间）>10 min。试验条许 B.Iesu=50 mA，n=4
Y！方向，加速度为196000m./ss，不要求保持1min。a.试验条件 H1:
b. 试验条件 C。
I,-25 °C, f=35 mA, t=96 h
≤10%IVD
区|≤0.5μA或100%IVD取较人者3-
KAOKAca-
4.4质抢一致性检验
SJ 50033/141---1999
质量一致性检验应按GJB33A和本规范的规定。4.4.1A组检验
A组检验应按GJB33A利本规范表2的规定进行。4.4.2B组检验
B组捡验应按GJB33A和1本规范表3的规定进行。4. 4. 3C组检验
C组检验应按GJB33A和本规范表4的规定进行。4.5检验和试验方法
捡验和试验方法应按本规范相应表的规定。表2A组检验
检验或试验
1分组(PPM-3)
目检和机械检验
2分组(PPM-2)
正向山压
反向电流
3 分组(PPM-2)
离温工作
反问电流
低温工作
正向电压
4分组(PPM-2)
总电容
反向恢复时间
5分组（不适用）
6分组(不适用）
GB/T 6571 第V章第 1 节
GJB128A
I,-10mA
Ya=25V
T-125℃
Ve=20V
T=-55°℃C
1=10mA
F-1MHz
I =10 mA
YRM=6 V
R=10k2
抽样方案
LTPD=5
拨限值
外观无嵌损引线无明品
锈馆。
检验或试验
1分组
可焊性
2分组
温度循环
(空一宠
a.细检漏
b.判检漏
终点测试
3分组
稳态工作寿命
终点测试
4分组
（不适用）
5分组
(不适用）
6分组
高溢寿命
（不工作）
终点测试
7分组！
恒定加速度
PIND（粒子碰撞噪声
终点测试
方法号
SJ 50033/141—1999
表 3B组检验
GJB128A
可用同一批中电参数不合格的样品抽样方案适用于要捡验的引线数，至少应试验3只器件。
在25°C时不要求停顿，试验条件B，但高温为150°C，循环25次，（在高、低下的时问）≥10 min。
试验条件B，Irs=50mA，m=4
a.试验条件HI;
b.试验条件 C。
表6步骤1、3
I, =35 mA, f=340 h, T,-25 °C表 6步骤2、4
Tar=150 °C t=340h
表6步骤2、4
Y1方向，翁少1min，抑速度为
196 000 m/s2
试验条件A。
表6 步骤 1、3
注：1）该试验仅适用于IT和JCT级器件。鉴定检验
和质量
致性检验
抽样方案
LTPD=15
LTPD=10
小批量的
质量·致
性检验
4 (C=0)
6 (C-0)
LTPD=512 (C-0)
LTPD=7
LTPD=10
12 (C=0)
6 (C=0)
TTKAONKAa-
检验或试验
1分组
物理尺寸
2分组
热神击
（液体—波体）
引线强度
（弯应力）
a.细检漏
b.粗检漏
外观检查
终点测试
3分组
扫频振动
恒定加速度！
终点测试
4分组
（不适用）
5分组[
（不适拥）
6分组
愁态工作寿命
终点测试bzxz.net
方法号
SJ 50033/141—1999
表4C组检验
GJB 128A
按本规范图1
试验条件A
试验条件F，加作月力为0.833N的重物，时间为155。
a.试验条件H1：
b. 试验条件 C。
省略预处理条性。
外观无缺损，引线无明显锈蚀。表 6步骤 1、3
不工作，按14700m/s，0.5ms在X1.Y1、1方上各冲击5次。
Yl 方向，至少 1 min，加速度为196 000 m/s*
表6步骤1、3
fg-35 mA -1 000 h
表6步骤2、4
注：1）当B组完成了此项试验时，在此不要求再进行。-6-
鉴定检验
和量一
致性险验
抽样方察
LTPD=15
LTPD-10
LIPD=10
小批量的
质显一致
性检验
6 (C=0)
6 (C=0)
6 (C-0)
12 (C=0)
检验或试验
1分组
體度循环
（空气—空气）
终点测试
2分组（不适用）
3分组（不适用）
4分组（不适用）
5分组（不适用）
正向电压
正向电压
反向电流
反向电流
5交货准备
5.1包装要求
SJ50033/141—1999
表5E组检验（全部质量等级）（仅供鉴定）GJB128A
在25°℃时不要求停烦，试验条件B，但产温为150℃，循环50次，t（在高、低温下的时间）≥10 min。表6步骤13
表6B组、C组和 E组的终点测试
GB/T6571第4章第1节
f=10 mA
4=10mA
Ve=25 V
包装要求应按GJB 33A的规定。
5.2贮存要求
贮存要求应按GJB33A的规定。
5.3运输要求
运输要求应按GJB33A的规定。
6说明事项
6.1预定用途
H于各种军用设备的开关电路中。6.2订货文件内容
合同或订单中应规定下死内容：本规范的名称和编号：
b、器件型号；
产品保证等级（见1.3.1)：
数量：
如果引线不是镀金，应规定镀层：符号
如果引线长度不同于图1，应规定引线长度：极限道
如果使用单位需要时，典型特性曲线等可在合同或订货单中规定：LTPD
TYKAOKAca-
需要时，其他要求，
附加说明：
SJ50033/141—1999
本规范由中国电子技术标准化研究所归口。本规范由长春市导体广负责起草。本规范主要起草人：陈
计划项目代号：B71008
朱云来：
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