SJ 50033.143-1999
基本信息
标准号:
SJ 50033.143-1999
中文名称:半导体光电子器件 GF1120型红色发光二极管详细规范
标准类别:电子行业标准(SJ)
标准状态:现行
出版语种:简体中文
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半导体
电子器件
红色
发光
二极管
详细
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标准简介
SJ 50033.143-1999 半导体光电子器件 GF1120型红色发光二极管详细规范
SJ50033.143-1999
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标准内容
中华人民共和国电子行业军用标准半导体光电子器件
GF1120型红色发光二极管详细规范 Semiconductor optoelectronic devicesDetail specification for type GF1120 red emitting diode1范围
{.1主题内容
本规范规定了GF1120型红色发光二极管的详细要求。1.2适用范围
SJ50033/143--1999
本规范适用于GF1120型红色发光二极管(以下简称器件)的研制、生产和采购。1.3分类
1.3.1器件等级
按GJB33A一-97《半导体分立器件总规范》的规定,提供的质量保证等级为普军级(JP)、特军级(JT)二级。
2引用文件
GB4590-84半导体集成电路机械利气候试验方法GB7581-87半导体分立器件外形尺寸GB1149989半导体分立器件文字符号GB/T15651-1995半导体器件分立器件和集成电路第5部分:光电子器件G3B33A—97半导体分立器件总规范GJB128A—97半导体分立器件试验方法SJ2355--83半导体发光器件测试方法3要求
3.1详细要求
每个器件的要求应按照GJB33A和本规范的规定。3.2设计、结构和外形尺寸
器件的设计、结构应按照G3B33A中3.5.2、3.5.3、3.5.4和3.5.6条及本规范的规定。外形尺寸符合本规范图1的规定。3.2. 1管芯材料
管芯材料为砷铝化镓/砷化GaAlAs/GaAs.中华人民共和国信意产业部1999-11-10发布1999-12-01实施
3.2.2外形尺寸及引出端识别
SJ50033/143--1999
外形尺寸见图1。长引线为出极:心
3.2.3封装形式
无色透明非空腔封装。
3.2.4引线长度
可按合同的规定(见6.2条)提供引线长度不同于本规范图1规定的器件。3.3引线材料和引线镀涂
引线材料为铁基合金或铜基合金,引线镀银,也可按照合同规定(见6.2条),3.4最大额定值和主要光电特性(Tamh=25°C)3.4.1最大额定值
最人额定值见表 1.
注:1)脉冲宽度为10ms,占空比为1/10。3.4.2主要光电特性
主要光电特性见表2。
-55~-100
-55100
TTKAONKAa-
发光强度
延向电派
峰值发射波长
光谱辐射带宽
反向电流
半强度
3.5标志
SJ 50033/143--1999
ff=20 mA
f=20mA
7=20m4
1f-20mA
VA=4 y
f=20 mA
根据器件的特点,省略GJB33A中关于器件上标惠的规定,其它按GJB33A的规定。4质量保证规定
4.1抽样和检验
抛样和椅验应按 GJB 33A和本规范的规定。4.1.1表4A1分组进行捡验和试验的样品可以用于A2、A3、A7分组的检验和试验,通过A组验的样品,可以作为B组和C组检验的试验抽样的母体。4. 1. 2在做 C组检验中的命试验时,可将 B组 340 h 寿命试验继续做到 1 000 h,以达到 C 组检验要求。
4.1.3表6C1分组进行检验的样品,如果光电特性符合A2、A7分组的要求则可以用于C2分组的检验和试验。
4.1. 4在做E组检验的度循环试验时,制造厂可以选择已经过B组25次循环的全部样品或部分样品再进行25次循环,以满足E组50次循环的要求。4.2筛选(仅对T级)
筛选的步骤和条件应按GJB33A和本规范表3的规定。表3筛选的步骤和条件
检验战试验
内部日检
(封装前)
高溢寿命
非工作寿命
【稳定烘】
温度循环
(空气—空气)
方法号
GJB128A
T=100℃
f=24 h
25°℃时不要求停顺,
试验条作A,但高温的
温度为100°℃,循环20
次,“在高。低温下的
时间)>10min
稳验或试验
恒定加速度
(不适用)
(不适用)
中间测试
(不适用)
高温反偏(HTRB)
(不适用)
PDA 的中测试
和(4)变化量
(见筛选13)
正向屯压
反向电流
发光强度
功率老炼
(正向偏置)
终点测试
PDA 中间测试的
光电参数和(A)变
正向电压变化盘的
绝对值
发光强度变化盈的
绝对值
(不适用)
方法号
SJ50033/143--1999
续表3
GJB 128A
GB/T15651
GB/T 15651
1=20mA
1=20mA,测试条件3
试验条件B,
1,=30 mA
f-96 h
必须去掉老炼条件后
的96 h内完成全部中
间光电参数和(A)变化
量的测试
=20 mA
I=20 mA
测试条件3
4.3鉴定检验
鉴定检验应按GJB33A和本规范表4、表5、表6和表7的规定。4.4质量一致性检验
质量一致性检验应包括A组(见表4)、B组(见表5)和C组(见表6)中规定的检验和试验,以及下面的规定。4.4.1C组检验应在初始批时开始进行,然后在连续生产过程中每隔6个月进行一次。4.4.2如果合同中已作规定(现6.2条),制造厂应将质量一致性检验数据连间产品一起提供。
TTKAONKAa-
4.5检验和试验方法
SJ 50033/143—1999
检验和试验方法按表4、表5、表6和表7的规定。表4A组检验
检验或试验
AI 分组(PPM--3)
日检和机械检验
A2分组(PPM—2)
正向电压
反向电流
发光强度
A3分组(PPM—2)
正向电压
反向电流
A7分组
峰值发射波长
光诺辐射带宽
半强度角
方法号
GJB128A
GB/T15651
GB/T15651
GB/T15651
除非另有规定
Tamt=25°℃
If=20 mA
I-20mA
测试条件3
Tmb=-5s℃
l=20mA
Tm=100℃
J=20 mA
p=20 mA
f=20 mA
无气泡、无裂
纹。外观无缺
抽方案
LTPD=5
116(C=0)
116(C-0)
LTPD-10
检验或试验
B!分红
B2分组
温度循环
(空气一空气)
终点测试
B3分纠
稳态工作寿命
终点测试
键合强度
B4分组
开增内部目检
【设汁核实)
B5分组
(不适用)
B6分组
高温命
(不汇作)
终点测试
B7分组
(不适用)
方法号
SJ50033/143—1999
表 5B组检验
GJB 128A
在 25 °℃ 下不要求窄频,试验条伴 A,但高温的温度为100℃,25次循环,(在高、低溢下的时间)≥10 min。
表8步骤1
T=30mAt+340 h
表8步骤2
采用封装前的样品。
采用封装前的样品。
Ta- 100°℃ += 340 h
表8步骤2
独样方案
LTPD-15
LTFD=10
LTPD-5
LTPD=10
1 (C=0)
LTPD-7
TKAONKAca-
检验或试验
C1分组
物尺寸
C2分组
温度冲游
(波体一液体)
州线强度
外观检查此内容来自标准下载网
终点测试
C3分组(不适用)
C4分组
盐气 (侵蚀)
(适周时)
C5分组(不适用)
C6 分红
稳态工作寿命
终点测试
C7分组
商压蒸汽
终点测试
C8分组
内部易燃性
终点测试
检验或试验
E1分组
溢度循环
(空气一空气)
终点激试
方法号
SJ50033/143-1999
表 6 C 组检验
GJB128A
按本规范图]。
试验条件A。
试验条件E。
省略预处理案件,
外观无缺损,无明显锈蚀,环氧树脂无裂纹。表8步骤1
f=30mAt=l 000 h
表8步骤2
GE4590
压:2.0×10°Pa,时间24 h。
GB4590
方法号
表8步骤2
表8步骤2
表7E组检验(仅供鉴定)
GJB128A
在25℃下不要求停顺,试验条件A,但离温的度为100°C,50次循环,(在高、低温下的时间)10min。
表步骤
抽样方案
LTPD=15
LTPD=10
LTPD-15
LTPD-15
LTPD=20
抛样方案
LTPD=10
正向电压
反向电流
发光强度
正向电压
反向电流
发光强度
SJ50033/143—1999
表8 B组、C组和E组的测试
GB/T 15G651
SJ 2355.2
GB/T 15651
1g=20 mA
fr=20 mA
测试条件3
I=20 mA
p=20mA
测试条件3
注:1)对本试验超过A2分组极限值的器件不能向用户提供。5交货准备
包装、贮存和运输要求应按GJB33A的规定。6说明事项
6.1预定用途
器件用丁各种军事仪器设备中的显示器及其它备种用途的电了仪器设备中的显示器和指示器。
6.2订货文件内容
合同或订单中应载明下列内容:a
本规范的名称和编号:
器件的型号和等级;
如果引线材料不同于本规范,应规定引线材料(见3.3条);如果引线不是镀银,应规定镀层(见3.3条):如果引线长度不同于图1,应规定引线长度(见3.2.4条):f.
检验数据(见4.4.2条):
如果订货文件耍求,应提供器件的特性曲线。h.
6.3定义
本规范使用的定义和符号应按GJB33A、GB/T15651、GB11499和IGB7581的规定附加说明:
本规范由中国电子技术标准化研究所归口。本规范由由长春市导体厂负责起尊。本规范士要起草人:陈兰。
计划项国代号:B71022。
KAOKAca-
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