SJ 50033.145-2000
基本信息
标准号： SJ 50033.145-2000
中文名称：半导体分立器件 3DA503型硅微波脉冲功率晶体管详细规范
标准类别：电子行业标准(SJ)
标准状态：现行
出版语种：简体中文
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相关标签： 半导体 分立 器件 微波 脉冲功率 晶体管 详细 规范
标准分类号
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出版信息
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标准简介
SJ 50033.145-2000 半导体分立器件 3DA503型硅微波脉冲功率晶体管详细规范
SJ50033.145-2000
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标准内容
中华人民共和国电子行业军用标准FL5961
SJ50033/145—-2000
半导体分立器件
3DA503型硅微波脉冲功率晶体管详细规范
Semiconductor discrete devicesDetail specification for type 3DA503silicon microwave pulse power transistor2000-10-20发布
2000-10-20 实施
中华人民共和国信息产业部批准中华人民共和国电子行业军用标准半导体分立器件
3DA503型硅微波脉冲功率晶体管详细规范
Semiconductor discrete devicesDetail specification for type 3DA503silicon microwave pulse power transistor1范围
1.1主题内容
SJ50033/145—2000
本规范规定了3DA503型硅微波脉冲功率品体管（以下简称器件）的详细要求。1.2适用范围
本规范适用丁器件的研制、生产和采购。1.3分类
本规范根据器件质量保证等级进行分类1.3.1器作的等级
按GJB33A一97《半导体分立器件总规范1.3条的规定，提供的质量保证等级为当军级、特军级和超特军级。分别用字母JP、JT和ICT表示。2引用文件
GB/T4587—94导体分立器件和集成电路第7部分：双极型品体管GB/T7581—87半导体分立器件外形尺寸GJB33A—97半导体分立器件总规范GJB128A--97平导体分立器件试验方法3要求
3.1详细要求
各项要求应按GJB33A和本规范的规定：3.2设计和结构
器件的设计和结构应按GJB33A和本规范的规定。3.2.1引端材料和镀涂层
发射极和集电极引出端材料为可伐合金带，基极引出端为。引出端表面镀金。中华人民共和国信息产业部2000-10-20发布2000-10-20实施
TTTKAONTKAca-
3.2.2器件结构
SJ50033/145—2000
本器件是采用硅外延平面结构的NPN型品体管，并具有阻抗匹配网络3.2.3外形尺寸
外形尺寸基本上与GB/T7581B2—09B相同，仪有L、0、U,不同，外形尺寸见图1。mm
E—发射极B一战极C—集电极
图1外形图
3.3最大额定值和主要电特性
3.3.1最大额定值
参数及
极限值
3DA503
Te=25 °℃
注：1）7>25°℃时按0.29WK线性降额。Ie
过激励
2）全相位抗失配在:540MH2和610 MHz两点拉驻波（Pn≥70 W)。2 -
-65·~200
主要电特性（T,-25°℃）
3DA503
Ver=s V
fe=2 A
晟小！最大
注：1）直流法测试。
3.4溅试要求
fg=300 mA
J 50033/145--2000
Ves-37 V
Vox=37V，f540~610MHz
P,-10W
tp=500 μs, D=15%
心测试应符合GJB33A及本规范的规定。3.5标志
器件上应有如下标患：
a．器件型号：
b．质量保证等级：
G．承制方标悲：
d．极性标志。
4质量保证规定
4.1抽样和检验
抽样和检验按GJB33A和本规范A，B、C、E组检验的规定。4.2鉴定检验
鉴定检验按GJB33A和本规范的规定。4.3筛选（仅对JT和JCI级）
Yce=17V
fu=l ms
输入端
RF.工作
筛选应按本规范的规定。其测试应按本规范表1的规定进行，超过本规范表1极限值的器件应别除。
TYKAOIKAca-
1.内部扫检
3.温度循环
4.恒定加速度
8.编序列号
9.中间测试电参数
10.离湿反偏
11.中闹测试
12.功率老炼
13.终点测试
：14.封
(a）细检漏
（b）扭检漏
16.H现检查
GJB128A
方法号
SJ 50033/145—2000
筛选要求
条件和要求
和JCT级
试验条件 C，20次
9800m/s，Y1方向，不要求保持1min见GJB33A3.7.9
按本规范表1的2分组规定
T,-150 °C, Vsr=37 V, t-48 hhgea,Icea
7=187.5±12.5cC,Ver=12V,Po≥20 w,160hA1cag为初始值的100%或0.5mA取较人者为≤初始值的20%试验条件 HI，P=517±15kPa
漏率≤5 mPa.cm/s
试验条件 C
打标,志之后进行
注：2、5、6、15、16项筛选试验不要求，第7项出第17项完成。4.4质量-致性检验
质量致性检验应按GJB33A和本规范的规定进行。4. 4. 1A 组检验
A组检验应按GJB33A和本规范表1的规定进行。4. 4. 2 B 组检验www.bzxz.net
B组捡验应按GJB33A和本规范表2的规定进行。4.4.3C组检验
C组检验应按GJB33A和本规范表3的规定进行。4.5检验和试验方法
检验和试验方法应按本规范相应的衣中规定的方法进行。4.5.1直流参数测试利脉冲测试应分别按GB/T4587和GJB128A相应方法测试。4
检验或试验
外观及机械检验
2分红
集电极一其极山穿
发射极一基极击穿
货电极·基极截止
正向电流传输比
集电极一发射极饱
和电压
发射极一基极裁止
3分组
商温工作
集电极一基极载止
低温工作
连向洗传输比
4分维
功率增益
SJ50033/145—2000
表1A组检验
GB/T4587
除非另有规定，7-25℃
GJB128A
GJB 128A
发射钣开路
e=10 mA
集电极开路
Ig-10 mA
发射极开路
Vc-37 V
Vee=5 V, It-2 A
Te=2 A
集电极开路
Ven=2.5 V
T,=150°C
Vce=37V,
TA--55 °℃
Ve=5 V, Je=2 A
直流法
Vec=37V
J:540~610MHz
1,=500 μus
VesRKSO
YIBRVEBO
h手EI
Vcksut
注：1）当样本人小等于或超过批量时成分之下检验。极限值
抽样方案1
LTPD=S
TKAONKAa-
检验或试验
1分组
可短性
耐溶剂性
2分纽
溫度循环
案封试验
(a）细检漏
(b）机格漏
终点测试
3分组
稳态工作寿命
终点测试
4分红[2
开帽内部目捡
(设计核实)
诞合强度
5分组
热阳(EB正向法)
6分组
SJ50033/145—-2000
表2B组检验
GJB128A
试验条件F，25次
试验条件H1，
P=517±15 kPaf-4 h
漏率≤5 mPa.cm/s
试验条件C
表5步骤1.3，4
T=187.5±12.5℃
Ver-10 V, Pm≥20 W
装5步骤2，5
日检标准按鉴定单的
F-30 mN. F,=50 mN
GB/T4587/Ver-17V.T=2A
离温寿命(不E作)
最后测试
25 °C≤T,≤70 °℃
T,=200 °℃, 340 h
表5步骤2，5
注：1）未指实的分组不要求。
2）此组试验可用电参数不合格的器件6 -
拱样方案
鉴定检验和大批
星的质量--致性
小批鼠的
质量一致
性检验
每批「个器件零失效
LTPD-[0, c-1
极限值
检验或试验
1分组
外形尺寸
2分组
热冲击
(玻璃应力)
引出端强度
密封：
（a）细检漏
（b）机检漏
外观及机械捡验
终点测试
3分组
扫振动
恒定加速度
终点测试
6分组
稳态工作命
终点测试
SJ 50033/145--2000
表3C组检验！
GJB128A
见图1规定尺寸
试验条件 A
试验条件A，F=5N，1=10s
受试引线数：2
试验条件H1，P=517±15kPa，
4h，满率≤5mPa.cm/s
试验条件C
！不要求预处理
表5步骤13.4
在 XI. YI 和 Z1 的每个方向 I各冲lr5次，9800m/s*，0.5ms
！9800m/s2、X1、YI、Z1方向
表 5步骤1：3.4
1000h，同B3分纽
表5步2，5
注：未指明的分组不要求。
抽样方案
鉴定检验和人批算
的质量一致性检验
小批量的质量
致性捡验
TTKAONKAa-
1分组1
温度循环
(奔气-它)
终点测试
4分组
(EB正向法)
J 50033/145--2000
表4_E组检验（全部质等级）（仅供鉴定用）GIB128A
4587，
注：未指明的分组不适用。
试验条件C，100次
见表5步骤1，3，4
Vce=17V, I.-2 A.
25°℃≤T≤70°℃
1）可用B2 分组试验合格样品接着进行E1分组试验，捆样方案
表5B组、C组和E组的终点测试
GB/T4587
集电极--基极截止电
集电极一基极截止电
集电极一发射极饱和
正向电流传输比
正向电流传输比
发射极开路
Vca-37 V
发射极开路
Vc=37 V
Ver=5 V, Ie-2 A
Vcr-S V, I-2 A
注：1）对于本试验，超出A组检验极限值的器件不应接收5交货准备
5.1包装求
包装要求应按GJB33A的规定。
5.2此存要求
贮存要求应按GJB33A的规定
5.3运输妥求
运输要求应接GJB33A的规定
6说明事项
6.1预定用途
极限值
极限值
初始值的±30%
符合本规范的器件供新设备设计使用和供现有设备的所勤保障用。6.2订货文作内窄
合间或订单应规定下列内容：
a．本规范的名称和编号：
b．等级（见1.3.1)：
SJ50033/145—2000
c．数据：
需要时，对顶降、过激励、抗失配检验等其他要求。d.
附加说明：
本规范由中国电子技术标准化研究所归口。本规范由信息产业部电子第十三研究所负贡起草。木规范主要起草人：崔波、顾振球，黄光，计划项目代号：B81007。
KAONKAca-
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SJ50033/145—-2000
半导体分立器件
3DA503型硅微波脉冲功率晶体管详细规范
Semiconductor discrete devicesDetail specification for type 3DA503silicon microwave pulse power transistor2000-10-20发布
2000-10-20 实施
中华人民共和国信息产业部批准中华人民共和国电子行业军用标准半导体分立器件
3DA503型硅微波脉冲功率晶体管详细规范
Semiconductor discrete devicesDetail specification for type 3DA503silicon microwave pulse power transistor1范围
1.1主题内容
SJ50033/145—2000
本规范规定了3DA503型硅微波脉冲功率品体管（以下简称器件）的详细要求。1.2适用范围
本规范适用丁器件的研制、生产和采购。1.3分类
本规范根据器件质量保证等级进行分类1.3.1器作的等级
按GJB33A一97《半导体分立器件总规范1.3条的规定，提供的质量保证等级为当军级、特军级和超特军级。分别用字母JP、JT和ICT表示。2引用文件
GB/T4587—94导体分立器件和集成电路第7部分：双极型品体管GB/T7581—87半导体分立器件外形尺寸GJB33A—97半导体分立器件总规范GJB128A--97平导体分立器件试验方法3要求
3.1详细要求
各项要求应按GJB33A和本规范的规定：3.2设计和结构
器件的设计和结构应按GJB33A和本规范的规定。3.2.1引端材料和镀涂层
发射极和集电极引出端材料为可伐合金带，基极引出端为。引出端表面镀金。中华人民共和国信息产业部2000-10-20发布2000-10-20实施
TTTKAONTKAca-
3.2.2器件结构
SJ50033/145—2000
本器件是采用硅外延平面结构的NPN型品体管，并具有阻抗匹配网络3.2.3外形尺寸
外形尺寸基本上与GB/T7581B2—09B相同，仪有L、0、U,不同，外形尺寸见图1。mm
E—发射极B一战极C—集电极
图1外形图
3.3最大额定值和主要电特性
3.3.1最大额定值
参数及
极限值
3DA503
Te=25 °℃
注：1）7>25°℃时按0.29WK线性降额。Ie
过激励
2）全相位抗失配在:540MH2和610 MHz两点拉驻波（Pn≥70 W)。2 -
-65·~200
主要电特性（T,-25°℃）
3DA503
Ver=s V
fe=2 A
晟小！最大
注：1）直流法测试。
3.4溅试要求
fg=300 mA
J 50033/145--2000
Ves-37 V
Vox=37V，f540~610MHz
P,-10W
tp=500 μs, D=15%
心测试应符合GJB33A及本规范的规定。3.5标志
器件上应有如下标患：
a．器件型号：
b．质量保证等级：
G．承制方标悲：
d．极性标志。
4质量保证规定
4.1抽样和检验
抽样和检验按GJB33A和本规范A，B、C、E组检验的规定。4.2鉴定检验
鉴定检验按GJB33A和本规范的规定。4.3筛选（仅对JT和JCI级）
Yce=17V
fu=l ms
输入端
RF.工作
筛选应按本规范的规定。其测试应按本规范表1的规定进行，超过本规范表1极限值的器件应别除。
TYKAOIKAca-
1.内部扫检
3.温度循环
4.恒定加速度
8.编序列号
9.中间测试电参数
10.离湿反偏
11.中闹测试
12.功率老炼
13.终点测试
：14.封
(a）细检漏
（b）扭检漏
16.H现检查
GJB128A
方法号
SJ 50033/145—2000
筛选要求
条件和要求
和JCT级
试验条件 C，20次
9800m/s，Y1方向，不要求保持1min见GJB33A3.7.9
按本规范表1的2分组规定
T,-150 °C, Vsr=37 V, t-48 hhgea,Icea
7=187.5±12.5cC,Ver=12V,Po≥20 w,160hA1cag为初始值的100%或0.5mA取较人者为≤初始值的20%试验条件 HI，P=517±15kPa
漏率≤5 mPa.cm/s
试验条件 C
打标,志之后进行
注：2、5、6、15、16项筛选试验不要求，第7项出第17项完成。4.4质量-致性检验
质量致性检验应按GJB33A和本规范的规定进行。4. 4. 1A 组检验
A组检验应按GJB33A和本规范表1的规定进行。4. 4. 2 B 组检验www.bzxz.net
B组捡验应按GJB33A和本规范表2的规定进行。4.4.3C组检验
C组检验应按GJB33A和本规范表3的规定进行。4.5检验和试验方法
检验和试验方法应按本规范相应的衣中规定的方法进行。4.5.1直流参数测试利脉冲测试应分别按GB/T4587和GJB128A相应方法测试。4
检验或试验
外观及机械检验
2分红
集电极一其极山穿
发射极一基极击穿
货电极·基极截止
正向电流传输比
集电极一发射极饱
和电压
发射极一基极裁止
3分组
商温工作
集电极一基极载止
低温工作
连向洗传输比
4分维
功率增益
SJ50033/145—2000
表1A组检验
GB/T4587
除非另有规定，7-25℃
GJB128A
GJB 128A
发射钣开路
e=10 mA
集电极开路
Ig-10 mA
发射极开路
Vc-37 V
Vee=5 V, It-2 A
Te=2 A
集电极开路
Ven=2.5 V
T,=150°C
Vce=37V,
TA--55 °℃
Ve=5 V, Je=2 A
直流法
Vec=37V
J:540~610MHz
1,=500 μus
VesRKSO
YIBRVEBO
h手EI
Vcksut
注：1）当样本人小等于或超过批量时成分之下检验。极限值
抽样方案1
LTPD=S
TKAONKAa-
检验或试验
1分组
可短性
耐溶剂性
2分纽
溫度循环
案封试验
(a）细检漏
(b）机格漏
终点测试
3分组
稳态工作寿命
终点测试
4分红[2
开帽内部目捡
(设计核实)
诞合强度
5分组
热阳(EB正向法)
6分组
SJ50033/145—-2000
表2B组检验
GJB128A
试验条件F，25次
试验条件H1，
P=517±15 kPaf-4 h
漏率≤5 mPa.cm/s
试验条件C
表5步骤1.3，4
T=187.5±12.5℃
Ver-10 V, Pm≥20 W
装5步骤2，5
日检标准按鉴定单的
F-30 mN. F,=50 mN
GB/T4587/Ver-17V.T=2A
离温寿命(不E作)
最后测试
25 °C≤T,≤70 °℃
T,=200 °℃, 340 h
表5步骤2，5
注：1）未指实的分组不要求。
2）此组试验可用电参数不合格的器件6 -
拱样方案
鉴定检验和大批
星的质量--致性
小批鼠的
质量一致
性检验
每批「个器件零失效
LTPD-[0, c-1
极限值
检验或试验
1分组
外形尺寸
2分组
热冲击
(玻璃应力)
引出端强度
密封：
（a）细检漏
（b）机检漏
外观及机械捡验
终点测试
3分组
扫振动
恒定加速度
终点测试
6分组
稳态工作命
终点测试
SJ 50033/145--2000
表3C组检验！
GJB128A
见图1规定尺寸
试验条件 A
试验条件A，F=5N，1=10s
受试引线数：2
试验条件H1，P=517±15kPa，
4h，满率≤5mPa.cm/s
试验条件C
！不要求预处理
表5步骤13.4
在 XI. YI 和 Z1 的每个方向 I各冲lr5次，9800m/s*，0.5ms
！9800m/s2、X1、YI、Z1方向
表 5步骤1：3.4
1000h，同B3分纽
表5步2，5
注：未指明的分组不要求。
抽样方案
鉴定检验和人批算
的质量一致性检验
小批量的质量
致性捡验
TTKAONKAa-
1分组1
温度循环
(奔气-它)
终点测试
4分组
(EB正向法)
J 50033/145--2000
表4_E组检验（全部质等级）（仅供鉴定用）GIB128A
4587，
注：未指明的分组不适用。
试验条件C，100次
见表5步骤1，3，4
Vce=17V, I.-2 A.
25°℃≤T≤70°℃
1）可用B2 分组试验合格样品接着进行E1分组试验，捆样方案
表5B组、C组和E组的终点测试
GB/T4587
集电极--基极截止电
集电极一基极截止电
集电极一发射极饱和
正向电流传输比
正向电流传输比
发射极开路
Vca-37 V
发射极开路
Vc=37 V
Ver=5 V, Ie-2 A
Vcr-S V, I-2 A
注：1）对于本试验，超出A组检验极限值的器件不应接收5交货准备
5.1包装求
包装要求应按GJB33A的规定。
5.2此存要求
贮存要求应按GJB33A的规定
5.3运输妥求
运输要求应接GJB33A的规定
6说明事项
6.1预定用途
极限值
极限值
初始值的±30%
符合本规范的器件供新设备设计使用和供现有设备的所勤保障用。6.2订货文作内窄
合间或订单应规定下列内容：
a．本规范的名称和编号：
b．等级（见1.3.1)：
SJ50033/145—2000
c．数据：
需要时，对顶降、过激励、抗失配检验等其他要求。d.
附加说明：
本规范由中国电子技术标准化研究所归口。本规范由信息产业部电子第十三研究所负贡起草。木规范主要起草人：崔波、顾振球，黄光，计划项目代号：B81007。
KAONKAca-
小提示：此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容，若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。