SJ 50033.146-2000
基本信息
标准号： SJ 50033.146-2000
中文名称：半导体分立器件 3DA601型C波段硅双极型功率晶体管详细规范
标准类别：电子行业标准(SJ)
标准状态：现行
出版语种：简体中文
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相关标签： 半导体 分立 器件 波段 功率 晶体管 详细 规范
标准分类号
关联标准
出版信息
相关单位信息
标准简介
SJ 50033.146-2000 半导体分立器件 3DA601型C波段硅双极型功率晶体管详细规范
SJ50033.146-2000
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标准内容
中华人民共和国电子行业军用标准FL5961
SJ 50033/146—2000
半导体分立器件
3DA601型C波段硅双极型
功率鼻体管详细规范
Serniconductor discrete devicesDetail specification for type 3DA601C band silicon bipolar power transistor2000-10-20发布
2000-10-20实施
中华人民共和国信息产业部批准中华人民共和国电子行业军用标准半导体分立器件
3DA601型C波段硅双极型功率晶体管详细规范
Semicanductor discrete devlcesDetail specification far type 3DA601C band silicon bipolar power transistor1范围
1.1 主题内容
SJ50033/146--2000
本规范规定了3DA601型C波段硅双极型功率品体管（以下简称器件）的详细婴求。1.2适用范围
本规范适用于器件的研制、生产和采购。1.3分类
本规范根据器件质量保证等级进行分类。1.3.1器件的等级
按GJB33A一97《平导体分立器件总规范》1.3条的规定，提供的质试保证等级为降军级、特军级和超特军级三级。分别用字母JP、JI和JCT表示。2引用文件
GB/T4587-94半导体分立器件和集成毛路第7部分：双极型品体管GB/7581·87半导体分立器件外形尺寸GJB33A一97半导体分立器件总规范GJB128A--97平导体分立器付试验方法3要求
3.1详细要求
各项要求应按GJB33A和本规范的规定。3.2设计、结构利外形尺寸
器竹的设计、结构和1外形尺寸应按GJB33A和本规范的规定。3.2.1引出端材料和镀涂
发射极和集电极引出端材料为可伐合金带，基极引出端为钨铜。引出端表面镀金中华人民共和国信息产业部2000-10-20发布2000-10-20实施
YIKAONKAca-
3.2.2器件结构
SJ50033/146—2000
本器件是采用硅外延台面结构的NPN型晶体管。3.2. 3外形尺寸
外形尺寸见图1：其尺寸代号参照GB/T7581B2--09外形2-
E--发射极一禁披C—货电瑕
图1器件外形图
3.3最大额定值和主要电特性
3.3.1最人额定值
3DA601bzxz.net
T,=25℃
SJ50033/146—2000
注：1）T>25℃时按55.5mW/K线性释额。3. 3.2
主要电特性（TA-25°C）
3DA601
Yee5 V
1e-200m4
3.4測试要求
Ven-30 VV-2 V
1g-400 mA
Vce-2 V
电测试应符合GJB33A及本规范的规定3.5标志
Vce=20 V
I,=270 mA
Vcr=20 V
器件引出端识别应符合图1规定。器件包装上的标患应符合GJB33A的规定4质量保证规定
4.1抽样和检验
抽样和检验按GJB33A和本规范的规定。4.2鉴定检验
鉴定捡验按 GJB 33A及本规范A、B、C和E组检验的规定。4.3筛选（仅对JT和JCT级）
-65 ~200
筛选应按本规范的规定。其测试应按本规范表1的规定进行，超过本规范表1极限值的器件应剔除。
TYKAOIKAca-
1.内部百检
2、商温寿命
3.盐度循环
(牵气-空)
4.恒定加速度
9.中间电测试
10.断温反偏
11. PDA 的中间心测试
12.功率老炼
13.终点测试
14.密封
（a）细检漏
（b）粗拾漏
4.4质量一致性检验
4. 4. 1 A 组检验
GJB128A
方法号
SJ50033/146-2000
筛选耍求
仅对ICT 级器纤。
200°℃,48h.
试验条件 C,20 次。
条件和要求
JT 和JCT级
19G00m/s，Y1方向，不要求保持【min。按本规范表1的A2分组
T=150℃C, Vrr=32 V, 48 h
hpey,IcBor和FgBol
T=187.5±12.5 °c, Vcs-10 V, P≥2.5 w, 160 h按本规范表1的A2分组：
为初始值的土20%：
Fce=30 V时，Iceo≤0.1mA;
Ve.-2 V 时, 7epo≤0.1mA
试验条件H1
P=517kPa,t-2h,R,=5mPacm/s
试验条件C
A组检验应按GJB33A和本规范表1的规定进行。4.4.2B组检验
B组检验应按GJB33A和本规范衣2的规定进行，4.4.3C红检验
C纠检验应按GIB 33A和本规范表 3的规定进行。4.5检验和试验方法
检验利试验方法应拟本规范相应的表中规定的方法进行。4.5. 1直流参数测试按 GRT4587相应方法测试。4.5.2振荡输出功率的测试按附录A（补充件）的规定进行。4.5.3输出功率、增益和集电极效率的测试按GJB128A方法3320条件：B进行，器作门作下C类。
检验或试验
1分组
外规和机械检验
2分组
集电极—基极
截止电流
发射极一基极
截止电流
正向电流传输比
3分组
高温工作
集电极一基极
截止也流
低温工作
正向电藏传输比
4分组
振荡输正功率
放大输出功率
功率增益
集电极效率
SJ50033/146—2000
表 1 A 组检验
除非另有规定，T-25°℃
GB/T4587
GJB 128A
本规范
附录 A
GJB128A
方3320
条件B
e-0, Vcm-30 V
I(-0. Vem=2 V
Pce=5 V+ Ie-200 mA
Tx=150℃
Vce=30V, Jr=0
TA=-55 °C
Ves=5 V. 1,-200 mA
Vce-20 V, J=4.2 GHIz
Ie=270 mA
Vce=20 V, J=4.2 GHz
注：1）小批量质量一致性检验时的A组检验可100%进行极限值
抽样方案1》
116(c-0)
116(c-0)
116(c=0)
TTKAONKAa-
检验或试验
【分组
可焊性
耐游剂性
（不适用）
2分组
温度循环
(空气一空气)
(a）绷检漏
(b）粗拉漏
最后测试
3分组
稳态工作寿命
最后测试
开擀内部撤
(设计核实)
键合强度
5分组
热EB正向法）
6分组
高温寿命（不工作)
最后谢试
7分组！
恒定如速度
最后测试
GB/T45B7
SJ 50033/146-—2000
表 2 B组捡验
GJB 128A
试验条件 F，25 次
试验条件 HI
P-517 kPa, -2 h,
R,=5 mPa-cm*/s
试验条件C
表5 步骤1. 3,5
T-187.5±12.5 °C.
Vee=10V, Pm≥2 W,
表5步骤2，4，6
口检标准按鉴定时的
可用电参数不合格的
J=400mA，
Vce=2 V, th=1 s
T-200℃,340h
表5步骤2．4，6
196000 m1/s2
试验条件 A
表5步骤1，3，5
注1)：仪适用十T和JCT级。
抽样方案
鉴定检验和人批
小批量的
的质盘一致性
质量一致
性检验
每批一个器件零失效
LTPD-10, (=1
极限值
检验或试验
1分组
外形尺寸
2分组
(液体-液体)
叫出端强度
密封：
(a）细检漏
（b）粗检漏
外观检查
最后测试
3分组
扫频振动
恒定速度2）
最届測试
6分红
稳态工作寿命
最后澎试
SJ50033/146--2000
表3C组检验\
GJB128A
见图1规定尺寸
试验条件A
试验条件 E，
集电极：挂重83±9g
发射极：挂重225±15g
试验条件HI
P=517kPa,-2 h，R,=5mPa-cm/s
试验条件C
循环数4，前2个循环逃行步骤7
表5步骤1，3.5
14700m/s2
1960m's
表5步骤，3，5
1000h，同B3分组
表5步骤2.4.6
注1)：未指明的分组不适用。
2)：如果B纠完成「该项试验，在此不要求归逊行。抽祥方案
鉴定验和大批量
的质量一致性检验
小批壁的质量
一致性检验
TTKAONKAa-
1分组\
温度馈环
(空气—空气)
终点测试
4分红
GB/T4587.
SJ50033/146—-2000
表4E组检验（仅供鉴定）
GJB 128A
试验条件 C,100 次
见表5步骤1，3，5
I,=400 mA, Vcr=2 V.
Rrh18K/W
注1)：可用B2分组试验合格样品按着进行E1分组试验。表 5 B 组、C组和 E 组的最后测试步骤
GB/T 4587
正向电流传输比
正向电流传输比变化
集电极一基极
截止电流
集电被一基极
截止电流
发射极一某极
截止电流
发射极其极
载止电流
Vre=5 V, I,=200 mA
Yce=5 V, Ie=200 mA
Yca-30 V
Ycg-30V
YEB=2 V
Yen-2 V
注：1）超过A组检验极限值的器件不应接收。5交货准备
5.1包装要求
包装要求应按GJB33A的规定，
5.2贮存要求
此存要求应按GJB33A的规定。
5.3运输要求
运输要求应按GJB33A的规定，
6说明事项
6.1预定用途
抽桦方案
LTPD-20
LTPD-10
极限值\
最大值
初始值的±30%
符合本规范的器作供新设备设计使用和供现有设备的后勤保障用。18
6.2订货资料
合间或订单应规定下列内容：
a.本规范的名称利编号；
等级（见1.3.1)；
数革：
d. 测试 Posc或 Po、Gp和n。
e.需要时，其他要求。
3型号对比
本器件企业原用型号为WS30。
SJ 50033/146--2000
HTTKAONTKAca-
A1自的
SJ50033/146--2000
附录A
微波功率晶体管振荡输出功率Psn的测试方法（补充件）
在规定条作下，测量器件在规定的频率下输出的振荡功率，A2测试框图
偏置电源
被测器件及
测试夹具
(荡器）
电调电源
隔离器
A3电路说明及要求
衰减器
频率让
耦合器
频谱仪
耦合器
图A1测试振荡输出功率框图
功率计
测试夹具中的电路必须满足被测器件在规定频率上的振荡条件，产生良好的振荡并获得最大的功率输出。
A4测试步骤
测试前校准系统A至B点的插入损耗。把被测器安装工测试夹具（振荡器）中规定的位置上，保证良好接触和散热，并使E、C引出端与电路接触良好。逐步增加I作电压租电流并获得振荡输出。调节振荡器中频率调谐元件的偏置电压和振荡器的偏置及输出电路的匹配状态，使器件在规定的1作电压和工作电流条件下，在所要求的额率上功率计指示最大，功率计指示的功率加上A至B点之间损耗的功率即为Posc。A5规定条件
环境温度TA：
作频率
集电极一发射极电压VeE
集电极电流。
附加说明：
SJ50033/146—2000
本规范由中国电子技术标准化研究所归口。本规范由信息产业部电子第五五研究所负贡起草。本规范主要起草人：黄玉英、钟志新、荣炳麟。计划项国代号：B81008
KAONKAca-
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SJ 50033/146—2000
半导体分立器件
3DA601型C波段硅双极型
功率鼻体管详细规范
Serniconductor discrete devicesDetail specification for type 3DA601C band silicon bipolar power transistor2000-10-20发布
2000-10-20实施
中华人民共和国信息产业部批准中华人民共和国电子行业军用标准半导体分立器件
3DA601型C波段硅双极型功率晶体管详细规范
Semicanductor discrete devlcesDetail specification far type 3DA601C band silicon bipolar power transistor1范围
1.1 主题内容
SJ50033/146--2000
本规范规定了3DA601型C波段硅双极型功率品体管（以下简称器件）的详细婴求。1.2适用范围
本规范适用于器件的研制、生产和采购。1.3分类
本规范根据器件质量保证等级进行分类。1.3.1器件的等级
按GJB33A一97《平导体分立器件总规范》1.3条的规定，提供的质试保证等级为降军级、特军级和超特军级三级。分别用字母JP、JI和JCT表示。2引用文件
GB/T4587-94半导体分立器件和集成毛路第7部分：双极型品体管GB/7581·87半导体分立器件外形尺寸GJB33A一97半导体分立器件总规范GJB128A--97平导体分立器付试验方法3要求
3.1详细要求
各项要求应按GJB33A和本规范的规定。3.2设计、结构利外形尺寸
器竹的设计、结构和1外形尺寸应按GJB33A和本规范的规定。3.2.1引出端材料和镀涂
发射极和集电极引出端材料为可伐合金带，基极引出端为钨铜。引出端表面镀金中华人民共和国信息产业部2000-10-20发布2000-10-20实施
YIKAONKAca-
3.2.2器件结构
SJ50033/146—2000
本器件是采用硅外延台面结构的NPN型晶体管。3.2. 3外形尺寸
外形尺寸见图1：其尺寸代号参照GB/T7581B2--09外形2-
E--发射极一禁披C—货电瑕
图1器件外形图
3.3最大额定值和主要电特性
3.3.1最人额定值
3DA601bzxz.net
T,=25℃
SJ50033/146—2000
注：1）T>25℃时按55.5mW/K线性释额。3. 3.2
主要电特性（TA-25°C）
3DA601
Yee5 V
1e-200m4
3.4測试要求
Ven-30 VV-2 V
1g-400 mA
Vce-2 V
电测试应符合GJB33A及本规范的规定3.5标志
Vce=20 V
I,=270 mA
Vcr=20 V
器件引出端识别应符合图1规定。器件包装上的标患应符合GJB33A的规定4质量保证规定
4.1抽样和检验
抽样和检验按GJB33A和本规范的规定。4.2鉴定检验
鉴定捡验按 GJB 33A及本规范A、B、C和E组检验的规定。4.3筛选（仅对JT和JCT级）
-65 ~200
筛选应按本规范的规定。其测试应按本规范表1的规定进行，超过本规范表1极限值的器件应剔除。
TYKAOIKAca-
1.内部百检
2、商温寿命
3.盐度循环
(牵气-空)
4.恒定加速度
9.中间电测试
10.断温反偏
11. PDA 的中间心测试
12.功率老炼
13.终点测试
14.密封
（a）细检漏
（b）粗拾漏
4.4质量一致性检验
4. 4. 1 A 组检验
GJB128A
方法号
SJ50033/146-2000
筛选耍求
仅对ICT 级器纤。
200°℃,48h.
试验条件 C,20 次。
条件和要求
JT 和JCT级
19G00m/s，Y1方向，不要求保持【min。按本规范表1的A2分组
T=150℃C, Vrr=32 V, 48 h
hpey,IcBor和FgBol
T=187.5±12.5 °c, Vcs-10 V, P≥2.5 w, 160 h按本规范表1的A2分组：
为初始值的土20%：
Fce=30 V时，Iceo≤0.1mA;
Ve.-2 V 时, 7epo≤0.1mA
试验条件H1
P=517kPa,t-2h,R,=5mPacm/s
试验条件C
A组检验应按GJB33A和本规范表1的规定进行。4.4.2B组检验
B组检验应按GJB33A和本规范衣2的规定进行，4.4.3C红检验
C纠检验应按GIB 33A和本规范表 3的规定进行。4.5检验和试验方法
检验利试验方法应拟本规范相应的表中规定的方法进行。4.5. 1直流参数测试按 GRT4587相应方法测试。4.5.2振荡输出功率的测试按附录A（补充件）的规定进行。4.5.3输出功率、增益和集电极效率的测试按GJB128A方法3320条件：B进行，器作门作下C类。
检验或试验
1分组
外规和机械检验
2分组
集电极—基极
截止电流
发射极一基极
截止电流
正向电流传输比
3分组
高温工作
集电极一基极
截止也流
低温工作
正向电藏传输比
4分组
振荡输正功率
放大输出功率
功率增益
集电极效率
SJ50033/146—2000
表 1 A 组检验
除非另有规定，T-25°℃
GB/T4587
GJB 128A
本规范
附录 A
GJB128A
方3320
条件B
e-0, Vcm-30 V
I(-0. Vem=2 V
Pce=5 V+ Ie-200 mA
Tx=150℃
Vce=30V, Jr=0
TA=-55 °C
Ves=5 V. 1,-200 mA
Vce-20 V, J=4.2 GHIz
Ie=270 mA
Vce=20 V, J=4.2 GHz
注：1）小批量质量一致性检验时的A组检验可100%进行极限值
抽样方案1》
116(c-0)
116(c-0)
116(c=0)
TTKAONKAa-
检验或试验
【分组
可焊性
耐游剂性
（不适用）
2分组
温度循环
(空气一空气)
(a）绷检漏
(b）粗拉漏
最后测试
3分组
稳态工作寿命
最后测试
开擀内部撤
(设计核实)
键合强度
5分组
热EB正向法）
6分组
高温寿命（不工作)
最后谢试
7分组！
恒定如速度
最后测试
GB/T45B7
SJ 50033/146-—2000
表 2 B组捡验
GJB 128A
试验条件 F，25 次
试验条件 HI
P-517 kPa, -2 h,
R,=5 mPa-cm*/s
试验条件C
表5 步骤1. 3,5
T-187.5±12.5 °C.
Vee=10V, Pm≥2 W,
表5步骤2，4，6
口检标准按鉴定时的
可用电参数不合格的
J=400mA，
Vce=2 V, th=1 s
T-200℃,340h
表5步骤2．4，6
196000 m1/s2
试验条件 A
表5步骤1，3，5
注1)：仪适用十T和JCT级。
抽样方案
鉴定检验和人批
小批量的
的质盘一致性
质量一致
性检验
每批一个器件零失效
LTPD-10, (=1
极限值
检验或试验
1分组
外形尺寸
2分组
(液体-液体)
叫出端强度
密封：
(a）细检漏
（b）粗检漏
外观检查
最后测试
3分组
扫频振动
恒定速度2）
最届測试
6分红
稳态工作寿命
最后澎试
SJ50033/146--2000
表3C组检验\
GJB128A
见图1规定尺寸
试验条件A
试验条件 E，
集电极：挂重83±9g
发射极：挂重225±15g
试验条件HI
P=517kPa,-2 h，R,=5mPa-cm/s
试验条件C
循环数4，前2个循环逃行步骤7
表5步骤1，3.5
14700m/s2
1960m's
表5步骤，3，5
1000h，同B3分组
表5步骤2.4.6
注1)：未指明的分组不适用。
2)：如果B纠完成「该项试验，在此不要求归逊行。抽祥方案
鉴定验和大批量
的质量一致性检验
小批壁的质量
一致性检验
TTKAONKAa-
1分组\
温度馈环
(空气—空气)
终点测试
4分红
GB/T4587.
SJ50033/146—-2000
表4E组检验（仅供鉴定）
GJB 128A
试验条件 C,100 次
见表5步骤1，3，5
I,=400 mA, Vcr=2 V.
Rrh18K/W
注1)：可用B2分组试验合格样品按着进行E1分组试验。表 5 B 组、C组和 E 组的最后测试步骤
GB/T 4587
正向电流传输比
正向电流传输比变化
集电极一基极
截止电流
集电被一基极
截止电流
发射极一某极
截止电流
发射极其极
载止电流
Vre=5 V, I,=200 mA
Yce=5 V, Ie=200 mA
Yca-30 V
Ycg-30V
YEB=2 V
Yen-2 V
注：1）超过A组检验极限值的器件不应接收。5交货准备
5.1包装要求
包装要求应按GJB33A的规定，
5.2贮存要求
此存要求应按GJB33A的规定。
5.3运输要求
运输要求应按GJB33A的规定，
6说明事项
6.1预定用途
抽桦方案
LTPD-20
LTPD-10
极限值\
最大值
初始值的±30%
符合本规范的器作供新设备设计使用和供现有设备的后勤保障用。18
6.2订货资料
合间或订单应规定下列内容：
a.本规范的名称利编号；
等级（见1.3.1)；
数革：
d. 测试 Posc或 Po、Gp和n。
e.需要时，其他要求。
3型号对比
本器件企业原用型号为WS30。
SJ 50033/146--2000
HTTKAONTKAca-
A1自的
SJ50033/146--2000
附录A
微波功率晶体管振荡输出功率Psn的测试方法（补充件）
在规定条作下，测量器件在规定的频率下输出的振荡功率，A2测试框图
偏置电源
被测器件及
测试夹具
(荡器）
电调电源
隔离器
A3电路说明及要求
衰减器
频率让
耦合器
频谱仪
耦合器
图A1测试振荡输出功率框图
功率计
测试夹具中的电路必须满足被测器件在规定频率上的振荡条件，产生良好的振荡并获得最大的功率输出。
A4测试步骤
测试前校准系统A至B点的插入损耗。把被测器安装工测试夹具（振荡器）中规定的位置上，保证良好接触和散热，并使E、C引出端与电路接触良好。逐步增加I作电压租电流并获得振荡输出。调节振荡器中频率调谐元件的偏置电压和振荡器的偏置及输出电路的匹配状态，使器件在规定的1作电压和工作电流条件下，在所要求的额率上功率计指示最大，功率计指示的功率加上A至B点之间损耗的功率即为Posc。A5规定条件
环境温度TA：
作频率
集电极一发射极电压VeE
集电极电流。
附加说明：
SJ50033/146—2000
本规范由中国电子技术标准化研究所归口。本规范由信息产业部电子第五五研究所负贡起草。本规范主要起草人：黄玉英、钟志新、荣炳麟。计划项国代号：B81008
KAONKAca-
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