SJ 50033.147-2000 半导体光电子器件 GF1121型LED指示灯详细规范 SJ50033.147-2000 标准下载解压密码：www.bzxz.net

中华人民共和国电子行业军用标准FL5980
SJ 50033/147—2000
半导体光电子器件
GF1121型LED指示灯详细规范
Semiconductor optoelectronic devicesDetail specification for type GF1121Light-emitting diode indicate lamp2000-10-20发布
2000-10-20实施
中华人民共和国信息产业部批准SJ50033/147-—2000
管芯材料为砷铝化镓/砷化镓GaAlAs/GaAs。3.2.2外形尺寸及引出端识别
外形尺寸见图1，红色引线为正极，尺寸
3.2.3封装形式
金属屏蔽累环氧树脂非空腔封装，见图1。3.2.4引线长度
可按合同的规定（见6.2）提供引线长度不同于本规范图1规定的器件。3.3引线材料和颜色
引线材料为氟塑包多股镀银导线，引线颜色按本规范和有关文件的规定，也可按照合同的规定（见6.2)，
3.4最大额定值和主要光电特性（Tamb-25°C）3.4.1最人额定值
最人额定值见表1。
注：1）脉冲宽度为0.1ms，占空比为1/103.4.2士要光电特性
主要光电特性见表2。
-55~100
-55~100
TYKAOIKAca-
发光强度
正向电压
峰值发射波长
光谱辑射带宽
反向电流
SJ50033/147—2000
I,=20 mA, (-00
tp-20 mA. -300
ff=20 mA
=20 mA
f=20 mA
根据器件的特点，省略GJB33A中关丁器件上标志的规定，其它按GJB33A的规定。4质量保证规定
4.1拙样和检验
扯样和检验应按GJB33A和本规范的规定。4.1.1表4中A1分组进行检验和试验的样品可以用丁A2、A3、A7分组的检验和试验，通过A组捡验的样品可以作为B组利C组检验和试验抽样的母体。4.1.2在做C检验中的寿命试验时，可将B组340h寿命试验继续做到1000h，以达到C组检验要求。
4.1.3表6中C1分进行检验的样品，如果光电特性符合A2、A7分组的要求则可以用于C2分组的检验和试验。
4.1.4在做E组检验的温度循环试验时，制造可以选择已经过B组25次循环的部分样品再进行25次循环，以满足E组50次循环的要求4.2筛选（仅对IT级）
筛选的步骤和条件应按GJB33A和本规范表3的规定。3
检验和试验
内部日检（封装）
高温命
非工作寿命
（稳定烘焙）
温度循环
（空气—空气）
恒定加速度
（不适用）
翻封 (不适用)
中间测试（不要求）
商温反偏（HTRB)
（不适用）
PDA 的中间光、电
参数测试和（4）变
化量（见筛选13)
正向电压bZxz.net
反向电流
发光强度
功率老炼
（正向偏置）
终点测试
PDA 中闻测试的光也
参数（4）变化坠
正向电压变化量的
绝对值
发光强度变化量的
绝对值
14渐封（不适用）
4.3鉴定检验
方法号
SJ 50033/147--2000
表3筛选要求
GJB128A
T.=100 °C, -72 h
25°C时不要求停顿，试
验条件A，但高温为
100°C，20次循环。
GB/T 15651
GB/T15651
f=20mA
Vg=5 V
1=20mA,6-0°测试条件3
试验条件B，J=30mA，
t-96h。
必须在去掉考炼条件后的
96h内完成全部中间光心参
数和（4）变化量的测试
f=20 mA
1=20mA.9=05，涮试
条件3。
鉴定检验应按GJB33A和本规范表4、5、表6和表7的规定，4.4质量-一致性检验
质量一致性检验应包括A红（见表4）、B纽（见表5）和C（见表6）中规定的检验和4-
TTKAONKAa
试验，以及下面的规定，
SJ 50033/147—2000
4.4.1C组检验应在潮始批时开始进行，然后在连续生产过程中每隔6个月进行一次。4.4.2如果合同中已作规定（见6.2），制造厂应将质量-致性检验数据连同产品一起提供。4.5检验和试验方法
检验和试验方法按表4、表5、表6和表7的规定，表4A组检验
检验或试验
A1分组(PPM-3)
日检和乱碱检验
A2分组(PPM-2)
正向兆乐
反向电流
发光强度
A3分组(PPM-2)
反询也流
正间旺压
峰值发射坡长
光谱辐射带宽
方法号
GJB128A
SJ 2355.3
GB/T 15651
GB/T1S651
GB/T 15651
GET 15651
除非男有规定
Tmb25℃
I,=20 mA
VR-5 V
=0°，测试条件 3
I,=20 mA
-30%，汉试条件 3
Tamb100C
T-55℃
1=20mA
J=20 mA
无气泡，尤裂
纹、尤明显锈
蚀，外观无缺损
LTPD-5
LTPD=10
B1分红
可煌性
B2分组
温度循环
检验或试验
(空气—管气)
终点测试
B3分组
稳态工作寿命
终点测试
键合强度
B4分组
开帽内部目
（设汁核实）
B5 分组
热阻（不用）
B6分红[
高溢寿命
（不1.作）
终点测试
B7 分组
恒定加速度
（不适用）
PIND（粒子能摘噪声检测试验）（不适用）
SJ50033/147-—2000
表5E组检验
GJB128A
方法号
在25C下不要求停顺，试验条件A，但高温为100°℃，25次循环。
表8步骤！
Ip=30 mA, F-340 h
表8步骤2
采用判装前的样品。
采用封装前的样品。
T,a-100°C、r-340 h
1表8步骤2
抽样方案
LTPD=15
LTPD=10
LTPD=5
LTPD=-10
1(c=0)
LTPD-7
TKAONKAa-
检验或试验
CI分组
物理尺
C2分组
热神光
（液体—波沐）
引线强度
外观检任
终点洲试
打频振动
终点测试
C4分组
扑气（侵蚀）
（不要求）
CS 分组
（适用）
C6分组
稳态工作将命
终点测试
C7分组1
高压蒸汽
终点试
C8分组
内部易性
外规检查
方法号
GB4590
GB4590
SJ 50033/147--2000
表6C组捡验
GJB128A
按本规范图！
试验条伴A
试验条件A
省略预处理条件
外观无缺损，无明湿锈蚀，无汽池：无裂纹表8步骤1
不,T.作、14700 m/s，0.5 ms 在 Y,方可:冲击5次
表8步骤1
1=30mA，1000h
表8步骤2
来力：1.5×10Pa，游间：48h
表8步骤2
使器件内部功耗达到环境温度为25°时战人额定功耗的5倍，保挚1min
尤吕翘、起火、发旧火花的现象抽样方深
LTPD=15
LTPD-10
LTPD-10
LTPD=15
LTPD=20
LTPD-20
检验或试验
EI分纽
溫度循环
(空气一空气）
终点测试
正前电压
反向电流
发光强度
正向电压
反向电流
发光强度
方法号
SJ 50033/147--2000
表7E组检验
GJB128A
在25°℃下不要求停顿，试验条件A，但高温为 100°℃，100 饮循环
表名步骤1
表8B组、C组和E组的测试
SJ 2355.2
SJ 2355.3
Tamm=25°℃
[I=20 mA
VR=S V
GB/T 15651
I,=20 mA, 0= 0°
GBT15651
测试条件3。
ff-20 mA
Vr=5 V
I-20 mA, 0=00
测试条件3。
注：1）对本试验超过A2分组极限值的样品不能向历户提供5交货准备
包装、贮存和运输要求应按GJB33A的规定。6说明事项
6.1预定用途
抽样方案
LTPD-15
用丁各种军事仪器设备中的显示器及其它各种用途的子仪器设备中的显示器和指示器。
6.2订货文件内容
合同或订单应载明下列内容：
a．本规范的名称和编号：
器件的型号和等级；
c.数量：
d如果引线材料和颜色不同于本规范，庞规定引线材料和颜色（见3.3）：e如果引线长度不同于图1、应规定引线长度（见3.2.4)：f.检验数据（见4.4.2)：
g。如果订货文件要求，应提供器件的特性曲线；h．其它。
TKAONKAa-
6.3定义
SJ50033/147—2000
本规范使用的定义和符号应按GJB33A，GB/T15651、SJ/T11089的规定&：测试发光强度时，光电探测器轴线与器件机械轴之间的夹角，附加说明：
本规范由中国电子技术标准化研究所口。本规范由长春半导体股份有限公司负责起草。本规范主要起草人：陈兰、海涛。计划项日代号：881009。
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