SJ 50033.148-2000
基本信息
标准号:
SJ 50033.148-2000
中文名称:半导体分立器件 3DK35B~F功率开关晶体管详细规范
标准类别:电子行业标准(SJ)
标准状态:现行
出版语种:简体中文
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半导体
分立
器件
功率
开关
晶体管
详细
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标准简介
SJ 50033.148-2000 半导体分立器件 3DK35B~F功率开关晶体管详细规范
SJ50033.148-2000
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标准内容
中华人民共和国电子行业军用标准FL5961
SJ50033/148—2000
半导体分立器件
3DK35B~F功率开关晶体管
详细规范
Semiconductor discrete deviceDetail specification for type 3DK35B~Fpower switching transistors
2000-10-20发布
2000~10-20实施
中华人民共和国信息产业部批准中华人民共和国电子行业军用标准半导体分立器件
3DK35B~F型功率开关晶体管
详细规范
Semiconductor discrete devlceDetail speciflcation for type 3DK35B~Fpower switehing transistors
1.1主题内容
SJ50033/148—2000
本范定了3DK35B~F型功率开关晶体管(以下简称器件)的详细求。1.2适用范围
本规范适用于器件的研、生产和采购,1.3分类
本规范根据器件质量保证等级进行分类。1.3.1器件的等级
按GJB33A一97《半导体分立器件总规范》中1.3.1条的规定,提供的质量保证等级为普军,特牢和超特军三级。分别用学母P、JT和JCT表示。2引用文件
GB/T458794半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型品体管GB/T7581—87半导体分立器件外形尺寸GB/T12300—90功率晶体管安全1.作区测试方法GJB33A—-97半导体分立器件总规范GJB128A—97半导体分立器件试验方法3要求
3.1详细要求
各项要求成按GJB33A和本规范的规定3.2设计和结构
器件的设计和结构应接GJB33A和本规范的规定。3.2.1批端材料和镀涂
中华人民共和国信息产业部2000~10-20发布2000-10-20实施
HKAONTKAca-
SJ50033/148—2000
引出端材料应为可伐,引出端表面应为锡层或镍层。对引出端涂层另有要求时,在合同或订单中险予以规定。
3.2.2器件的结构
管芯采用外延平面结构,管芯与管座之问采用高温治金键合。3.2.3外形尺寸
外形尺寸应符合GB/T7581中B2—01B型(见图1)的规定。.5@x@2
3DK35D
标患:管帽预端
引端识别:E一发射极B一基极管壳一集电极图1外形图
3.3最大额定值和主要出特性
3. 3. 1 最人额定值
3DK35B
3DK35C
3DK35D
3DK35E
3DK35F
Te-25 °℃
注:1)7>25°C对按0.1W/K的速率线性地降额。-2
B2-01B
上要电特性(T-25°℃)
3DK35E
3DK35C
3DK35D
3DK35E
3DK35F
Yce=3 V
最小值
3.4电测试要求
SJ50033/148—2000
YeEsmA
f.=0.075V
最大值
le-1A Vcc=-25 V
fg/--/gz-=0.1 A
最人值
电测试应符合GB/T4587及本规范的规定。3.5标志
标志应符合GJB33A和本规范的规定器件上应有如下标志:
a.极性标患;
b.型号:
c.等级标志:
d.制造厂标志:
批的识别代码。
4质量保证规定
4.1拙样和检验
抽样和检验应按GJB33A和本规范的规定。4.2鉴定检验
鉴定检验应按GJB33A利本规范A组、B组、C组和E组检验的规定。4.3筛选(仪对JT和IJCT级)
Vee=l0v
最大值
筛选应按GJB33A表2利本规范的规定。其测试应按本规范表1的规定进行,超过本规范表1极限值的器件应子剔除。-3 -
TYKAOIKAca-
1.内部日榜(封帽前)
2.南温券命
非「作寿命(稳定烘焙)
3.温度循环
(牢气一窄)
热响险
4.恒定册速度
9.中润谢试电参数
10.高温反缩
11.PDA的中间电参数测试
12.功率老炼
13.终点测试
PDA的十间测试
电参数变化量及其它电
14.密封
(a)卵险漏
(b)机检漏
t6.现险查
SJ 50033/148--2000
筛选要求
试验方法
GJB128A
GEB/T4587
仅对JCT级产品
Tx-175°℃ t=96 h
试验条件G,20次
Vce=10 V, fg=0.5 A
Rite10K
Y1方向98000m/s2,不要求保持1min按本规范表1的A2分组规定
试验条件AT=150°℃ Vm-0.8Vcao=48h按装!的规定测试IcBoi,hee并做记录试验条件BT-162.5±12.5C,Vce=20V,fc=0.5A-168h
接本规范表1的A2分继规定
[4fcaal≤初始值的100%或100μA取较人者。[4≤初始值的20%
试验条件Hl,乐力310kPa加压时间2h最大漏率≤50mPacml/s
试验条件C压力517kPa加上时间2h打标志店进行
在:5、6、6、8、15项筛选试验不要求,第7项试验由第14项完成。4.4质量一致性检验
质证一致性检验应按GJB33A和本规范的规定进行。4.4. 1A纸检验
A维检验应按GB33A和本规范表1的规定进行。4. 4. 2 B 组检验
B组检验应按GIB33A和本规范表2的规定进行。4. 4. 3 C组检验
C组检验应按GJB33A利本规范表3的现定进行,4.5检验和试验方法
检验和试验方法应按本规范格应的表和下列规定进行。4.5.1减冲测试
SJ 50033/148—2000
脉冲测试条作应按GJB128A中4.3.2.2的规定表 1 A 组捡验
检验或试验
1分组
外观和机撼控验
2分组
荣电极一发射摄
许穿电压
3DK35B
3DK35C
3DK35D
3DK35E
3DK35F
发射极一辈极末穿
GB4587第V竞
GJB128A
GJB128A
第1节
集也极一基极截止
1第1节2.1
集电极一发射板截!
集电极一发射板饱
和电限
基极一发射极饱和
压向电流传输比
3分组
南溢工作
集极.极俄止
低温1.作
正向电流传输比
第1节3
第1节4.2
第1节5.1
第1节9.6
第「节2.1
图1的、U、、A
T=25℃
发射极--基极开路
fe=2 mA
p=30μs
集疮极一基极万路
发射极一基极开路
Vce= Ycao
发射级一基极开路
Vce-0.S Veo
1e-0.075 A
fe=0.75 A
/e=0.075A
YcE=3V
(脉冲法)
TA=125±5 °C.
发射极一基极开路
Ye=0.7 VeBo
TA--55±3 C
5Ve=3 V. 1e-0.75 A
(脉冲法)
抽样方案
LTPD=5
VtRiCEO
VBRJEBO
极限值
YTKAONKACa-
检验或试验
4分组
升通时间
存储时间
下降时间
5分组
安全工作区
(直流)
试验1
试验 2
试验 3
3DK3SB
3DK35C
3DK35D
3DK35E
3DK35F
终点测试
SJ 50033/148—2000
续表1
GB/T4587第IV章
第 1节12
第1节12
第1节12
注:A6、A7分组不适用。
1e=I A, Vcc-25 V
Igi= -Ig2=0.1 A
1,=I A. Vo=25 V
Ig/=-m2=0.1A
l=I A, Voc-25 V
Ig/= -/g,=0.1A
见图2
T,-25 °C
f-1s单次
Vece-5 V e=3 A
Vcc-20-V 7,=0.75A
Vem=50V 1c-90mA
Vc=80 V Ig-30 mA
Vee=110V Ie=15 mA
Vce=150 V le=7.5 mA
Vur=200 V Ig=4 mA
见表 5 步骤 1 和 3
抽样方案
LTPD-5
极限值
最小、
检验或试验
1分组
可性性
耐济剂
2分组
温度循环
密封:
(a)纠检漏
(b)期捡漏
终点测试
3分组
稳态工作寿命
终点测试
4分组
开帽内部日检
(设计核实)
键合强度
6分纽
高寿命
(非T作)
终点测试
试验方法
GJB 128A
SJ 50033/148—2000
表2B组检验
每个试验可用单独的样品
试验条件G
试验条作H1、力310kPa加时
间2h,最人漏率≤50mPa.cm/s
试验条件c压力517kPa加压时间
见表 5步骤1和3
T=162.5±12.5 °C,
Ve-20 V, fe=0.5 A
表5步骤2 和 4
见设计文伴
试验条作A拉F=400mV
TA+175°℃
F-340h
见表5步骤2和4
鉴定检验和人
批量的质量
致性睑验
LTPD=15
8只器件
LTPD-10
LTPD-5
1 (c=0)
LTPD=10
LTPD-7
注:5分组、7分组不要求,4分组承制方提供封帽前器件做样品供检验用。小批量的质战
一致性捡验
4 (c=0)
6 (c=0)
12 (c=0)
1 (c=0)
LTPD=10
12 (c-0)
TKAONKAa-
捡验或试验
物理尺寸
2分组
热冲法
(液体-—波体)
引出端强度
潮封:
a)细检漏
b)粗检漏
外观检查
终点测试
3分组
扫频动
恒定加速度
终点测试
6分组
稳态士作寿命
终点测试
试验方法
GJB128A
注:4分组不要求。
SJ50033/148--2000
表3C组检验
按图丨规定尺寸
试验条件A15次
试验条件A,受试端数:2
拉力: F=20 N, {=10 s
同B2分组
间B2分红
不要求预处理
见表5步骤1和3
在X)、YI和ZI每个方向上各冲击5欲,不工作。
14700m/s0.5ms
在 X1、Y1、ZI方向上试验
加速度98000m/s
见表5步骥1和3
7=162.5±12.5℃,
Vem=-20 V, I,=0.5 A
=1000 h
表5步骤2和 4
鉴定捡验和大
批量的质量
致性检验
LTPD=15
LTPD-10bzxZ.net
LTPD-10
小批量的质量
致性检验
6 (c=0)
6 (c=0)
6 (=0)
12 (c=0)
1分组“”
温度循环
(空气—牢气)
(可用B2分组样品再加25次试验)终点测试
4分组
注:2、3、5分组不适用,
SJ50033/148—2000
表4E组检验(仅供鉴定)
GJB128A
方法号
GE/T4587
第NV章
」节!
100次
试验条件C
见表 5 步骤 5 和 6
Vem=10 V, Ig=0.5 A
RahI0K/W
表5A组、B组、C纽和E组的终点测试步骥
检验或试验
集心极一基极截正心
渠电极一基极截止电
正向电流传输比
正向电流传输比的变
集电极一基极载上电
正向电近传输比
第丨节
第1节
第1节
第|节
GB/T4587
发射极-某极开路
Vem=Veno
发射极一淋级开路
Vcn=VcBo
Vce=3 V
咏冲法
Vce=3V
脉冲法见4.5.1
发射极一其级开路
Vcn= Vceo
1e=0.75 A
味冲法见4.51
注:1)本测试超山A组极退值的器件不成接收5交货准备
5.1包装要求
包装要求垃按GIB33A的规定。
5.2赠存要求
贮存要求应按GJB 33A的规定。
[A hrei?
极限值
抽样方案
LTPD-20
LTPD=10
≤初始值的25%
TTKAONKAa-
5.3运输要求
SJ50033/148--2000
运输要求应按GJB33A的规定。
6说明事项
6.1预定用途
符合本规范的器件供新设备设计使用和供现有设备的后勤保障用。6.2订货文件内容
台同或订单应规定下列内容:
-本规范的名称和编号:
器件的型号:
等级(见1.3.1);
数量:
-对引出端材料和镀涂的特殊要求;一需要时,其它要求。
6.3直流安全工作区(见图2)
T~25℃
3DK35C
3DKJSD
3DK35E
3DK35F
5050110150200
图23DK35点流安全作区
附加说明:
SJ50033/148-2000
本规范由中华人民共和国信息产业部提出。本规范中国屯子标推化研究所归口1。本规范由国营第八七二厂负责起草。本规范主要起草人:陈凯、邱芬飞。计划项日代号:B81013,
KAONKAca-
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