SJ 50033.151-2002 半导体分立器件 2DW14～18型低噪声硅电压基准二极管详细规范 SJ50033.151-2002 标准下载解压密码：www.bzxz.net

中华人民共和国电子行业军用标准FL5961
半导体分立器件
SJ50033/151—2002
2DW14～18型低噪声硅电压基准二极管详细规范
Semiconductordiscrete deviceDetail specification for low-noise silicor voltage-regulator diodes for types 2DW14 - 182002-10-30 发布
2003-03-01实施
中华人民共和国信息产业部批准1范围
中华人民共和国电子行业军用标准半导体分立器件
2DW14~18型低噪声硅电压基准二极管详细规范
Semiconductor discrete deviceDetail specification for low-noise siliconvoltage-regulator diodes for type 2DW14~~181.1主题内容
HKAONiKAca
$J 50033/151—2002
本规范规定了2DW1418型低躁声硅说压基准二极管（以E称馨作）的详细要求。1.2适用范围
本规范适用于器件的研制，生产和采购。1.3分类
本规范根据器件质量保证等级达行分类：1.3.1器件的等级5
按GJB33A-97《群导体分立器件总规范》1.3.1的规定，提供的顾载保证等级势酱车、特军和超特军三级，分别用字母、和C衣永2引用文件
GB/T6571-1993，整导体器件分立器性第部分信母（包括力关）和调整二极管GB/I7581--1987体分立器件外形尺GJB33A—97半体分龙器作总规范GJB128A—97半导体分立器作试验方法3要求
3.1详细要求
各项要求应按GJB33A和本规范的规定。3.2设计、结构和外形尺寸
器件的设计和结构应按GJB33A和本规范的规定。3.2.1引出端材料和涂层
引出端材料为可伐，引出端表面应为金层或镍层，对引出端涂层另有要求时，在合同或订货单中予以规定。
中华人民共和国信息产业部2002-10-30发布2003-03-01实施
3.2.2器件的结构
器件采用金属管壳全密封封装结构。SJ50033/151—2002
管芯采用平面工艺，管芯与管座之间采用高温冶金键合。3.2.3器件电原理图
3.2.4外形尺寸
外形尺寸应符合GB/T7581中的A3-02B（B4）型及本规范的规定（见图1)。ob
标志区
极性排列：输出端1或2为负极端，以色点表示，另一端为正极端，3为空。图1
3.3最大额定值和主要电特性
3.3.1最人额定值
最大额定值见表1。
外形图
表1最大额定值
2DW14--18
TA=50℃
TA=50℃
1）当TA>50℃时，按1.6mW/K的速率线性地降额。2
A3 ·02B (B4)
-55～175
3.3.2主要电特性
主要电特性（TA-25℃）见表2。号
电参数
Iz=10 mA
SJ 50033/151-—2002
主要电特性参数
Vr=3.6 Vf10 Hz-10 kHz
Jz=10 mAjVr=I V
I=10 mA
1）由供方给出每只管子的z数值，3.4电测试要求
电测试应符合GB/T6571及本规范的规。3.5标志
3.5.1标志应符合GJB33A利本规范的规定。器件上的标志示例：
4质量保证规定
4.1抽样和检验
抽样和检验应按GJB33A和本规范的规定。Law
≤5x0
5X10-4
测试温度
KAONTKAca
Iz-lzo(z,)
Tn=55±01℃
ness~100
tt/355~100
25毫75
￥5×10*4
1-55~-foo
25~-75 1
af-55+100
55~100
4.2鉴定检验
SJ 50033/151--2002
4.2.1鉴定检验应按GJB33A及本规范的规定。4. 2.2E组检验(仅供鉴定)
E组检验应按GJB33A和本规范表7的规定进行。4.3筛选（仅对JT和JCT级）
筛选应按GJB33A表3的相关规定，具体要求见表3。其测试应按表4的规定进行，超过表4极限值的器件应予剔除。
表3筛选要求
筛选项目
内部日检（封帽前）
高温寿命(不工作)
温度循环(空气一空气)
恒定加速度
粒了碰撞躁声检测
(PIND)(仅对 ICT 级)
PDA的中间电参数测试和A)变化量功率老炼
终点测试Www.bzxZ.net
PDA的中间测试和电参数变化量
细捡漏
b）粗检漏
16日视捡查
试验方法号
GIB128A
2072、2073
试验条件B
仅对 JCT级器件
TA=175℃
f=96 h
试验条件：G
次数：20次
Y1方向196 000m/s2
试验条件A
按表4的2分组、4分纽
潮试V2R
I-30 mA [=96 h T^-25℃
按表4的2分组、4分组
8) /≤初始值的 0.5%。
【，1≤初始值的100%或
0.05μA，取较大着。
b）1≤0.2倍初始值
试验条性HI
最人漏泄率；5×10pa-cm/s
试验条作C：加压517kPa、2h
打标志后进行
注：GB33A的表3中6、7、8、9、10、15项不要求，第7项由第14项完成。4. 4质量-致性检验
质量一性检验应按GIB33A利本规范的规定。4.4.1A组检验
A纽检验应按GJB33A和本规范表4的规定进行。4.4.2B组检验
B组检验应按GJB33A和本规范表5的规定逆行。4.4.3C组检验
C组检验应按GJB33A和本规范表6的规定进行。4.4.4D组检验(不适用）
4.5检验和试验方法
SJ 50033/151—2002
检验和试验方法应按本规范相应的表和下列规定进行。4.5. 1脉冲测试
脉冲测试条件应按GJB128A中的4.3.2.2的规定。4.5.2长期稳定性测试
KANIKAca-
在规定的Izo（或Iz，精度士1uA）及恒温槽（温度T=55℃±0.1℃）内，施加电流4h后，测出第一次Vz!，以后再每隔24h测试一次Vz，直到施加电流时间t=100h为止，共测五个点。按公式（1）计算：
Vz max -Vz
式中：Vzmax——s个时间检测点中最大基准压值，单位对茯特y)：Vzmin——--5个时间检测点中最小基准电压摄说熟做烤供特V）Vzaom—一器件的标称基准龟压值（表2第栏单位头侯辖（）8—-长期稳定性。
测试环境温度为25℃土2℃，相对湿度小干65%。6应符合表2第6栏的规定
4.5.3工作电压温度系数测试
在规定的环境温度T75c室施班测试电流10（见表2第5格H基准电压值V再在T-25℃土1℃下能一潮试电流，诞出基框电屏Vz，（有效数等工戴江5位，孩公式（2）计算：
要求恒流电源电流变化值（1≤0.005mA凝希滤度下的洲试时激1min。式中：Vz—T温度十的基准电E单位为伏特V2——2温度下的基准电单位为秋特学y(2)
或试验
1分组
外观及
机械捡验
2分红
基准电压
反向电流
3分组
荔温工作
反向电流
低溢工作
微分电队
4分组
微分电阻
7分组
工作电压
温度系数
8分组
梁离电压
SJ50033/151—2002
表 4 A组检验
GB/T6571中第V辛第2节
GJB 128A
GB/T 6571 剪
TA-25C
脉冲法
ru=-0.3 ms
5≤2%
Iz=10 mA
啄冲法
tw=0.3 ms
6≤2%
%按表2第3栏规定
7=125±3℃
脉冲法
tw=0.3 ms
5≤2%
VR-1V
7A--55±3℃
脉冲法
ta=0.3 ms
15≤2%
f=10 mA
脉冲法
J tu-=0.3 ms
Ig=10 mA
直流法
按本规范4.5.3的规定
V章第2节中？
f-10 z~10 kHz
Iz=10mA
注：GJB33A表4中的5分组、6分红不适用。6
LTPD-5
6(c=0)
116 (r-0)
116(α=0)
ITPD-10
LTPD-10
极限值
最小值
最大值
图1的A、L、@D
表2第1栏
表２第「Ａ
表2第「uA
表2第
表2第
检验或试验
1分组
可焊性
酵溶剂性
2分纽
温度循环
(空气空气)
密封试验
a）细检漏
b）粗捡漏
终点测试
3分组
稳态工作寿命
终点测试
4分组
开内部且检
（设计核实）
6分组
高温寿命
(非工作状态）
终点逊试
SJ 50033/151—2002
表5B组检验
GJB128A
试验条件G
次数：25次
试验条件
最太瀚浩素
s×10p: cm/s*
试验条释c
加压51kP、2h
按表8步驿124机点
iT23ct3.0hIz30mA
拨装8骤3、4和6
样品从规定的试验条理熟出4~96h内进行测试谢试结奥登争议到96m测试为准。
按设计设性
LTA-175℃
间B3.分组
1=340 h
注，GJB33A中4B的5分组不要求，7分组在C红3分纤进行！鉴定检验和大批量
的质量一致性
检验方案
LTPD=1S
LTPD-10
LrPD-s
treto)
LTPD-?
KONTKAca
小批量的质量
-致性检验
6(c-0)
12(c-0)
1(c=0)
12(c=0)
检验或试验
1分组
物理尺寸
2分组
热冲击
(波体-液体)
引出端强度
a）纽检溺
b）捏检痛
外观及机械
终点测试
3分组
扫频瑕动
恒定加速度
终点测试
6分组
稳态工作寿命
键合强度
终点测试
7分组
长时间稳定性
GJB 128A
按图1外形尺寸
试验条件 A
5试验条件A
F-sN t=10s±Is
引线1和2
试验备件H1
最人泄率：
5X10pa·em*/s
试验条件C
加压 517kPa、2 h
不要求预处理
SJ 50033/151—2002
表 6 C组检验
鉴定检验和大批
益的质量一致性
检验抽样方案
LTPD-15
LTPD-10
按表8步骤1、2、4和 5
LTPD-10
2016在X、Y、Z,每个方向上
冲出5次，不下作，
14 700 m/s2, 0.5 ms.
在Xi、YI、Z,每个方向 F:
做196000m/s试验
时间：1min
技表8步骤1.2、4和5
TA-25℃
I-30 mA
同B3分组
t =1 000 h
LTPD=10
LTPD-20
按本规范4.5.2的要求
注：GJB33A中表6的第4分组、5分组不适用。8
小批量的质量
~致性检验
6(c-0)
6(e=0)
6(c-0)
12(c=0)
LTPD-10
6(e-0)
极限值
最小值最大值
第6栏
1分组
检验或试验
温度循环
(空一空气)
终点测试
SJ50033/151—2002
表 7E组捡验(仅供鉴定)
GJR128A
试验条件：G
次数：200次
按表8步骤1和5
注：GJ333A中表7的第2、3、4和5分纽不适用。表8 B组、C组和组终点试
GB/T 6571第M第2节
反向电流
反向电
反向电流变化量：
微分电阻
基准电压
基准电压变化毂！
T-25℃*
（滕冲测试）
it'R=-1 V
Ye-3try
z:10-mA
1210mA
1）本湿试超过A组极限值的器祥不应接收5
交货准备
包装要求
包装要求应按GJB33A的规定。
贮存要求
贮存要求应按GJB33A的规定
运输要求
运输要求应按GJB33A的规定。
6说明事项
预定用途
抽样方案
LTPD-20
最大值
表2第3档
蒸2第3档
初始值的100%战注记A，取较太者：表之第2群
表2第1档
符合本规范的器件供新设备设计使用和供现有的后勤保障用。6.2订购文件内容
合同或订单应规范下列内容：
本规范的名称和编号；
器件型号：
一数量：
一等级(见1.3.1)；
-对引出端材料和涂层有特殊要求时；一需要时，典型特性曲线；
表21栏
初始值的1%
YKAONTKACa
-需要时，其他要求。
附加说明：
SJ 50033/151—2002
本规范由信息产业部电子第四研究所口。本规范由国营第八七三厂起草。本规范主要起草人：邹盛珠、方宁。
项目计划代号：B01008。
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