SJ 50033.152-2002 半导体分立器件 2CK140型微波开关二极管详细规范 SJ50033.152-2002 标准下载解压密码：www.bzxz.net

中华人民共和国电子行业军用标准FL5961
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SJ50033/152—2002
2CK140型微波开关二极管
详细规范
Semiconductor discrete devicesDetail specification for type 2CK140 microwave switch diode2002-10-30发布
2003-03-01 实施
中华人民共和国信息产业部批准1范围
中华人民共和国电子行业军用标准半导体分立器件
2CK140型微波开关二极管
详细规范
Semiconductor discrete devicesDetail specification for type 2CK140 microwave switch diode1.1主题内容
本规范规定了2CK[40型微波开关极管(以下简称器伴)的详细婴求。1.2适用范围
本规范适用于器件的研制、生产和采购。1.3分类
本规范根据器件质量保证等级进行分类。1.3.1器件的等级
KANIKAca-
SJ 50033/152--2002
按GJB33A97斗半导体分立器件总规范13条的规定，提供的质量保证等级为警军，特军和超特不三级，分别用字接JP、打制ICT装示。2引用文件
GB/T6570—86微波二极管测试方法GJB33A-97非导体分立器作总规范GJB128A一97半导体券支器件试验方法3要求
3.1详细要求
各项要求应符合GJB33A和本规范的规定。3.2设计、结构和外形尺寸
器件的设计、结构和外形尺寸应按GJB33A和本规范的规定。3.2.1出端材料和镀层
器件采用豉瑙管壳封装，引出端材料为无氧铜，表面镀层为金。3.2.2器件结构
本器件采用硅反外延PIN台式结构，玻璃管壳实体封装。中华人民共和国信意产业部2002-10-30发布2003-03-01实施
3.2.3外形尺寸
外形尺寸见图1。
3.3最大额定值和主要电特性
3.3.1最大额定值
最大额定值见表1。
2CK140
SJ50033/152--2002
负极标志
工作电压W
1）T>25℃时，按16.7mW/K线性降额.3.3.2主要电特性
主要电特性见表2（TA-25℃）。极
2CK140A
2CK140B
VR=300 V
最大值
le-100 mA
股大值
外形尺寸
表1最大额定值
耗散功率Pp\
(7^-25 ℃)
表2主要电特性
Ctot sa
VR=50 V
f1 MHz
段大侦
贮存温度Tag
-55~～175
If=100 mA
f-50Hz
最人值
轻大值
工作温度Tor
-55~125
IF-10mA
IR=100 mA
最大值
3.4电测试要求
sJ 50033/152--2002
电测试应符合GB/T6570及本规范的规定。3.5标志
本器件极性标志见图1，器件外包装上的标志应符合GJB33A的规定。4质量保证规定
4.1抽样和检验
抽样和检验应按GJB33A及本规范的规定。4.2鉴定检验
鉴定检验应按GJB33A和本规范表4、表5表6.租表7的规定进行。4.3筛选（仅对JT和JCT级）
KAONIKAca
筛选应按GJB33A的规定．真体筛选要求按表3规定。其测试按表4的规定进行，超过表4极限！值的器件应予以剔除。
筛选要求
1内部日检
2 高温命
3温度循环
(空气～空)
10高温反偏
1中间测试
12功率老炼
13最后测试
GJB128A
方法号
夜对JCT级得件。
175℃，72 h
验条择G20次
条件和要柔
JCT 和JT
试验系件 A，T=50C，240 V，48 hIr. Ve, Ciot e.yp?
Ti-25C货保压能i强信号f30Hze产100mA，VR-300 V,96h拉本观违表4A2分组规定：
14r:l≤0in
么Ctot-5a≤初始值的10%。
注：GJB33A表5中未指明的试验不适用。4.4质量一致性检验
质量一致性检验按GJB33A和本规范的规定。4.4.1A组检验
A组检验按GJB33A和本规范表4规定进行。4.4.2B组检验
B组检验按GJB33A和本规范表5规定进行。4. 4.3C 组检验
C组检验按GJB33A利本规范表6规定进行。4.5捡验和试验方法
检验和试验方法应按本规范相应的表中规定的方法进行。3
试验或检验
A1分组
外观及机械检验
A2分组
正向压降
2CK140A
2CK140B
反向电流
2CK140A
2CK140B
正向微分电阻
2CK140A
2CK140B
A3分组
高温工作
反向电流
低湿工作
反向电流
A4分组
反向恢复时间
试验或
B1分组
可焊性
耐溶剂性
B2 分组
热冲击
终点测试
B3分组
稳态工作寿命
终点测试
GB/T 6570
SJ 50033/152—-2002
表4A组检验
抽样方案
GJB128A
TA-25℃
IF=100 mA
VR-300 V
F-1MHz,
Vr=50 V
1e=100 mA
TA=125℃
VR=300 V
TA--55℃
Ya=300V
Ip=10 mA
Ir-100 mA
LTPD-S
116(c0)
116(c=0)
116(e=0)
表5B组检验
GIB 128A
每个件受试引线数：2
试验条件A，10次
见表8步骥1，3，5
TA-25℃，负偏压叠加正弦信
号, f-50 Hz, Vay-210 V,
Irm50 mA, 340 h
见表8步骤2，4，6
Ctot t-a
鉴定检验和大
批量的质盘
致性检验抽样
LTPD15
LTPD-10
LTPD-S
极限值
小批量的质粒
一致性检验
6(C-0)
12(C=0)
极限值
试验或
B5分组
B6分组
高温寿命
终点测试
GB/T 6570
GJB128A
SJ50033/152--2002
续表5
鉴定检验和大
批的质量一
TA-25℃
I=1 A, tw=1 s
Ta=175'C, t-340.h
见表 8,步骤 2 4z,63
托：GIB33A表7中未指明的分红不适前。致性检验抽样
LTPD=S
C组检验
试验或检验
CI分组
物理尺寸
C2分组
热冲击
引出端强度
引线劳
外观捡查
终点测试
C6分组
稳态工作寿命
终点浏试
GJD 128A
试验条推A
验条件A20N3min
试验条件E
省略预处理。
装步骤13，
加电条件同B3分组，
1000 h
见表意步联2，4.6
注：GJB 33A表8中未指明的分组不适用。小批盈的质型
-致性检验
6(C α-0)
12(Ca0)
鉴定检验和大批量的质星
致性毂验抽棉方案
L7PD#10
表 7E组检验仅供鉴定）
试验或检验
E1分组
混度循环
终点测试
E4分组
ES分组
低气压
终点测试
GB/T 6370±3.10
GIB128A
试验条件G，200次
见表8步骤1，3，5
TA-25℃
l=1A,tw-l s
试验条件F，Yr=300V，5min
见表8步骤1
注：GJB33A表7中未指明的分纽不适用。抽样方案
极限值
FTIKAONTKACa-
小批载的质堂
一致性检验n/c
6(C-0)
6(C=0)
12(C=0)
极限值
LTPD-30
LTPD-10
LTPD-15
反向电流
反闻电流
总电容
2CK140A
2CK140B
总电容变化量
正向微分电阻
2CK140A
2CK140B
正向微分电阻
变化量
SJ50033/152—202
表8B组、C组和E组检验的终点测试GB/T6570
VR=300V
Va=300 V
Vx=50 V,
F-I MHZ
Vr-50 V, f-I MHz
Ir=100 mA.
F-50Hz
1=100 mA,
f-s0 Hz
1）本测试超过人组捡验极限值的器件不应接收。5交货准备
5.1包装要求
包装要求应按GJB33A的规定。
5.2贮存要求
贮存要求应按GJB33A的规定。
5.3运输要求
运输要求应按GJB33A的规定。
6说明事项
6. 1预定用途
Cha t oy
JAC at-so
C ri -30)
符合本规定的器件供新设备设计使用和现有设备的后勤保障用。6.2订货资料
合同或订单应规定下列内容：
本规范名称和编号；
等级(见1.3.1)：
数量：
露要时，其它斐求。
6.3型号对照
本器作型号与器件原企业型号对照如下：企业型号
行业型号
2CK140A
极限值
2CK140B
附加说明：
SJ50033/152—-2002
本规范由信息产业部电子第四研究所归口。本规范由信息产业部电子第五十五研究所负资起草。本规范主要起草人：黄玉英，胡古今。计划项目代号：B01007。
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