SJ 50033.153-2002 半导体分立器件 2CK141型微波开关二极管详细规范 SJ50033.153-2002 标准下载解压密码：www.bzxz.net

中华人民共和国电子行业军用标准FL.5961
半导体分立器件
SJ50033/153--2002
2CK141型微波开关二极管
详细规范
SemiconductordiscretedevicesDetail specification for type 2CK141 microwave switch diode2002-10-30 发布
2003-03-01 实施
中华人民共和国信息产业部批准1范围
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2CK141型微波并关二极管
详细规范
Semiconductor discrete devicesDetail specification for type 2CK141 microwave switch diode1.1主题内容
木规范规定了2CK141型敏波开关二极管款以下简称件的说细要求。1.2适用范围
本规范适用于器件的研制、生产利采购。1.3分类
本规范根据器件质量保证等级进行分举1.3.1器件的等级
IKAKAa-
SJ50033/153-2002
按GJB33A97《半导体分立器件总规范》13系的规定，提供的癫量保证等级为评官、特军和超特军三级，分别用字母P、JT:和JCT表示。2引用文件
GB/T6570-86微波二极管测试方法GJB33A-1997半导体分立器件总规范GJB128A-~1997半导体分立器件试验方法3要求
3.1详细要求
各项要求应符合GJB33A和本规范的规定。3.2设计、结构和外形尺寸
器件的设计、结构和外形尺寸应按GJB33A和率规范的规定：3.2.1引出端材料和镀层
器件采用玻璃管壳封装，引出端材料为无氧，表面镀层为锡。3.2.2器件结构
本器件采用硅正外延PIN台式结构，玻璃管壳实体封装。中华人民共和国信急产业部2002-10-30发布2003-03-01实施
3.2.3外形尺寸
SJ50033/153—2002
器件采用玻壳封装，外形尺寸见图1。负极标志
尺寸代号
3.3最大额定值和主要电特性
3.3.1最大额定值
最大额定值见表1。
外形尺寸
表1最大额定值
2CK141
工作电乐VRM
1）T>25C附，按2.67mW/K线性降额。3.3.2主要电特性
主要电特性见表2（TA=25℃）。特性和
2CK141
VR=150 V
敢人值
耗散功率 P
(TA-25 C)
表2主要电特性
Ciou 0i
e=100mA
段大值
VR=50 V
F-1 MHz
最大值
存贮温度 Tt
-35~175
If=20 mA
最大佐
工作溢度ToP
-55--125
IF-10mA
IR=100mA
段大值
3.4电测试要求
SJ 50033/153—2002
电测试应符合GB/T6570及本规范的规定。3.5标志
本器件极性标志见图1，器件外包装上的标志应符合GJB33A的规定4
质量保证规定
4.1抽样和检验
抽样和检验应按GJB33A及本规范的规定。4.2鉴定检验
鉴定检验应按GJB33A和本规范表4、表 5表.6.科表7,的规定进行。4.3筛选（仅对JT和JCT级）
-TKANKAa-
筛选应按GJB33A的规定，具体筛选求按装规是“其领试按表4的规定进行，超过表4极限值的器件应予以剔除。
表3筛选要求
1内部日捡
2高温寿命
3温度循环
（空气～空气）
10高温反
11中间测试
12功率老炼
13最后测试
GJB128A
方送号：
注：GJB33A表5中未指明的试验不适用：4.4质量一致性检验
仅对T级器件。
试验条件G。20次
条件和要求
试验系伴A，TA-150CFR-120V8h
TR、ea
T-25C偏压多期正强信号系Hz，IM=50mA：VRM-150V,966%
按本观滋表4A2分组规定：
1Arl≤0.20;
「ACart-n[≤初始值的10%
质量一致性检验按GJB33A和本规范的规定器4.4.1A纽检验
A组检验按GJB33A和本规范表4规定进行。4.4.2B组检验
B组检验按GJB33A和本规范表5规定进行。4.4.3C组检验
C组检验按GJB33A和本规范表6规定进行。4.5检验和试验方法
检验和试验方法应按本规范相应的表中规定的方法进行。3
试验或检验
AI分组
外观及机械检验
A2分组
正向压降
反向电流
总电容
正向微分电阻
A3分组
商温工作
反向电流
低温工作
反向电流
A4分组
皮向恢复时间
试验或检验
B1分组
可焊性
耐溶剂性
B2分组
热冲击
终点测试
B3分组
稳态工作寿命
终点测试
B6 分组
高温寿命
终点测试
GB/T6570
SJ50033/153—2002
表4A组检验
抽拌方案
GJB128A
TA-25℃
fg=100 mA
Vr=150V
f-1 MHz.,
Vr=50 V
IF-20mA
TA=125℃
PR=150 V
TA--55℃
Vr=150 V
J-10mA
fe=100mA
LTPD=5
116(C=0)
116(C0)
116(C=0)
表5B组检验
GB128A
每个器件受试引线数：2
试验条件A，10次
见表8步骤1，3，5
TA-25℃，负偏压登加正弦信号，f-50 Hz, VRM-90 V, IM-20 mA,r=340 h
见表8步骥2，4，6
TA-175C, t340h
见表8步辑2，4.6
注：GJB33A表7中未指明的分红不适用符号
Cet-so
极限值
最小般大
鉴定检验和大批站
的质量-一致性检验
控样方案
LTPD-15
LTPD-10
LTPD-5
LTPD=7
小批量的质显一
致性检验
6(C-0)
6(C-0)
12(C-0)
12(C-0)
试验或检验
cI分组
物理尺寸
C2分组
热冲街
山端强度
引线疲劳
外观捡查
终点测试
C6分组
熬态工作寿命
终点测试
SJ 50033/153—2002
表6C组检验
GJB128A
按图1要求
试验条件A
试验条件A，5N，3min
试验条性E
爷略预处理，
现表8步骤1，3，5
加电条件同83分组：←1 000 h
现表8乐，6
注：GJB33A表8中未指明的牙继活川表7E组检验（仅供鉴定）
试验或检验
E1分组
滋度循环
终点浏试
GI128A
条生G20Q次
注：GJB33A表7中米指听的分组浓适用。表8B组、C组和E组检验的终点测试步骤
反向电流
反向电流
总电容，
总电容变化费
正向微分电阻
正询微分电阻
变化量
GB/T6570
Yr=13d
Vr=50 V, F1 MHz
Vr=50 V. f-1 Miz
If-20 mA, f-50 Hz
I=20 mA, f-50 Hz
1）本测试超过人纽检验极限值的器作不应接收。符号
YIKAONTKAca-
鉴定检验和大批！
小批赶的质录
量的质量一致性
捡验抽样方案
LTPD=15
LTPD=10
抽样方案
LTPb-30
极限值
Cuar-50
1ACat-0)
致性检验
6(C-0)
6(C-0)
12(C-0)
5交货准备
包装要求
包装要求应按GJB33A的规定。
5.2贮存要求
贮存要求应按GJB33A的规定。
5.3运输要求
运输要求应按GJB33A的规定。
6说明事项
预定用途
SJ50033/153--2002
符合本规定的器件供新设备设计使用和现有设备的后勤保障川。6.2订货资料
合同或订单应规定下列内容：
本规范名称和编号；
等级(见1.3.1);
数量：
需要时，其它求。
6.3型号对照
本器件原企业型号为WK39H。
附加说明：
本规范由信息产业部电子第四研究所归口。本规范由信息产业部电子第五十五研究所负责起草，本规范主要起草人：黄玉英、胡占今。计划项目代号：B01007。
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