首页 > 电子行业标准(SJ) > SJ 50033.154-2002 半导体分立器件 3DG251型硅超高频低噪声晶体管详细规范
SJ 50033.154-2002

基本信息

标准号: SJ 50033.154-2002

中文名称:半导体分立器件 3DG251型硅超高频低噪声晶体管详细规范

标准类别:电子行业标准(SJ)

标准状态:现行

出版语种:简体中文

下载格式:.rar .pdf

下载大小:311479

相关标签: 半导体 分立 器件 超高频 低噪声 晶体管 详细 规范

标准分类号

关联标准

出版信息

相关单位信息

标准简介

SJ 50033.154-2002 半导体分立器件 3DG251型硅超高频低噪声晶体管详细规范 SJ50033.154-2002 标准下载解压密码:www.bzxz.net

标准图片预览






标准内容

中华人民共和国电子行业军用标准FL5961
SJ50033/1542002
半导体分立器件
3DG251型硅超高频低噪声晶体管详细规范
SemiconductordiscretedevicesDetail specification for type 3DG251 silicon UHF low-noise transistor2002-10-30发布
2003-03-01实施
中华人民共和国信息产业部批准中华人民共和国电子行业军用标准半导体分立器件
3DG251型硅超高频低噪声晶体管详细规范
Semiconductor discrete devicesDetail specification for type 3DG251 silicon UHF low-noise transistor1范園
1. 1 主题内容
SJ50033/154-2002
本规范规定了3DG251型硅超高频低媒声晶休(以简称器)的详细要求。1.2适用范围wwW.bzxz.Net
本规范适用于器件的研制、生严和采购。1.3分类
本规范根据器件质意等级进行分类。-YYKAONTKAca
t.3.1器件的等级
按GJB33A--97《半导体分立器作意规范》1.3的规定,提供的质量保证效级为谱军级,特军级和超特军级三级,分别用学母JP利UCT表示。2引用文件
GB/T4587—94米导体分置器件和集成电路,第7部分双极型晶体GB/T7581-8半导分立器作外形尺寸GJB33A一97伴导体分立器能总规范GJB128A—97半导体分立攀件诚验方法3要求
3.1详细要求
各项要求应符合GJB33A和本规范的规*3.2设计、结构和外形尺寸
器件的设计、结构和外形尺寸应符合GIB33A租本规范的规定。3.2.1引出端材料和镀涂层
发射极、基极和集电极引出端材料为可伐合金,引出端表面镀金。3.2.2器作结构
采用硅平面NPN双极型外延结构。中华人民共和国信息产业部2002-10-30发布2003-03-01实施
3.2.3外形尺寸
SJ 50033/154—-2002
外形尺寸按GB/T7581中A4-01C型的规定,见图1。SD
3.3最大额定值和主要电特性
3.3.1最大额定值
最大额定值见表1。
3DG251
TA-25℃
1)当7>25℃时,按0.57mW/K线性降额。3.3.2主要电特性
主要电特性见表2(T-25℃)
图外形尺寸图
最大额定值
引出端极性:
1发射极
3集电极
-65~200
极限值
3DG251A
3DG251B
Vee6 V
Je=2 mA
1)直流法测试,
3.4测试要求
VcEsat
SJ 50033/154-—2002
表2主要电特性
lc=5 mA
a=I mA
测试应符合GJB33A及本规范的规定翼3.5标志
器件上应有如下标态!
器件型号:
b承制方标志
质量保证规定
YcE-6 V
Ic-0.5 mA
Vce=8 V
Vee-6 V
最殿大
4.1抽样和检验
抽样和检验应符各G33莉未规游装4表5表6、表7的规定。4.2鉴定检验
鉴定检验应符合珀A和本规范的规定。4.3筛选(仅对和T级)
F=400 MHz
Yer=6 V
I=2 mA
f-600MHz
TIKAONTKAca
筛选应按GJB33A的表2的规定摄体筛选婴求按装3进行其试轻按本规范表4的规定进行,超过本规范表4极限值的器件位勤除器表3筛选要求”
见GJB33A表2
1内部日检
2高温寿命
3温度循环
4恒定加速度
7密封
a.细捡漏
b.粗检漏
9中间测试电参数
10高反偏
1中国电参数
12功率老炼
13终点测试
试验芳法
GJB128A方法号
1)未指明的项目不适用。
100倍显微镜
200048 h
试验条件C,循环20次
JT和ct
y方向,196000m/s,保持1min要求不适用件
条件H,R=5x1opacm/s,P=517ka,f=4h条件C,P=517 kPa,(=2 h
IcBo,和hEi
TA-150C, Vcn-9.6 V, F-48 h
JIcHOn和RFEi
7a=25℃, Vce=10 V, Peot=-100 mW, t-160 hcBol为初始值的100%或0.05uA,取较大者,!h1≤初始值的20%3
4.4质量一致性检验
SJ50033/154—-2002
质量一致性检验应按GJB33A和本规范的规定进行。4.4.1A组检验
A组检验应按GJB33A和本规范表4的规定进行,4.4.2B组检验
B红检验应按GJB33A及本规范表5的规定进行。4. 4. 3C组检验
C组检验应按GJB33A及本规范表6的规定进行。4.4.4E组检验
E组检验应按GJB33A及本规范表了的规定进行。4.5检验和试验方法
检验和试验方法应按本规范相应的表中规定的方法进行。4. 5.1测试
直流或交流参数测试按GB/T4587或GJB128A相应方法测试。5交货准备
5.1包装要求
包装要求应符合GJB33A的规定。5.2购存要求
贮存要求按GJB33A的规定,
5.3运输要求
运输要求应按GJB33A的规定。
表4A组检验
GB/T4587
检验或试验
1分组
外观及机检验
2分纽
集电极一基极
所穿电压
集电极一发射极
击穿电压
集电极一基极
截止电流
案电极一发射极
截止电流
正向电流传输比
除非另有规定
TA-25 ℃
GJB128A
GJB128A
Ie10uA
stoμA
VcB=8 V
VcE-6 V
'ce-6 V, Ic-2 mA
LTPD=5
VCERCBO
YERCEO
检验或试验
正向电流传输比
集电极一发射极
饱和电压
3分组
高温工作
集电极一基极
截止电流
低温工作
正向电流传输比
4分组
特征频率
噪声系数
相关增益
检验和试验
1分组
可焊性
耐溶剂性
2分组
GB/T 4587
除非另有规定
TA=25℃
$J 50033/154—-2002
续表4
VcE=6 V, Ic-0.5 mA
Ie-s mA
Ia=1 mA
TA=150℃
TA--SS'C,
'ce*6 V, Ic-2 mA
V-6y h A
F400MHz
-6 V2x
GJBI28A
温度循环(空气一空气)
密封试验
a.细检漏
终点测试
eeo Viae ma
f600MHz
表5B组检验
\GJB 128A
每个器件受试端数:纯
试验条件C,25次
试验条件Ht, P-517 kPa, -4 hR,≤5×10Pa.cm/s,
试验条件C,P-517 kPa,{μ2 h
见表8步骤1、3、4
IcEsan
极限值
3:13
描方案
TIKAMIKAca-
鉴定检验和大批量
小批量的质雁一
的质量一效性检验
致性验验
3分组
检验和试验
稳态工作寿命
终点测试
4分组
开帽内部扫控
(设计核实)
键合强度
5分红
6分组
高溢寿命(不工作)
终点测试
7分组
恒定加速度
粒了碰撞噪声检测
终点测试
检验和试验
1分组
物理尺寸
2分组
热冲击(波体一液体)
引出端强度
a.细检漏
b.粗检漏
外观及机械捡验
终点测试
SJ 50033/154-2002
续表5
GJB 128A
TA=25±3℃, Pot=-100 mW,
Vce=10 V, (-340 h
见表8步骤2、5
日检判据按鉴定过的设计
试验条件A
GB/T 4587 Vcs-6 V. Ie-2 mA
Rh j-a ≤1.75 K/mW
TA-200℃, 340 h
见表8步骤2、5
X,Yr,Z,三方向,196 000 m/s条件A
见表8步骤1、3、4
表6C组检验\
GJB128A
按图[规定尺寸
试验条件A15次
试验条件A,F=5 N,-10 s.
每个器件受试引出端数:4
试验条件H,P-517 kPa,f=4 h
R,≤5x 10 Pa.cm /s,
试验条件C,P=517kPa,r=2 h
不要求预处理
见表8步1、3、4
抽样方案
签定检验和大批盈
的质量一致性检验
每批1个器件零失效
小批量的质量一
致性检验
LTPD=10(键合线数)
抽样方案
鉴定检验和大批量
的质量一致性检验
小批量的质量
一致性检验
3分组
扫频动
终点测试
6分组
检验和试验
稳态工作寿命
终点测试
sJ 50033/154-2002
续表6
GJB128A
不T作,14700m/s2,0.5ms,
XlYi、Zj,每个方向3次
见表8步骤1、3、4
TA-25±3℃,(=1 000 h
Pot-100 mW, cr#10.Y
见装8照生#!
1)GJB33A表8中未指明的分组不适用。表7E组检验(仅供鉴定)
检验和试验
1分!
温度循环(空气一穿气)
终点测试
4分组
GIB 128A
试验条件C,150次
见滚8步载1、3、4
c-&Va c-2 mA
G8:14587
RaAEL7SKmW
1)GJB33A表中采指彻的分组不适用。滚8
B组、心组、能组的终点测试
集电极一基极
截止电流
集电极--基极
截止电流
集电极一发射极
饱和电压
正向电流传输比
正向电流传输比
说明事项
预定用途
GB:45872
e=0. Vc==8 V
be-0Ve=8 V
-1 mA, Ic-5 nA**
Vce-6 V, Te-2 mA
[Vce=6 V,, Ic=2 mA
PCEsnt
抽样方案
鉴定检验和大批量
的质量一致性检验
KAONTKAca
小批量的质型
一致性检验
抽样方案
极限值
最小值
符合本规范的器件供新设备设计使用和供现有设备的后勤保障用6.2订货资料
合同和订货单应规定下列内容:毅大值
初始值的30%
本规范的名称和编号:
等级(见1.3.1):
数量;
需要时,其它要求。
6.3企业型号
3DG251对应的企业型号为CG391。附加说明:
SJ 50033/154—2002
本规范由信息产业部电子第四研究所归口。本规范由信息产业部电子第十三研究所负责起草。本规范主要起草人:高颖、王丁辉、崔波。计划项目代号:B01015。
小提示:此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容,若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。