SJ 50033.155-2002
基本信息
标准号： SJ 50033.155-2002
中文名称：半导体分立器件 3DG252型硅微波线性晶体管详细规范
标准类别：电子行业标准(SJ)
标准状态：现行
出版语种：简体中文
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相关标签： 半导体 分立 器件 微波 线性 晶体管 详细 规范
标准分类号
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出版信息
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标准简介
SJ 50033.155-2002 半导体分立器件 3DG252型硅微波线性晶体管详细规范
SJ50033.155-2002
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标准内容
中华人民共和国电子行业军用标准FL5961
SJ50033/1552002
半导体分立器件
3DG252型硅微波线性晶体管
详细规范
SemiconductordiscretedevicesDetail specification for type 3DG252 silicon microwave linearity transistor2002-10-30 发布
2003-03-01实施
中华人民共和国信息产业部批准中华人民共和国电子行业军用标准半导体分立器件
3DG252型硅微波线性晶体管详细规范Semiconductor discrete devicesDetail specification for type 3DG252 silicon micrawave linearity transistor范围
1.1主题内容
本规范规定了3DG252型硅微波线性晶体算（以下简称器件）的详细要求。1.2适用范围
本规范适用于器件的研制生产莉来1.3分类
本规范根据器件质量等级进行分类。1.3.1器件的等级
KAOIKACa
SJ 50033/155--2002
按GJB33A-97《半导体分主器性总规慈1的规定，提供的质掌操证等级为普军级、特军级和超特军级三级，分别用宝母IP竹和JCT装示。引用文件
GB/T4587-194半导体分立器准和集成电路第7部分：双极型赢体管GB/T7581—87.-半导体务立器件外形尺寸GJB33A一97半静体分立器件总规范GJB128A-97导体分实器件试验方法。3要求
3.1详纽要求
各项要求应符合GJB33A和本规范的规定。3.2设计、结构和外形尺讨
器件的设计、结构和外形尺寸应符答GB33A和本规范的规是。！3.2.1引出端材料和镀涂层
发射极、基极和集电极引出端材料为可伐谷金，湾仙端表面镀金。3.2.2器件构
采用硅平面NPN双极型外延结构。3.2.3外形尺寸
外形尺寸按GB/T7581中E4-02A型的规定，见图1。中华人民共和国信息产业部2002-10-30发布2003-03-01实施
3.3最大额定值和主要电特性
3.3.1最大额定值
最大额定值见下表。
3DG252
TA=25℃
SJ50033/155—2002
引出端极性：
1、3发射极
2 基极
A集电极
图1 外形尺寸图
表1最大额定值
1）当TA>25℃时，按2.28mW/K线性降额。3.3.2主要电特性
主要电特性见下表（TA-25℃）
-65~200
极限值
3DG252
1）直流法测试。
3.4测试要求
VcE- s V
Ie=10 mA
最小值
最大值
SJ50033/155—2002
表2主要电特性
le=50 mA
l=10 mA
最大值
测试应符合GJB33A及本规范的规定。3.5标志
器件上应有如下标志：
承制方标志。
4质量保证规定
4.1抽样和检验
Yee=1S V
最大值
Ver=12 V
Ie=35 mA
fo=1.7 GIz
最小值
抽样和检验应符合GBB3A和本规范裁车、表5，6、表7的规定。4.2鉴定检验
鉴定检验应符合GJB33A和本规范的规定！4.3筛选（仅对I和JQT级）
最小值
HKAONiKAca
Ven=12 V,
F-I MHz
最大值
筛选应按GJB33A的表2规定，具体筛选要求按筛选提3进行。其测试试按本规范装4的规定进行，超过本规范表4极限值的器件应除。4.4质量一致性检验
质量一致性检验应按B33A和本规范的规定进行。4.4.1A组检验
A组检验应按GJB33A和本规范表4的规定进行。4.4.2B组检验
B组检验应按GJB33A及本规范表5的规进行4.4.3C组检验
C组检验应按GJB33A及本规范表6的规定进行。筛选
见GJB33A表2
1.内部目检
2．商激好命
3.温度循环
4．恒定加速度
7．密封
a.细检漏
b.粗检漏
9．中间测试电参数
10.高温反偏
11.中间电参数
12．功率老炼
13．终点浏试
1）指明的项目不适用。
4.4.4E组检验
SJ 50033/155--2002
表3筛选要求”
试验方法
GJB 128A方法号
E组检验应按GJB33A及本规范表7的规定进行。4.5检验和试验方法
100倍显微镜
200℃.48h
试验条件C，循环20次
JT和JCT级
Yi方向，196000m/g，保持1min要求不适用条件H1,RI= 5×10 Pa ·cm/s,P=517 kPa, =4 h条件C, F=517 kPa， t=2 h
IcBO1 和 hFE1
TA-150℃, Vcn=20 V, r=48 h
IcBoi和hFE!
Ta=25℃ Ver=10 V, Ptu=400 mW, F160 hAIcB01为韧始值的100%或0.05μA，取较大者，E≤初始值的20%
检验和试验方法应按本规范相应的表中规定的方法进行，4.5.1测试
直流或交流参数测试按GB/T4587或GJB128A相应方法测试。5交货准备
5.1包装要求
包装要求应符合GJB33A的规定。5.2贮存要求
贮存要求按GJB33A的规定。
5.3运输要求
运输要求应按GJB33A的规定。
检验或试验
1分组
外观及机械检验
2 分组
染电极-基级
击穿电压
发射极一基极
击穿电压
案电极一基极
截止电流
正向电流传输比
集电极-发射极
饱和电压
3分组
高温工作
集电极一基极
截止电流
低湿工作
正向电流传输比
4分组
输出电容
1分翼压缩点
功率增益
1分贝压缩点
输出功率
SJ 50033/155--2002
表4A组检验
GB/T4587
除非另有规定
TA=25℃
GJB128A
IV.1.10.2
GJB 128A,
GJB 128A
lc≤2 mA
I'ce=5 V. Ic=10 mA
Ic=5QmA
rea-lev lero
+ Tans'C.
TcesVe-lo'mA?!
F1 Mle=0
Vte-12V, Ie=-35 mXl
Jo=1.7 GHz
Vce=12V; de=35,mA
fo=1.7 GHz
LTPD=S
V BR CBO
sa, EBO
极限值
TIKAONTKACa=
检验和试验
1分组
可焊性
耐溶剂性
2 分组
温度循环(空气空气)
密封试验
a.细检漏
b.粗检漏
终点溯测试
3分组
热态工作寿命
终点试
4分组
开帽内部目检
(设计核卖)
键合强度
5分组
6分组
高温寿命(不工作)
终点测试
7分组
慎定如速度
粒子碰噪声检测
终点测试
GR/T 4587
SJ 50033/155—2002
表5B组检验
GJB128A
每个器件受试引出端数：4
试验条件C，25次
试验条件Hi，P=517kPa，f-4 h
Ri=5× 10-3 Pa.cm* /s,
试验条件C，P=517kPa，r-2 h
见表8步骤1、3、4
Ta=25±3C. Put=400 mW,
Iet-10 V, f-340 h
见表8步骤2、5
国检判据按鉴定过的设计
试验条件A
Vca=10 V, Je-40 mA
Rth ij+, ≤0.44 K/mW
TA=200'℃, 340 h
见表8步骤2、5
X1, Y1， Z,三方向, 196 000 m/s条件A
见表8步骤1、3、4
抽样方突
鉴定检验和大批量
的质最一致性检验
每批1个器件零失效
小批望的质最一
致性检验
LTPD=10(锐含线数)
1分组
物理尺寸
2分组
检验和试验
热冲击(波体--液体)
引出端强度
密封试验：
a.细检漏
b.粗检漏
外观及机械检验
终点测试
3分组
扫频振动
终点测试
6分组
稳态工作寿命
终点浏试
SJ 50033/155--2002
表6C组检验”
GJB128A
按图1规定尺寸
试验条件A，15次
试验条件A，F=5N，-10s每
个器件
受试引线数：4
i试条件ni1 -snkpa, 4+4n
Riesx iozPacm s
试验条件C，P=517 kPa，t=2 h
不要求预处理
女8步骤11..4
2016不工作1440.s, 0.5 ms.
Xr、Yi、Zh每个方向5次
现装装
TA=25C±33C-1 ODah.
Ph-400 m1ce*10 V
表8步聚23
1）GJB33A表8中未指明的分组态适用：表7E组检验(仅供鉴定)1)
检验和试验
1分组
湿度循环(空气一空气）
终点液试
4分组
GJB 128A
我验条件Cm150次
见表8步骤1、3、4
Ve=10 V, Ic-40 mA
GR/T 4587
1）GJ33A表7中未指明的分组不适用。Ran sj-ax ≤0.44 K/mW
抽样方案
鉴定检验和大批量
的质显一致性检验
HKAbNiKAca
小批量的质量
致性捡验
拍样方案
渠电极一基极
截止电流
集电极基极
载止电流
集电极一发射极
饱和电压
正向电流传输比
正向电流传输比此内容来自标准下载网
6说明事项
预定用途
GB/T4587
SJ50033/155-2002
表8B组、C组、E组的终点测试
Iε=0, VcB=15 V
le=0, Ven=15 V
Ic=50mA
g=10 mA
Yce=5 V, fe-10 mA
Ve=5 V, Ie=10 mA
极限值
最小道
符合本规范的器件供新设备设计使用和供现有设备的后勤保障用。6.2订货资料
合同和订货单应规定下列内容：本规范的名称和编号：
b．等级（见1.3.1）：
c.数量：
d。需要时，其它要求，
6.3企业型号
3DG252对应的企业型号为CG481(K）附加说明：
本规范由信息产业部电子第四研究所归口。本规范由信息产业部电子第十三研究所负责起草。本规范主要起草人：商颖、王于辉、崔波。计划项目代号：B01014。
最大值
初始值的30%
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SJ50033/1552002
半导体分立器件
3DG252型硅微波线性晶体管
详细规范
SemiconductordiscretedevicesDetail specification for type 3DG252 silicon microwave linearity transistor2002-10-30 发布
2003-03-01实施
中华人民共和国信息产业部批准中华人民共和国电子行业军用标准半导体分立器件
3DG252型硅微波线性晶体管详细规范Semiconductor discrete devicesDetail specification for type 3DG252 silicon micrawave linearity transistor范围
1.1主题内容
本规范规定了3DG252型硅微波线性晶体算（以下简称器件）的详细要求。1.2适用范围
本规范适用于器件的研制生产莉来1.3分类
本规范根据器件质量等级进行分类。1.3.1器件的等级
KAOIKACa
SJ 50033/155--2002
按GJB33A-97《半导体分主器性总规慈1的规定，提供的质掌操证等级为普军级、特军级和超特军级三级，分别用宝母IP竹和JCT装示。引用文件
GB/T4587-194半导体分立器准和集成电路第7部分：双极型赢体管GB/T7581—87.-半导体务立器件外形尺寸GJB33A一97半静体分立器件总规范GJB128A-97导体分实器件试验方法。3要求
3.1详纽要求
各项要求应符合GJB33A和本规范的规定。3.2设计、结构和外形尺讨
器件的设计、结构和外形尺寸应符答GB33A和本规范的规是。！3.2.1引出端材料和镀涂层
发射极、基极和集电极引出端材料为可伐谷金，湾仙端表面镀金。3.2.2器件构
采用硅平面NPN双极型外延结构。3.2.3外形尺寸
外形尺寸按GB/T7581中E4-02A型的规定，见图1。中华人民共和国信息产业部2002-10-30发布2003-03-01实施
3.3最大额定值和主要电特性
3.3.1最大额定值
最大额定值见下表。
3DG252
TA=25℃
SJ50033/155—2002
引出端极性：
1、3发射极
2 基极
A集电极
图1 外形尺寸图
表1最大额定值
1）当TA>25℃时，按2.28mW/K线性降额。3.3.2主要电特性
主要电特性见下表（TA-25℃）
-65~200
极限值
3DG252
1）直流法测试。
3.4测试要求
VcE- s V
Ie=10 mA
最小值
最大值
SJ50033/155—2002
表2主要电特性
le=50 mA
l=10 mA
最大值
测试应符合GJB33A及本规范的规定。3.5标志
器件上应有如下标志：
承制方标志。
4质量保证规定
4.1抽样和检验
Yee=1S V
最大值
Ver=12 V
Ie=35 mA
fo=1.7 GIz
最小值
抽样和检验应符合GBB3A和本规范裁车、表5，6、表7的规定。4.2鉴定检验
鉴定检验应符合GJB33A和本规范的规定！4.3筛选（仅对I和JQT级）
最小值
HKAONiKAca
Ven=12 V,
F-I MHz
最大值
筛选应按GJB33A的表2规定，具体筛选要求按筛选提3进行。其测试试按本规范装4的规定进行，超过本规范表4极限值的器件应除。4.4质量一致性检验
质量一致性检验应按B33A和本规范的规定进行。4.4.1A组检验
A组检验应按GJB33A和本规范表4的规定进行。4.4.2B组检验
B组检验应按GJB33A及本规范表5的规进行4.4.3C组检验
C组检验应按GJB33A及本规范表6的规定进行。筛选
见GJB33A表2
1.内部目检
2．商激好命
3.温度循环
4．恒定加速度
7．密封
a.细检漏
b.粗检漏
9．中间测试电参数
10.高温反偏
11.中间电参数
12．功率老炼
13．终点浏试
1）指明的项目不适用。
4.4.4E组检验
SJ 50033/155--2002
表3筛选要求”
试验方法
GJB 128A方法号
E组检验应按GJB33A及本规范表7的规定进行。4.5检验和试验方法
100倍显微镜
200℃.48h
试验条件C，循环20次
JT和JCT级
Yi方向，196000m/g，保持1min要求不适用条件H1,RI= 5×10 Pa ·cm/s,P=517 kPa, =4 h条件C, F=517 kPa， t=2 h
IcBO1 和 hFE1
TA-150℃, Vcn=20 V, r=48 h
IcBoi和hFE!
Ta=25℃ Ver=10 V, Ptu=400 mW, F160 hAIcB01为韧始值的100%或0.05μA，取较大者，E≤初始值的20%
检验和试验方法应按本规范相应的表中规定的方法进行，4.5.1测试
直流或交流参数测试按GB/T4587或GJB128A相应方法测试。5交货准备
5.1包装要求
包装要求应符合GJB33A的规定。5.2贮存要求
贮存要求按GJB33A的规定。
5.3运输要求
运输要求应按GJB33A的规定。
检验或试验
1分组
外观及机械检验
2 分组
染电极-基级
击穿电压
发射极一基极
击穿电压
案电极一基极
截止电流
正向电流传输比
集电极-发射极
饱和电压
3分组
高温工作
集电极一基极
截止电流
低湿工作
正向电流传输比
4分组
输出电容
1分翼压缩点
功率增益
1分贝压缩点
输出功率
SJ 50033/155--2002
表4A组检验
GB/T4587
除非另有规定
TA=25℃
GJB128A
IV.1.10.2
GJB 128A,
GJB 128A
lc≤2 mA
I'ce=5 V. Ic=10 mA
Ic=5QmA
rea-lev lero
+ Tans'C.
TcesVe-lo'mA?!
F1 Mle=0
Vte-12V, Ie=-35 mXl
Jo=1.7 GHz
Vce=12V; de=35,mA
fo=1.7 GHz
LTPD=S
V BR CBO
sa, EBO
极限值
TIKAONTKACa=
检验和试验
1分组
可焊性
耐溶剂性
2 分组
温度循环(空气空气)
密封试验
a.细检漏
b.粗检漏
终点溯测试
3分组
热态工作寿命
终点试
4分组
开帽内部目检
(设计核卖)
键合强度
5分组
6分组
高温寿命(不工作)
终点测试
7分组
慎定如速度
粒子碰噪声检测
终点测试
GR/T 4587
SJ 50033/155—2002
表5B组检验
GJB128A
每个器件受试引出端数：4
试验条件C，25次
试验条件Hi，P=517kPa，f-4 h
Ri=5× 10-3 Pa.cm* /s,
试验条件C，P=517kPa，r-2 h
见表8步骤1、3、4
Ta=25±3C. Put=400 mW,
Iet-10 V, f-340 h
见表8步骤2、5
国检判据按鉴定过的设计
试验条件A
Vca=10 V, Je-40 mA
Rth ij+, ≤0.44 K/mW
TA=200'℃, 340 h
见表8步骤2、5
X1, Y1， Z,三方向, 196 000 m/s条件A
见表8步骤1、3、4
抽样方突
鉴定检验和大批量
的质最一致性检验
每批1个器件零失效
小批望的质最一
致性检验
LTPD=10(锐含线数)
1分组
物理尺寸
2分组
检验和试验
热冲击(波体--液体)
引出端强度
密封试验：
a.细检漏
b.粗检漏
外观及机械检验
终点测试
3分组
扫频振动
终点测试
6分组
稳态工作寿命
终点浏试
SJ 50033/155--2002
表6C组检验”
GJB128A
按图1规定尺寸
试验条件A，15次
试验条件A，F=5N，-10s每
个器件
受试引线数：4
i试条件ni1 -snkpa, 4+4n
Riesx iozPacm s
试验条件C，P=517 kPa，t=2 h
不要求预处理
女8步骤11..4
2016不工作1440.s, 0.5 ms.
Xr、Yi、Zh每个方向5次
现装装
TA=25C±33C-1 ODah.
Ph-400 m1ce*10 V
表8步聚23
1）GJB33A表8中未指明的分组态适用：表7E组检验(仅供鉴定)1)
检验和试验
1分组
湿度循环(空气一空气）
终点液试
4分组
GJB 128A
我验条件Cm150次
见表8步骤1、3、4
Ve=10 V, Ic-40 mA
GR/T 4587
1）GJ33A表7中未指明的分组不适用。Ran sj-ax ≤0.44 K/mW
抽样方案
鉴定检验和大批量
的质显一致性检验
HKAbNiKAca
小批量的质量
致性捡验
拍样方案
渠电极一基极
截止电流
集电极基极
载止电流
集电极一发射极
饱和电压
正向电流传输比
正向电流传输比此内容来自标准下载网
6说明事项
预定用途
GB/T4587
SJ50033/155-2002
表8B组、C组、E组的终点测试
Iε=0, VcB=15 V
le=0, Ven=15 V
Ic=50mA
g=10 mA
Yce=5 V, fe-10 mA
Ve=5 V, Ie=10 mA
极限值
最小道
符合本规范的器件供新设备设计使用和供现有设备的后勤保障用。6.2订货资料
合同和订货单应规定下列内容：本规范的名称和编号：
b．等级（见1.3.1）：
c.数量：
d。需要时，其它要求，
6.3企业型号
3DG252对应的企业型号为CG481(K）附加说明：
本规范由信息产业部电子第四研究所归口。本规范由信息产业部电子第十三研究所负责起草。本规范主要起草人：商颖、王于辉、崔波。计划项目代号：B01014。
最大值
初始值的30%
小提示：此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容，若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。