SJ 50033.159-2002
基本信息
标准号： SJ 50033.159-2002
中文名称：半导体分立器件 3DG142型硅超高频低噪声晶体管详细规范
标准类别：电子行业标准(SJ)
标准状态：现行
出版语种：简体中文
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相关标签： 半导体 分立 器件 超高频 低噪声 晶体管 详细 规范
标准分类号
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出版信息
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标准简介
SJ 50033.159-2002 半导体分立器件 3DG142型硅超高频低噪声晶体管详细规范
SJ50033.159-2002
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标准内容
中华人民共和国电子行业军用标准FL5961
SJ50033/159--2002
半导体分立器件
3DG142型硅超高频低噪声晶体管详细规范
SemiconductordiscretedevicesDetail specification for type 3DG142 silicon UHF low-noise transistor2002-10-30发布
2003-03-01实施
中华人民共和国信息产业部批准中华人民共和国电子行业军用标准半导体分立器件
3DG142型硅超高频低噪声晶体管详细规范Semiconductor discrete devicesDetail specification for type 3DG142 silicon UHF law-noise transistor范围
1.1主题内容
TYKANIKAca
SJ50033/159—2002
本规范规定了3DG142型硅超高频低噪声晶体管（以下简称器件）的详细要求。1.2适用范围
本规范适用于器件的研制、生产和染购。1.3分类
本规范根据器件质量等级进行分类。1.31器件的等级
按GJB33A一97《半导体分立器件总规范》T.3的规定，提供的服费探证等级为警军级、特军级和超特军级三级，分别用TPJT和JCT表紧！2
引用文件
GB/T4587+94半导体分立器祥和集成路%第7部分：双极型鼠体管GB/T7581一87半导体分立器作外形尺寸GJB33A一97华导体分就器件总规范GJB128A一97半导体分这器件域验方法3要求
3.1详细要求
各项要求应符合GJB.33A和本规范的规定。3.2设计、结构和外形尺寸
器件的设计，结构和外形尺寸应特GJB33A和本规范销规走。3.2.1引出端材料和镀涂层
发射极、基极和集电极引出端材料为可伐合金，引出端表面镀金。3.2.2器件结构
采用硅平面NPN双极型外延结构。3.2.3外形尺寸
外形尺寸按GB/T7581中A4-01C型的规定，见图1。中华人民共和国信息产业部2002-10-30发布2003-03-01实施
3.3最大额定值和主要电特性
3.3.1最大额定值见表
TA-25°C
3DG142
1）当7>25C时，按0.57mW/K线性降额。3.3.2主要电特性见表（T=25℃）。-
SJ 50033/159-—2002
引出媛极性：
1发射极
2基极
3集电极
外形尺寸图
最大额定值
-65~200
极限值
3DG142A
3DG142B
3DG142C
le-1 mA
Vce=6 V
最小值
1）直流法测试。
3.4测试要求
最大值
SJ 50033/159--2002
Ic=10 mA
Ig=1 mA
最大值
测试应符合GJB33A及本规范的规定。3.5标志
器件上应有如下标志：
a．器件型号；
b．承制方标志；
4质量保证规定
4.1抽样和检验
主要电特性
VcB=6 V
最大值
Vce-6 V
最大值
抽样和检验应舒含GJB33A本规范表4、表5表6、表7的规定。4.2鉴定检验
鉴定检验应符合GJB33A和本规范的规定。4.3筛选（仅对JT和CT级）
f-400 MHz
YKAONKAca=
Vce=6 V, Ie=1 mA
最大值
最小值
最小镇
筛选应按GJB33A的装2的规差，具体筛选要求按本规范表3的规宽进其测式应按本规范表4的规定进行，超过本规范表4极限的器件应剔除+装3筛选要求！
见GIB33A农2
1.内部目检
2、高温寿命bzxZ.net
3．温度循环
4.恒定加速度
a.细检漏
b、粗检漏
9.中间测试电参数
10。高温反储
I.中间电参数
12.功率老炼
13.终点测试
1）未指明的项目不适用。
试验方法
Gm128A方法号
100倍显微镜
#200.. 48 h
T科c级
1试验系件c，适环20次
方荷：96000m/s，保持1min要求不适用条件H，R,=5×10Pacm/s, P=$17 kPa, -4h条作C,P-517kPa,{-2 h
Icnor 和hrEl
TA=150℃, Vca-12 V. r48 h
IcBo，和hrEl
T=25℃C, Vce=10 V, Pr=100 mW. r-160 hIca01为初始值的100%或0.05uA，取较火者，「AhEEI「≤初始值的20%
4.4质量一致性检验
SJ50033/159—2002
质量一致性检验应按GJB33A和本规范的规定进行。4.4.1A组检验
A纸检验应按GJB33A和本规范表4的规定进行。表4A组检验
GB/T4587
检验或试验
1分组
外观及机械检验
2分组
集电极一基极
击穿电压
染电极一发射极
击穿心压
集电极一基极
止电流
华电极一发射极
截止电流
正网电流传输比
架电极一发射极
饱和心压
3分组
商温工作
集电极一基极
截止电流
低溢工作
正向电流传输比
4分纽
特征频率
噪声系数
相关增益
除非另有规定
TA=25℃
GJ 128A
GJB128A
.1.2.1
GJB128A
Ic10uA
Vcn\6 V
V'cE-6 V
Ve=6 V. Ic=l mA
le=10 mA
Ig=1 mA
TA-150C,
Vce-6 V, le-0
TA--S5℃,
Vce=6 V, le-1 mA
Vce6 V, Ie=1 mA
f=400 MHz
VcE=6 V, Ie=1 mA
F600 MHz
Vce=6 V. Ic-I mA
f-600 MHz
VeBR>CBO
VBR+ CEO
极限值
4.4.2B组检验
SJ 50033/159—2002
B组检验应按GJB33A及本规范表5的规定进行表5B组检验
GJB128A
检验和试验
1分组
可焊性
耐溶剂性
2分组
温度循环(空气一空气)
密封：
a。细检漏
b.粗检漏
终点测试
3分组
稳态工作寿命
终点测试
4分红
开帽内部目检
(设计核实)
键含强度
5分纽
6分组
商温寿命(不工作)
终点试
7分组
恒定加速度
粒了碰掩噪声检测
终点测试
GB/T4587
个器样受号m能数？4
试验条件C，25次
试验条作，p=517kPa，t-4 h
Rts$Xrorpa.cm /s,
试验条伴ce-517kPa，r-2h
见表8步翼13、4
TA2$+3C+Puo-100 mW,
ree-10 V r-340 b
见表8步攀25
检判就按装定过的设计
试验条作入
tsKm=6 V, he-I mA
. Rat.-++, 175 Kmw
Tr=200C; 340 h
见表8步骤2、5
Xj，Yt、Z,兰方间，196 000 m/s条件A
见表8步骤1、3、4
拍样方案
nIKAONiKAca
小批最的质量
鉴定检验和大批量
的质最一致性检验
海批1手器件零失效
LTPDTO键合线数）
-致性检验
4.4.3C组检验
SJ 50033/159--2002
C组检验应按GJB33A及本规范表6的规定进行。表6C组检验”
GJB 128A
检验和试验
1分组
物理尺寸
2分红
热池击（波体一液休）
引山端强度
密封试验：
a。细梭源
b.粗格漏
外观及机械检验
终点测试
3分组
扫频摄动
最后测试
6分组
稳态工作寿命
终点测试
按图！规定尺寸
试验条件A，15次
试验条件A，-5N，-10s，每个器受试引出端数：4
试验条件H，p=517 kPa，-4 h
R,-5× 10-' Pa.cm /s.
试验条件C,P-517 kPa,r-2 h
不要求预处理
见装8步骤1、3、4
不了作，14 700 m/s2，0.5ms.
Xl、Yi、Zl，每个方向5次
见表8步骤1、3、4
Tx=25±3C, 1 000 h,
Plor=100 mW, Vce-10 V
现表8骤2、5
1）GJB33A表8中米指明的分组不适用4.4.4E组检验
E组检验应按GIB33A及本规范表7的规定进行。表7E组检验（仅供鉴定)\
检验和试验
1分级
温度循环（空气一空气）
终点测试
4分纪
1）GJB33A表7中未指明的分组不适用6
GB/T 4587
GJB128A
试验条件C，150次
见表8步骏1、3、4
VeB=6 V, Ie-! mA
Rn ≤1.75 K/mV
抽样方案
鉴定检验和大批量
的质量一致性检验
小批量的质量一
致性检验
抽样方案
4.5检验和试验方法
SJ 50033/159--2002
检验和试验方法应按本规范相应的表中规定的方法进行。4.5.1测试
直流或交流参数测试按GB/T4587或GJB128A相应方法测试。5交货准备
5.1包装要求
包装要求应符合GJB33A的规定
5.2存要求
贮存要求按GJB33A的规定。
5.3运输要求
运输要求应按GJB33A的规定。
表8B组、C组、E组的终点测试
检梭验
集电极一基极截止能流
集电极一基极上电缆
集电极一发射极绝和电压
正向电流传输比
正向电流传输比
说明事项
6.1预定用途
GB4587
-, Bo
/g=I mA110 mA
ViT=6 V., I-1 mA
Ice-o YaetmA
VeEsat
[Ahpe:
符合本规范的器件供新设备设计使用和供现行设备的后勤保障打。6.2订货资料
合同和订货单应规定下列内容：本规范的名称和缔号：
b．等级（见l.3.1）；
数量：
需要时，其它要求。
附加说明：
本规范由信息产业部电子第四研究所归口。本规范由信息产业部电子第子三研究所负资起草。规范主要起草人：高颖、王下辉、望波。计划项目代号：B01015。
极限馆
教小值
最大镇
初始值的30%
TKAONIKAca
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SJ50033/159--2002
半导体分立器件
3DG142型硅超高频低噪声晶体管详细规范
SemiconductordiscretedevicesDetail specification for type 3DG142 silicon UHF low-noise transistor2002-10-30发布
2003-03-01实施
中华人民共和国信息产业部批准中华人民共和国电子行业军用标准半导体分立器件
3DG142型硅超高频低噪声晶体管详细规范Semiconductor discrete devicesDetail specification for type 3DG142 silicon UHF law-noise transistor范围
1.1主题内容
TYKANIKAca
SJ50033/159—2002
本规范规定了3DG142型硅超高频低噪声晶体管（以下简称器件）的详细要求。1.2适用范围
本规范适用于器件的研制、生产和染购。1.3分类
本规范根据器件质量等级进行分类。1.31器件的等级
按GJB33A一97《半导体分立器件总规范》T.3的规定，提供的服费探证等级为警军级、特军级和超特军级三级，分别用TPJT和JCT表紧！2
引用文件
GB/T4587+94半导体分立器祥和集成路%第7部分：双极型鼠体管GB/T7581一87半导体分立器作外形尺寸GJB33A一97华导体分就器件总规范GJB128A一97半导体分这器件域验方法3要求
3.1详细要求
各项要求应符合GJB.33A和本规范的规定。3.2设计、结构和外形尺寸
器件的设计，结构和外形尺寸应特GJB33A和本规范销规走。3.2.1引出端材料和镀涂层
发射极、基极和集电极引出端材料为可伐合金，引出端表面镀金。3.2.2器件结构
采用硅平面NPN双极型外延结构。3.2.3外形尺寸
外形尺寸按GB/T7581中A4-01C型的规定，见图1。中华人民共和国信息产业部2002-10-30发布2003-03-01实施
3.3最大额定值和主要电特性
3.3.1最大额定值见表
TA-25°C
3DG142
1）当7>25C时，按0.57mW/K线性降额。3.3.2主要电特性见表（T=25℃）。-
SJ 50033/159-—2002
引出媛极性：
1发射极
2基极
3集电极
外形尺寸图
最大额定值
-65~200
极限值
3DG142A
3DG142B
3DG142C
le-1 mA
Vce=6 V
最小值
1）直流法测试。
3.4测试要求
最大值
SJ 50033/159--2002
Ic=10 mA
Ig=1 mA
最大值
测试应符合GJB33A及本规范的规定。3.5标志
器件上应有如下标志：
a．器件型号；
b．承制方标志；
4质量保证规定
4.1抽样和检验
主要电特性
VcB=6 V
最大值
Vce-6 V
最大值
抽样和检验应舒含GJB33A本规范表4、表5表6、表7的规定。4.2鉴定检验
鉴定检验应符合GJB33A和本规范的规定。4.3筛选（仅对JT和CT级）
f-400 MHz
YKAONKAca=
Vce=6 V, Ie=1 mA
最大值
最小值
最小镇
筛选应按GJB33A的装2的规差，具体筛选要求按本规范表3的规宽进其测式应按本规范表4的规定进行，超过本规范表4极限的器件应剔除+装3筛选要求！
见GIB33A农2
1.内部目检
2、高温寿命bzxZ.net
3．温度循环
4.恒定加速度
a.细检漏
b、粗检漏
9.中间测试电参数
10。高温反储
I.中间电参数
12.功率老炼
13.终点测试
1）未指明的项目不适用。
试验方法
Gm128A方法号
100倍显微镜
#200.. 48 h
T科c级
1试验系件c，适环20次
方荷：96000m/s，保持1min要求不适用条件H，R,=5×10Pacm/s, P=$17 kPa, -4h条作C,P-517kPa,{-2 h
Icnor 和hrEl
TA=150℃, Vca-12 V. r48 h
IcBo，和hrEl
T=25℃C, Vce=10 V, Pr=100 mW. r-160 hIca01为初始值的100%或0.05uA，取较火者，「AhEEI「≤初始值的20%
4.4质量一致性检验
SJ50033/159—2002
质量一致性检验应按GJB33A和本规范的规定进行。4.4.1A组检验
A纸检验应按GJB33A和本规范表4的规定进行。表4A组检验
GB/T4587
检验或试验
1分组
外观及机械检验
2分组
集电极一基极
击穿电压
染电极一发射极
击穿心压
集电极一基极
止电流
华电极一发射极
截止电流
正网电流传输比
架电极一发射极
饱和心压
3分组
商温工作
集电极一基极
截止电流
低溢工作
正向电流传输比
4分纽
特征频率
噪声系数
相关增益
除非另有规定
TA=25℃
GJ 128A
GJB128A
.1.2.1
GJB128A
Ic10uA
Vcn\6 V
V'cE-6 V
Ve=6 V. Ic=l mA
le=10 mA
Ig=1 mA
TA-150C,
Vce-6 V, le-0
TA--S5℃,
Vce=6 V, le-1 mA
Vce6 V, Ie=1 mA
f=400 MHz
VcE=6 V, Ie=1 mA
F600 MHz
Vce=6 V. Ic-I mA
f-600 MHz
VeBR>CBO
VBR+ CEO
极限值
4.4.2B组检验
SJ 50033/159—2002
B组检验应按GJB33A及本规范表5的规定进行表5B组检验
GJB128A
检验和试验
1分组
可焊性
耐溶剂性
2分组
温度循环(空气一空气)
密封：
a。细检漏
b.粗检漏
终点测试
3分组
稳态工作寿命
终点测试
4分红
开帽内部目检
(设计核实)
键含强度
5分纽
6分组
商温寿命(不工作)
终点试
7分组
恒定加速度
粒了碰掩噪声检测
终点测试
GB/T4587
个器样受号m能数？4
试验条件C，25次
试验条作，p=517kPa，t-4 h
Rts$Xrorpa.cm /s,
试验条伴ce-517kPa，r-2h
见表8步翼13、4
TA2$+3C+Puo-100 mW,
ree-10 V r-340 b
见表8步攀25
检判就按装定过的设计
试验条作入
tsKm=6 V, he-I mA
. Rat.-++, 175 Kmw
Tr=200C; 340 h
见表8步骤2、5
Xj，Yt、Z,兰方间，196 000 m/s条件A
见表8步骤1、3、4
拍样方案
nIKAONiKAca
小批最的质量
鉴定检验和大批量
的质最一致性检验
海批1手器件零失效
LTPDTO键合线数）
-致性检验
4.4.3C组检验
SJ 50033/159--2002
C组检验应按GJB33A及本规范表6的规定进行。表6C组检验”
GJB 128A
检验和试验
1分组
物理尺寸
2分红
热池击（波体一液休）
引山端强度
密封试验：
a。细梭源
b.粗格漏
外观及机械检验
终点测试
3分组
扫频摄动
最后测试
6分组
稳态工作寿命
终点测试
按图！规定尺寸
试验条件A，15次
试验条件A，-5N，-10s，每个器受试引出端数：4
试验条件H，p=517 kPa，-4 h
R,-5× 10-' Pa.cm /s.
试验条件C,P-517 kPa,r-2 h
不要求预处理
见装8步骤1、3、4
不了作，14 700 m/s2，0.5ms.
Xl、Yi、Zl，每个方向5次
见表8步骤1、3、4
Tx=25±3C, 1 000 h,
Plor=100 mW, Vce-10 V
现表8骤2、5
1）GJB33A表8中米指明的分组不适用4.4.4E组检验
E组检验应按GIB33A及本规范表7的规定进行。表7E组检验（仅供鉴定)\
检验和试验
1分级
温度循环（空气一空气）
终点测试
4分纪
1）GJB33A表7中未指明的分组不适用6
GB/T 4587
GJB128A
试验条件C，150次
见表8步骏1、3、4
VeB=6 V, Ie-! mA
Rn ≤1.75 K/mV
抽样方案
鉴定检验和大批量
的质量一致性检验
小批量的质量一
致性检验
抽样方案
4.5检验和试验方法
SJ 50033/159--2002
检验和试验方法应按本规范相应的表中规定的方法进行。4.5.1测试
直流或交流参数测试按GB/T4587或GJB128A相应方法测试。5交货准备
5.1包装要求
包装要求应符合GJB33A的规定
5.2存要求
贮存要求按GJB33A的规定。
5.3运输要求
运输要求应按GJB33A的规定。
表8B组、C组、E组的终点测试
检梭验
集电极一基极截止能流
集电极一基极上电缆
集电极一发射极绝和电压
正向电流传输比
正向电流传输比
说明事项
6.1预定用途
GB4587
-, Bo
/g=I mA110 mA
ViT=6 V., I-1 mA
Ice-o YaetmA
VeEsat
[Ahpe:
符合本规范的器件供新设备设计使用和供现行设备的后勤保障打。6.2订货资料
合同和订货单应规定下列内容：本规范的名称和缔号：
b．等级（见l.3.1）；
数量：
需要时，其它要求。
附加说明：
本规范由信息产业部电子第四研究所归口。本规范由信息产业部电子第子三研究所负资起草。规范主要起草人：高颖、王下辉、望波。计划项目代号：B01015。
极限馆
教小值
最大镇
初始值的30%
TKAONIKAca
小提示：此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容，若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。