SJ 50033.160-2002
基本信息
标准号： SJ 50033.160-2002
中文名称：半导体分立器件 3DG122型硅超高频小功率晶体管详细规范
标准类别：电子行业标准(SJ)
标准状态：现行
出版语种：简体中文
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相关标签： 半导体 分立 器件 超高频 功率 晶体管 详细 规范
标准分类号
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出版信息
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标准简介
SJ 50033.160-2002 半导体分立器件 3DG122型硅超高频小功率晶体管详细规范
SJ50033.160-2002
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标准内容
中华人民共和国电子行业军用标准FL5961
SJ50033/160—-2002
半导体分立器件
3DG122型硅超高频小功率晶体管详细规范
SemiconductordiscretedevicesDetail specification for type 3 DG122 silicon UHF low-power transistor2002-10-30发布
2003-03-01实施
中华人民共和国信息产业部批准中华人民共和国电子行业室用标准半导体分立器件
3DG122型硅超高频小功率晶体管详细规范Semicanductor discrcte devicesDctail specification for type 3DGl22 silicon UHF low-power transistor1范围
1.1主题内容
TKAoNTKAca-
SJ50033/160—2002
本规范规定了3DG122型硅超商频小动率晶体送妞微称器佳！的详细要求。1.2适用范围
本规范适用于器件的研制、伴产和来购。1.3分类
本规范根据器件质量等级进行分类。1.3.1器件的等级
按GJB33A--97半导体分艺器总规范中的规定，提供的斑验保证等级为普军级、特军级和超特军级三级分别用字母JPJT和JCT裁系。引用文件
GB/T4587善94半导体分立器件和集成电整第7部分：双极型销体管GB/T 7581-87评导体资放器件外形尺市GJB33A-97“半导体分生器件您规范惑GJB128A-9元平导体务比器祥试验坊法3要求
3.1详细要求
各项要求应符合GJB33A和本规范的规定。3.2设计、结构和外形尺寸
器件的设计、结构和外形尺寸应符答GIB33A和本规范的规定。3.2.1引出端材料和镀涂层
发射极、基极和集电极引出端材料为可伐合金，引出端表面镀金。3.2.2器件结构
采用硅平面NPN双极型外延结构。3.2.3外形尺寸
外形尺寸按GB/T7581中A3-02B型的规定，见图1。中华人民共和国信息产业部2002-10-30发布2003-03-01实施
3.3最大额定值和主要电特性
3.3.1最大额定值
最大额定值见表1。
3DGI22
TA-25℃
1）当T>25℃时，按2.86mW/K线性降额。3.3.2主要电特性
主要电特性见表2（TA-25℃）。2
SJ 50033/160—2002
引端极性：
1发射极
3集也极
外形尺寸图
最大额定值
1标称
-65200
极限值
3DG122
1）直流法测试。
测试要求
Ic-30 mA, Vce-10 V
最小值
最大值
SJ 50033/160—2002
Ic-50 mA
IB=5mA
最大值
测试应符合GJB33A及本规范的规定。3.5标志
器件上应有如下标志：
器件型号；
承制方标志。
质量保证规定
抽样和检验
主要电特性
Vca=10V
最大值
VcE=10 V
最大值
抽样利检验应符合GB33A和本规范装4装5、表6、表7的规定。4.2鉴定检验
鉴定检验应符给G拍33A和本规范的规楚4.3筛选（仅对JT和JCT级）
F-400MHz
Vce\10V
Ic=30mA
f-100 MHz
VcE-10V
Ie=30mA
最小值
TIKAONTKAca-
最小值
筛选应按GJB33A的表2的规定，真体筛选项自按书进行多其测试应按本规范表4的规定进行，超过本规范表4极限值的器代应剔除容表3筛选要求”
见GJB33A表2
1．内部日检
2．高温寿命
3.度循环
4．恒定加速度
7．密封
a.细检漏
b。粗检漏
9．中间测试电参数
10.高深反偏
11.中间电参数
12.功率芝炼
13．终点测试
1）未指明的项且不适用。
试验方法
GJB128A方法号bZxz.net
100倍品微镜
200Cme48 hr
拭验条件C;循环20次
JTRJCT级
方向，196000m/s3，保持1min要求不适用条件H：，Rr=5×10Pa·cm/s，P=517kPa，t=4h条件c，P=517 kPa，(=2 h
co和E】
TA-150'C, Vcr=48 V, r-48 h
IcBO:和hE
TA=25'C Vce=10 V, Prat=500 mW, r160 hAIcBo:为初始值的100%或0.05A，取较大者，【hFE丨≤初始值的20%
4.4质量一致性检验
SJ50033/160—2002
质量一致性检验应按GJB33A和本规范的规定进行。4.4.1A组检验
A组检验应按GJB33A和本规范表4的规定进行。表4A组检验
GB/T4587
检验或试验
1分组
外规及机械检验
2分红
集电极—基极
击穿地压
集也极发射极
击穿电压
集电极一基极
截止电流
架电极一-发射极
截电流
正向电流传输比
集电极一发射极
饱和电压
3分组
商溢工作
集心极—基极
截止电流
低温工作
正向电流传输比
4分组
特征赖率
翰出功率
功率增益
GJB128A
GJB t28A
GB128A
G5B128A
除非另有规定
TA=25℃
Vce- Io v
Y'cE=10 V
Vee=10 V, le-30 mA
lc~50mA
/e-5 mA
TA-150'℃,
Vce-10 V, Ie-0
TA--55℃,
Vce=10 V, Ic=30 mA
Vce-10 V, le-30 mA
f=400 MFIz
Vce=10 V,fc=30mA
J-100MHz
V'c-10 V, Ic-30 mA
f+100 MIIz
LTPD=5
V(BR) CBO
VBR:CEO
F'CEsat
极限值
最小1最大
4.4.2B组检验
SJ 50033/160--2002
B组检验应按GJB33A及本规范表5的规定进行。表5B组检验
GJB128A
检验和试验
1分组
可焊性
耐溶剂性
2分组
激度循环(空气空气)
密封试验
a，细捡漏
b.粗检蒲
终点测试
3分组
稳态工作寿命
终点测试
4分纽
开帽内部目捡
(设计核实)
键合强度
5分组
6分组
高温寿命(不工作)
终点测试
7分组
恒定加速度
粒子碰撞噪声检测
终点测试
手2037
OB/f.4587
每个器件受试引出端数：3
中试验条件#25次！
\试验条件Hi,p=517 kPa，r-4 hR,≤5×103Pa.cm' /s.
试验条件C,，P-517kPa，2 h
见装步赚13、4
Ta=25 ±3g8-500 mW,
Vce=10 V, r=340 h
1装8安媒25
检判据按定适的设计
试验条件
Vca-10 V, le-30 mA
Rh j-a ≤0.35 K/mW
Ta-200'C: 340h.
一觉蔓8步驳
XYtZ三芳询，196 000 m/s
条件A
见表8步骤1、3、4
抽样方案
KAONiKAca
器定检验和大批量的
小批最的质量
质量一致性检验
样批1香器件零失效
上TU-10是键食线致
一致性检验
4.4.3C组检验
SJ 50033/160---2002
C组检验应按GJB33A及本规范表6的规定进行。表6C组检验\
GJB 128A
检验和试验
1分组
物理尺寸
2分组
热冲击（液体—液体）
引出端强度
密封试验：
a.细检漏
b.粗捡漏
外观及机械检验
终点测试
3分红
扫频振动
终点测试
6分组
稳态丁作好命
终点测试
按图1规定尺寸
试验条作A：15次
试验条A，-5N，10s，
每个器件受试引出端数：3
试验条件H，P=517 kPa，t=4 h
R5×10°Pa.cmist
试验条件C,P=517 kPa，(-2 h
不求预处埋
见表8步骤1、3、4
不作，14700m/s，0.5ms，
XI、Y1、Z，每个方向5次
见表8步骤1、3、4
TA-25℃±3℃, (-1 000 h,
Piot=500 mW, Vce-10 V
见表8步骤2、5
1）G拍33A表8中卡指明的分纽不适用。4.4.4E组检验
E组检验应按GJB33A及本规范表7的规定进行。表7E组检验(仅供鉴定)\)
检验和试验
1分组
温度循环（空气一空气）
终点测试
4分组
GB/T4587
1）GJB33A表7中未指明的分不适用6
GJBI28A
试验条件C，150次
见农8步骤1、3、4
抽样方案
鉴定检验和大批量
的质量一致性检验
小批量的质量
致性检验
扯样方案
Vca=10 V, c=30 mA
Rth sj-ar ≤0.35 K/mW
4.5检验和试验方法
SJ50033/160--2002
检验和试验方法应按本规范相应的表中规定的方法进行。4.5.1测试
直流或交流参数测试按GB/T4587或GJB128A相应方法测试。表8B组、C组、E组的最后测试
彝电极一基极截止电流
集电极-基极截止电流
集电极一发射极饱和电压
正向电流传赖比
正向电流传输比
交货准备
5.1包装要求
GB/T4587
包装要求应符合GJB33A的规定：5.2贮存要求
存要求按GJB33A的规定。
5.3运输要求
运输要求应按GB33A的规适
说明事项
预定用途
IE=0, VcB=10 V
Te=0 .. Yen310 V
hS mAMi-50.mA
YcE-10 Vr-I=30 mA.
Vce=10 V, Jc=30 nA
Licnoi
符合本规范的器件供新设备设计便用和供现有设备的后勤保障用。6.2订货资料
舍同和订货单应规定下列内容：a.
本规范的名称和编号：
等级（见1.3.1）；
数量；
需要时，其它娶求。
附加说明：
本规范由信息产业部电子第四研究所归口。本规范由信息产业部电子第十三研究所负责起草。本规范主要起草人：高颖、王于辉、崔波。计划项目代号：B01015。
极限慎
最小值
般大值
初始值的30%
HKAONiKAca
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SJ50033/160—-2002
半导体分立器件
3DG122型硅超高频小功率晶体管详细规范
SemiconductordiscretedevicesDetail specification for type 3 DG122 silicon UHF low-power transistor2002-10-30发布
2003-03-01实施
中华人民共和国信息产业部批准中华人民共和国电子行业室用标准半导体分立器件
3DG122型硅超高频小功率晶体管详细规范Semicanductor discrcte devicesDctail specification for type 3DGl22 silicon UHF low-power transistor1范围
1.1主题内容
TKAoNTKAca-
SJ50033/160—2002
本规范规定了3DG122型硅超商频小动率晶体送妞微称器佳！的详细要求。1.2适用范围
本规范适用于器件的研制、伴产和来购。1.3分类
本规范根据器件质量等级进行分类。1.3.1器件的等级
按GJB33A--97半导体分艺器总规范中的规定，提供的斑验保证等级为普军级、特军级和超特军级三级分别用字母JPJT和JCT裁系。引用文件
GB/T4587善94半导体分立器件和集成电整第7部分：双极型销体管GB/T 7581-87评导体资放器件外形尺市GJB33A-97“半导体分生器件您规范惑GJB128A-9元平导体务比器祥试验坊法3要求
3.1详细要求
各项要求应符合GJB33A和本规范的规定。3.2设计、结构和外形尺寸
器件的设计、结构和外形尺寸应符答GIB33A和本规范的规定。3.2.1引出端材料和镀涂层
发射极、基极和集电极引出端材料为可伐合金，引出端表面镀金。3.2.2器件结构
采用硅平面NPN双极型外延结构。3.2.3外形尺寸
外形尺寸按GB/T7581中A3-02B型的规定，见图1。中华人民共和国信息产业部2002-10-30发布2003-03-01实施
3.3最大额定值和主要电特性
3.3.1最大额定值
最大额定值见表1。
3DGI22
TA-25℃
1）当T>25℃时，按2.86mW/K线性降额。3.3.2主要电特性
主要电特性见表2（TA-25℃）。2
SJ 50033/160—2002
引端极性：
1发射极
3集也极
外形尺寸图
最大额定值
1标称
-65200
极限值
3DG122
1）直流法测试。
测试要求
Ic-30 mA, Vce-10 V
最小值
最大值
SJ 50033/160—2002
Ic-50 mA
IB=5mA
最大值
测试应符合GJB33A及本规范的规定。3.5标志
器件上应有如下标志：
器件型号；
承制方标志。
质量保证规定
抽样和检验
主要电特性
Vca=10V
最大值
VcE=10 V
最大值
抽样利检验应符合GB33A和本规范装4装5、表6、表7的规定。4.2鉴定检验
鉴定检验应符给G拍33A和本规范的规楚4.3筛选（仅对JT和JCT级）
F-400MHz
Vce\10V
Ic=30mA
f-100 MHz
VcE-10V
Ie=30mA
最小值
TIKAONTKAca-
最小值
筛选应按GJB33A的表2的规定，真体筛选项自按书进行多其测试应按本规范表4的规定进行，超过本规范表4极限值的器代应剔除容表3筛选要求”
见GJB33A表2
1．内部日检
2．高温寿命
3.度循环
4．恒定加速度
7．密封
a.细检漏
b。粗检漏
9．中间测试电参数
10.高深反偏
11.中间电参数
12.功率芝炼
13．终点测试
1）未指明的项且不适用。
试验方法
GJB128A方法号bZxz.net
100倍品微镜
200Cme48 hr
拭验条件C;循环20次
JTRJCT级
方向，196000m/s3，保持1min要求不适用条件H：，Rr=5×10Pa·cm/s，P=517kPa，t=4h条件c，P=517 kPa，(=2 h
co和E】
TA-150'C, Vcr=48 V, r-48 h
IcBO:和hE
TA=25'C Vce=10 V, Prat=500 mW, r160 hAIcBo:为初始值的100%或0.05A，取较大者，【hFE丨≤初始值的20%
4.4质量一致性检验
SJ50033/160—2002
质量一致性检验应按GJB33A和本规范的规定进行。4.4.1A组检验
A组检验应按GJB33A和本规范表4的规定进行。表4A组检验
GB/T4587
检验或试验
1分组
外规及机械检验
2分红
集电极—基极
击穿地压
集也极发射极
击穿电压
集电极一基极
截止电流
架电极一-发射极
截电流
正向电流传输比
集电极一发射极
饱和电压
3分组
商溢工作
集心极—基极
截止电流
低温工作
正向电流传输比
4分组
特征赖率
翰出功率
功率增益
GJB128A
GJB t28A
GB128A
G5B128A
除非另有规定
TA=25℃
Vce- Io v
Y'cE=10 V
Vee=10 V, le-30 mA
lc~50mA
/e-5 mA
TA-150'℃,
Vce-10 V, Ie-0
TA--55℃,
Vce=10 V, Ic=30 mA
Vce-10 V, le-30 mA
f=400 MFIz
Vce=10 V,fc=30mA
J-100MHz
V'c-10 V, Ic-30 mA
f+100 MIIz
LTPD=5
V(BR) CBO
VBR:CEO
F'CEsat
极限值
最小1最大
4.4.2B组检验
SJ 50033/160--2002
B组检验应按GJB33A及本规范表5的规定进行。表5B组检验
GJB128A
检验和试验
1分组
可焊性
耐溶剂性
2分组
激度循环(空气空气)
密封试验
a，细捡漏
b.粗检蒲
终点测试
3分组
稳态工作寿命
终点测试
4分纽
开帽内部目捡
(设计核实)
键合强度
5分组
6分组
高温寿命(不工作)
终点测试
7分组
恒定加速度
粒子碰撞噪声检测
终点测试
手2037
OB/f.4587
每个器件受试引出端数：3
中试验条件#25次！
\试验条件Hi,p=517 kPa，r-4 hR,≤5×103Pa.cm' /s.
试验条件C,，P-517kPa，2 h
见装步赚13、4
Ta=25 ±3g8-500 mW,
Vce=10 V, r=340 h
1装8安媒25
检判据按定适的设计
试验条件
Vca-10 V, le-30 mA
Rh j-a ≤0.35 K/mW
Ta-200'C: 340h.
一觉蔓8步驳
XYtZ三芳询，196 000 m/s
条件A
见表8步骤1、3、4
抽样方案
KAONiKAca
器定检验和大批量的
小批最的质量
质量一致性检验
样批1香器件零失效
上TU-10是键食线致
一致性检验
4.4.3C组检验
SJ 50033/160---2002
C组检验应按GJB33A及本规范表6的规定进行。表6C组检验\
GJB 128A
检验和试验
1分组
物理尺寸
2分组
热冲击（液体—液体）
引出端强度
密封试验：
a.细检漏
b.粗捡漏
外观及机械检验
终点测试
3分红
扫频振动
终点测试
6分组
稳态丁作好命
终点测试
按图1规定尺寸
试验条作A：15次
试验条A，-5N，10s，
每个器件受试引出端数：3
试验条件H，P=517 kPa，t=4 h
R5×10°Pa.cmist
试验条件C,P=517 kPa，(-2 h
不求预处埋
见表8步骤1、3、4
不作，14700m/s，0.5ms，
XI、Y1、Z，每个方向5次
见表8步骤1、3、4
TA-25℃±3℃, (-1 000 h,
Piot=500 mW, Vce-10 V
见表8步骤2、5
1）G拍33A表8中卡指明的分纽不适用。4.4.4E组检验
E组检验应按GJB33A及本规范表7的规定进行。表7E组检验(仅供鉴定)\)
检验和试验
1分组
温度循环（空气一空气）
终点测试
4分组
GB/T4587
1）GJB33A表7中未指明的分不适用6
GJBI28A
试验条件C，150次
见农8步骤1、3、4
抽样方案
鉴定检验和大批量
的质量一致性检验
小批量的质量
致性检验
扯样方案
Vca=10 V, c=30 mA
Rth sj-ar ≤0.35 K/mW
4.5检验和试验方法
SJ50033/160--2002
检验和试验方法应按本规范相应的表中规定的方法进行。4.5.1测试
直流或交流参数测试按GB/T4587或GJB128A相应方法测试。表8B组、C组、E组的最后测试
彝电极一基极截止电流
集电极-基极截止电流
集电极一发射极饱和电压
正向电流传赖比
正向电流传输比
交货准备
5.1包装要求
GB/T4587
包装要求应符合GJB33A的规定：5.2贮存要求
存要求按GJB33A的规定。
5.3运输要求
运输要求应按GB33A的规适
说明事项
预定用途
IE=0, VcB=10 V
Te=0 .. Yen310 V
hS mAMi-50.mA
YcE-10 Vr-I=30 mA.
Vce=10 V, Jc=30 nA
Licnoi
符合本规范的器件供新设备设计便用和供现有设备的后勤保障用。6.2订货资料
舍同和订货单应规定下列内容：a.
本规范的名称和编号：
等级（见1.3.1）；
数量；
需要时，其它娶求。
附加说明：
本规范由信息产业部电子第四研究所归口。本规范由信息产业部电子第十三研究所负责起草。本规范主要起草人：高颖、王于辉、崔波。计划项目代号：B01015。
极限慎
最小值
般大值
初始值的30%
HKAONiKAca
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