SJ 50033.161-2002
基本信息
标准号： SJ 50033.161-2002
中文名称：半导体分立器件 2CW210～251型硅电压调整二极管详细规范
标准类别：电子行业标准(SJ)
标准状态：现行
出版语种：简体中文
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相关标签： 半导体 分立 器件 电压 调整 二极管 详细 规范
标准分类号
关联标准
出版信息
相关单位信息
标准简介
SJ 50033.161-2002 半导体分立器件 2CW210～251型硅电压调整二极管详细规范
SJ50033.161-2002
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标准内容
中华人民共和国电子行业军用标准FL5961
SJ50033/161--2002
半导体分立器件
2CW210~～251型硅电压调整二极管详细规范
Semiconductordiscretedevice
Detail specification for silicon voltage-regulator diode for type 2CW210 - 2512002-10-30发布
2003-03-01实施
中华人民共和国信息产业部批准中华人民共和国电子行业军用标准半导体分立器件
2CW210～251型硅电压调整二极管详细规范Semiconductor discrete deviceDetail specification for siliconvoltage-regulator diode for type 2CW210--2511范围
1.1主题内容
KAoNKAea-
SJ 50033/161—2002
本规范规定了2CW210～251型硅电释谢整三极以下简称器件）的详细要求，1.2适用范围
本规范适用于器件的研制生产和采购。1.3分类
本规范根据器件质量保证等级进行分类。1.3.1器件的等级
按GJB33A一97《科导释分立疑作总规范》1.3.1的规定，提俄的质保评等级为举军级、特军级和超特军级别用字母JP、JT和iCT装示。2引用文件
GBT6571-二1995半导信器件分立馨件第部分：信号包括开关）和调整二极管GB/T7581--1087半导体分立器件外戒寸GJB33A-97半导体务器件总规荐
GJB128A-97：半身体分立整作试验方法3要求
3.1详细要求
各项婴求应按GJB33A和本规范的规定3.2设计、结构和外形尺寸
器件的设计和结构应技GJB33A和本规范的规定。3.2.1引出端材料和镀涂层
引出端材料为无氧铜，引出端表面应为锡层，对引出端镀涂，另有要求时，在合同或订货单中予以规定。
3.2.2器件的结构
器件为玻璃钝化封装非空腔结构，芯片采用台面型，芯片和！出线之间采用高温冶企键合。对于该封装结构器件，GJB33A中3.5.1.1、3.5.1.2和附录A4.1.10.3的规定不适用。中华人民共和国信息产业部2002-10-30发布2003-03-01 实施
3.2.3外形尺寸
SJ50033/161-2002
外形尺寸应符合GB/T7581—87中的D2-10A型及图1的规定。G
1）、L，为引线弯曲成直角后器件安装的最小轴向长度。图1
外形图
3.3最大额定值和主要电特性
3.3.1最人额定值
最人额定值见表1。
极限值
2CW210--25
TA-25'℃
D2-10A
最大额定值
表9第8楼
1）当T>25℃时，按4mW/K的速率线性地降额。3.3.2主要电特性
各型号的电特性和测试条件按表9的规定。主要电特性【TA=25℃）览表2。3.4电测试要求
电测试应符合GB/T6571—-1995及本规范的规定。3.5标志
标志应符合GJB33A和本规范的规定。3. 5. 1, 1
表9第7栏
负极标态
-55~150
-55~150
SJ 50033/161—2002
器件的标志为极性和型号。省略GJB33A中3.7.1的c、d、e、f、g、h、i。极性，负极用一明显的色环标志：一型号。
主要电特性
2CW210~251
Iz：表9第4档
最小值
表9第
4质量保证规定
4.1抽样和检验
最大值
农9第
l=200mA
表9第
z：9第4栏
最大值
表9第
抽样和检验应按GJB33A和本规范的规定。4.2鉴定检验
4.2.1鉴定检验应按GJB33A的规定。4.2.2E组检验（仪供鉴定）
Izk =1 mA
最大值
表9第
E组检验应按GJB33A,的规延具体检验预图控表7的规定进行。4.3筛选（仅对和GT级）
V：表9第9m
殿大值
装9第
TIKONIKAca
I avz l
Iz：表9第4档
最般大值
表9第
筛选应按GJB33A表5的规症，具体翌求见表3规定，其测试应按本规范表4的规定进打，超过本规范表4极限值的器件应争剔除
表3筛选耍求
筛选项
1.内部目检（封装前）
2.高温寿命（不工作）
3.温度循环（空气一空气）
11.PDA的中间电参数测试和(A)
变化氧
12．功率老炼
13．终点测试
PDA的中间测试和电参数变化量
试验方法号
3~5信放大镜
Ta-150℃-96 h
除高温为150-%℃外，其
余按试验系件G20次
按表4的A2分红
试盟条件B
TA见4.5.5
r-96 h
1zv表9第7
按表 4的 A2 分组
JCT级
管芯与铂柱间无间
隙，无虚，焊接牢腻
试V和R，并记录数据。
1R「≤初始值的100%或2μA，取较大者：「4Vz≤初始值的3%
注：GJB33A中2的第6、8、9、15和16项不要求，4、5、7、10和14项不适用。4.4质一致性检验
质量一致性检验应按GJB33A和本规范的规定。4.4.1A组检验
A组检验应按GJB33A的规定，具体检验项目按表4的规定进行。4.4.2B组检验
SJ 50033/161—2002
B组检验应按GJB33A的规定，具体检验项目按表5的规定进行。4.4.3C组检验
C组检验应按GJB33A的规定，具体检验项目按表6的规定进行。4.4.4D组检验（不适用）
4.5检验和试验方法
检验和试验方法应按相应的表和下列规定进行。4.5.1浪涌电流
在器件上施加电流（表9第4栏），然后再施加表9第8栏中规定的峰值电流，并丑这一峰值电流应与电流Iz（表9第4栏）叠加，每个浪满时间间隔为1min，共作5次，波形为脉宽10ms的正弦波（或能量相等的方波）。
4.5.2L作电压（V）
下作电压的测试，应在施加测试电流Iz（表9第4栏）待器件热平衡（时间-20土5s）后进行。在进行该项测试中，器件的安装夹具内侧边离管体应在10mm～12mm之间，环境温度为25士3℃。4.5.3T作电压温度系数（αvz）在规定的环境温度（Ti-25土1℃、T2=T,+50℃）下，施加测试电流Iz，待器件热平衡（时间-20土5s）后，测出T.作电压值Vz，按下式第出工作电压温度系数αvz。100(V22 -Vzi2 (% / C)
(T, -T)-V21
式中：Vz—Ti温度下的工作电压值，单位为伏特（V)；V2-一T温度下的工作电压值，单位为伏特（V)。4.5.4电压调整
保持电流为Iz（表9第7栏）的10%，待器件热平衡（时间90士5s）后，测试Vz的数值，记录为Vi，再把电流增加到1zM（表9第7栏）的S0%，待器件热平衡（时间90土5s）后，测试此时的Vz值，记录为V2。这两个电压的变化量！4V「=1V-V「不应超过表9第13栏给出的规定值。在该项试验期间，器件的安装夹具边离管体应在10mm～12mm之间，环境温度为25士3℃。4.5.5功率老炼和寿命试验
环境温度为 T^=15～35℃。
表 4A组检验
GB/T6571中第IV牵第2节
检验或试验
1分组
佳检和机械检验
正向电压
反向电流
工作电压
GJB128A
TA-25℃
1=200mA 直流法
等于表9第9栏的值
见本规范4.5.2
1等于表9第4栏的值
JP、JT、JCT
级拉样方案
LTPD =5
极限備
最小值
最大值
日靓标志应清晰，玻球光
裂纹、针孔、气泡、钳柱
露出不超过0.8mm，其余
按2071中的有关规定。
表9第10栏
表9第1栏
表9第3栏
检验或试验
3分组
高溢工作
反向电流
4分纽
微分电阻
拐点微分电阻
6分组
浪涌电流
终点测试
SJ50033/161—2002
续表4
GB/T6571中第IV章第2节
TA=25℃
TA=125±5℃
直流法
等于表9第9栏的值
Iz等于表9第4栏的值
g=10%lz
Izk=1 mA
Tux=10%lx
本规范45.1
见表步骤1和3
样品从规定的试验条
件取出4h店进行测试
注：GIB33A中表6的第5分组不适用。JP、JT、ICT
级拍样方案
trppao
装6B组检验
GJB t28A
检验或试验
1分组1
可焊性
耐溶剂性
2分组
热冲击
(液体一液体）
终点测试
3分组Www.bzxZ.net
稳态工作寿命
终点测试
6分组
高溢寿命
【非工作状态）
方法：
验条体A
10次循环
按装表8步骤！和3
极限值
段小值
最大值
表9第11栏
表9第5栏
表9第62
KAONTKAca
鉴定捡验和大批小批量的质量一的质就致性
检验方案
样品从规定的试验条件取山4h后进行测试S
TA见本范4.5.3
r-340h
等于表9第7栏的值
按表8步2租3
样品从规定的试验条件取出4~-96h内迹行测试，当测试结果有争议时，以96h翘试为准。7
TA-150'℃ f-340 h
终点测试
同B3分组
注：GJB33A中表7的第4、5和7分组不适用。致性捡验
4(c-0)
6(c=0)
12(c=0)
12(c=0)
检验或试验
1分组
物理尺寸
2分组
热冲击
(波体一液体)
引出端强度
引线疲劳
外观检查
终点测试
6分纽
稳态工作
终点测试
7分组
电压调整
工作电压
温度系数
GJB 128A
见本规范图1
试验条件A
试验条件A
r10±1s
受试引线数：2
试验条件E
不要求预处理
按表8步骤1和3
1026TA见本规范4.5.5
-1000 h
SJ 50033/161-2002
表6C组检验
鉴定检验和大批
量的质量一致性
检验抽样方案
LTPD-15
LTPD=10
I等于表9第7栏的值
同B3分
按本规范4.5.4规定
按本规范4.5.3规定
z等于表9第4栏的值
T,=25±1℃
T2= T,+50*C
注：GJB33A中表8的第3、4、5分组小适用。LTPD=10
小批量的质量
一致性检验
6(c=0)
6(c-0)
12(c=0)
6(c-0)
表7E组检验（仅供鉴定）
检验或试验
1分组
温度循环
(穿气～空气)
终点测试
GJB 128A
除高涵为150.1o外，其余按试验条件G。200次循环
技装8步骤2和3
注：GJB33A中表7的第2、3、4和5分组不适用。抽样方案
LTPD=20
极限值
最大假［
最小值
国视标志应清
晰，玻球无裂
纹、针孔、气泡，
铅柱诺出不超
过0.8 mm，其
余按2071中的
有关规定。
表9第
表9第
极限值
最小值段大值
反向电流
反向电流
工作电压
SJ50033/161—-2002
表8A组、B组、C组和E组终点测试GB/T6571第V第2节
TA=25℃
直流法
F等于表9第9栏的值
直流法
V等十表9第9栏的值
1z等于表9第4栏的值
最小值
极限慎
表9第1栏
殿大值
表9第10栏
农9第12栏
表9第3栏
TYKAONTKAca=
SJ 50033/161—2002
-KANKAa=
SJ 50033/161--2002
asz-yi
n frin
5交货准备
5.1包装要求
包装要求应按GJB33A的规定。
5.2贴存要求
存要求应按GJB33A的规定。
5.3运输要求
运输要求应按GJB33A的规定。
6说明事项
6.1预定用途
SJ50033/16t—2002
符合本规范的器件供新设备设计使用和供现有的后勤保障用。6.2订货文件内容
合尚或订单应规定下列内容：
-本规范的名称和编号：
器件型号：
-数量：
等级（见1.3.1）；
一对引出端材料和涂层有特殊要求时；一需要时，典型特性曲线；
需要时，其他要求。
附加说明：
本规范由信息产业部电子第四研究所归口。本规范由国营第八七三厂起草。本规范士要起草人：邹盛琳、田文燕。项图计划代号：B01009。
小提示：此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容，若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。
SJ50033/161--2002
半导体分立器件
2CW210~～251型硅电压调整二极管详细规范
Semiconductordiscretedevice
Detail specification for silicon voltage-regulator diode for type 2CW210 - 2512002-10-30发布
2003-03-01实施
中华人民共和国信息产业部批准中华人民共和国电子行业军用标准半导体分立器件
2CW210～251型硅电压调整二极管详细规范Semiconductor discrete deviceDetail specification for siliconvoltage-regulator diode for type 2CW210--2511范围
1.1主题内容
KAoNKAea-
SJ 50033/161—2002
本规范规定了2CW210～251型硅电释谢整三极以下简称器件）的详细要求，1.2适用范围
本规范适用于器件的研制生产和采购。1.3分类
本规范根据器件质量保证等级进行分类。1.3.1器件的等级
按GJB33A一97《科导释分立疑作总规范》1.3.1的规定，提俄的质保评等级为举军级、特军级和超特军级别用字母JP、JT和iCT装示。2引用文件
GBT6571-二1995半导信器件分立馨件第部分：信号包括开关）和调整二极管GB/T7581--1087半导体分立器件外戒寸GJB33A-97半导体务器件总规荐
GJB128A-97：半身体分立整作试验方法3要求
3.1详细要求
各项婴求应按GJB33A和本规范的规定3.2设计、结构和外形尺寸
器件的设计和结构应技GJB33A和本规范的规定。3.2.1引出端材料和镀涂层
引出端材料为无氧铜，引出端表面应为锡层，对引出端镀涂，另有要求时，在合同或订货单中予以规定。
3.2.2器件的结构
器件为玻璃钝化封装非空腔结构，芯片采用台面型，芯片和！出线之间采用高温冶企键合。对于该封装结构器件，GJB33A中3.5.1.1、3.5.1.2和附录A4.1.10.3的规定不适用。中华人民共和国信息产业部2002-10-30发布2003-03-01 实施
3.2.3外形尺寸
SJ50033/161-2002
外形尺寸应符合GB/T7581—87中的D2-10A型及图1的规定。G
1）、L，为引线弯曲成直角后器件安装的最小轴向长度。图1
外形图
3.3最大额定值和主要电特性
3.3.1最人额定值
最人额定值见表1。
极限值
2CW210--25
TA-25'℃
D2-10A
最大额定值
表9第8楼
1）当T>25℃时，按4mW/K的速率线性地降额。3.3.2主要电特性
各型号的电特性和测试条件按表9的规定。主要电特性【TA=25℃）览表2。3.4电测试要求
电测试应符合GB/T6571—-1995及本规范的规定。3.5标志
标志应符合GJB33A和本规范的规定。3. 5. 1, 1
表9第7栏
负极标态
-55~150
-55~150
SJ 50033/161—2002
器件的标志为极性和型号。省略GJB33A中3.7.1的c、d、e、f、g、h、i。极性，负极用一明显的色环标志：一型号。
主要电特性
2CW210~251
Iz：表9第4档
最小值
表9第
4质量保证规定
4.1抽样和检验
最大值
农9第
l=200mA
表9第
z：9第4栏
最大值
表9第
抽样和检验应按GJB33A和本规范的规定。4.2鉴定检验
4.2.1鉴定检验应按GJB33A的规定。4.2.2E组检验（仪供鉴定）
Izk =1 mA
最大值
表9第
E组检验应按GJB33A,的规延具体检验预图控表7的规定进行。4.3筛选（仅对和GT级）
V：表9第9m
殿大值
装9第
TIKONIKAca
I avz l
Iz：表9第4档
最般大值
表9第
筛选应按GJB33A表5的规症，具体翌求见表3规定，其测试应按本规范表4的规定进打，超过本规范表4极限值的器件应争剔除
表3筛选耍求
筛选项
1.内部目检（封装前）
2.高温寿命（不工作）
3.温度循环（空气一空气）
11.PDA的中间电参数测试和(A)
变化氧
12．功率老炼
13．终点测试
PDA的中间测试和电参数变化量
试验方法号
3~5信放大镜
Ta-150℃-96 h
除高温为150-%℃外，其
余按试验系件G20次
按表4的A2分红
试盟条件B
TA见4.5.5
r-96 h
1zv表9第7
按表 4的 A2 分组
JCT级
管芯与铂柱间无间
隙，无虚，焊接牢腻
试V和R，并记录数据。
1R「≤初始值的100%或2μA，取较大者：「4Vz≤初始值的3%
注：GJB33A中2的第6、8、9、15和16项不要求，4、5、7、10和14项不适用。4.4质一致性检验
质量一致性检验应按GJB33A和本规范的规定。4.4.1A组检验
A组检验应按GJB33A的规定，具体检验项目按表4的规定进行。4.4.2B组检验
SJ 50033/161—2002
B组检验应按GJB33A的规定，具体检验项目按表5的规定进行。4.4.3C组检验
C组检验应按GJB33A的规定，具体检验项目按表6的规定进行。4.4.4D组检验（不适用）
4.5检验和试验方法
检验和试验方法应按相应的表和下列规定进行。4.5.1浪涌电流
在器件上施加电流（表9第4栏），然后再施加表9第8栏中规定的峰值电流，并丑这一峰值电流应与电流Iz（表9第4栏）叠加，每个浪满时间间隔为1min，共作5次，波形为脉宽10ms的正弦波（或能量相等的方波）。
4.5.2L作电压（V）
下作电压的测试，应在施加测试电流Iz（表9第4栏）待器件热平衡（时间-20土5s）后进行。在进行该项测试中，器件的安装夹具内侧边离管体应在10mm～12mm之间，环境温度为25士3℃。4.5.3T作电压温度系数（αvz）在规定的环境温度（Ti-25土1℃、T2=T,+50℃）下，施加测试电流Iz，待器件热平衡（时间-20土5s）后，测出T.作电压值Vz，按下式第出工作电压温度系数αvz。100(V22 -Vzi2 (% / C)
(T, -T)-V21
式中：Vz—Ti温度下的工作电压值，单位为伏特（V)；V2-一T温度下的工作电压值，单位为伏特（V)。4.5.4电压调整
保持电流为Iz（表9第7栏）的10%，待器件热平衡（时间90士5s）后，测试Vz的数值，记录为Vi，再把电流增加到1zM（表9第7栏）的S0%，待器件热平衡（时间90土5s）后，测试此时的Vz值，记录为V2。这两个电压的变化量！4V「=1V-V「不应超过表9第13栏给出的规定值。在该项试验期间，器件的安装夹具边离管体应在10mm～12mm之间，环境温度为25士3℃。4.5.5功率老炼和寿命试验
环境温度为 T^=15～35℃。
表 4A组检验
GB/T6571中第IV牵第2节
检验或试验
1分组
佳检和机械检验
正向电压
反向电流
工作电压
GJB128A
TA-25℃
1=200mA 直流法
等于表9第9栏的值
见本规范4.5.2
1等于表9第4栏的值
JP、JT、JCT
级拉样方案
LTPD =5
极限備
最小值
最大值
日靓标志应清晰，玻球光
裂纹、针孔、气泡、钳柱
露出不超过0.8mm，其余
按2071中的有关规定。
表9第10栏
表9第1栏
表9第3栏
检验或试验
3分组
高溢工作
反向电流
4分纽
微分电阻
拐点微分电阻
6分组
浪涌电流
终点测试
SJ50033/161—2002
续表4
GB/T6571中第IV章第2节
TA=25℃
TA=125±5℃
直流法
等于表9第9栏的值
Iz等于表9第4栏的值
g=10%lz
Izk=1 mA
Tux=10%lx
本规范45.1
见表步骤1和3
样品从规定的试验条
件取出4h店进行测试
注：GIB33A中表6的第5分组不适用。JP、JT、ICT
级拍样方案
trppao
装6B组检验
GJB t28A
检验或试验
1分组1
可焊性
耐溶剂性
2分组
热冲击
(液体一液体）
终点测试
3分组Www.bzxZ.net
稳态工作寿命
终点测试
6分组
高溢寿命
【非工作状态）
方法：
验条体A
10次循环
按装表8步骤！和3
极限值
段小值
最大值
表9第11栏
表9第5栏
表9第62
KAONTKAca
鉴定捡验和大批小批量的质量一的质就致性
检验方案
样品从规定的试验条件取山4h后进行测试S
TA见本范4.5.3
r-340h
等于表9第7栏的值
按表8步2租3
样品从规定的试验条件取出4~-96h内迹行测试，当测试结果有争议时，以96h翘试为准。7
TA-150'℃ f-340 h
终点测试
同B3分组
注：GJB33A中表7的第4、5和7分组不适用。致性捡验
4(c-0)
6(c=0)
12(c=0)
12(c=0)
检验或试验
1分组
物理尺寸
2分组
热冲击
(波体一液体)
引出端强度
引线疲劳
外观检查
终点测试
6分纽
稳态工作
终点测试
7分组
电压调整
工作电压
温度系数
GJB 128A
见本规范图1
试验条件A
试验条件A
r10±1s
受试引线数：2
试验条件E
不要求预处理
按表8步骤1和3
1026TA见本规范4.5.5
-1000 h
SJ 50033/161-2002
表6C组检验
鉴定检验和大批
量的质量一致性
检验抽样方案
LTPD-15
LTPD=10
I等于表9第7栏的值
同B3分
按本规范4.5.4规定
按本规范4.5.3规定
z等于表9第4栏的值
T,=25±1℃
T2= T,+50*C
注：GJB33A中表8的第3、4、5分组小适用。LTPD=10
小批量的质量
一致性检验
6(c=0)
6(c-0)
12(c=0)
6(c-0)
表7E组检验（仅供鉴定）
检验或试验
1分组
温度循环
(穿气～空气)
终点测试
GJB 128A
除高涵为150.1o外，其余按试验条件G。200次循环
技装8步骤2和3
注：GJB33A中表7的第2、3、4和5分组不适用。抽样方案
LTPD=20
极限值
最大假［
最小值
国视标志应清
晰，玻球无裂
纹、针孔、气泡，
铅柱诺出不超
过0.8 mm，其
余按2071中的
有关规定。
表9第
表9第
极限值
最小值段大值
反向电流
反向电流
工作电压
SJ50033/161—-2002
表8A组、B组、C组和E组终点测试GB/T6571第V第2节
TA=25℃
直流法
F等于表9第9栏的值
直流法
V等十表9第9栏的值
1z等于表9第4栏的值
最小值
极限慎
表9第1栏
殿大值
表9第10栏
农9第12栏
表9第3栏
TYKAONTKAca=
SJ 50033/161—2002
-KANKAa=
SJ 50033/161--2002
asz-yi
n frin
5交货准备
5.1包装要求
包装要求应按GJB33A的规定。
5.2贴存要求
存要求应按GJB33A的规定。
5.3运输要求
运输要求应按GJB33A的规定。
6说明事项
6.1预定用途
SJ50033/16t—2002
符合本规范的器件供新设备设计使用和供现有的后勤保障用。6.2订货文件内容
合尚或订单应规定下列内容：
-本规范的名称和编号：
器件型号：
-数量：
等级（见1.3.1）；
一对引出端材料和涂层有特殊要求时；一需要时，典型特性曲线；
需要时，其他要求。
附加说明：
本规范由信息产业部电子第四研究所归口。本规范由国营第八七三厂起草。本规范士要起草人：邹盛琳、田文燕。项图计划代号：B01009。
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