SJ 50597.15-1994
基本信息
标准号： SJ 50597.15-1994
中文名称：半导体集成电路JT54LS247型LS-TTL电路BCD-七段译码器/驱动器
标准类别：电子行业标准(SJ)
标准状态：现行
出版语种：简体中文
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下载大小：261491
标准分类号
关联标准
出版信息
相关单位信息
标准简介
SJ 50597.15-1994 半导体集成电路JT54LS247型LS-TTL电路BCD-七段译码器/驱动器
SJ50597.15-1994
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标准内容
中华人民共和国电子行业军用标准FL5962
SJ 50597/15-94
半导体集成电路
JT54LS247型LS一TTL电路
BCD七段译码器/驱动器
详细规范
Semiconductor integrated circuitsDetail specification for type JT54LS247 BCD-to-scven segmentdecoders/drivers of LS-TTL
1994-09-30发布
1994-12-01实施
中华人民共和国电子工业部批准中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路
JT54LS247 型 LS-TTL 电路 BCD-七段译码器/驱动器
详细规范
Semiconductor integrated circuitsDetall specirication for type JT54LS247 RCD-lo-seven segmentdecoxders/drivers nf LS-TTL
1范围
1.1主题内容
SJ 50597/15 - 94
本规范规定了半导体集成电路JT54IS247HCD一七段译码器/驱动器（以下简称器件)的详细要求。
1.2适用范围
本规范适用于器件的研制、生产和采购。1.3分类
本规范给出的器件按器件型号、器件等级、封装形式分类。1.3.1器件编号
器件编综号应铵GJP 597(微电路总规范)第3.6.2条的规定。1.3.1.1器件型号
器件型号如下：
器件型号
JTS4LS247
1.3.1.2器件等级
器件名称
BCL)-七段译码器/驱动器
器件等级应为GJB597第3.4条所规定的B级和本规范规定的BI级。1.3.1.3封装形式
封装形式按GB 7092(半导体集成电路外形尺寸>的规定。封装形式如下：
中华人民共和国电子工业部1994-09-30发布1994-12-01实施
YrKAOKAca
1.4绝对最大额定值
绝对最大额定值如下：
电源电压
输入电压
输出电流
输出截1.恋老流
贴存温度
引线焊接迟度(10S)
1.5推荐工作条件
推荐工作条件如下：
电源电压
输人高电平电压
输入中平中
输出高电平电池
输出低电苹电流
输出截止态电压
輪出导通态电流
工作环境湿度
引用文性
GB243I.1-82
G3 3431.2 - 86
G3 3439 - 82
BI/RBO
BI/RBO
SJ 50597/ 15—94
外形代母
C20P3陶瓷无引线片式载体封装）D1653(陶瓷双列封装）
F16x2(陶瓷平封装)
H16X2(陶瓷熔封扇平封装）
J16S3（陶瓷熔封双列封装）
fo:0FF)
半导体架成克路文字符号【
电参数文字符号
学学许集成电路文字符号引出举功能符号导体集成电路TIL电路测试方法的基本源理单
GR 4590 - 84
GB 4728. 12 - 87
GR 7092 - 86
GJB 548 - 88
GJB 597-88
GJB1649
3要求
3.1详细要求
SJ 50597/15—94
半导体集成电路机械和气候试验方法电气图用图形符号二进制逻辑单元半导体集戒电路外形尺
微电子器件试验方法和程序
微电路总规范
电子产品防静电放电控制大纲
各项要求应按GB597和本规范的规定。本规范规定的B级器件仪在产品保证视定的筛选、鉴定和质量一致性检验的某些口和要求不同于B级。
3.2设计、结构和外形尺寸
设计、给构和外形尺寸按GTB597和本规范的规定。3.2.1逻妞符号、逻辑图和引出端排列：逻拼符号、逻辑图和引出端排列应符合图1的规定。逻就衔号、逻辑图符含（R472812的规定。引出端排列为俯视图。逻辑符号
HIN/T—SEG>
BI/RBO(4)
b ±20 21
f20213
≤ 20 21
(1324m
TrKAONKAca-
引出端排列
D, F,H,I 型
国RBO
逻辑图
SJ50597/15--94
Bi/RBO
272019
90111213
图1逻辑符号，避辑图和引出端排列TKAONKAca
$T 50597/15-94
3.2.2功能表
功能表如下：
BI/RBO
十逆效
OFFQFF
OFF OFF
OFF OFF
脉冲消院
轻段的表示；
显示结果：
101112
H-高扫平L-低电平X-任意OFF-截止态3.2.3电路图
制造厂在鉴定前应将也路图提交给鉴定机构。各制造厂的电路图出鉴定机构存档备套。3.2.4封装形式
封装形式应按本规范第1.3.1.3茶的规。3.3引线材料和涂覆
引线材料和涂覆应按GJB597第3.5.6条的规定。3.4电特性
电特性应符合本规范表1的规定。特
输出高电平电压
拍出低电平电压
人邮位电压
高电平电流
输人依电平电流
最大输入电压时输入电流
输出短路电流
输出截止态电流
输出导通态电压
电源电流
传输延迟时间
3.5电试验要求
SJ 50597/15-94
表1电特性
（著无其他规定，Ta=—55+t25t）最
Vc- -4.3V, Vut -2V
ifcH - - 50μA,
Vcc -4.5V, Vm -2V
oL =1.6mA,
: Vu =0.7V
RI/RRO
Bi/RBO
Vcc =4.5V, Iik = -18mA
Vee - 5.5v, Vih =2.7V
Vce - 5.5V, Vt -
除B/RBO外
Vu: =5.5v, V) =7V
Voc = 5.sV
Vee -5.5V. VH --2V
BI/RBO
Yi. - 0.7v. Yam -15
Yee - 5.3v. Vih --2V
Vn =0.7V, Idm) -[2mA
Ya→Yg
Voc=5.5V,箍入接4.sv，箱出元路Vec=5V
CL - 15pF
RL =665n
As到出端
RBI到出嘴
就蔗值
器件的电试验婴求应为本规范表2所规定的有关分组。各个分组的电测试按表3的规定。
中间(老化前)电测试
中河(老化启)电视试
最电测试
A过验要求
C组终点电测试
心组检验增加的分组
D编终点电视试
表2电试验要求bzxZ.net
B级器件
A2, A3,A7, A9
A1, A2, A3, A7.A9, A1, A11
A1, A2. A3
不要求
Al, Az, A3
注：1)该分组要求PDA计算（见卒规范4.2条)。组
（见表3)
B级器件
A2,A3.A7,A9
A1, A2,A3. A7. A9
A1,A2,A3
A10,A1l
引用标准
GB3439
2 5条
212条
213条
212条
2 21条
SJ 50597/15—94
表3电澍试
（若无其他规定，T。=25℃）
V- =4.SV, Vih =2V
Va = 0.7V. Ion - - 50μA
Vct =4,5V, Vu =2V
VL =0.7V, Io. =1.6mA
Vcc =4.5V,被创入蜡 Irk = -18mA其余喻人端并路
Vec - 5V,被测输入端 V=2.7V,
其余输入舜接地，输出端开路
Bi/REO
Vcc=5.5V,被输人端V,=0.4Vi除BI/RBO其余输入端按45V，输出端开路
Vcc =5. 5V,鼓测愉入蜡 V, -7V其余摘入端接地。
BI/RBO
Vc=5.5V.所有输入端均接45VB/RBDYtc = 5.5, Vih -2V
iV. -0.7V, Vle) - 15V
Vcc *4.5V, ViH =2V
Vr =0.7V. Iem) ~ 12mA
Vcc5.5V.输人端接45V.输出端开路Ta ± 125C,踪 VIk 不测外,参数,条件及规范值均间 A1 分组。a
55C，除V不测外，参数，条件及规范值均同AI分组。VLc -5V,按功能表进行诞试(见本规范第 3 2 2 条)IPLH
Vcc = 5V,X, -6651
CL =15pF
见本规范图2
TA=125C，条件同A9分
A11T=-5ST，参数，条件新规范值均同A10分组。Ar到输出动
RB到输出
A, 到输出
RBI到输出端
规范值
最小最大
TTKAONKACa-
测试线路：
淄试波形
赖人脉
国将出点
测试见
AS,k30
4！1分组
反相轮出脉冲
SI 50597/15—94
图？开关时闻测试线路和波形图注:(1)肽冲发生器应具有下列特性;fsiMHt15ns
Zet = 50m
R.-6650±5%
C 15pF( CL包指探头和夹其电容)。3.6标志
标志应按GIB 597第 3.6条的规定。3.7微电路组的划分
本规范所涉及的器件应为第11微电路组（见GJB597附录E)。质保证规定
4.1抽样和检验
SI 50597/15--94
除本规范另有规定外，拍样和检验程序应按GIB597和GIB548方法5005的规定。4.2筛选
在监定和质量一致性检验之前，全部器件应按GJB54B方法5004和本规范表4的规定进行筛选。
表4筛选
若无其他规定，表中采用的法系指GJB548的试验方法。象件和要求
筛选项目
内部目检
稳定性烘焙
（不要求终点电视试）
温度循环
拒定加速度
中间(老化前)电凝试
中间(老化后)电测试
PDA计算
最终电测试
密封维检漏
粗检漏
外部自检
本规范A2,A3,A7,A9
1014 /A1 或 A2
C1或 c2
20093.1茶
整定或质量一致性检验5005
试验伴品的选敢
B级器件
试验条件 B
试验条件 C
温度15ot
时间24h
试验条件心
试验条件EY方向
本规范 A1分组
1U15试验条件B
语度125
时间160h
本规范A1分绢
5%,本就范 A1 分组,
当不合格品率不超过
20%时可重新提交老
化,但只允许一次
B级器件
2010试验条件B
试验条件 C
湿度150℃
时间24h
1010试验条件C
2001 试验条件 D,Y, 方向
本规范A1分线
试验条件B
温度125℃
时间16Uh
本规范 A1 分组
可用左送 1011试验条
件替代
试验后进行目检，引线
断落，外壳破裂，封盖
脱落为失效。
由制造厂选择是否斑
按本规范图 3 线路或
等效线路。
10%，本规范A1分老化前未进行中间组，当不合格品率不超电参数试验，郑么老化过20%时可重渐提交后N1分组检出的失效数也应计入 PDA
老化,但只允许一次
本规范 A2,A3, A7, A9
1014A1或A2
C1或c2
50053.5条
本项筛选后，著改变器
件的引线途除履或返工，
则应再进行 A1 和 A7
分组试验。
可在发货前按批进行。
-TrKAONTKAa-
SJ 50597/15--94
BIN/7--SEG>
d2021 0
。2021
120212
B2021 0
图3老化线路和寿命试验线路图
注：(1)Vec5Y.Vm=13V,R,=6650±5%，R,=27a,R,=100（2）脉冲发生器特性要求：
G: f =100kHz.Vm =2.0-5.5V, V.=-0.5~0.5V.占空比q50%。Gz:除 f = 50kHz 外,其余录件与 G, 相向,耳与 G, 同步。G:除了=25kHz 外,其余条件与G,相同,且与 G,同步。G除f12.5kHz外,其余条件与C,相间，且与G,同步。G;除=6.25kHz外,其余条件与G,想同,且与G,同步。G：除f=3.125kHz外,其会条件与G相同,且与G,同步。4.3鉴定检验
鉴定检验应按GJB597第4.4条的规定，所进行的检验应符合GJB548方法5005和本规范A、B、C和D组检验(见本规范4.4.1至4.4.4条)的规定。4.4质量一致性检验
质量一致性检验应按GJB397第4.5条的规定，所进行的检验应符合GJB548方法5005和本规范A、B、C和D组检验(见本规范4.4.1至4.4.4条)的规定。4.4.1A组检验
A组检验要求按本规范表5的规定。：审试验要求按本规范表2,各分组的具体电参数测试按本规范表3的规定。各分组的测试可用同一个样本进行。当所要求的样本大小超过批的大小时，允许100%检验。各分组的测试可按任意顺序进行，合格判定数（(C)最大为2。10
A1 分组 25C静态测试
125℃静态测试
A2 分组
A3分頭
A7分组
-55T静态测试
25℃功能测试
A9 分组
25℃开关测试
A10分组
125开美制试
A11分组
-55C开关测试
4.4.2B组检验
B组检验按本规范表6规定。
SJ 50597/15—94
表 5 A组检验
B级器件
B1- 分组可用同一轻验中电性能不合格的器件作为样本。表6B组检验
若无其它规定,表中采用的试验方法系指GJB 348 的试验方法。条件和要求
BI分组
B2 分组
抗搭性
B3 分组
河焊性
B4 分组
内部目利
机益检查
B5分组
键合强度
超声焊
R8分组
()电零数
B级器件
GJB 1649—93
(b)静态放电
破设等级
(e)电动敏
4.4.3C组检验
按规定
按规定
焊接谨度
245 ± 5tc
按规定
试验条件
AI分组
AI分矩
B,级器件
2022或
接规定
接规定
焊接温度
24515℃
变规定
试验条件
适用时
样品数
(接收数)
或LTPD
15/(0)
B1 级器件
LTPD 系对引线而言,
被试器件数应多于 3
可在封装工序前的内
部日检筛选后，随机抽
取样品进行本分组试
初始鉴定或产品重新
设计时进行。
-rKAONKAca-
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SJ 50597/15-94
半导体集成电路
JT54LS247型LS一TTL电路
BCD七段译码器/驱动器
详细规范
Semiconductor integrated circuitsDetail specification for type JT54LS247 BCD-to-scven segmentdecoders/drivers of LS-TTL
1994-09-30发布
1994-12-01实施
中华人民共和国电子工业部批准中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路
JT54LS247 型 LS-TTL 电路 BCD-七段译码器/驱动器
详细规范
Semiconductor integrated circuitsDetall specirication for type JT54LS247 RCD-lo-seven segmentdecoxders/drivers nf LS-TTL
1范围
1.1主题内容
SJ 50597/15 - 94
本规范规定了半导体集成电路JT54IS247HCD一七段译码器/驱动器（以下简称器件)的详细要求。
1.2适用范围
本规范适用于器件的研制、生产和采购。1.3分类
本规范给出的器件按器件型号、器件等级、封装形式分类。1.3.1器件编号
器件编综号应铵GJP 597(微电路总规范)第3.6.2条的规定。1.3.1.1器件型号
器件型号如下：
器件型号
JTS4LS247
1.3.1.2器件等级
器件名称
BCL)-七段译码器/驱动器
器件等级应为GJB597第3.4条所规定的B级和本规范规定的BI级。1.3.1.3封装形式
封装形式按GB 7092(半导体集成电路外形尺寸>的规定。封装形式如下：
中华人民共和国电子工业部1994-09-30发布1994-12-01实施
YrKAOKAca
1.4绝对最大额定值
绝对最大额定值如下：
电源电压
输入电压
输出电流
输出截1.恋老流
贴存温度
引线焊接迟度(10S)
1.5推荐工作条件
推荐工作条件如下：
电源电压
输人高电平电压
输入中平中
输出高电平电池
输出低电苹电流
输出截止态电压
輪出导通态电流
工作环境湿度
引用文性
GB243I.1-82
G3 3431.2 - 86
G3 3439 - 82
BI/RBO
BI/RBO
SJ 50597/ 15—94
外形代母
C20P3陶瓷无引线片式载体封装）D1653(陶瓷双列封装）
F16x2(陶瓷平封装)
H16X2(陶瓷熔封扇平封装）
J16S3（陶瓷熔封双列封装）
fo:0FF)
半导体架成克路文字符号【
电参数文字符号
学学许集成电路文字符号引出举功能符号导体集成电路TIL电路测试方法的基本源理单
GR 4590 - 84
GB 4728. 12 - 87
GR 7092 - 86
GJB 548 - 88
GJB 597-88
GJB1649
3要求
3.1详细要求
SJ 50597/15—94
半导体集成电路机械和气候试验方法电气图用图形符号二进制逻辑单元半导体集戒电路外形尺
微电子器件试验方法和程序
微电路总规范
电子产品防静电放电控制大纲
各项要求应按GB597和本规范的规定。本规范规定的B级器件仪在产品保证视定的筛选、鉴定和质量一致性检验的某些口和要求不同于B级。
3.2设计、结构和外形尺寸
设计、给构和外形尺寸按GTB597和本规范的规定。3.2.1逻妞符号、逻辑图和引出端排列：逻拼符号、逻辑图和引出端排列应符合图1的规定。逻就衔号、逻辑图符含（R472812的规定。引出端排列为俯视图。逻辑符号
HIN/T—SEG>
BI/RBO(4)
b ±20 21
f20213
≤ 20 21
(1324m
TrKAONKAca-
引出端排列
D, F,H,I 型
国RBO
逻辑图
SJ50597/15--94
Bi/RBO
272019
90111213
图1逻辑符号，避辑图和引出端排列TKAONKAca
$T 50597/15-94
3.2.2功能表
功能表如下：
BI/RBO
十逆效
OFFQFF
OFF OFF
OFF OFF
脉冲消院
轻段的表示；
显示结果：
101112
H-高扫平L-低电平X-任意OFF-截止态3.2.3电路图
制造厂在鉴定前应将也路图提交给鉴定机构。各制造厂的电路图出鉴定机构存档备套。3.2.4封装形式
封装形式应按本规范第1.3.1.3茶的规。3.3引线材料和涂覆
引线材料和涂覆应按GJB597第3.5.6条的规定。3.4电特性
电特性应符合本规范表1的规定。特
输出高电平电压
拍出低电平电压
人邮位电压
高电平电流
输人依电平电流
最大输入电压时输入电流
输出短路电流
输出截止态电流
输出导通态电压
电源电流
传输延迟时间
3.5电试验要求
SJ 50597/15-94
表1电特性
（著无其他规定，Ta=—55+t25t）最
Vc- -4.3V, Vut -2V
ifcH - - 50μA,
Vcc -4.5V, Vm -2V
oL =1.6mA,
: Vu =0.7V
RI/RRO
Bi/RBO
Vcc =4.5V, Iik = -18mA
Vee - 5.5v, Vih =2.7V
Vce - 5.5V, Vt -
除B/RBO外
Vu: =5.5v, V) =7V
Voc = 5.sV
Vee -5.5V. VH --2V
BI/RBO
Yi. - 0.7v. Yam -15
Yee - 5.3v. Vih --2V
Vn =0.7V, Idm) -[2mA
Ya→Yg
Voc=5.5V,箍入接4.sv，箱出元路Vec=5V
CL - 15pF
RL =665n
As到出端
RBI到出嘴
就蔗值
器件的电试验婴求应为本规范表2所规定的有关分组。各个分组的电测试按表3的规定。
中间(老化前)电测试
中河(老化启)电视试
最电测试
A过验要求
C组终点电测试
心组检验增加的分组
D编终点电视试
表2电试验要求bzxZ.net
B级器件
A2, A3,A7, A9
A1, A2, A3, A7.A9, A1, A11
A1, A2. A3
不要求
Al, Az, A3
注：1)该分组要求PDA计算（见卒规范4.2条)。组
（见表3)
B级器件
A2,A3.A7,A9
A1, A2,A3. A7. A9
A1,A2,A3
A10,A1l
引用标准
GB3439
2 5条
212条
213条
212条
2 21条
SJ 50597/15—94
表3电澍试
（若无其他规定，T。=25℃）
V- =4.SV, Vih =2V
Va = 0.7V. Ion - - 50μA
Vct =4,5V, Vu =2V
VL =0.7V, Io. =1.6mA
Vcc =4.5V,被创入蜡 Irk = -18mA其余喻人端并路
Vec - 5V,被测输入端 V=2.7V,
其余输入舜接地，输出端开路
Bi/REO
Vcc=5.5V,被输人端V,=0.4Vi除BI/RBO其余输入端按45V，输出端开路
Vcc =5. 5V,鼓测愉入蜡 V, -7V其余摘入端接地。
BI/RBO
Vc=5.5V.所有输入端均接45VB/RBDYtc = 5.5, Vih -2V
iV. -0.7V, Vle) - 15V
Vcc *4.5V, ViH =2V
Vr =0.7V. Iem) ~ 12mA
Vcc5.5V.输人端接45V.输出端开路Ta ± 125C,踪 VIk 不测外,参数,条件及规范值均间 A1 分组。a
55C，除V不测外，参数，条件及规范值均同AI分组。VLc -5V,按功能表进行诞试(见本规范第 3 2 2 条)IPLH
Vcc = 5V,X, -6651
CL =15pF
见本规范图2
TA=125C，条件同A9分
A11T=-5ST，参数，条件新规范值均同A10分组。Ar到输出动
RB到输出
A, 到输出
RBI到输出端
规范值
最小最大
TTKAONKACa-
测试线路：
淄试波形
赖人脉
国将出点
测试见
AS,k30
4！1分组
反相轮出脉冲
SI 50597/15—94
图？开关时闻测试线路和波形图注:(1)肽冲发生器应具有下列特性;fsiMHt15ns
Zet = 50m
R.-6650±5%
C 15pF( CL包指探头和夹其电容)。3.6标志
标志应按GIB 597第 3.6条的规定。3.7微电路组的划分
本规范所涉及的器件应为第11微电路组（见GJB597附录E)。质保证规定
4.1抽样和检验
SI 50597/15--94
除本规范另有规定外，拍样和检验程序应按GIB597和GIB548方法5005的规定。4.2筛选
在监定和质量一致性检验之前，全部器件应按GJB54B方法5004和本规范表4的规定进行筛选。
表4筛选
若无其他规定，表中采用的法系指GJB548的试验方法。象件和要求
筛选项目
内部目检
稳定性烘焙
（不要求终点电视试）
温度循环
拒定加速度
中间(老化前)电凝试
中间(老化后)电测试
PDA计算
最终电测试
密封维检漏
粗检漏
外部自检
本规范A2,A3,A7,A9
1014 /A1 或 A2
C1或 c2
20093.1茶
整定或质量一致性检验5005
试验伴品的选敢
B级器件
试验条件 B
试验条件 C
温度15ot
时间24h
试验条件心
试验条件EY方向
本规范 A1分组
1U15试验条件B
语度125
时间160h
本规范A1分绢
5%,本就范 A1 分组,
当不合格品率不超过
20%时可重新提交老
化,但只允许一次
B级器件
2010试验条件B
试验条件 C
湿度150℃
时间24h
1010试验条件C
2001 试验条件 D,Y, 方向
本规范A1分线
试验条件B
温度125℃
时间16Uh
本规范 A1 分组
可用左送 1011试验条
件替代
试验后进行目检，引线
断落，外壳破裂，封盖
脱落为失效。
由制造厂选择是否斑
按本规范图 3 线路或
等效线路。
10%，本规范A1分老化前未进行中间组，当不合格品率不超电参数试验，郑么老化过20%时可重渐提交后N1分组检出的失效数也应计入 PDA
老化,但只允许一次
本规范 A2,A3, A7, A9
1014A1或A2
C1或c2
50053.5条
本项筛选后，著改变器
件的引线途除履或返工，
则应再进行 A1 和 A7
分组试验。
可在发货前按批进行。
-TrKAONTKAa-
SJ 50597/15--94
BIN/7--SEG>
d2021 0
。2021
120212
B2021 0
图3老化线路和寿命试验线路图
注：(1)Vec5Y.Vm=13V,R,=6650±5%，R,=27a,R,=100（2）脉冲发生器特性要求：
G: f =100kHz.Vm =2.0-5.5V, V.=-0.5~0.5V.占空比q50%。Gz:除 f = 50kHz 外,其余录件与 G, 相向,耳与 G, 同步。G:除了=25kHz 外,其余条件与G,相同,且与 G,同步。G除f12.5kHz外,其余条件与C,相间，且与G,同步。G;除=6.25kHz外,其余条件与G,想同,且与G,同步。G：除f=3.125kHz外,其会条件与G相同,且与G,同步。4.3鉴定检验
鉴定检验应按GJB597第4.4条的规定，所进行的检验应符合GJB548方法5005和本规范A、B、C和D组检验(见本规范4.4.1至4.4.4条)的规定。4.4质量一致性检验
质量一致性检验应按GJB397第4.5条的规定，所进行的检验应符合GJB548方法5005和本规范A、B、C和D组检验(见本规范4.4.1至4.4.4条)的规定。4.4.1A组检验
A组检验要求按本规范表5的规定。：审试验要求按本规范表2,各分组的具体电参数测试按本规范表3的规定。各分组的测试可用同一个样本进行。当所要求的样本大小超过批的大小时，允许100%检验。各分组的测试可按任意顺序进行，合格判定数（(C)最大为2。10
A1 分组 25C静态测试
125℃静态测试
A2 分组
A3分頭
A7分组
-55T静态测试
25℃功能测试
A9 分组
25℃开关测试
A10分组
125开美制试
A11分组
-55C开关测试
4.4.2B组检验
B组检验按本规范表6规定。
SJ 50597/15—94
表 5 A组检验
B级器件
B1- 分组可用同一轻验中电性能不合格的器件作为样本。表6B组检验
若无其它规定,表中采用的试验方法系指GJB 348 的试验方法。条件和要求
BI分组
B2 分组
抗搭性
B3 分组
河焊性
B4 分组
内部目利
机益检查
B5分组
键合强度
超声焊
R8分组
()电零数
B级器件
GJB 1649—93
(b)静态放电
破设等级
(e)电动敏
4.4.3C组检验
按规定
按规定
焊接谨度
245 ± 5tc
按规定
试验条件
AI分组
AI分矩
B,级器件
2022或
接规定
接规定
焊接温度
24515℃
变规定
试验条件
适用时
样品数
(接收数)
或LTPD
15/(0)
B1 级器件
LTPD 系对引线而言,
被试器件数应多于 3
可在封装工序前的内
部日检筛选后，随机抽
取样品进行本分组试
初始鉴定或产品重新
设计时进行。
-rKAONKAca-
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