SJ 50597.37-1995 半导体集成电路 JSCI45152型CMOS并行输入锁相环频率合成器详细规范 SJ50597.37-1995 标准下载解压密码：www.bzxz.net

中华人民共和国电子行业军用标准FL5962
半导体集成电路
SJ 50597/37-95
JSC145152型CMOS并行输人
锁相环频率合成器
详细规范
Seniconductor integrated circuitsDetail specification for type JSC145152 CMOSparallcl input phase-locked loop frequency synthesizer1996-06-14发布
1996-10-01实施
中华人民共和国电子工业部批准范围
引用文件
3要求
4质量保证规定
交货准备
说明事项
TTKAONTKAca
中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路
JSC145152型CMOS并行输人锁相环频率合成器
详细规范
Semicuniuwlur integrated circuitsDetuil speeiriealion Tur 1ype JSC145152 CMOSparallel input phase -locked loop frequency synthesizer1范围
SJ 50597/3795
1.1主题内容
本规范规定「半导体集成电路JSC145152型CMCOS并行输锁相环频率合成器（以下简称器件)的详细要求：
1.2适用范器
本规范适用十器件的研制、生产邓采购。1.3分类
本魂范绘旧的器件按器件型号、器件等级和封装形式分类，1.3.1器件编号
器件编号应按（JB597微点路总规范》第3.6.2条的现定。1.3.1.1 器计型号
器计型号如二：
器件墅号
JSC145152
1.3.1.2器件等级
并行输人锁知环率合戒路
件等级应为GJB597第3.4条规建的R级和本规范现定的B级1.3.1.3我装形式
均装形式应赛GB/T7092半导体美戏电路外形尺寸>的规定。封装形式如下：
中华人民共和国电子工业部1996-06-14发在形
1:2813
1996-10-01实施
1.4绝对最人额定值
绝对最大额定值如下：
可源电压
输人电流
些温度
引线耐烁接温度、10s）
1.5推荐,E作条件
推荐工作条件如下：
电源光正
工作坏竞温度
2引用文件
GH 3431.1—82
GB 3431.2 - 86
GR 3834—83
GB 4590—84
GB/T 7092—93
GJB 548—88
GJB 597—88
GJB 1649---93
3要求
3.1详细要求
SJ50597/37-95
半导体集成电路文字符号电参数义学符号半导体集成电路文字符号引出端功能符号g
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理半导体集成电路机械程气侯试验方法半导体集茂电路外形尺寸
微串子器件试验方祛和程序
微氏路总规范
电二产晶防静电放电控制大纳
各项要求应按GJB 597 和本规范的舰定。单
本规范见定的B，级器件仅在产品保证规定的筛选、鉴定和质量一致性检验的某些项目和要求方瓶不同于3级。
3.2设计、结桁和外形尺寸
设计，结构和外形尺小成按GIB 597和本规范的规定。3.2.1功能框图和引出端排列
功能框图见图1引出带排列见图2（销规）。-2
TTKAONKAca-
引出端列
SI50597/37-95
12×8ROM
基准评伤器
[2征. +3计数
fr +At器
DAo - DA6
19位+N比致器
D? - IN+ -ING
图］功能框图
23 Lar
20 DN3
婴相器
引出端功能符号
引端序号
11--20
3.2.2功能测试
SJ 50597/37~95
信号输入
负三源www.bzxz.net
热考译码器地正
鉴相输出
改棋控制信号撤出
4数输人
：计数器输入
A计数器输入
振蕊器输出
振荡器响人
锁相状态检测
图2引载排死和功能符号
RAn RA2
PDol PDn2
D～Dn
DA~DAl
该电璐动态功能测试产要是采用功能级的故障模拟法产生测试图形（共1909条）控制OSCi、IN,、Dy、P。端的瑜人状志，在计算机控制的【SI测试系统上运行测试图形，实时比较器的PDo1·PD(n、LD翰出端的翅辑状态与输人端的逻辞关系正确与否。用于动能和电特性测试的失表扇于本规范的组成部分，应提交鉴定机构存档舒查。3.2.3电路图
制造，一在鉴定前应将电路医提交给鉴定机构存档备查3.2.4封装形式
封装形式应符合本规范1.3.1.3条的规定。3.3引线材料和涂覆
引线材料和涂覆应GJB597第3.5.6条的规定。3.4电续性
电特注应符合本规范表1的规定。表1电特性
抵电平
若无其他
就定，
Vss=qV
Yt- Vm或
Ta-25r
rrKAoNiKAca-
性符号
高电平
高电平
高电压
低电平
输出高电
半电演
MC端）
出低电
平电流
(MC端）
输人低
电平电
电平电
若无其他
规定，
Vss-oV
V,-oV战
rosC,端
其他输入鞘
其地轭人幅
SJ 50597/3795
续表1
TA-25c
Ta-125℃
— 门.22 !
性符号
输出转
换时间
传输延迟
时间(从
输出豚冲
宽度(PDn
o端）
输人上升
下降时间
(sC瑞）
人脉汇
宽度（IN
若无其他
规定，
Vss=UV
f-IMHz
图4利
Ci=SUpE
无图4对
见图5 和
Gl.- 50=F
则图6和图 8
Ci= 50pF
见图？
SJ 50597/3795
续表1
Ta= -SS
TA=125V
TTKAONKAca-
工作频卒
(OSC,端）
工作频率
(INm）
若无其他
规定，
Vss-0V
输人方被
Vrp-Vss
占空比为
Gi.= S0pF
3.5电试验要求
SJ 50597/37 -95
续表1
T= -55℃
TA=25C
TA=125C
各级器件的电试验要求应为本规范表2所规定的有关分组，各分组的电测试按本规范表3的规定。
表2电试验要求
1间(老化前)电测试
十间（老化后）电测试
最燃电测试
A组检验电测试
C 组察点电测试
C组险验增加的电测试分组
组终点三测试
B缀器件
AL、A7
AJ\、A7
A1.A2、A3.A7.A8
A1.A2.A3.,A4.A7,
A8,A9.A1D、A11
不嬰求
注:11
该分组要求FDA计宽（见4.2条）。表3A组可测试
引用标
GB 3834
补尤其钩规定，
Vss=0V
V,- Ven或y
（瓦表3）
B级器件
Al\、A71
AI.J2.A3.A.A8
A1.A2.A3、A4、A7、A8,A9
A10、All
AI、A7
（MC辈）
（MC端）
osc 端)
（其他输
OSC:端）
引标耀
GB3834
SJ 50597/37 95
续表3
若无其他规定，
Vss - oV
Vi=0V或 Vnm
Vn=2.5V或0.5V
V-4.5V或0.5V
V,-8.5V或1.5V
V,=U.5V或2.5V
V=0.5Vx4.5V
V,= 1.5V或8.5V
1 Va-8.5v
V,= Vrr或 uV
V.= V或ov
Y:-0v或Vm
规乾值
.. ...
TKAONKAca
（其他输
人端！
（MC瑞）
(MC端）
引用标唑
GB 3834
SJ 50597/3795
续表3
若无其他规定，
Vss=0V
Vi-oV或Vrm
Vi= Vr或 oV
输出并路
Vi= Vm或V
V,=0V或Vm
Vo= 2.5V或 0.5V
Vo= 4.5V 或 0.5V
Vn=5.5V或 1.5V
V,0.5V或2.5V
V,- 0.5V或4.5V
Vo=8.5V或 1.5V
V, = 4.bv
V。=0.4V
规范值
osc.端）
（其他输
人端）
Osc:端）
（其他输
人端）
引用标准
GB 3834
SJ 50597/3795
续表3
若元其他机定，
Vss- V
V,- V或 nv
V,- Vhp oV
Vi-nV或 Vexs
1 vi-oV或 Vm
Vi- V-n或 (V
轮出路
v,-vm或(v
V,=ovi V
Vo2.5V战0.5V
Ve=4.5V或0.5V
Ve-8.5V或1.5V
Va=0.5V或2.5V
Vn=0.5V或4.5V
Va=1.5V或8.5V
规范放
TTKAONKAca-
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