SJ 50597.54-2002 半导体集成电路 JW431精密可调电压基准源详细规范 SJ50597.54-2002 标准下载解压密码：www.bzxz.net

中华人民共和国电子行业军用标准FL5962
半导体集成电路
SJ50597/54—2002
JW431精密可调电压基准源详细规范Semiconductorintegrated circuitsDetail specification for JW431 prefisionadjustablevoltagereference
2002-01-31发布
2002-05-01实施
中华人民共和国信息产业部批准1范围
1.1主题内容
1.2适用范围
1.3分类
1.4绝对最大额定值
1.5推荐工作条件
1.6功率和热特性
2引用文件
3要求
详细要求
3.2设计结构和外形尺寸
3.3引线材料和涂援
3.4电特性
电试验要求..
3.6标志
4质量保证规定
4.1抽样和检验
4.2筛选
4.3鉴定检验，
4.4质量一致性检验
4.5检验方法
5交货准备.
5.1包装要求
6说明事项，
6.1预定用途
6.2订货文件内容
6.3缩写词、符号和定义
6.4替代性
中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路
JW431精密可调电压基准源详细规范Semiconductor integrated circuitsDetail specification for JW431 adjustable precision voltage reference1范围
1.1主题内容
SJ50597/54—2002
本规范规定了硅单片集成电路JW431精密可调电压基准源（以下简称器件）的详细要求。1.2适用范围
本规范适用于器件的研制、生产采购。1.3分类
本规范给出的器件按器件型号、器件等级、封装形式分类。1.3.1器件编号
器件编号应按GJB597A~96《半导体集成电路总规范》第3.6.2条的规定。1.3.1.1器件型号
器件型号如下：
器件型号
1.3.1.2器件等级
件名称
精密可调电压基准源
器件等级为GJB597A第3.4条所规定的产品保证等级中的B级和B1级。1.3.1.3封装形式
封装形式按GB7581-85《半导体分立器件外形尺寸》和GB/T7092-93《半导体集成电路外形尺寸》。
封装形式如下：
封装型式
1.4绝对最大额定值
绝对最大额定值如下：
中华人民共和国信息产业部2002-01-31发布外形代号
A3-02A
A3--02B
2002-05-01实施
阴极一阳极电压：V≤37V
连续阴极电流：=100~150mA
基准端电流：IREF=-0.05~10mA
最大耗散功率1Pp≤1050mW
存温度范围：Ttg=-65~150℃
SJ50597/54—2002
引线耐焊接温度（10s）：T≤300°℃结温T≤150°℃
注，1）对于T>25℃，按8.4mV/pc线性降额。1.5推荐工作条件
推荐工作条件如下：
阴极阳极电压：VxA=2.5~36V
阴极电流：lk≤100mA
工作环境温度：TA=-55～125°℃1.6功率和热特性
功率和热特性如下：
封装型式
A3--02A
A3-02B
2引用文件
GB3431.2—86
热阻（最大值）
Ren(-C)
40°c/W
40°c/W
38°c/W
半导体集成电路文字符号引出端功能符号GB7581-87
半导体分立器件外形尺寸
GB/T7092—93半导体集成电路外形尺寸GJB548A—96
GJB597A-96
微电子器件试验方法和程序
半导体集成电路总规范
半导体集成电路文字符号
SJ/T10734—96
3要求
3.1详细要求
各项要求应按GJB597A和本规范的规定。设计、结构和外形尺寸
电参数文字符号
设计、结构和外形尺寸应按GJB597A和本规范的规定。3.2.1引出端排列和功能框图
热阻（最大值）
140°c/W
140°C/W
100°C/W
引出端排列应符合本规范图1的规定。功能框图应符合本规范图2的规定。3.2.2电原理图
承制方在鉴定前应将电原理图提交给鉴定机构，各承制方的电原理图应由鉴定机构存档备查。3.2.3封装形式
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封装形式应按本规范第1.3.1.3条的规定。3.2.4管壳和密封材料
管壳和密封材料应按GJB597A的规定。3.3引线材料和涂覆
3.3.1引线材料
引线材料应按GJB597A第3.5.6.2条的规定。3.3.2引线涂覆
引线涂覆应按GJB597A第3.5.6.3条的规定。3.4电特性
电特性应符合本规范表1的规定。3.4.1试验规范值
本规范表1和表3中给出的规范值只适用于规定的试验条件（如脉冲测试），该试验条件下基本上保持结温恒定不变。
外形代号
A3-——02A
A3—02B
R-基准
K-阴极
K-阴极
NC-空
A-阳极
NC-空
引出端搭列
NC-空
NC-空
引出端排列（俯视图）
2.5V基准
图2功能框图
A-阳极
NC-空
R-基准
基准电压
阴极电压
基准电压调整率
基准端输入电流
最小阴极工作电流
截止电流
输入阻抗
3.5电测试要求
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电特性
（除另有规定外，-55C≤T≤125℃，R,=10kQ2,1g=10mA)
（见图3）
VKA-VREF
VKA-VREF（见图3)，TA=25C
VKA10-VKA，R2-3.33kn（见图4)VKA36
VKA(1)
VRA36=VRA，R2=746Q（见图4）
VREF-VREF2-VREF1,
VKA-VKA10-VREFI
R2-3.33k2（见图4）
AVREFVREF3-VREF2,
AVKA-VKA36-VKA10.
AVKA(2)R2=7462（见图4)
（见图4）
TRI-IREF
IRI-IREF（见图4)，TA-25°℃
VKA=VREF,IKMIN=1 mA,R2=00,（见图3)VKA-36V,VREF-0V，（见图5)）
VKA-VREF,ImA≤Ig≤100mA,
≤1.0kHz，（见图3）
lk=10mA，0.1Hz≤BW≤10Hz，（见图6)，TA-25°C
规范值
最小值
器件的电测试要求应按表2所规定的有关分组，各个分组的电测试按表3的规定。表2电测试要求
中间（老炼前）电测试
中间（老炼后）电测试
股终电测试
A组电测试
C组终点电烈试
D组终点电测试
B级器件
A2. A3, A4,A5,A6
分组（见表3）
最大值
BI级器件
A2,A3,A4,A5,A6
A1. A2,A3,A4,A5,A6
AI分组和表8A极限
注：1）该分组要求PDA计算（见本规范第4.2条）。4
Al.A2,A3,A4,A5,A6
A1分组和表8△极限
TA=25°℃
TAm125°C
TA--55℃C
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表3电测试
除另有规定外，
R,=10 kQ,Ik=10 mA
VKAVREF
R2-3.33ko
R2-7460
R2=3.33ko
R2-7460
VKA-YREF.IKMIN-ImA
VKA-36 V,VREF-0 V
VXA-VREF,Ix-100mA
VKA-VREF
R2=3.33k2
R2-7462
R=3.33ko2
R2=746Q
VKA-VREF,IKMIN-ImA
VREF=OV
VKA=VREF,IK=100mA
VKA-VREF
R2=3.33ko
R2-7462
R2=3.33kn
R2-746Q
VKA-VREF,IKMIN=1mA
VKA=36V,
VKA=VREF,
VREF=OV
Ix=100mA
测盘信
极限值
最小值
最大值
VR-VREF（图3）
VKATo=VKA（图4)
VKA36-YKA(图4)
VREF-YR2-VRI(图4)
AYKA-YKA10-VRI
VREFVR3-VR2(图4)
AVKA=VKA36-VKA10
R=IREE(图4)
x=阴极电流(图3)
（图5)
ZKA =(VRS-VR4)
99mA（图3)
YR=VREF（图3)
VKA10=VKA（图4)
VKA36-VKA（图4)
VREF-VR7-VR6(图4)
AVKA-VKA10-YR6
VREF =VR8-VR7(图 4)
AVKA=VKA36-VKA10
R=/REF(图4)
Ik=阴极电流(图3)
(图5)
ZKA=(VR10-VR6)/
99mA2)（图3）
VR=VREF（图3）
VKA10=VK（图4)
VKA36=VKA(图4)
VREF=VR12-VRI1(图4)
AVKA-VKAI0-'RII
VREF-VR13-VR12(图4)
AVKA-VKA36-YKA10
IR=IREF（图4）
Ik=阴极电流(图3)
（图5)
ZKA(VR15-VR14)
99mA2（图3）
TA=25°℃
TA-125°℃
TA--55°℃
A/REF!
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表3（续）
除另有规定外，
Ri=10k2,Ik=10mA
Ik=10mA
0.1Hz≤BW≤10Hz
VKA-VREF
VKA-VREF
VKA-VREF
注：1）VKA=VREF（1+R/R2）+IREF×R（见图4）；2)ZKA=△VxA I△/x,<1 kHz.
测盘值
极限值
殿小值
图3VKA-VREn测试电路
最大值
(图6)
AVREFVRI-VR6
(图3)
AVREF-VRI-VRII
(图3)
AVREF-VRIT-VRG
(图3)
A/REFIR2-IR3(图4)
SJ50597/54--2002
图4VKA>VREF测试电路
图5截止电流测试电路
注：④试时间-20ns，
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100μF
②V。的测量设定在低频段或0.1Hz，并依据放大器OP-07的不同放大量而测得。图6低频噪声测试电路
3.6标志
器件标志应按GJB597A第3.6条的规定。4质量保证规定
4.1抽样和检验
除本规范另有规定外，抽样和检验程序应按GJB597A和GJB548A方法5005A的规定。4.2筛选
筛选应按GJB548A方法5004A和本规范表4的规定，并应在鉴定检验和质量一致性检验之前对全部器件进行。
表4筛选
若无其它规定，表中引用的试验方法指GJB548A。条件和要求
内部目检
（封装前）
稳定性烘培
（不要求终点电
测试）
温度循环
恒定加速度
B级器件
试验条件B
试验条件C
(150℃，24h）
试验条件C
循环10次
试验条件E，
YI方向
BI级器件
试验条件B
试验条件C
(150°C，24h）
试验条件C
循环10次
试验条件D，
YI方向
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表4（续）
若无其它规定，表中引用的试验方法指GJB548A。条件和要求
初（老炼前）
电测试
中间（老炼后）
电游试
允许不合格品率
(PDA）计算
致终电测试
细捡漏
粗检溺
外部目检
鉴定和质量一致
性检验的试验样
品抽取
B级器件
本规范 A1分组
试验条件C
(125°C,160h)
本规范A1分组
5%，本规范AI分组，当
不合格品率未超过20%时，
可重新提交老炼。但只许一
本规范A2、A3、A4、A5、
A6分组
试验条件：
A1或A2
C1或C2
第3.1条
第3.5条
B1级器件
本规范A1分组
试验条件C
(125°℃,160 h)
本规范A1分组
10%，本规范A1分组，当
不合格品率未超过20%时，
可重新提交老炼，但只许一
可在“密封”试验
后进行.引线断落，
外壳破裂，封壳脱
落为失效。
由承制方决定匙否
进行本筛选。
采用本规范图7线
路，不进行反偏老
若老炼前未进行中
间电测试，则老炼
后电测试A1分组
的失效也应计入
本规范A2、A3、A4、A5、本项筛选后，若改A6分组
试验条件：
A1或A2
CI或2
第3.1条
第3.5条
变器件引线涂覆或
返工，则应再进行
A1分组测试
可在装运前按批进
SJ50597/54—2002
注：R=21.5kQ±1%，0.250W：R-1.78k2±1%，0.250W：R=1.27kQ±1%，0.250W：均为金属膜电阻② Vce-40. V.
图7老炼和筹命试验线路
4.3鉴定检验
鉴定检验应按GJB597A第4.4条的规定，所进行的检验应符合GJB548A方法5005A和本规范A、B、C和D组检验（见本规范第4.4.1至第4.4.4条）的规定。4.4质量一致性检验
质量一致性检验应按GJB597A第4.5条的规定。所进行的检验应符合GJB548A方法5005A和本规范A、B、C和D组检验（见本规范第4.4.1至第4.4.4条）的规定。4.4.1A组检验
A组检验应按本规范表5的规定。电试验要求按本规范表2的规定。各分组的电测试按本规范表3的规定。各分组的测试可用同一个样本进行。当所要求的样本大小超过批的大小时，允许100%检验。各分组的测试可按任意顺序进行。合格判定数（c）最大为2。
表5A组检验
A1分组
25℃下静态测试
A2分组
125℃下静态测试
A3分组
-55°C下静态测试
A4分组
25℃下动态试验
A5分组
125°C下动态试验
A6分组
-55℃下动态试验
B组检验
B组检验应按本规范表6的规定。LTPD免费标准bzxz.net
B1～BS分组可用同一检验批中的电性能不合格的器件为样本。to
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