SJ 50597.58-2003
基本信息
标准号： SJ 50597.58-2003
中文名称：半导体集成电路 JB726型限幅放大鉴频器详细规范
标准类别：电子行业标准(SJ)
标准状态：现行
出版语种：简体中文
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标准分类号
关联标准
出版信息
相关单位信息
标准简介
SJ 50597.58-2003 半导体集成电路 JB726型限幅放大鉴频器详细规范
SJ50597.58-2003
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标准内容
中华人民共和国电子行业军用标准FL5962
半导体集成电路
SJ 50597/58---2003
JB726型限幅放大鉴频器详细规范Semiconductor integrated circuitsDetail specification for type JB726 limit Amplifier discriminator2003-06-04发布
2003-12-01实施
中华人民共和国信息产业部批准前
本规范是GJB597A-1996《半导体集成电路总规范》的相关详细规范本规范的附录A为规范性附录。
本规范由信息产业部电子第四研究所归口。本规范起草单位：中国电子科技集团公司第二十四研究所。本规范主要起草人：何乐、刘小平。KAoNiKAca-
SJ50597/58—-2003
」范围
半导体集成电路
JB726型限幅放大鉴频器详细规范SJ50597/58-—2003
本规范规定了硅单片集成电路JB726型限幅放大鉴频器（以下简称器件）的详细要求。2引用文件
下列文件中的有关条款通过引用而成为本规范的条款。凡注日期或版次的引用文件，其后的任何修改单（不包括勘误的内容）或修订版本都不适用于本部分，但提倡使用本规范的各方探讨使用其最新版本的可能性。凡不注日期或版次的引用文件，其最新版本适用于本规范。GB/T7092-1993半导体集成电路然形GJB548A-1996微电子器件试验方法和程序GJB597A—1996半寻体集城电路总规范3要求
3.1总则
各项要求应符合GIB597A1996和本规范前规定，本规范的要求专GIB597A1996不一致时！应以本规范为准。
3.2设计、结构和外形尺寸
3.2.1引出端排列
引出端排列应符合图1的规定驾出端排非刻为视图。o
引出端序号
TOUTaE
20UTar
补偿！
中频输出！
中频输出2
引出端序号
引出端排列
20UTME
低频输出1
低频输出2
输入1
输入2
SJ 50597/58—-2003
3.2.2外形尺寸和封装形式
外形尺寸应符合GB/T7092--1993的规定。封装形式如下：
3.2.3功能框图
功能框图应符合图2的规定，
T12（金属圆形封装）
电路 (外接)
调谐移相
伴音中频
信号输入
3.2.4绝对最大额定值
绝对最大额定值如下：
电源电压：15V
存温度：-65℃~150℃
结温：175℃
八级限幅
引线耐焊接温度（10s）：300℃3.2.5推荐工作条件
推荐工作条件如下：
电源电压：6V
频带范闹：015MHz
工作环境温度：-S5℃～125℃
3.3引线材料和镀涂
检波器
图2功能框图
引线材料和镀涂应按GJB597A—1996中3.5.6的规定。3.4电特性
电特性应符合表1的规定。
低频信号
低频信号
TTKAONTKAca-
电源电流
输入最小电平
调幅抑制比
鉴频输出电压
鉴频输出电压
的温度变化
鉴频斜率
中频带宽
VopP(VE)
VoPP(VF
电试验要求
表1JB726电特性
（除另有规定外，Vcc=6V，
TA--55℃~125'℃)
fi=5 MHz, V= 5 mV, 4f=±30 kHz,f =1 kHz, M = 30 %
=5 MIIz, i= 5 mV, 4f= ±30 kHz:fs =1 kHz, TA2s℃
i=5 MHz, = 5 mV, f= ±30 kHz,Js-1 kHz, TA-55C、125'C
f=5 MHz, V,= 5 mV. fs =1 kHz, Tr=-25'CW =-62 dBmaTA=25'C
SJ 50597/58--2003
器件的电试验要求应为表2所规定的有关分组，各分组的电测试按表争的规定。表2电试验要求
中间（老炼前）电测试
中间美老炼后）电测试
最路电测试
N组试验要求
C组终点电测试
D组点电视试
。该分组要求PDA计算。
3.6标志
器件上应打上下列标志：
a）标志点（见GJB,597A-1996中3.6.1)）b)
器件编号（见本规范6.2.2）
检验批识别代码（见GJB597A--1996中3.6.3）分组见表3）
AI、A4
AP、A4
A2、 A3.ASA6
AI、A2 A3A4、A5、AF
Al、A4
Al、A4
mV/kHz
SJ50597/58—2003
TA=25℃
TA=125℃
T =-55℃
TA=25℃
TA=125℃
TA--SS℃
VopP(vE)
AVOPP(VE)
VOPP(VF)
4质量保证规定
4.1检验分类
试方法
附录A
本规范规定的检验分类如下，
a）鉴定检验（见4.3）
b）质量致性检验（见4.4）
4.2筛选
表3：B726电测试
（除另有规定外，Vce=6V）
极限值
参数、条件、极限值均同A1分组参数、条件、极限值均间 A1分组Vj =-62 dBm
i=s MHz
fi=5 MHz, 4f= ±30 kHz
Vi=5 mV, J&= 1 kHz
Ji= 5 MIZz, 4f= ±30 kHz,
M=30%. Vi =5 mV, fs=1kIz
i=5MHz，
W -5 mV. =1 kHIz
ji=5 MH
f =5 MHIz. 4/=±30 kHz,
M=30%, Vi=5 mV, Js=1 kHz
Ji =5 MIz, 4f++30 kIz
Vi=5 mV, fs-1 kHz.
i=S MHz
i =5 MHz, df-±30 kHz,
M=30%，Vj=5mV,s=1 kHz
i =5 MHz, 4/=±30 kHz
V, -5 mV, f=1 kHz
mV/kHz
在鉴定检验和质量一致性检验之前，全部器件应按本规范表4的规定进行筛选。FKAOKAca
筛选项目
内部目检（封盖前）
稳定性烘培
（不要求终点电测试）
温度循环
恒定加速度
中间（老炼前）电测试
中间（老炼后）电测试，
允许的不合格品率
(PDA）计算
最终电测试
细检漏
粗检漏
外部目检
鉴定或质量一致性
检验的试验样品抽取
表4筛选
条件和要求（GJB548A）
B级器件
试验条件B
试验条件C
(150°C, 24h)
试验条件C
（10次循环）
试验条件E
Y1方向
本规范Al，A4分经
125℃，160h
本规范AlA4分组
5%本规范A1,A4
分组：等不合格品率
不超过10%时，可重
新提交老炼，但只允
许一次。
本规A2TA3AS
A6芬组
武验茶件AT
武验茶件
2009A按超定
第35务
B1级器件
试验条件B
试验条件℃
(150°C, 24 h)
试验条件C
（10次循环）
试验条件D
Y1方向
本规范 A1,A4 分组
125℃.160h
本规范A1.A4分组
10%体规范“A
A4 分组售当不合格
品率不超过26时。
可重新提交老炼，但
只允许一次。
SJ 50597/58--2003
可用方法1011A试验条件A
试验后进行日检，引线断落、
外壳破裂、封盖脱落为失效
本规范图3电路
若老炼前未进行中间电测试，
则老炼后中间电御试A1，A4
分组的失效也应计入PDA
本规范A2，A3A本筛选后，若引线涂镀改变或A6分组
试验条件A1
试验条件 C1
2009A按规定
5005A第3.5条
f=50 Hz
0.22 μF =
+1000 pF
1000pF
电阻器误差小于或等于10%，电容器误差小于或等于士10%。应采用性能良好的稳压电源，其误差小于或等了土10%。图3老炼及稳态寿命电路图
返工树应再进行AI，A4分
组测试
卡82pF
SJ 50597/58--2003
4.3鉴定检验
FYKAONKAca-
鉴定检验应按GJB597A--1996和本规范的规定。所进行的检验应符含本规范A、B、C和D组检验（见本规范4.4.1~~4.4.4）的规定。4.4质量一致性检验
质量一致性检验应按GJB597A一1996和本规范的规定。所进行的检验应符合本规范A、B、C和D纽组检验（见本规范4.4.1~4.4.4）的规定。4.4.1A组检验
A组检验应按本规范表5的规定。电试验要求按本规范表2的规定，各分组的电测试按本规范表3的规定。各分组的测试可用个样本进行。当所要求的样本大小超过批的大小时，允许100%检验。各分组的测试可按任意颁序进行。
合格判定数（c）最大为2。
表5A组检验
A1分组
A2分组
A3分组
A4分组
A5分组
A6分组
4.4.2B组检验
25°℃下静态测试
125℃下静态测试
-S5℃下静态测试
25℃下动态溉试
125°℃下动态测试
-55℃下动态测试
B组检验应按本规范表6的规定。B级器件
B1~B5分组可用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本。表6B组检验
条件和要求（GJB548A）
BI分组
B2分组
耐溶剂性
B3分组
可烘性
B4分组
内部国检和械性能
B5分组
键合强度超声焊
4.4.3C组检验
B级器件
按规定
按翅定
焊接温度：
245°C±5°℃
按规定
试验条件D
C组检验应按本规范表7的规定。6
B1级器件
按规定
按规定
焊接温度：
245°℃±5℃
按规定
试验条件D
ＬTPD
B1级器件
样品数！
(接收数)
或LTPD
LIPD 系对引线救而言,被
试器件数应不少于3个
至少抽取4个器件。
CI分组
稳态寿命
终点电测试
C2分组
温度循环
恒定加速度
细检漏
终点电测试
试验项目
4.4.4D组检验
表7C组检验
条件和要求(GJBS548A)
B级器件
试验条件D，125℃，
1 000h（或按表 1005A-1
的规定）
本规范A1,M分组和表
84极限
试验条件C（10次循环）
试验条件F，Y1方向
试验条件A1
试验条件℃1
按方法1010A自检烟抛
本规范A1，A4分组
B1级器件
试验条件D，125°C，
1000h（或按表 1005A-1
的规定）
本规范 A1,A4分组和表
84极限
试验条件C（10次循环）
试验条件D，YI方向
诚验条件AI
试验案件C
按方法1010A日检到据
本规范A1，A4分组
C组终点电测试（TA-25°C）
D组检验应按本规花表9的规
变化量
（4极限）
D1、D2和D7分组可用同*检验批中电性能不合格的器件作为样本。表9D组检验
条件和要求（GIB548A）
DI分组
D2分组
引线牢固性
细检漏
粗检漏
B级器件
按规定
试验条件 B2
试验条件A1
试验条件C1
BI级器件
按规定
试验条件B2
试验条件AI
试验条件C1
$J 50597/58--2003
采用本规范图1电路
样品数厂
(接收数)
或 LTPD
T.TPD 系对引线数而
言，应至少抽取3个
SJ 50597/58--2003
D3分组
热冲击
温度循环
细捡漏
粗检漏
终点电测试
D4 分组
机械冲击
扫频报动
恒定加速度
细检漏
粗检漏
终点电测试
D5 分组
粗检漏
D6 分组
内部水汽
D7分组
引线涂覆
粘强度
表9(续）
条件和要求（GJB548A）
B级器件
试验条件B，15次循环1011A
试验条件C
（100次循环）
按规定
按方法1010A和 1004A|1004A
目检判据
试验条件A1
试验条件 C1
本规范AI，A4分组
试验条件B
试验条件A
试验条件E，
Y1方向
试验条件A1
试验条件CI
按方法1010A目检判据
本规范A，A4分组
试验条件 A
按方法1009A目检判据
试验条件At
试验条件C1
100℃时最大
水汽含最为：
5000×105
2025A按规定
DI级器件
试验条件 A，15次循环
试验条件心
（100次循环）
按规定
按方法1010A和1004A
目检判据
试验条件A1
试验条件C1
本规范A1，A4分组
试验条件B
试验条件A
试验条件D,
YI方向
试验条件A1
试验条件C1
按方法1010A目检判据
本规范A1，A4分组
适用时
按规定
样品数/
(接收数）
或LTPD
KANKAca
用于D3分组的样品可
用在D4分红
B级可在订货合向上
当试验3个器件出现1
3/(0)或
个尖效时，可加试2个
器件并且不失效。若第
一次试验未遵过，可在
鉴定机构认可的另一
试验室进行第二次试
验，若试验通过，则该
批被接收
LTPD 系对引线数而言
4.5检验方法
SJ 50597/58--2003
检验方法应符合相应表格的规定，本规范给出的或GJB548A--1996涉及的试验方法和试验线路均可使用，其它的试验线路应出鉴定机构批准。电压和电流
所有给出的电压均以器件GND端为基准，绘定的电流以流入引出端为正。4.5.2老炼和寿命试验冷却程序
器件进行工作寿命或老炼试验后，应先将器件冷却至室温才能去除偏置，然后进行25℃下测量。5交货准备
包装要求
包装要求应按GJB597A-1996中5.1的规定。6说明事项
6.1预定用途
符合本规范耍求的器件预定用于军事部门。6.2分类
6.2.1器件编号
器件编号应符合GJB597A-1996《半导体集成电路总规范》3.6.2的规定。6.2.2器件型号
器件型号如下：
器件型号
6.2.3器件等级
限幅放大鉴频器
器件等级应为GJB597A1996中3.4规定龄B级和B1·级。6.3订购文件应明确的内容
订购文件应规定下列内容：
a）本规范的编号名称
完整的器件型号见6225
需要时，对器件制造厂提供与所交付器件相应的检验批质量一致性检验数据的要求。需要时对合格证书的要求。
需要时对产品或工艺的更改通知采购单位的要求。需要时，对失效分析（包括GJBS48A一1996\芳法5003要求的试验条件）、纠正措施和结果提供报告的要求。
对产品保证选择的要求。
需要时，对特殊载体、引线长度或引线形式的要求。对认证标志的要求。
包装和包装箱的要求。
需要时的其他要求，
6.4术语和定义
GJB597A一199G确立的术语和定义适用于本规范。SJ 50597/58-—2003下载标准就来标准下载网
A.1电源电流1c
附录A
（规范性附录）
电参数测试方法
测试器件在电源电压6V时所消耗的总电流。A.1.2测试原理
测试原理如图A1所示。
Vee =6 y
0.22 μF 宁
电纽器误差小于或等于土10%，电容器误差小于或等于土10%：应采用性能良好的稳压电源，其误差小于或等于士10%！对于LC网络中的电感器和电容器，其误差范围+1%～土10%。1 000 F
1 000 μF
Voum（低频）
VouT2（中频）
Vauri（中频）
Vorm（低频）
图 A.1 Ice、AMR、Vi(LIM)、VoPP(VP)、AVopP(VF)、K 测试电路图A.1.3测试条件
Vcc=6 V, TA=25℃、-55'℃、125'℃。A. 1. 4
测试程序
按图A.1连接好系统，电源输入端中接数字万用表：撤入被插件，加上电源电压：
数字万用表的显示值即为电源电流。A.2调幅抑制比AMR
A.2.1目的
TIKAONTKACa
测试器件在调频信号输入时，鉴频输出电压Vo(FM与调幅信号输入时的鉴频输出电压Vo(AM)之比dB表示。
A.2.2测试原理
测试原理如图A.1所示。
A.2.3测试条件
Vec-6 V, Ji =5 MHz, 4f= ±30 kHIz, fs=1 kHz, Vi-5 mV,M=30%,Ta=25℃、-55℃、125'℃。10
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半导体集成电路
SJ 50597/58---2003
JB726型限幅放大鉴频器详细规范Semiconductor integrated circuitsDetail specification for type JB726 limit Amplifier discriminator2003-06-04发布
2003-12-01实施
中华人民共和国信息产业部批准前
本规范是GJB597A-1996《半导体集成电路总规范》的相关详细规范本规范的附录A为规范性附录。
本规范由信息产业部电子第四研究所归口。本规范起草单位：中国电子科技集团公司第二十四研究所。本规范主要起草人：何乐、刘小平。KAoNiKAca-
SJ50597/58—-2003
」范围
半导体集成电路
JB726型限幅放大鉴频器详细规范SJ50597/58-—2003
本规范规定了硅单片集成电路JB726型限幅放大鉴频器（以下简称器件）的详细要求。2引用文件
下列文件中的有关条款通过引用而成为本规范的条款。凡注日期或版次的引用文件，其后的任何修改单（不包括勘误的内容）或修订版本都不适用于本部分，但提倡使用本规范的各方探讨使用其最新版本的可能性。凡不注日期或版次的引用文件，其最新版本适用于本规范。GB/T7092-1993半导体集成电路然形GJB548A-1996微电子器件试验方法和程序GJB597A—1996半寻体集城电路总规范3要求
3.1总则
各项要求应符合GIB597A1996和本规范前规定，本规范的要求专GIB597A1996不一致时！应以本规范为准。
3.2设计、结构和外形尺寸
3.2.1引出端排列
引出端排列应符合图1的规定驾出端排非刻为视图。o
引出端序号
TOUTaE
20UTar
补偿！
中频输出！
中频输出2
引出端序号
引出端排列
20UTME
低频输出1
低频输出2
输入1
输入2
SJ 50597/58—-2003
3.2.2外形尺寸和封装形式
外形尺寸应符合GB/T7092--1993的规定。封装形式如下：
3.2.3功能框图
功能框图应符合图2的规定，
T12（金属圆形封装）
电路 (外接)
调谐移相
伴音中频
信号输入
3.2.4绝对最大额定值
绝对最大额定值如下：
电源电压：15V
存温度：-65℃~150℃
结温：175℃
八级限幅
引线耐焊接温度（10s）：300℃3.2.5推荐工作条件
推荐工作条件如下：
电源电压：6V
频带范闹：015MHz
工作环境温度：-S5℃～125℃
3.3引线材料和镀涂
检波器
图2功能框图
引线材料和镀涂应按GJB597A—1996中3.5.6的规定。3.4电特性
电特性应符合表1的规定。
低频信号
低频信号
TTKAONTKAca-
电源电流
输入最小电平
调幅抑制比
鉴频输出电压
鉴频输出电压
的温度变化
鉴频斜率
中频带宽
VopP(VE)
VoPP(VF
电试验要求
表1JB726电特性
（除另有规定外，Vcc=6V，
TA--55℃~125'℃)
fi=5 MHz, V= 5 mV, 4f=±30 kHz,f =1 kHz, M = 30 %
=5 MIIz, i= 5 mV, 4f= ±30 kHz:fs =1 kHz, TA2s℃
i=5 MHz, = 5 mV, f= ±30 kHz,Js-1 kHz, TA-55C、125'C
f=5 MHz, V,= 5 mV. fs =1 kHz, Tr=-25'CW =-62 dBmaTA=25'C
SJ 50597/58--2003
器件的电试验要求应为表2所规定的有关分组，各分组的电测试按表争的规定。表2电试验要求
中间（老炼前）电测试
中间美老炼后）电测试
最路电测试
N组试验要求
C组终点电测试
D组点电视试
。该分组要求PDA计算。
3.6标志
器件上应打上下列标志：
a）标志点（见GJB,597A-1996中3.6.1)）b)
器件编号（见本规范6.2.2）
检验批识别代码（见GJB597A--1996中3.6.3）分组见表3）
AI、A4
AP、A4
A2、 A3.ASA6
AI、A2 A3A4、A5、AF
Al、A4
Al、A4
mV/kHz
SJ50597/58—2003
TA=25℃
TA=125℃
T =-55℃
TA=25℃
TA=125℃
TA--SS℃
VopP(vE)
AVOPP(VE)
VOPP(VF)
4质量保证规定
4.1检验分类
试方法
附录A
本规范规定的检验分类如下，
a）鉴定检验（见4.3）
b）质量致性检验（见4.4）
4.2筛选
表3：B726电测试
（除另有规定外，Vce=6V）
极限值
参数、条件、极限值均同A1分组参数、条件、极限值均间 A1分组Vj =-62 dBm
i=s MHz
fi=5 MHz, 4f= ±30 kHz
Vi=5 mV, J&= 1 kHz
Ji= 5 MIZz, 4f= ±30 kHz,
M=30%. Vi =5 mV, fs=1kIz
i=5MHz，
W -5 mV. =1 kHIz
ji=5 MH
f =5 MHIz. 4/=±30 kHz,
M=30%, Vi=5 mV, Js=1 kHz
Ji =5 MIz, 4f++30 kIz
Vi=5 mV, fs-1 kHz.
i=S MHz
i =5 MHz, df-±30 kHz,
M=30%，Vj=5mV,s=1 kHz
i =5 MHz, 4/=±30 kHz
V, -5 mV, f=1 kHz
mV/kHz
在鉴定检验和质量一致性检验之前，全部器件应按本规范表4的规定进行筛选。FKAOKAca
筛选项目
内部目检（封盖前）
稳定性烘培
（不要求终点电测试）
温度循环
恒定加速度
中间（老炼前）电测试
中间（老炼后）电测试，
允许的不合格品率
(PDA）计算
最终电测试
细检漏
粗检漏
外部目检
鉴定或质量一致性
检验的试验样品抽取
表4筛选
条件和要求（GJB548A）
B级器件
试验条件B
试验条件C
(150°C, 24h)
试验条件C
（10次循环）
试验条件E
Y1方向
本规范Al，A4分经
125℃，160h
本规范AlA4分组
5%本规范A1,A4
分组：等不合格品率
不超过10%时，可重
新提交老炼，但只允
许一次。
本规A2TA3AS
A6芬组
武验茶件AT
武验茶件
2009A按超定
第35务
B1级器件
试验条件B
试验条件℃
(150°C, 24 h)
试验条件C
（10次循环）
试验条件D
Y1方向
本规范 A1,A4 分组
125℃.160h
本规范A1.A4分组
10%体规范“A
A4 分组售当不合格
品率不超过26时。
可重新提交老炼，但
只允许一次。
SJ 50597/58--2003
可用方法1011A试验条件A
试验后进行日检，引线断落、
外壳破裂、封盖脱落为失效
本规范图3电路
若老炼前未进行中间电测试，
则老炼后中间电御试A1，A4
分组的失效也应计入PDA
本规范A2，A3A本筛选后，若引线涂镀改变或A6分组
试验条件A1
试验条件 C1
2009A按规定
5005A第3.5条
f=50 Hz
0.22 μF =
+1000 pF
1000pF
电阻器误差小于或等于10%，电容器误差小于或等于士10%。应采用性能良好的稳压电源，其误差小于或等了土10%。图3老炼及稳态寿命电路图
返工树应再进行AI，A4分
组测试
卡82pF
SJ 50597/58--2003
4.3鉴定检验
FYKAONKAca-
鉴定检验应按GJB597A--1996和本规范的规定。所进行的检验应符含本规范A、B、C和D组检验（见本规范4.4.1~~4.4.4）的规定。4.4质量一致性检验
质量一致性检验应按GJB597A一1996和本规范的规定。所进行的检验应符合本规范A、B、C和D纽组检验（见本规范4.4.1~4.4.4）的规定。4.4.1A组检验
A组检验应按本规范表5的规定。电试验要求按本规范表2的规定，各分组的电测试按本规范表3的规定。各分组的测试可用个样本进行。当所要求的样本大小超过批的大小时，允许100%检验。各分组的测试可按任意颁序进行。
合格判定数（c）最大为2。
表5A组检验
A1分组
A2分组
A3分组
A4分组
A5分组
A6分组
4.4.2B组检验
25°℃下静态测试
125℃下静态测试
-S5℃下静态测试
25℃下动态溉试
125°℃下动态测试
-55℃下动态测试
B组检验应按本规范表6的规定。B级器件
B1~B5分组可用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本。表6B组检验
条件和要求（GJB548A）
BI分组
B2分组
耐溶剂性
B3分组
可烘性
B4分组
内部国检和械性能
B5分组
键合强度超声焊
4.4.3C组检验
B级器件
按规定
按翅定
焊接温度：
245°C±5°℃
按规定
试验条件D
C组检验应按本规范表7的规定。6
B1级器件
按规定
按规定
焊接温度：
245°℃±5℃
按规定
试验条件D
ＬTPD
B1级器件
样品数！
(接收数)
或LTPD
LIPD 系对引线救而言,被
试器件数应不少于3个
至少抽取4个器件。
CI分组
稳态寿命
终点电测试
C2分组
温度循环
恒定加速度
细检漏
终点电测试
试验项目
4.4.4D组检验
表7C组检验
条件和要求(GJBS548A)
B级器件
试验条件D，125℃，
1 000h（或按表 1005A-1
的规定）
本规范A1,M分组和表
84极限
试验条件C（10次循环）
试验条件F，Y1方向
试验条件A1
试验条件℃1
按方法1010A自检烟抛
本规范A1，A4分组
B1级器件
试验条件D，125°C，
1000h（或按表 1005A-1
的规定）
本规范 A1,A4分组和表
84极限
试验条件C（10次循环）
试验条件D，YI方向
诚验条件AI
试验案件C
按方法1010A日检到据
本规范A1，A4分组
C组终点电测试（TA-25°C）
D组检验应按本规花表9的规
变化量
（4极限）
D1、D2和D7分组可用同*检验批中电性能不合格的器件作为样本。表9D组检验
条件和要求（GIB548A）
DI分组
D2分组
引线牢固性
细检漏
粗检漏
B级器件
按规定
试验条件 B2
试验条件A1
试验条件C1
BI级器件
按规定
试验条件B2
试验条件AI
试验条件C1
$J 50597/58--2003
采用本规范图1电路
样品数厂
(接收数)
或 LTPD
T.TPD 系对引线数而
言，应至少抽取3个
SJ 50597/58--2003
D3分组
热冲击
温度循环
细捡漏
粗检漏
终点电测试
D4 分组
机械冲击
扫频报动
恒定加速度
细检漏
粗检漏
终点电测试
D5 分组
粗检漏
D6 分组
内部水汽
D7分组
引线涂覆
粘强度
表9(续）
条件和要求（GJB548A）
B级器件
试验条件B，15次循环1011A
试验条件C
（100次循环）
按规定
按方法1010A和 1004A|1004A
目检判据
试验条件A1
试验条件 C1
本规范AI，A4分组
试验条件B
试验条件A
试验条件E，
Y1方向
试验条件A1
试验条件CI
按方法1010A目检判据
本规范A，A4分组
试验条件 A
按方法1009A目检判据
试验条件At
试验条件C1
100℃时最大
水汽含最为：
5000×105
2025A按规定
DI级器件
试验条件 A，15次循环
试验条件心
（100次循环）
按规定
按方法1010A和1004A
目检判据
试验条件A1
试验条件C1
本规范A1，A4分组
试验条件B
试验条件A
试验条件D,
YI方向
试验条件A1
试验条件C1
按方法1010A目检判据
本规范A1，A4分组
适用时
按规定
样品数/
(接收数）
或LTPD
KANKAca
用于D3分组的样品可
用在D4分红
B级可在订货合向上
当试验3个器件出现1
3/(0)或
个尖效时，可加试2个
器件并且不失效。若第
一次试验未遵过，可在
鉴定机构认可的另一
试验室进行第二次试
验，若试验通过，则该
批被接收
LTPD 系对引线数而言
4.5检验方法
SJ 50597/58--2003
检验方法应符合相应表格的规定，本规范给出的或GJB548A--1996涉及的试验方法和试验线路均可使用，其它的试验线路应出鉴定机构批准。电压和电流
所有给出的电压均以器件GND端为基准，绘定的电流以流入引出端为正。4.5.2老炼和寿命试验冷却程序
器件进行工作寿命或老炼试验后，应先将器件冷却至室温才能去除偏置，然后进行25℃下测量。5交货准备
包装要求
包装要求应按GJB597A-1996中5.1的规定。6说明事项
6.1预定用途
符合本规范耍求的器件预定用于军事部门。6.2分类
6.2.1器件编号
器件编号应符合GJB597A-1996《半导体集成电路总规范》3.6.2的规定。6.2.2器件型号
器件型号如下：
器件型号
6.2.3器件等级
限幅放大鉴频器
器件等级应为GJB597A1996中3.4规定龄B级和B1·级。6.3订购文件应明确的内容
订购文件应规定下列内容：
a）本规范的编号名称
完整的器件型号见6225
需要时，对器件制造厂提供与所交付器件相应的检验批质量一致性检验数据的要求。需要时对合格证书的要求。
需要时对产品或工艺的更改通知采购单位的要求。需要时，对失效分析（包括GJBS48A一1996\芳法5003要求的试验条件）、纠正措施和结果提供报告的要求。
对产品保证选择的要求。
需要时，对特殊载体、引线长度或引线形式的要求。对认证标志的要求。
包装和包装箱的要求。
需要时的其他要求，
6.4术语和定义
GJB597A一199G确立的术语和定义适用于本规范。SJ 50597/58-—2003下载标准就来标准下载网
A.1电源电流1c
附录A
（规范性附录）
电参数测试方法
测试器件在电源电压6V时所消耗的总电流。A.1.2测试原理
测试原理如图A1所示。
Vee =6 y
0.22 μF 宁
电纽器误差小于或等于土10%，电容器误差小于或等于土10%：应采用性能良好的稳压电源，其误差小于或等于士10%！对于LC网络中的电感器和电容器，其误差范围+1%～土10%。1 000 F
1 000 μF
Voum（低频）
VouT2（中频）
Vauri（中频）
Vorm（低频）
图 A.1 Ice、AMR、Vi(LIM)、VoPP(VP)、AVopP(VF)、K 测试电路图A.1.3测试条件
Vcc=6 V, TA=25℃、-55'℃、125'℃。A. 1. 4
测试程序
按图A.1连接好系统，电源输入端中接数字万用表：撤入被插件，加上电源电压：
数字万用表的显示值即为电源电流。A.2调幅抑制比AMR
A.2.1目的
TIKAONTKACa
测试器件在调频信号输入时，鉴频输出电压Vo(FM与调幅信号输入时的鉴频输出电压Vo(AM)之比dB表示。
A.2.2测试原理
测试原理如图A.1所示。
A.2.3测试条件
Vec-6 V, Ji =5 MHz, 4f= ±30 kHIz, fs=1 kHz, Vi-5 mV,M=30%,Ta=25℃、-55℃、125'℃。10
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