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SJ 50676.1-1996

基本信息

标准号: SJ 50676.1-1996

中文名称:HTP009A、HTP017A型射频带线环行器详细规范

标准类别:电子行业标准(SJ)

标准状态:现行

出版语种:简体中文

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相关标签: 射频 环行器 详细 规范

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SJ 50676.1-1996 HTP009A、HTP017A型射频带线环行器详细规范 SJ50676.1-1996 标准下载解压密码:www.bzxz.net

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标准内容

中华人民共和国电子行业军用标准FL5985
SJ50676/1-96
HTP009A、HTP017A型射频带线
环行器
详细规范
Type HTP009A and HTP017A radio frequencystrip-line circulators detail specification for1996-08-30发布
1997-01-01实施
中华人民共和国电子工业部批准中华人民共和国电子行业军用标准HTP009A、HTP017A型射频带线
环行器详细规范
TypeHTP009Aand HTPO17A radio frequencystrip-line circulators detail specification forSJ50676/1-96
本规范所规定的环行器,其全部要求由本规范和GJB676一89《射频环行器总规范》作出规定。
1范围
1.1主题内容
本规范规定了HTP009A、HTPO17A型射频带线环行器的详细要求。1.2适用范围
本规范适用于HTP009A,HTP017A型射频带线环行器。1.3分类
1.3.1型号
产品型号为HTP009A、HTP017A型。产品型号命名按GJB/Z60.7—94《军用电子元器件系列型谱射频环行器》的规定,其中009、017为型谱中的产品序号,用A区别于型谱中的产品。
2引用文件
GJB676-—89射频环行器总规范
3要求
3.1设计与结构
3.1.1产品的设计结构与外形尺寸如图1、图2所示。3.1.2产品重量:
HTP009A型重量:不大于60g
HTP017A型重量:不大于30g
3.1.3产品外观
产品表面镀层应牢固、清洁。无明显起泡和沙眼等缺陷。标志清晰、正确。中华人民共和国电子工业部1996-08-30发布1997-01-01实施
4-M2深1.5
3.1.4技术参数
SJ50676/1-96
注:图中未注公差的尺寸为最大值。图1HTPO09A型外形尺寸
注:图中未注公差的尺寸为最大值。图2HTP017A型外形尺寸
频率范围:3.70~4.20GHz(HTP009A型)、8.40~9.00GHz(HTP017A型);工作温度:-2555℃
特性阻抗:502;
介质耐压:1000V(均方根值);环行方向:Pi-→P2-P3-→P:
连接器:SMA-K
3.2电气性能
电气性能应符合表1要求
电气性能
反向损耗α.(dB)
正向损耗α+(dB)
电压驻波比S
3.3环境适应性
SJ50676/1-96
HTP009A
HTP017A
产品经冲击(规定脉冲)、温度冲击、高频振动、加速度和耐湿等环境试验后,外观应符合3.1.3要求,其正向损耗、反向损耗和电压驻波比应符合表1要求。4质量保证规定
4.1鉴定检验
鉴定检验采用GIB676第4.4条首件检验中表2的规定,但有下列补充4.1.1外观和机械检查
外观和机械检查的要求按3.1.1~3.1.3和GJB676中3.4、3.14、3.15,试验方法按GJB676中4.7.1规定。
4.1.2介质耐压要求按3.1.4,试验方法按GJB676中4.7.2规定。4.1.3反向损耗、正向损耗和电压驻波比的要求按本规定3.2条表2,在试验的标准大气条件下和工作温度的正负极限温度下进行检验。4.1.4试验程序
鉴定检验按GJB676中表2规定,但耐湿试验在加速度之后进行。加速度量值为50g。高频振动:振幅0.75mm。
4.2质量一致性检验
质量一致性检验分为逐批检验和周期检验。逐批检验即为产品交货检验,产品交货检验由A组和B组检验组成。周期检验出C组检验组成。4.2.1A组检验和B组检验
A组和B组检验按GJB676中4.6.1.2和4.6.1.3条进行。4.2.2C组检验
C组检验每12个月进行一次。受试样品数2只。C组检验按鉴定检验中的环境试验项目、要求和程序进行。
4.3检查与试验方法
4.3.1试验后测量
鉴定检验和C组检验中的环境试验,允许在各项环境试验后只进行外观和机械检查,而在全部环境试验结束后,在试验的标准大气条件下测量反向损耗、正向损耗和电压驻波比。5交货准备
按GJB676第5章。
说明事项
检验分类选择
SJ50676/1-96bzxZ.net
本规范适用于质量认证用环行器,在检验分类中采用鉴定检验制。非质量认证用的环行器,可按GJB676中4.2条,采用首件检验制。附加说明:
本规范由电子工业部第九研究所和第四研究所负责起草。本规范主要起草人:李克文、郭志强、彭贵碧、周永川。计划项目代号:B42017。
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