YS/T 702-2009
基本信息
标准号：
YS/T 702-2009
中文名称：X射线荧光光谱法测定氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量
标准类别：有色金属行业标准(YS)
标准状态：现行
发布日期：2009-12-04
出版语种：简体中文
下载格式：.rar .pdf
下载大小：KB
相关标签：
射线
荧光
光谱法
测定
氢氧化铝
含量
标准分类号
关联标准
出版信息
出版社：中国标准出版社
标准价格：0.0 元
出版日期：2010-06-01
相关单位信息
标准简介
本标准规定了规定了X射线荧光光谱法测定氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量的分析原理、仪器设备、分析步骤及分析重复性、精密性等。本标准适用于氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量的测定。测定范围：SiO2：0.005％～0.08％，Fe2O3：0.004％～0.07％；Na2O：0.20％～0.80％。 YS/T 702-2009 X射线荧光光谱法测定氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量 YS/T702-2009 标准下载解压密码：www.bzxz.net