JB/T 3135-2011
基本信息
标准号:
JB/T 3135-2011
中文名称:镀银软圆线
标准类别:机械行业标准(JB)
标准状态:现行
出版语种:简体中文
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相关标签:
镀银
标准分类号
关联标准
出版信息
相关单位信息
标准简介
JB/T 3135-2011 镀银软圆线
JB/T3135-2011
标准压缩包解压密码:www.bzxz.net
标准内容
ICS 29.460.10
备案号:34904—2012
中华人民共和国机械行业标准
JB/T 31352011
代替JB/T3135—1999
镀银软圆铜线
Silver-coated annealed round copper wire2011-1-2-20发布
2012-04-01实施
中华人民共和国工业和信息化部发布前言
2规范性引用文件
3型号及表示方法.
3.1型号.
3.2层级别及代号
3.3规格
3.4表示方法
4技术瘦求
4.1材料
尺寸及偏差
他长率,
电阻率
4.6接头
5试验方法
5.1含量和镀层厚度
5.2铺层连续性
5.3我面质量
5.4尺寸.
55付长率
5.6电阻率
6计算度
验收挑则
总则.
检验项目
拍样规则.
包装、贮存及标志
包装及贮存
附录A(规范性附录)银含量测定方法A.1
适用范围
讨验设备
试样制备
试验步骤.
试验结果及计算
附录B(规范性附录)银含量测定方法B.1
适用范围
电子法
容量法
TKAONTKACa
JB/T3135—2011
JB/T3135—-2011
试验设备
B.3试剂.
B.4试验步骤
B.5试验结果及计算
附录C(规范性附录)银含量测定方法C.1适用范围,
试验设备
C.3试剂
C.4试验步骤
C.5试验结果及计算
参考文献
-重量法
表1镀银铜线的规格、银层级别及镀层厚度表2直径及偏差.
表3伸长率
表4检验项目
表A.1电解长度的选取
表A.2厚度系数取值
本拆准按照GB/T1.12009给出的规则起草。言
JB/T3135--2011
本标准代替JB/T3135—1999《镀银软圆铜线》,与JB/T3135—1999相比主要技术变化如下:扩大了镀银铜线的规格范围(1999年版表1,本版表1);=-删除了原标准中12%、15%、18%和20%四个镀层等级的产品,增加了1.25%、2.5%两个镀层等级的产品(1999年版表1,本版表1):增加规定:镀层厚度小于1μm的镀银铜线不要求进行连续性试验(本版4.2.2);-删除了镀银铜线的抗拉强度指标(1999年版6.4);-提高了镀银铜线的伸长率指标(1999年版6.4,本版4.4):增加了电子法测定镀银铜线镀层厚度的试验方法(本版附录A)。本标准由中国机械工业联合会提出。本标准由全国裸电线标准化技术委员会(SAC/TC422)归口。本桥准起草单位:上海电缆研究所、江苏盛天实业有限公司、深圳市补州线缆有限公司、江苏江润铜业有公司、深圳市金信诺电缆技术有限公司、深圳市方圆新材料技术开发有限公司、常州市恒丰输材有限公司、天津有容带康通讯技术有限公司,上海银木电器制造有限公司。本枝准主要起草人:邢海甬、沈建华、谢国锋、鲁正荣、方志新、桂宏兵、周小明、何如森、焦健、吴小来。
本标准所代替标准的历次版本发布情况为:-JB 3135—1982,JB/T 3135—1999。TTKAONIKACA
1范围
镀银软圆铜线
JB/T3135-2011
本标准规定了镀银软圆铜线(简称为镀银铜线)的型号及表示方法、技术要求试验方法、计算密度、验收规则、包装、存及标志等内容。本标准适用于制造电线电缆的导体、编织层及其他电气设备用的镀银软圆铜线。2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。GB/T3048.2-2007电线电缆电性能试验方法第2部分:金属材料电阻率试验GB/T3953-2009电工圆铜线
GB/T4135-2002银
GB/T4909.2--2009裸电线试验方法第2部分:尺寸测量GB/T4909.3—2009
裸电线试验方法第3部分:拉力试验GB/T4909.9-2009
裸电线试验方法第9部分:镀层连续性试验多硫化钠法3型号及表示方法
3.1型号
镀银铜线的型号为TRY。
3.2银层级别及代号
镀层级别按镀银铜线的银含量分为A级、B级、C级、D级和E级五个等级,其对应的银含量分别为125%、2.50%4.00%、6.00%和10.00%3.3规格
镀银铜线的规格见表1。经供需双方协商同意,可提供表1中未列出的其他规格的产品。3.4表示方法
镀铜线用型号、规格、银层级别及本标准编号表示。示例:标称直径为0.230mm,银含量为10%的镀银钢线,表示为TRY0.230E级JB/T3135-20114技术要求
4.1材料
铜线应符合GB/T3953—2009中TR型号的规定。银应符合GB/T4135—2002的规定。4.2镀压
4.2.1含量和镀层厚度
镀银铜线的银含量和镀层厚度应符合表1的规定。4.2.2连续性
镀银铜线的镀层应连续、牢固地附着在铜线表面上。经多硫化钠试验后试样的表面应不变黑。对镀层厚度小于1um的镀银铜线,不要求进行连续性试验。4.2.3表面质量
镀银铜线的镀层表面应光滑连续,不得有与良好工业品不相称的任何缺陷。JB/T3135—2011
银层级别
银含量
标称直径d
镀银铜线的规格,银层级别及镀晟厚度表1
最小镀层厚度
YrKAONYKAca
很层级别
限合量
标称直径d
注,带()的数据仅供参考。
4.3尺时及偏差
表1(续)
最小镀层厚度
镀银铜线直径的偏差座符合表2的规定。10.2
表2直径及偏差
标称直径
0.030≤d<0.260
0.260≤c≤3.20
充许偏差
注:计算附,标称直径在0.030~1.000者保留3位小数。大于1.000mm者保留2位小数。4.4伸长率
镀钱铜线的件长率应符合表3的规定。表3伸长率
标称直径
0.030≤d0.050
0.050d≤0.070
0.0700.230
0.230d≤0.500
0.500d≤2.60
2.60-d≤3.20
最小仲长牵
JB/T 3135-2011
JB/T3135-2011bZxz.net
4.5电阻率
镀银铜线在20℃时直流电阻率应不大于0.017241Q·mm/m。计算时电阻温度系数取0.00393℃-l4.6接头
镀银铜线不允许有接头,但镀银或拉丝前的铜线允许有接头。5试验方法
5.1银含量和镀层厚度
镀银铜线的银含量和镀层厚度试验按照附录A、附录B或附录C的规定进行。仲裁时按照附录C的规定进行。
5.2镀层连续性
镀银铜线的镀层连续性试验按照GB/T4909.9--2009的规定进行。5.3表面质量
镀银铜线的表面质量用正常视力目测。5.4尺寸
镀银铜线的尺寸测量按照GB/T4909.2—2009的规定进行。5.5伸长率
镀银铜线的伸长率试验按照GB/T4909.3—2009的规定进行。5.6电阻率
镀银铜线20℃时直流电阻率试验按照GB/T3048.2—2007的规定进行6计算密度
为便于计算镀银铜线的密度,20℃时铜的密度取8.89g/cm,20℃时银的密度取10.5g/cm。7验收规则
7.1总则
镀银铜线应由制造广检验合格后方能出厂或使用,每批产品应附有制造厂的产品质量检验合格证。7.2检验项目
镀银铜线应按表4规定的项目和方法进行检验。表4检验项目
项目名称
银含量和镀层厚度
镀层连续性
表面质量
尺寸及偏差
伸长率
电阻率
条文号
4.2.1和5.1
4.2.2和5.2
4.2.3和5.3
4.3和5.4
4.4和5.5
4.5和5.6
试验类型
试验方法
本标准附录A、附录B或附录C
GB/T4909.9—2009
正常视力目测
GB/T4909.2—2009
GB/T4909.3—2009
GB/T3048.2—2007
注:T(型式试验)、S(捆样试验)R(例行试验)的定义参见GB/T4909.1—2009中的规定。7.3抽样规则
抽样检验时,每批按1%抽样,但不少于3盘(圈),批量较大时,不多于10盘(圈)。第一次检验项目不合格时,应取双倍数量的试样,就不合格项目进行第二次试验,如仍不合格时,则应逐盘(圈)检查。
TTKAONrKAod
包、贮存及标志
8.1包装及购存
JB/T3135-2011
镀眼铜线应成盘或成圈供应,并应用纸或薄膜妥善包装。成盘的镀银铜线应均匀地绕在线轴上,线头必须固定,最外层线到线盘侧板边缘应保持适当距离,防止磕碰伤。镀银铜线应存放在干燥、无腐蚀气体的库房。8.2标志
每盘(圈)镀银铜线上应附有标签,标明:a)制造厂名称;
b)型号、规格及镀层级别:
c)毛重及净重,单位为千克(kg):d)制造日期:年月:
e)本标准编号:JB/T3135-2011。JB/T31352011
A.1 适用范围
附录A
(规范性附录)
银含量测定方法—电子法
本方法适用于测定镀银铜线的银含量。本方法以带有“WT”附属装置的电子厚度测量仪为例,其他类似的电子厚度测量仪均可使用,A.2试验设备
电子厚度测量仪,带有“WT”附属装置:试剂:R-48;
干分尺:分度值为0.001mm,
A.3试样制备
试样制备步骤如下:
a)用千分尺测量试样直径,根据直径大小确定被测试样的电解长度,见表A.1。b)去除试样表面油泻,使试样清洁净。c)在被测试样的电解长度部分做好标记,非测量部分用蜡涂封表A.1电解长度的选取
标称直径&
0.030-0140
0.141~~0.280
0.281-0.600
0.601~3.20
A.4 试验步骤
试验步骤如下
电解长度
a)接通测量仪电源,并将“WT”附属装置接入。将阴极插入“WT”支承杆,阳极与电解槽安装螺钉相连。
b)将镀层选择器开关调到“Ag”位置,预热5rnin。c)将R-48试剂注入“WT”装置的不锈钢烧杯,溶液温度保持在(20~25)C。d)将试件插入并固定在“WT”装置的水平臀按线柱内,试件标记部分应垂直没入试剂中。e)起动开关,当指针移动或操作停止时,读取计数器读数。A.5 试验结果及计算
A.5.1镀层厚度
镀层厚度按公式(A.1)计算
fYKAONYKAca
式中:
镀层厚度,单位为微米(um);
厚度系数,其值见表 A..2。
A.5.2银含量
银含量按公式(A.2)计算:
式中:
银含量,%
d--试样直径,单位为毫米(mm);-镀层厚度,单位为微米(um)。-读数×W
G=0.472 43&d.
表A.2厚度系数取值
标称直径d
厚度系数
标称直径d
JB/T3135—2011
厚度系数
JB/T3135-2011
B.1适用范围
附录B
(规范性附录)
银含量测定方法
本方法适用于测定镀银铜线的银含量。B.2试验设备
所用试验设备如下:
锥形烧杯:250mL;
一滴定管:100mL。
B.3试剂
所用试剂如下:
硫氰酸铵标准溶液:
硫酸高铁铵(10%)溶液:
硝酸(1:1)。
B.4试验步骤
试验步骤如下:
容量法
a)取0.25g~0.5g样品(精确至0.1mg)置于250mL锥形烧杯中,加10mL硝酸(1:1),缓慢加热至溶解,煮沸驱尽棕色烟,冷却至室温,稀释至100mL,加入5mL硫酸高铁铵(10%)溶液。
6)用硫氰酸铵标准溶液滴定至蓝色(和白色沉淀)恰变为砖红色(铜离子的蓝色和铁离子硫氧酸盐络合物的红色的混合物),得硫氰酸铵标准溶液的消耗量。B.5试验结果及计算
B.5.1银含量
银含量按公式(B.1)计算:
G-VT/BX100-
式中:
G银含量,%:
V硫氰酸铵标准溶液的消耗量,单位为毫升(mL):T一一硫氰酸铵标准溶液对银的滴定度,单位为克每毫升(g/mL):B-样品重量,单位为克(g)。
B.5.2镀层厚度
镀层厚度按公式(B.2)计算:
8=Gd/0.47243+
式中:
S镀层厚度,单位为微米(um):G
银含量,%:
试样直径,单位为毫米(mm)。(B.1)
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